• 한국정보과학회논문지:시스템및이론
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• 제31권3_4호
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• pp.160-169
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• 2004

IC 집적기술이 고도로 발달하면서 출현한 SOC(System On a Chip)는 미리 설계된 코어를 재 사용하는 모듈러 기법을 회로 설계 과정에 도입시켰고, 따라서 테스트 설계에도 모듈러 기법이 도입되었다. 이러한 SOC 테스트에 소요되는 비용의 최소화를 위해서는, SOC 테스트 구조의 핵심 구성요소인 코어 테스트 wrapper의 테스트 시간과 테스트 면적을 동시에 최적화시킬 수 있는 설계 기법이 필요하다. 본 논문에서는 최소 비용의 SOC 테스트를 위한 효율적인 코어 테스트 Wrapper 설계 기법을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 기법은 기존의 기법들이 각기 가지고 있는 장점들을 하나로 취합하고 더욱 발전시킴으로써 필드에서 실재적으로 사용될 수 있는 효율적인 코어 테스트 wrapper 설계 기법이다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권9호
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• pp.97-106
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• 2004

본 논문에서는 내장 코어 기반 SOC의 테스트를 위한 새로운 테스트 전략을 제안한다. SOC 테스트는 전체 테스트 시간을 얼마나 줄일 수 있는가에 따라서 그 성능을 평가할 수 있다. SOC를 구성하는 코어에 대한 테스트 시간은 코어에 구성된 테스트 래퍼 구조에 의해서 결정되며, 테스트 래퍼는 TAM을 사용하기 때문에 결국 TAM에 할당되어 있는 스캔 체인의 길이에 의해서 결정된다. 따라서 SOC 설계 단계에서 테스트를 고려한 설계가 이뤄져야 하며 효율적인 테스트를 위해서는 테스트 전략을 잘 세워야 한다. 기존의 테스트 기법은 모두 SOC 전체 TAM 라인들을 몇 개의 그룹으로 나누고 코어에 할당된 스캔 체인들을 TAM 라인에 적절히 분배해서 코어의 테스트 시간과 SOC 전체의 테스트 시간을 모두 최소화 할 수 있는 구조를 만드는 방법이었다 하지만 이는 NP 문제로 모든 조합에 대한 시도를 통해서 최적의 곁과를 찾는 것이 불가능하다. 본 논문에서는 이 문제에 대한 새로운 방법을 제안하고 그 효율성을 증명한다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권3호
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• pp.65-70
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• 2004

최근 하나의 칩에 여러 개의 코어들로 구성된 SOC(System on Chip) 테스트 비용의 증가로 인해 SOC 테스트에 있어서 재사용 방법론과 효율적인 테스트 방법의 중요성이 더욱 커지게 되었다. SOC 테스트의 일반적인 문제는 TAM(Test Access Mechanism)의 구조 설계와 테스트 코어 wrapper의 최적화, 테스트 스케줄링이 있다. 이러한 SOC 테스트의 목표는 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드의 최소화이다. 이를 위해서 코어 내부의 스캔 체인과 입출력을 보다 균형 있게 배분하여 더 적은 테스트 시간과 TAM 너비를 사용하도록 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드를 동시에 고려하여 설계하는 것이 중요하다. 본 논문에서는 SOC 테스트를 위한 비용을 줄일 수 있는 코어 테스트 wrapper 설계 기법을 제안한다. 본 논문의 제안 기법은 기존의 기법들의 장점을 취하고 단점을 보완함으로써 보다 적은 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드를 가진다. 이를 입증하기 위해서 ITC'02 SOC 테스트 벤치마크 회로를 이용하여 실험을 하였다.

• 한국콘텐츠학회논문지
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• 제5권1호
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• pp.229-236
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• 2005

System-On-a-Chip(SOC)을 테스트하는 동안에 요구되는 테스트 시간과 전력소모는 SOC내의 IP 코어의 개수가 증가함에 따라서 매우 중요하게 되었다. 본 논문에서는 수정된 스캔 래치 재배열을 사용하여 scan-in 전력소모와 테스트 데이터의 양을 줄일 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 스캔 벡터 내의 해밍거리를 최소화하도록 스캔 래치 재배열을 적용하였으며 스캔 래치 재배열을 하는 동안에 스캔 벡터 내에 존재하는 don't care 입력을 할당하여 저전력 및 테스트 데이터 압축을 하였으며 ISCAS 89 벤치마크 외호에 적용하여 모든 경우에 있어서 테스트 데이터를 압축하고 저전력 스캔 테스팅을 구현하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권12호
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• pp.83-90
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• 2004

본 논문은 SOC의 테스트 데이터 압축과 전력소비를 단축시키기 위한 효율적인 스캔 테스트 방법을 제안한다. 제안된 테스트 방법은 deterministic 테스트 데이터와 그 출력응답을 분석하여 출력응답의 일부분이 차기에 입력될 테스트 데이터로 재사용될 수 있는지를 결정한다. 실험결과, 비압축된 deterministic 입력 테스트 데이터와 그 응답간에 높은 유사도가 있음을 알 수 있다. 제안된 테스트 방법은 ISCAS'89 벤치마크 회로를 대상으로 소요되는 클럭 시간을 기준으로 평균 29.4%의 전력소비단축과 69.7%의 테스트 데이터 압축을 가져온다.

