• 제목/요약/키워드: Parasitic BJT

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기생 BJT의 DC 베이스저항 측정을 통한 MOSFET의 기판저항 추출 (Extraction of Substrate Resistance in MOSFET Through DC Base Resistance Measurement of Parasitic BJT)

  • 정대현;차준영;차지용;이성현
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2008년도 하계종합학술대회
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    • pp.393-394
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    • 2008
  • This paper presents a new method to extract the substrate resistance by fitting current-dependent base resistance of parasitic BJT without a complex RF extraction method. The extracted substrate resistance values using the new method match well with those using the RF one, verifying the accuracy of the proposed DC technique.

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패키지된 바이폴라 트랜지스터의 등가회로 모델 파라미터 추출 (Equivalent Circuit Model Parameter Extraction for Packaged Bipolar Transistors)

  • 이성현
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권12호
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    • pp.21-26
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    • 2004
  • 본 논문에서는 package된 BJT의 RF 등가회로 모델을 optimization과정 없이 직접 추출하는 방법을 개발하였다. 먼저, open 과 short package 구조를 사용하여 plastic package의 기생성분을 측정된 S-파라미터로부터 정확히 제거하였다. 이와 같이 package do-embedding된 S-파라미터로부터 package lead와 chip pad 사이의 bonding wire 인덕턴스와 chip pad 캐패시턴스를 직접 추출하는 간단한 방법을 구축하였다. 그 후에 내부 BJT소자의 소신호 모델변수들은 RF 등가회로로부터 유도된 Z나 Y-파라미터 방정식을 이용하여 결정하였다. 이 방법으로 모델화된 packaged BJT의 S-파라미터는 측정 데이터와 아주 잘 일치하였으며 이는 새로운 추출방법의 정확성을 증명한다.

CMOS 기술을 기반으로 제작된 정합 특성이 우수한 BJT 구조 (A BJT Structure with High-Matching Property Fabricated Using CMOS Technology)

  • 정의정;권혁민;권성규;장재형;곽호영;이희덕
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제49권5호
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    • pp.16-21
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    • 2012
  • 본 논문에서는 CMOS 기반의 BJT 제작에 있어서 일반적인 BJT 구조에 비해 정합특성이 우수한 새로운 BJT 구조를 제안하고, 특성을 비교 분석하였다. 새로운 정합 구조가 기존의 정합 구조에 비해 콜렉터 전류 밀도 $J_C$는 0.361% 감소하였고, 전류이득 ${\beta}$는 0.166% 증가하여 큰 차이가 보이지 않았지만, 소자 면적이 10% 감소했으며, 콜렉터 전류($A_{Ic}$)와 전류이득($A_{\beta}$)의 정합 특성이 각각 45.74%, 38.73% 향상되었다. 이와 같이 정합특성이 개선된 주 이유는 쌍으로 형성된 BJT 소자들의 에미터 간의 거리가 감소한 것이라고 생각되며, deep n-well 저항의 표준편차 값이 다른 저항들에 비해 큰 것으로부터 간접적으로 증명이 된다고 여겨진다.

다중 Gate 및 Channel 구조를 갖는 CMOS 영상 센서용 Floating-Gate MOSFET 소자의 제작 및 특성 평가 (Fabrication and Characterization of Floating-Gate MOSFET with Multi-Gate and Channel Structures for CMOS Image Sensor Applications)

  • 주병권;신경식;이영석;백경갑;이윤희;박정호
    • 대한전기학회논문지:전기물성ㆍ응용부문C
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    • 제50권1호
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    • pp.17-22
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    • 2001
  • The floating-gate MOSFETs were fabricated by employing 1.5 m n-well CMOS process and their optical-electrical properties were characterized for the application to CMOS image sensor system. Based on the simulation of energy band diagram and operating mechanism of parasitic BJT were proposed as solutions for the increase of photo-current value. In order to realize them, MOSFETs having multi-gate and channel structures were fabricated and 60% increase in photo-current was achieved through enlargement of depletion layer and parallel connection of parasitic BJTs by channel division.

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Parallel NPN BJT로 인한 높은 홀딩 전압을 갖는 SCR 기반 양방향 ESD 보호 소자에 관한 연구 (A study on SCR-based bidirectional ESD protection device with high holding voltage due to parallel NPN BJT)

  • 정장한;우제욱;구용서
    • 전기전자학회논문지
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    • 제25권4호
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    • pp.735-740
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    • 2021
  • 본 논문에서는 기존의 LTDDSCR의 구조를 개선하여 기생 NPN BJT의 낮은 전류이득으로 높은 홀딩전압을 갖는 새로운 ESD 보호 소자를 제안한다. 제안된 보호 소자는 Synopsys사의 TCAD simulation을 이용하여 HBM simulation으로 전기적 특성을 분석하였고 current flow와 impact ionization 및 recombination Simulation으로 추가된 BJT가 동작하는 것을 확인하였다. 또한, 설계변수 D1, D2로 홀딩전압 특성을 최적화하였다. Simulation 수행결과, 새로운 ESD 보호 소자는 기존의 LTDDSCR과 비교하여 높은 홀딩전압을 갖는 것이 검증되었고 대칭적인 양방향 특성을 갖는 것이 확인되었다. 따라서 제안된 ESD 보호 소자는 IC에 적용될시 높은 면적 효율성을 가지며 IC의 신뢰성을 향상시킬 것으로 기대된다.

