• 한국정보전자통신기술학회논문지
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• 제4권3호
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• pp.209-216
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• 2011

최근 시스템 온 칩 내 메모리의 고속 동작을 위해 TCM (Tightly Coupled Memory)를 내장한 설계가 크게 증가하고 있다. 본 논문에서는 시스템 온칩 내 eDRAM을 사용한 TCM 메모리를 위한 새로운 병열 메모리 테스트 구조를 제안한다. 제안하는 기법에서 피테스트 메모리가 테스트 모드에서 병렬 구조로 바뀌고 바운더리 스캔 체인과 함께 내장 메모리의 테스트용이도가 크게 향상된다. 병렬테스트 방식의 메모리는 각 메모리 요소들이 특정한 기능을 수행하도록 구조화되어 있으므로 모듈들로 분할하여 테스트 할 수 있으며 입출력 데이터를 기반으로 동적 테스트 평가 가능하다. 시뮬레이션을 통하여 제안한 기법의 타당성을 검증하였다.

• Nuclear Engineering and Technology
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• 제46권3호
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• pp.381-386
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• 2014

A highly reliable safety class controller for NPPs (Nuclear Power Plants) is mandatory as even a minor malfunction can lead to disastrous consequences for people, the environment or the facility. In order to enhance the reliability of a safety class digital controller for NPPs, we employed a diversity approach, in which a PLC-type controller and a PLD-type controller are to be operated in parallel. We built and used structured testbenches based on the classes supported by UVM for functional verification of the PLD-type controller designed for NPPs. We incorporated a UVM register model into the testbenches in order to increase the controllability and the observability of the DUT(Device Under Test). With the increased testability, we could easily verify the datapaths between I/O ports and the register sets of the DUT, otherwise we had to perform black box tests for the datapaths, which is very cumbersome and time consuming. We were also able to perform constrained random verification very easily and systematically. From the study, we confirmed the various advantages of using the UVM register model in verification such as scalability, reusability and interoperability, and set some design guidelines for verification of the NPP controllers.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제48권8호
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• pp.18-24
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• 2011

칩의 적층 기술이 적용된 TSV기반 3D IC로 진화함에 따라 새로운 문제점이 발생하게 되었다. Bonding 이후 다이간 TSV가 제대로 연결되었는지 테스트하지만 Redundnacy TSV에 대해서는 테스트하지 않는다. 그러나 더 높은 수율을 얻기 위해서는 redundancy TSV에 대한 연결 테스트를 수행해야 한다. redundancy TSV의 연결을 테스트하고 진단하여 고장 있는 TSV를 대체함으로써 더 높은 수율을 얻을 수 있다. 본 논문에서는 TSV기반 3D IC에서 다이간의 TSV 연결 테스트뿐 아니라 redundancy TSV 테스트를 위한 래퍼셀을 제안하고자 한다. 제안하는 래퍼셀은 하드웨어로 설계하였을 시 기존의 테스트패턴을 그대로 사용할 수 있고, 소프트웨어 설계 시에는 면적을 최소화할 수 있다.

• 전자공학회논문지C
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• 제34C권9호
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• pp.53-60
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• 1997

In this paper, an efficient BILBO(named EBILBO) is proposed for batch testing application when a BIST (built-in self test) circuit is implemented on ASIC. In a large and complex circuit, the proposed algorithm of batch testing has one pin-count that can easily control 4 test modes in the normal speed of circuit operation. For the implementation of the BIST cifcuit, the test patern needed is generated by PRTPG(pseudo-random test pattern generator) and the ouput is observed by proposed algorithm is easily modified, such as the modelling of test pattern genration, signature EBILBO area and performance of the implemented BIST are evaluated using ISCAS89 benchmark circuits. As a resutl, in a circuit above 600 gates, it is confirmed that test patterns are genrated flexibly about 500K as EBILBO area is 59%, and the range of fault coverage is from 88.3% to 100%. And the optimized operation frequency of EBILBO designed and the area are 50MHz and 150K respectively. On the BIST circit of the proposed batch testing, the test mode of EBILBO is able to execute as realtime that has te number of s$\^$+/n$\^$+/(2s/2p-1) clocks simultaneously with the normal mode of circuit operation. Also the proposed algorithm is made of the library with VHDL coding thus, it will be widely applied to DFT (design for testability) that satisfies the design and test field.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제47권2호
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• pp.51-59
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• 2010

드모르간 및 재대입 논리변환은 unate gate network (UGN)을 보다 일반적인 balanced inversion parity (BIP) network으로 전환하는데 충분하다. 이러한 회로계층에 대해서도 자세히 논의하고 있다. 우리는 드모르간 및 재대입 논리변환이 경로지연고장 테스트집합을 유지한다는 것을 증명하였다. 본 논문의 결과를 이용하여 함수 z를 구현하는 모든 UGN에서 모든 경로지연고장을 검출하는 상위수준 테스트집합은 함수 z의 어떠한 BIP realization에서도 모든 경로지연고장을 검출한다는 것을 보일 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권8호
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• pp.9-16
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• 2004

