• 한국콘텐츠학회논문지
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• 제5권1호
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• pp.229-236
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• 2005

System-On-a-Chip(SOC)을 테스트하는 동안에 요구되는 테스트 시간과 전력소모는 SOC내의 IP 코어의 개수가 증가함에 따라서 매우 중요하게 되었다. 본 논문에서는 수정된 스캔 래치 재배열을 사용하여 scan-in 전력소모와 테스트 데이터의 양을 줄일 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 스캔 벡터 내의 해밍거리를 최소화하도록 스캔 래치 재배열을 적용하였으며 스캔 래치 재배열을 하는 동안에 스캔 벡터 내에 존재하는 don't care 입력을 할당하여 저전력 및 테스트 데이터 압축을 하였으며 ISCAS 89 벤치마크 외호에 적용하여 모든 경우에 있어서 테스트 데이터를 압축하고 저전력 스캔 테스팅을 구현하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제39권12호
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• pp.1045-1054
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• 2002

System-On-a-Chip(SOC)에 대하여 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔테스팅에 대한 새로운 알고리즘을 제안하였다. 스캔벡터내의 don't care 입력들을 저전력이 되도록 적절하게 값을 할당하였고 높은 압축율을 갖도록 적응적 인코딩을 적용하였다. 또한 스캔체인에 입력되는 동안 소모되는 scan-in 전력소모를 최소화하도록 스캔벡터의 입력 방향을 결정하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대하여 실험한 결과는 평균전력 소모는 약 12% 감소되었고 압축율은 약 60%가 향상됨을 보였다.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제12권3호
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• pp.293-296
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• 2012

SOC test methodology in ultra deep submicron (UDSM) technology with reasonable test time and cost has begun to satisfy high quality and reliability of the product. A novel hierarchical test architecture using IEEE standard 1149.1, 1149.7 and 1500 compliant facilities is proposed for the purpose of supporting flexible test environment to ensure SOC test methodology. Each embedded core in a system-on- a-chip (SOC) is controlled by test access ports (TAP) and TAP controller of IEEE standard 1149.1 as well as tested using IEEE standard 1500. An SOC device including TAPed cores is hierarchically organized by IEEE standard 1149.7 in wafer and chip level. As a result, it is possible to select/deselect all cores embedded in an SOC flexibly and reduce test cost dramatically using star scan topology.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권3호
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• pp.65-70
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• 2004

최근 하나의 칩에 여러 개의 코어들로 구성된 SOC(System on Chip) 테스트 비용의 증가로 인해 SOC 테스트에 있어서 재사용 방법론과 효율적인 테스트 방법의 중요성이 더욱 커지게 되었다. SOC 테스트의 일반적인 문제는 TAM(Test Access Mechanism)의 구조 설계와 테스트 코어 wrapper의 최적화, 테스트 스케줄링이 있다. 이러한 SOC 테스트의 목표는 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드의 최소화이다. 이를 위해서 코어 내부의 스캔 체인과 입출력을 보다 균형 있게 배분하여 더 적은 테스트 시간과 TAM 너비를 사용하도록 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드를 동시에 고려하여 설계하는 것이 중요하다. 본 논문에서는 SOC 테스트를 위한 비용을 줄일 수 있는 코어 테스트 wrapper 설계 기법을 제안한다. 본 논문의 제안 기법은 기존의 기법들의 장점을 취하고 단점을 보완함으로써 보다 적은 테스트 시간과 하드웨어 오버헤드를 가진다. 이를 입증하기 위해서 ITC'02 SOC 테스트 벤치마크 회로를 이용하여 실험을 하였다.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2005년도 추계학술대회 논문집
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• pp.212-215
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• 2005

The needs of larger screen in mobile device would be increased as the time of ubiquitous and convergence is coming. And, the type of mobile device has been evolved from bar, slide to row. Recently, the study on the multi-display screen which has seamless gap between two display panel has been published, and moreover the System On Chip(SOC) design strategy of core chip has been the most promising Field-Programmable Gate Array(FPGA) technology in the display system. Therefore, in this paper, we proposed the design technique of SOC and evaluated the effectiveness with Very high speed Hardware Description Language(VHDL) Intellectual Property (IP) for the operation of multi display device driver. Also, This IP design would be to allow any kind of user interface in control system.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2001년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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• pp.349-352
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• 2001

