• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2002년도 합동 추계학술대회 논문집 정보 및 제어부문
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• pp.197-200
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• 2002

We newly developed the procedures of X-ray Cargo inspection system with acquisition of multi-channel data, analog to digital converter and post logic circuit which is controlled by the FPGA. The IEEE1149.1 standard defines a four-wire serial interface(a fifth wire is optional)to access complex integrated circuits(ICs) such as PLD. This paper describes that Boundary_Scan test method applied to our home made cargo inspection system.

• 대한전기학회논문지:전기기기및에너지변환시스템부문B
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• 제54권9호
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• pp.450-453
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• 2005

A high speed address recovery technique for AC plasma display panel(PDP) is proposed. Replacing GND switch by clamping diode. the recovery speed can be increased by saving GND hold-time and switching loss due to GND switch also becomes also be reduced. The proposed method is able to perform load-adaptive operation by controlling the voltage level of energy recovery capacitor, which prevents increasing inefficient power consumption caused by circuit loss during recovery operation. Test results with 50' HD single-scan PDP(resolution = 1366$\times$768) show that less than 3sons of recovery time is successfully accomplished and about$54\%$ of the maximum power consumption can be reduced, tracing minimum power consumption curves.

• 한국전자파학회논문지
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• 제14권2호
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• pp.111-118
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• 2003

넛치 안테나는 진행파형 안테나로서 공진형 안테나에 비해 광대역 특성과 넓은 빔 폭을 가지므로 광대역 위상 배열 안테나의 복사 소자로 사용되어진다. 본 논문에서는 단일 복사 소자의 해석으로 무한 배열 안테나를 모의할 수 있는 도파관 시뮬레이터를 이용하여 3 : 1 이상의 주파수 대역과 $\pm$45$^{\circ}$의 빔 조향 범위를 만족하는 광대역 E-평면 넛치 위상 배열 안테나를 설계하였다. 설계된 단일 소자의 등가회로 모델링을 통해 단일 소자와 무한 배열소자에서의 임피던스 특성을 비교하였으며, 설계된 결과를 이용하여 1$\times$9배열 E-평면 넛치 위상 배열 안테나 전체를 해석하였다. 이때 구해진 안테나간 상호 결합 계수를 이용하여 각 소자의 빔 조향 각도에 따른 능동 반사 계수를 구하였으며, 능동 소자 패턴을 통해 빔 조향에 따른 이득의 변화를 살펴보았다.

• 전기학회논문지
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• 제56권11호
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• pp.2004-2009
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• 2007

A new high-speed drive method for the plasma display panel is proposed. In this method, the address period is inserted for the rest period of the sustain pulses and the priming pulse is applied on the entire panel at the same time overlapping with the sustain period. The ramp shaped priming pulse can be made with a simple drive circuit in this technology and the stable sustain discharge can be induced even by a narrow scan pulse in help of the space charge generated from the address discharge. From the experiments, it is ascertained that the priming pulse hardly influences the sustain discharge. Moreover, the voltage margin of the sustain discharge is almost constant though that of the address discharge broadens with narrowing the scan pulse width. And, if the time interval between the scan pulse and the sustain pulse is within $6{\mu}s$, the voltage margin of the address and the sustain discharges are unaffected though the applied position of the scan pulse is changed. High-speed driving with the address pulse of $0.7{\mu}s$ width was achieved and the address voltage margin of 20V and the sustain voltage margin of 10V were obtained.

• 한국정보처리학회논문지
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• 제3권7호
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• pp.1924-1937
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• 1996

본 논문에서는 다중 보드를 시험하기 위한 새로운 구조인 확장된 스캔 경로 (ESP: Exlended Scan Path)와 절차를 제안한다. 보드률 시험하기 위한 기존의 구조로는 단일 스캔 경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔 경로 구조는 시험 데이자의 전송 경로 인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에 올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 다중 보드 시험 시보드마다 별도의 신호선이 추가된다. 그러므로 기존의 주 구조는 다중 보드 시험에는 부적절하다. 제안된 ESP구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로 상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지 않는다. 뿐만 아니라, 비스트(BIST: BUILT In Self Test)와 IEEE 1149.1 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 또한 ESP 구조를 다중 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로마다 신호선을 공통으로 사용함으로써 다중 보드 시험 시 추가되는 신호선이 없다. 본 논문 에서는 제안한 ESP 구조와 기존 시험 구조의 성능을 비교하기 위해서, ISCAS '85벤치 마크 회로를 대상으로 각 구조의 시험 수행 시간을 비교하여 우수함을 보였다.

