• 한국콘텐츠학회논문지
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• 제5권1호
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• pp.229-236
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• 2005

System-On-a-Chip(SOC)을 테스트하는 동안에 요구되는 테스트 시간과 전력소모는 SOC내의 IP 코어의 개수가 증가함에 따라서 매우 중요하게 되었다. 본 논문에서는 수정된 스캔 래치 재배열을 사용하여 scan-in 전력소모와 테스트 데이터의 양을 줄일 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 스캔 벡터 내의 해밍거리를 최소화하도록 스캔 래치 재배열을 적용하였으며 스캔 래치 재배열을 하는 동안에 스캔 벡터 내에 존재하는 don't care 입력을 할당하여 저전력 및 테스트 데이터 압축을 하였으며 ISCAS 89 벤치마크 외호에 적용하여 모든 경우에 있어서 테스트 데이터를 압축하고 저전력 스캔 테스팅을 구현하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제39권12호
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• pp.1045-1054
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• 2002

System-On-a-Chip(SOC)에 대하여 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔테스팅에 대한 새로운 알고리즘을 제안하였다. 스캔벡터내의 don't care 입력들을 저전력이 되도록 적절하게 값을 할당하였고 높은 압축율을 갖도록 적응적 인코딩을 적용하였다. 또한 스캔체인에 입력되는 동안 소모되는 scan-in 전력소모를 최소화하도록 스캔벡터의 입력 방향을 결정하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대하여 실험한 결과는 평균전력 소모는 약 12% 감소되었고 압축율은 약 60%가 향상됨을 보였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권9호
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• pp.85-95
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• 2004

최근 반도체 칩의 집적도가 올라가고 System-on-Chip(Soc)환경이 보편화되면서 Automatic Test Equipment(ATE)를 이용한 테스트 수행시 테스트 패턴의 크기 문제와 스캔체인에서의 전력 소모문제가 크게 부각되고 있다. 또한, 테스트 패턴 크기문제를 해결하기 위해 테스트 패턴을 압축하게 되면 테스트 패턴의 소모하는 전력량이 커지게 되어 저전력 테스트를 수행하는데 어려움이 있어 두 가지 문제를 해결할 수 없었다 본 논문에서는 이러한 문제점들을 동시에 해결하기 위해서 Run-length code를 기반으로 하여 저전력 테스트가 가능하면서 테스트 패턴의 크기도 줄일 수 있는 알고리즘을 제안하였다. 본 논문에서는 기존에 제시되었던 알고리즘과 비교ㆍ분석하는 실험을 통하여 이 알고리즘의 효율성을 보여주고 있다.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제8권3호
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• pp.437-443
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• 2007

본 논문에서는 임베디드 프로세서 및 네트워크 구조를 기반으로 구성된 NoC(Network-On-Chip)의 저전력 테스트 구조를 제안한다. 임베디드 프로세서와 여러개의 코어로 구성된 네트워크 구조에 벤치마크 회로를 직접 연결하여 테스트 전력소모를 평가하였으며, 각 코어의 테스트 패턴을 저전력 소모가 되도록 매핑하여 테스트 전력소모를 감소시켰다. 또한 임베디드 프로세스 코어를 ATE(Automatic Test Equipment)로 사용하여 테스트 시간을 줄일수 있었다. ISCAS89 벤치마크 회로에 대해서 테스트 시간은 매우 효과적으로 감소되었으며 평균 전력소모는 약 8%가 감소되었다.

• 한국콘텐츠학회논문지
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• 제5권4호
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• pp.188-196
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• 2005

본 논문에서는 테스트 시간과 전력소모를 감축할 수 있는 새로운 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 방법을 제안하였다. 제안된 방법은 수정된 스캔 셀 재배열과 하이브리드 적응적 부호화 방법을 사용하여 scan-in전력과 테스트 데이터 량을 줄였으며 하이브리드 테스트 데이터 압축방법은 Golomb Code와 런길이(run-length) 코드를 테스트 데이터내의 런(run) 길이에 따라서 적응적으로 적용하는 방법이다. 또한 scan-in 전력소모를 최소화하기 위해서 스캔 벡터내의 열 해밍거리를 이용하였다. ISCAS89 벤치마크 회로에 적용하여 실험한 결과, 모든 경우에 있어서 테스트 데이터 및 전력소모를 효율적으로 감소시켰으며 압축률은 17%-26%, 평균 전력소모는 8%-22%, 최고전력소모는 13%-60% 정도의 향상률을 보였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제43권10호
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• pp.104-110
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• 2006