As microprocessor and SOC (System On a Chip) performance moves into the GHz speed, the high-speed asynchronous design is becoming challenge due to the disadvantageous power and speed aspects in synchronous designs. The next generation on-chip systems will consist of multiple independently synchronous modules and asynchronous modules for higher performance, so the interface module for data transfer between multiple clocked IPs is designed with Xilinx FPGA and simulated with RISC microprocessor.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2011년도 추계학술대회
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• pp.892-895
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• 2011

SoC(System-On-Chip)을 테스트 하는 동안 소모하는 전력소모는 SoC내의 IP 코어가 증가됨에 따라 매우 중요한 요소가 되었다. 본 논문에서는 Scan Latch Reordering과 Clock Gating 기법을 적용하여 scan-in 전력소모를 줄이는 알고리즘을 제안한다. Scan vector들의 해밍거리를 최소로 하는 새로운 Scan Latch Reordering을 적용하였으며 Gated scan 셀을 사용하여 저전력을 구현하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 적용하여 실험한 결과 모든 회로에 대하여 향상된 전력소모를 보였다.

• 한국소프트웨어감정평가학회 논문지
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• 제15권1호
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• pp.55-62
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• 2019

사물인터넷 디바이스의 소형화, 저전력화 요구는 프로그램을 단일 칩으로 구현하는 SOC 기술로 구현되고 있다. 불법 복제에 의한 저작권 분쟁은 반도체 칩에서도 증가하고 있으며, 디자인하우스의 칩 구현에서의 분쟁과 소스코드의 도용에 의한 칩 구현에 발생하고 있다. 그러나 최종 칩 구현은 디자인하우스에서 제작되기 때문에 저작권의 보호범위에서 어려움이 있다. 본 연구에서는 사물인터넷 디바이스의 집적회로에서 HDL 언어로 작성된 소스코드의 분쟁에서, 유사성을 판단하기 위한 분석방법과 유사성 판단의 기준을 설정하는 항목에 대해 다루었다. 특히 동일한 시방서를 기준으로 제작된 칩의 경우 동일한 구성과 코드 형태를 포함해야 하는 제작특성에서 유사성의 판단영역을 구분하는 내용에 대해서도 다룬다.

• 전자공학회지
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• 제29권1호
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• pp.66-72
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• 2002

VLSI 기술의 발전은 보다 많은 양의 로직을 단일 칩에 집적 가능하게 했고, 이는 System-on-a-chip 시대의 도래를 가능하게 했다. System-on-a-chip을 가능하게 하기 위해서는 많은 종류의 IP (Intellectual Property)가 필요하고, 공정 변환을 쉽게 하기 위해서는 합성이 가능한 RTL 설계가 절실히 요구된다. 본 논문은 이러한 요구에 부응하기 위해서 hard macro 형태의 기존의 IP로 부터 합성 가능한 IP를 자동 생성해 주는 ART(Automatic RTL Translation)로 명명된 기법에 관한 것이다. 제안된 ART 기법을 이용하여 80C52 호환의 8-bit MCU(Micro-controller Unit)의 합성 가능한 RTL model을 자동 생성하였고, 개발된 Soft IP를 이용하여 TCP/IP 전용 MCU를 표함해서 다양한 제품들을 개발하였다.

• IT SoC Magazine
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• 통권16호
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• pp.10-11
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• 2006

정보통신부가 주최하고 정보통신연구진흥원, IT-SoC협회, 한국전자통신연구원이 주관하는 ‘IT-SoC Fair 2006’이 지난 11월 1일~2일 양일간 COEX 인도양홀에서 개최되었다. 이 행사는 Fabless 반도체업체들이 중심이 되는 SoC(System on Chip)/IP(Silicon Intellectual Property)전문 전시회로 IT 핵심부품산업을 진흥하고자 하는 취지로 매년 개최되는 행사이다.