• 제목/요약/키워드: Poisson's equation

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수치해석 방법에 의한 2차원적인 MOS Transistor의 시뮬레이션에 관한 연구 (Two-Dimensional Simulation of MOS Transistors Using Numerical Method)

  • 정태성;경종민
    • 대한전자공학회논문지
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    • 제22권5호
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    • pp.93-101
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    • 1985
  • 다양한 채널 길이와 임의의 인가전압하의 MOS 트랜지스터를 2차원적으로 시뮬레이션 하기 위한 프로그램(SOMOS)을 제작하였다. Poisson의 방정식에 대하여는 Newton방법을, 연속방정식에 대하여는 발산정리를 이용하여 기본 수식들에 대한 유한차등법(FDM)에 따른 수식을 전개하였으며, 선형화된 수식의 해는 SOR 방법과 Cummel의 알고리즘을 이용하여 구했다. 하난의 동작상태의 소자를 시뮬레이션 하기 위한 시간은 VAX 11/780 컴퓨터를 사용했을때 인가전압 상태에 따라 30초 내지 4분 정도가 소요되었다. 인가전압과 전위분포에 따라 자동적으로 생성되는 그리드는 비균일한 간격을 가지며 필요에 따라 자동적으로 개선된다.

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Prediction of elastic constants of Timoshenko rectangular beams using the first two bending modes

  • Chen, Hung-Liang (Roger);Leon, Guadalupe
    • Structural Engineering and Mechanics
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    • 제80권6호
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    • pp.657-668
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    • 2021
  • In this study, a relationship between the resonance frequency ratio and Poisson's ratio was proposed that can be used to directly determine the elastic constants. Using this relationship, the frequency ratio between the 1st bending mode and 2nd bending mode for any rectangular Timoshenko beam can be directly estimated and used to determine the elastic constants efficiently. The exact solution of the Timoshenko beam vibration frequency equation under free-free boundary conditions was determined with an accurate shear shape factor. The highest percent difference for the frequency ratio between the theoretical values and the estimated values for all the beam dimensions studied was less than 0.02%. The proposed equations were used to obtain the elastic constants of beams with different material properties and dimensions using the first two measured transverse bending frequencies. Results show that using the equations proposed in this study, the Young's modulus and Poisson's ratio of rectangular Timoshenko beams can be determined more efficiently and accurately than those obtained from industry standards such as ASTM E1876-15 without the need to test the torsional vibration.

The Analysis of Breakdown Voltage for the Double-gate MOSFET Using the Gaussian Doping Distribution

  • Jung, Hak-Kee
    • Journal of information and communication convergence engineering
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    • 제10권2호
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    • pp.200-204
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    • 2012
  • This study has presented the analysis of breakdown voltage for a double-gate metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) based on the doping distribution of the Gaussian function. The double-gate MOSFET is a next generation transistor that shrinks the short channel effects of the nano-scaled CMOSFET. The degradation of breakdown voltage is a highly important short channel effect with threshold voltage roll-off and an increase in subthreshold swings. The analytical potential distribution derived from Poisson's equation and the Fulop's avalanche breakdown condition have been used to calculate the breakdown voltage of a double-gate MOSFET for the shape of the Gaussian doping distribution. This analytical potential model is in good agreement with the numerical model. Using this model, the breakdown voltage has been analyzed for channel length and doping concentration with parameters such as projected range and standard projected deviation of Gaussian function. As a result, since the breakdown voltage is greatly changed for the shape of the Gaussian function, the channel doping distribution of a double-gate MOSFET has to be carefully designed.

유체법을 이용한 유사스파크 방전의 기동 특성 해석 (Ignition Characteristics Analysis of Pseudospark Discharge using Fluid Method)

  • 심재학;주흥진;고광철;강형부
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 1997년도 춘계학술대회 논문집
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    • pp.95-98
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    • 1997
  • Theoritical predictions are given of the time dependence of charged particle densities and electric field in a pseudospark discharge. Our medel is based on a numerical solution of the continuity equation for electrons and positive ions and coupled with Poisson's equation for the electric field. From numerical results, we can identify phisical mechanisms that lead to the rapid rise in current in the onset of a pseudospark discharge.

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선대 평판 전기 집진기의 V-I 특성 계산 (Computation of V-I characteristics in wire-plate electrostatic precipitators)

  • 김길신;심재학;고광철;강형부
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1997년도 하계학술대회 논문집 E
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    • pp.1675-1677
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    • 1997
  • In this paper we study the voltage-current characteristics inside the wire-plate precipitators by numerically solving the Poisson's equation and current continuity equation. The effects of a wire size, wire-wire spacing, wire-plate spacing and effective mobility have been considered.