오늘날 시스템 온 칩 테스트에 있어서 많은 양의 테스트 데이터, 시간 및 전력 소모는 매우 중요한 문제이다. 이러한 문제들을 해결하기 위해서 본 논문은 새로운 테스트 데이터 압축 기술을 제안한다. 우선, 테스트 큐브 집합에 있는 돈 캐어 비트에 저전력 테스트를 위한 비트할당을 한다. 그리고, 비트할당이 된 저전력 테스트 데이터의 압축효율을 높이기 위해 이웃 비트 배타적 논리합 변환을 사용하여 변환한다. 최종적으로, 변환된 테스트 데이터는 효과적으로 압축됨으로써 테스트 장비의 저장공간과 테스트 데이터 인가시간을 줄일 수 있게 된다.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제8권2호
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• pp.201-206
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• 2007

본 논문에서는 NoC(Network-on Chip) 구조로 구현된 core-based 시스템에 대한 효율적인 저전력 테스트 방법을 제안한다 NoC의 라우터 채널로 전송되는 테스트 데이터의 전력소모를 줄이기 위해서 스캔 벡터들을 채널 폭만큼의 길이를 갖는 flit으로 분할하고 nit간 천이율(switching rate)이 최소화 되도록 don't care 입력을 할당하였다. ISCAS 89 벤치마크에 대하여 실험을 한 결과, 제안된 방법은 약 35%의 전력 감소를 나타내었다.

• 한국정보처리학회:학술대회논문집
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• 한국정보처리학회 2002년도 춘계학술발표논문집 (상)
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• pp.635-638
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• 2002

BIST(Built-In Self-Test)를 이용한 테스트 방식은 정상 동작 모드인 회로에 비해 테스트 모드에서 보다 많은 스위칭이 발생하고, 과도한 전력 소모에 의해 회로가 손상을 받을 수 있는 문제점을 갖고 있다. 본 논문은 test-per-clock BIST 구조에서 전력이 제한되어 있을 때 테스트 적용 시간과 총 에너지 소비를 최소화하기 위한 테스트 스케줄링 알고리즘을 제안한다. 제안된 방법은 테스트 세션을 구성함에 있어 각 세션에 포함되는 각 블록의 테스트 시작 시간을 동적으로 결정하여 기존의 알고리즘에 비하여 전력 소모와 전체 테스트 시간을 줄일 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제47권8호
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• pp.29-35
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• 2010

본 논문에서는 내장된 자체 테스트 기법 (BIST, Built-In Self Test)을 적용 할 때 저전력 테스트가 가능한 패턴 생성기를 제안하였다. 테스트 시 WSA (Weighted Switching Activity)가 많이 발생하는 노드인 heavy nodes의 선택 알고리듬을 제안하였으며, heavy nodes에 천이를 발생시키는 입력부 곧 heavy inputs을 찾는 알고리듬을 나타내었다. 고장 검출율을 높이는 최적의 heavy nodes의 수를 결정하고 선택된 입력부에 변형된 LFSR의 출력을 인가하여 테스트 시 발생하는 천이를 줄였다. 제안하는 패턴 생성기는 몇 개의 AND 게이트와 OR 게이트를 LFSR에 추가하여 적은 하드웨어 오버헤드로 간단히 구현된다. ISCAS 벤치 회로에 적용한 실험을 통해 제시하는 방법이 기존의 기법에 비해 평균 소비 전력을 감소시키면서 고장 검출율을 상승시키는 것을 검증하였다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2003년도 하계종합학술대회 논문집 II
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• pp.1205-1208
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• 2003

본 논문에서는 분할된 스캔을 이용한 저전력 BIST 구조를 제안한다. 제안하는 BIST는 내부 스캔 패스를 회로의 구조적인 정보와 테스트 패턴 집합의 특성에 따라 4개의 스캔 패스로 분할하고 일부 스캔 패스에만 입력패턴이 인가되도록 설계하였다. 따라서 테스트 패턴 입력 시에 스캔 패스로의 쉬프트 동작 수를 줄임으로써 회로 내부의 전체 상태천이 수를 줄일 수 있다. 또한 4개로 분할되는 스캔패스의 길이를 고려하여 각 스캔 패스에 대해 1/4의 속도로 낮춰진 테스트 클럭을 인가함으로써 전체 회로의 전력 소모를 줄일 수 있도록 하였다. ISCAS89 벤치마크 회로에 대한 실험을 통하여 제안하는 BIST 구조가 기존 BIST 구조에 비해 최대 21%까지 전력소모를 줄일 수 있음을 확인하였다.