SCR 기반 고감내 특성을 갖는 기생 PNP BJT 삽입형 새로운 ESD 보호회로에 관한 연구 (A Study on a New ESD Protection Circuit with Parasitic PNP BJT Insertion Type with High Robustness Characteristics Based on SCR)

  • 채희국;도경일;서정윤;서정주;구용서
    • 전기전자학회논문지
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    • 제22권1호
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    • pp.80-86
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    • 2018
  • 본 논문에서는 기존 ESD 보호회로인 SCR, LVTSCR 보다 향상된 전기적 특성을 갖는 새로운 PNP 바이폴라 삽입형 ESD 보호회로를 제안한다. 제안된 회로는 기존 SCR에 대비하여 약 9V낮은 8.59V의 트리거 전압을 가지고, 기생 PNP가 하나 더 동작하면서 높은 감내특성을 갖는다. 또한 제안된 ESD 보호회로의 실제 설계 적용을 위해 변수 L을 늘리면서 기생 PNP의 베이스 길이를 늘려 홀딩전압을 증가시켰다. 제안된 소자의 전기적 특성 검증을 위해 Synopsys사의 T-CAD 시뮬레이터를 사용하였다.

Series Connected-NPN 및 N-Stack기술 적용을 통하여 높은 홀딩전압특성을 갖는 새로운 구조의 SCR에 관한 연구 (A Study on SCR of New Structure with High Holding Voltage Characteristics by Applying Series Connected-NPN and N-Stack Technology)

  • 서정주;권상욱;도경일;이병석;구용서
    • 전기전자학회논문지
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    • 제23권1호
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    • pp.338-341
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    • 2019
  • 본 논문에서는 대표적인 ESD 보호소자인 LVTSCR의 특성을 향상시킨 새로운 구조의 ESD소자를 제안하고 특정 application의 각 요구전압에 최적화된 설계를 위한 N-stack 기술에 대하여 검증한다. 주요 파라미터인 홀딩전압과 트리거전압에 대하여 특성을 파악하고 감내특성의 지표인 온도특성 또한 검증한다. well영역의 추가구성과 기생 npn BJT를 추가로 직렬 연결된 구조를 형성하여 보다 향상된 전기적 특성을 갖는다. 특성 검증을 위해 synopsys 사의 T-cad simulation tool을 이용하였다.

저전압급 ESD 보호를 위한 NPN BJT 내장형 SCR 설계에 관한 연구 (A study on the Design of NPN BJT built-in SCR for Low Voltage Class ESD Protection)

  • 정승구;백승환;이병석;구용서
    • 전기전자학회논문지
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    • 제26권3호
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    • pp.520-523
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    • 2022
  • 본 논문에선 기존의 ESD 보호소자보다 간단한 구조의 ESD 보호소자를 제안하였다. 제안하는 새로운 구조는 N+확산영역을 추가하고 브릿지영역과 연결함으로써 추가 NPN 기생 바이폴라 트랜지스터를 동작시켜 전류이득을 낮춘다. 그 결과 제안된 ESD 보호소자는 10.8V의 트리거 전압 및 6.1V의 홀딩전압을 갖는 것을 확인하였다. 이는 5V 어플리케이션에 신뢰성을 가질 것으로 기대되며 높은 감내특성을 가질 것으로 예상된다.

Self-Biasing 효과로 높은 홀딩 전압을 갖는 SCR 기반 양방향 ESD 보호 소자에 관한 연구 (A Study on SCR-based Dual Directional ESD Protection Device with High Holding Voltage by Self-Biasing Effect)

  • 정장한;정승구;구용서
    • 전기전자학회논문지
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    • 제26권1호
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    • pp.119-123
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    • 2022
  • 본 논문은 추가 기생 바이폴라 BJT로 인해 높은 홀딩전압을 갖는 ESD 보호소자에 Self-Biasing 구조를 추가하여 12V 급 어플리케이션에 적합한 새로운 ESD 보호소자를 제안한다. 제안된 소자의 동작원리와 전기적 특성 검증을 위해 Synopsys사의 TCAD Simulation을 사용하여 current density simulation과 HBM simulation을 수행하였고 추가된 Self-Biasing 구조 동작을 확인하였다. Simulation 결과 제안된 ESD 보호소자는 기존의 ESD 보호소자와 비교하여 높은 수준의 홀딩전압을 갖는 것을 확인하였고 이는 듀얼구조로 인한 높은 면적효율과 12V급 어플리케이션에서 충분한 래치업 면역 특성을 가질 것으로 기대된다.

고전압 IGBT SPICE 시뮬레이션을 위한 모델 연구 (A Study on the Modeling of a High-Voltage IGBT for SPICE Simulations)

  • 최윤철;고웅준;권기원;전정훈
    • 전자공학회논문지
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    • 제49권12호
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    • pp.194-200
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    • 2012
  • 본 논문에서는 SPICE 시뮬레이션을 위한 고전압 insulated gate bipolar transistor(IGBT)의 개선된 모델을 제안하였다. IGBT를 부속 소자인 MOSFET과 BJT의 조합으로 구성하고, 각 소자의 각종 파라미터 값을 조절하여 기본적인 전류-전압 특성과 온도변화에 따른 출력특성의 변화 등을 재현하였다. 그리고 비선형적인 리버스 트랜스퍼 커패시턴스 등의 기생 커패시턴스의 전압에 따른 변화를 높은 정확도로 재현하기 위해, 복수의 접합 다이오드, 이상적인 전압 및 전류 증폭기, 전압제어 저항, 저항과 커패시터 수동소자 등을 추가하였다. 본 회로모델을 1200V급의 트렌치 게이트 IGBT의 모델링에 이용하였으며, 실측자료와 비교하여 통해 모델의 정확도를 검증하였다.