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병렬화된 고속 보아송 방정식의 예측모델에의 적용 (Application of a Fast Parallel Poisson Solver to Barotropic Prediction Model)

  • 송창근;이상덕
    • 한국정보처리학회논문지
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    • 제4권3호
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    • pp.720-730
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    • 1997
  • 본 연구에서는 격자점의 갯수나 경계 조건에 관계없이 포아송 방정식을 푸는 일반적인 프로그램을 개발하고, 수퍼 컴퓨터의 병렬 기능과 벡터 기능을 이용하여 이 프로그램 을 고속화시켰다.우리는 실제 현압에 사용되고 있는 바로토로픽 예측 모델을 이용하여 실제 태풍인 Elena의 궤도를 예측하여 보았고, 병렬화된 고속의 포아송 방정식을 사용하는 경우 상당한 시간이 절약됨을 알 수 있었다. 72시간 후의 허리케인의 궤도 예측을 시도하였다. 3000여개의 격자점 위에서 시간 간격을 16분으로 하여 실험하였는데 8개 벡터 프로세서를 갖고 있는 Aliant FX/8에서 30초만에 이루어 졌고, 3.7의 계산 효율 을 얻어냈다.

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A New Method of Collision Mode Evolution for Three-Dimensional Rigid Body Impact With Friction

  • Park, Jong-Hoon;Chung, Wan-Kyun;Youm, Young-Il
    • 제어로봇시스템학회:학술대회논문집
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    • 제어로봇시스템학회 2004년도 ICCAS
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    • pp.1769-1775
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    • 2004
  • In presence of collision between two rigid bodies, they exhibit impulsive behavior to generate physically feasible state. When the frictional impulse is involved, collision resolution can not be easily made based on a simple Newton's law or Poisson's law, mainly due to possible change of collision mode during collision, For example, sliding may change to sticking, and then sliding resumes. We first examine two conventional methods: the method of mode evolution by differential equation, and the other by linear complementarity programming. Then, we propose a new method for mode evolution by solving only algebraic equations defining mode changes. Further, our method attains the original nonlinear impulse cone constraint. The numerical simulation will elucidate the advantage of the proposed method as an alternative to conventional ones.

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3차원 포아송방정식을 이용한 FinFET의 포텐셜분포 모델 (Potential Distribution Model for FinFET using Three Dimensional Poisson's Equation)

  • 정학기
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제13권4호
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    • pp.747-752
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    • 2009
  • 본 연구에서는 FinFET에서 문턱전압이하 전류 및 단채널효과를 해석하기 위하여 필수적인 포텐셜분포를 구하기 위하여 3차원 포아송방정식을 이용하고자 한다. 특히 계산시간을 단축시키고 파라미터의 관련성을 이해하기 쉽도록 해석학적 모델을 제시하고자 한다. 이 모델의 정확성을 증명하기 위하여 3차원 수치해석학적 모델과 비교되었으며 소자의 크기파라미터에 따른 변화에 대하여 설명하였다. 특히 채널 도핑여부에 따라 FinFET의 채널 포텐셜을 구하여 향후 문턱전압이하 전류 해석 및 문턱 전압 계산에 이용할 수 있도록 모델을 개발하였다.

포아송 방정식의 해를 이용한 NPN BJT의 베이스- 컬렉터간 역방향 항복전압 추출 알고리즘 (The Algorithm for Calculating the Base-Collector Breakdown Voltage of NPN BJT Using the Solution of the Poisson′s Equation)

  • 이은구;김태한;김철성
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제40권6호
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    • pp.384-392
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    • 2003
  • 집적회로용 NPN BJT의 베이스-컬렉터간 역방향 항복전압 추출 알고리즘을 제시한다. 모의실험 시간을 최소화할 수 있는 3차원 메쉬 생성 방법을 제시하고 포아송 방정식의 해를 이용하여 역방향 항복전압을 구하는 방법을 제시한다. 제시된 방법의 타당성을 검증하기 위해 20V 공정과 30V 공정을 기반으로 제작된 집적회로용 NPN BJT의 베이스-컬렉터간 역방향 항복전압을 실측치와 비교한 결과 20V 공정을 이용한 NPN BJT는 8.0%의 평균상대오차를 보였으며 30V 공정을 이용한 NPN BJT는 4.3%의 평균 상대오차를 보였다.

A Compact Model of Gate-Voltage-Dependent Quantum Effects in Short-Channel Surrounding-Gate Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors

  • Kim, Ji-Hyun;Sun, Woo-Kyung;Park, Seung-Hye;Lim, Hye-In;Shin, Hyung-Soon
    • JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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    • 제11권4호
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    • pp.278-286
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    • 2011
  • In this paper, we present a compact model of gate-voltage-dependent quantum effects in short-channel surrounding-gate (SG) metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). We based the model on a two-dimensional (2-D) analytical solution of Poisson's equation using cylindrical coordinates. We used the model to investigate the electrostatic potential and current sensitivities of various gate lengths ($L_g$) and radii (R). Schr$\ddot{o}$dinger's equation was solved analytically for a one-dimensional (1-D) quantum well to include quantum effects in the model. The model takes into account quantum effects in the inversion region of the SG MOSFET using a triangular well. We show that the new model is in excellent agreement with the device simulation results in all regions of operation.