여러 개의 IP 코아로 구성된 SoC(System-on-a-Chip)를 위해, 테스트 래퍼와 스캔 체인의 다양한 연결구성이 가능한 테스트 기술이 제안되고 있다. 본 논문에서는, 테스트 래퍼와 스캔 체인을 효과적으로 재구성하며 테스트 할 수 있는 새로운 SoC 테스트 접근 기법을 소개한다. IEEE 1149.1 및 P1500 기반의 테스트 래퍼를 위해 테스트 래퍼 제어기인 WCLM(Wrapped Core Linking Module)과, WCLM과 맞물려 코아 내부의 스캔 체인에 효과적으로 접근 가능한 TAM(Test Access Mechnism) 구조를 제안한다.

• 대한전기학회논문지:시스템및제어부문D
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• 제52권2호
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• pp.93-101
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• 2003

Scan design is a structured design-for-testability technique in which flip-flops are re-designed so that the flip-flops are chained in shift registers. The scan design cannot be used in a design with scan design rule violations without modifying the design. The most important scan design rule is concerning clock and reset signals to pins of the flip-flops or scan cells. Clock and Reset pins of every scan cell must be controllable from top-level ports. We propose a new technique to re-design gated clocks and resets which violate the scan design rule concerning the clock and reset pins. This technique substitutes synchronous sequential circuits for gated clock and reset designs, which removes the clock and reset rule violations and improves fault coverage of the design. The fault coverage is improved from $90.48\%$ to $100.00\%$, from $92.31\%$ to $100.00\%$, from $95.45\%$ to $100.00\%$, from $97.50\%$ to $100.00\%$ in a design with gated clocks and resets.

• 한국군사과학기술학회지
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• 제24권4호
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• pp.408-417
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• 2021

This paper describes the quality attributes of an integrated simulation software for weapon systems named Advanced distributed simulation environment(AddSIM). AddSIM is developed as a key enabler for Defense Modeling & Simulation(M&S) systems which simulate battlefields and used for battle experiments, analyses, military exercises, training, etc. AddSIM shall provide a standard simulation framework of the next Defense M&S systems. Therefore AddSIM shall satisfy not only functional but also quality requirements such as availability, modifiability, performance, testability, usability, and others. AddSIM consists of operating softwares of hierarchical components including graphical user interface, simulation engines, and support services(natural environment model, math utility, etc.), and separated weapon system models executable on the operating softwares. The relation between software architectures and their quality attributes are summarized from previous works. And the AddSIM architecture and its achievements in the aspect of quality attributes are reviewed.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권1호
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• pp.81-90
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• 2004

유한상태기의 상태할당은 이로부터 구현되는 순차회로의 속도, 면적, 테스팅 및 소비전력에 큰 영향을 미친다. 본 논문에서는 상태변수 그룹들 사이에 상호 의존성(dependency)을 최소화하여 테스팅 및 전력소모를 개선하기 위한 m-블록 분할을 이용한 새로운 상태할당 기술을 소개한다. m-블록 분할 알고리즘에 의해 상태도로부터 상태들을 그룹으로 나누어 상태변수의 상호의존성을 줄이고, 상태천이 확률에 의해 결정된 무게인자에 따라 상태간 상태변수의 변화를 최소로하는 코드를 할당하여 상태천이시 스위칭 횟수를 줄인다. 상태변수 의존성을 줄임으로써 순차회로 사이클이 줄어들어서 부분스캔 및 테스트 생성이 용이하게 되고, 상태변수간의 스위칭 횟수를 줄임으로써 소비전력이 줄어들게 든다. 즉, 본 상태할당 기술은 서로 상반 관계에 있는 테스팅과 저전력 문제를 동시에 해결할 수 있는 새로운 기술이다. 벤치마크 회로에 대한 실험결과 기존의 방법보다 고장점검도 및 소비전력이 현저히 개선되었음을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제45권4호
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• pp.105-116
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• 2008

오늘날의 시스템-온-칩(SoC)은 짧은 제품 생산 주기를 맞추기 위하여 재사용 가능한 IP 코아들을 이용하여 설계한다. 그러나 고집적 칩을 생산하는데 있어 증가한 칩의 테스트 비용은 큰 문제가 된다. 본 논문에서는 Advanced High-performance Bus(AHB)와 Peripheral Component Interconnect(PCI) 버스를 위한 온/오프-칩 버스 브리지를 이용한 효율적인 테스트 접근 메커니즘을 제시한다. 본 기술은 독립적인 테스트 입력 경로와 출력 경로를 제공하고 버스 방향 전환을 위한 턴어라운드 지연시간을 없앰으로써 테스트 시간을 매우 줄였다. 실험 결과는 면적 오버헤드와 기능적 구조적 테스트 모두 에서의 시간이 줄어들었음을 보여준다 제안하는 기술은 다른 종류의 온/오프-칩 버스 브리지에도 적용 가능하다.