• 한국정보과학회:학술대회논문집
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• 한국정보과학회 2003년도 가을 학술발표논문집 Vol.30 No.2 (1)
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• pp.208-210
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• 2003

본 논문은 SOC 내에 존재하는 코아들을 테스트하는 과정에서 개별 코아들의 테스트 조건을 기반으로 한 스케듈링을 통해 최적의 Test ing time을 구하는 연구이다. SOC 내에 존재하는 코아들은 주어지는 TAM(Test Access Mechanism) Width에 따라 각코아들의 Width가 달라지고, 최대 Width에서 최소 Width(1)까지 각 Width 별로 Testing time을 계산할 수 있다. 코아들의 각 Width 별 Testing time을 기존의 Rectangle Packing Algorithm을 수정, 보완하여 효율적으로 구성한 수정 Rectangle Packing Algorithm에 적응하여 최적의 Testing time을 구하는 것이 본 논문의 목적이다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제39권12호
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• pp.1045-1054
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• 2002

System-On-a-Chip(SOC)에 대하여 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔테스팅에 대한 새로운 알고리즘을 제안하였다. 스캔벡터내의 don't care 입력들을 저전력이 되도록 적절하게 값을 할당하였고 높은 압축율을 갖도록 적응적 인코딩을 적용하였다. 또한 스캔체인에 입력되는 동안 소모되는 scan-in 전력소모를 최소화하도록 스캔벡터의 입력 방향을 결정하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대하여 실험한 결과는 평균전력 소모는 약 12% 감소되었고 압축율은 약 60%가 향상됨을 보였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제39권9호
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• pp.45-54
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• 2002

P45 본 논문에서는 SOC의 내장된 코어를 테스트하기 위한 새로운 DFT 방법인 순차적 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 순차적 테스트 데이터 압축 방법은 테스트 데이터양을 줄이기 위하여 공유 비트 압축과 고장 무검출 패턴 압축 방법을 이용하였다. 그리고 순차적 테스트 데이터 압축 방법을 이용하는 회로는 스캔 DFT 방법을 기반으로 하고 있으며, test-per-clock 방법을 적용하여 매 클럭마다 테스트 할 수 있는 구조를 가지고 있다. 제안된 압축 방법의 실험을 위하여 벤치마크 회로인 ISCASS85와 ISCASS89 완전 스캔 버전을 이용하였으며, ATPG와 고장 시뮬레이션을 위하여 ATALANTA를 사용하였다. 실험 결과 순차적 테스트 데이터 압축 방법의 테스트 데이터의 양이 스캔 DFT를 적용한 회로에 비해 최대 98% 까지 줄어듦을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제44권12호
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• pp.61-70
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• 2007

메모리 기술이 발달함에 따라 메모리의 집적도가 증가하게 되었고, 이러한 변화는 구성요소들의 크기를 작아지게 만들고, 고장의 감응성이 증가하게 하였다. 그리고 고장은 더욱 복잡하게 되었다. 또한, 칩 하나에 포함되어있는 저장 요소가 늘어남에 따라 테스트 시간도 증가하게 되었다. 그리고 SOC 기술의 발달로 대용량의 내장 메모리를 통합할 수 있게 되었지만, 테스트 과정이 복잡하게 되어 외부 테스트 환경에서는 내장 메모리를 테스트하기 어렵게 되었다. 본 논문에서 제안하는 테스트 구조는 내장 테스트를 사용하여 외부 테스트 환경 없이 테스트가 가능하다. 제안하는 내장 테스트 구조는 다양한 알고리즘을 적용 가능하므로, 생산 공정의 수율 변화에 따른 알고리즘 변화에 적용이 가능하다. 그리고 메모리에 내장되어 테스트하므로, At-Speed 테스트가 가능하다. 즉, 다양한 알고리즘과 여러 형태의 메모리 블록을 테스트 가능하기 때문에 높은 효율성을 가진다.

• 전력전자학회:학술대회논문집
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• 전력전자학회 2012년도 추계학술대회 논문집
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• pp.157-158
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• 2012

본 논문은 리튬 폴리머 배터리의 수명 감소에 대한 경향성 테스트를 토대로 이중 확장 칼만 필터(Dual EKF)를 이용하여 배터리의 SOC(State-of-Charge) 및 SOH(State-of-Charge) 방법을 제안하였다. 배터리에 수명에 따른 임피던스 변화를 테스트를 수행함으로써 등가회로 모델상에서 수명에 따른 변화가 가장 큰 내부 저항을 선택함으로써 배터리의 SOH 추정을 위해 선택하였다. 배터리 모델은 4.2V, 1440mAh의 리튬폴리머 전지에서 추출되었다. 배터리는 Bulk 커패시터, 두 개의 R-C회로, 직렬 저항을 사용하여 모델링하였다. Dual EKF를 모델에 적용하기 위해 캐패시터 전압은 개방 회로 전압(OCV)을 나타내는데 사용된다. Dual EKF는 충/방전 기기인 TOSCAT-5200에 의해 얻은 실험 데이터로 테스트하였다.