• 전력전자학회:학술대회논문집
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• 전력전자학회 2007년도 추계학술대회 논문집
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• pp.215-217
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• 2007

Recently, the demand for high definition TV is being increased by beginning of the digital broadcasting. The higher resolution of PDP is, the longer addressing time become, then, the sustain period for display image decreases. Because of the reason, dual-scan method which synchronously write information of an image on top and bottom of the screen is used for the high definition PDP. However, as the price competition of PDP becomes severe, we can`t avoid turning to a single-scan method which uses only a half of an expensive address IC. Accordingly, the sustain period becomes much shorter than prior method. In case of XGA level, it is impossible to display, eventually. In this paper, we are going to prove usefulness by realizing negative reset waveform and the driving circuit for high speed addressing.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제40권10호
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• pp.45-51
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• 2003

본 논문에서는 2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조를 제안한다. 제안하는 BIST는 STUMPS 구조론 기반으로 하고 있다. STUMPS 구조는 테스트 생성기로 선형 귀환 시프트 레지스터(LFSR)를 사용하고, 응답 압축기로는 다중 입력 시프트 레지스터(MISR), 그리고 다중 스캔 패스 구성에는 시프트 레지스터 래치(SRL)을 사용한다. 제안하는 BIST 구조에서는 degenerate MISR이 SRL 채널을 구성하도록 하여, STUMPS 기법에 비하여 원래 회로에 부가되는 BIST 회로의 크기를 줄이고 전체 시스템의 성능에 거의 영향을 주지 않도록 한다. 클럭 당 테스트와 스캔 당 테스트가 모두 지원되는 구조로 설계되며, 특히 스캔 당 테스트에서 스캔 데이터의 회로에 대한 영향을 억제하여 회로의 전력 소모를 크게 줄일 수 있다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대한 실험 결과로부터, SRL 채널 내 데이터의 해밍 거리를 고려하여 제안된 BIST가 경로 지연 고장의 검출에도 적용될 수 있음을 확인한다.

• 대한전자공학회논문지
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• 제10권5호
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• pp.1-6
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• 1973

본논문은 자동급수기의 설계 및 제작연구를 한 것으로 digital scanning circuits를 이용하여 10개의 probe를 차례로 scanning하여 지표의 습도를 검출하여 reference level과 비교하여 필요한곳에 자동적으로 급수하도록 설계하였다. 이 system의 control을 위하여 main clock oscillator와 controloscillator를 사용하였고 control circuit로는 programmable unijunction transistor를 이용하여 reference level을 조절하게하여 임의의 원하는 습도에 급수하도록 하였다. 제작된 급수재는 모래의 습도가 6%에서 51%로 변화시키면서 실험하여 언제나 input level이 reference level보다 약 0.6V보다 높을때 완전동작하였으며 reference level은 임의로 조절할 수 있었다.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2005년도 춘계학술대회 논문집
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• pp.657-662
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• 2005

In this study, the deposition of micrometer-scale metallic interconnects on LCD glass for the repair of open-circuit type defects is investigated. Although there had been a few studies Since 1980 s for the deposition of metallic interconnects by laser-induced chemical vapor deposition, those studies mostly used continuous wave lasers. In this work, a third harmonic Nd:YLF laser (351nm) of high repetition rates, up to 10 KHz, was used as the illumination source and $W(CO)_6$ was selected as the precursor. General characteristics of the metal deposit (tungsten) such as height, width, morphology as well as electrical properties were examined for various process conditions. Height of the deposited tungsten lines ranged from 35 to 500 nm depending on laser power and scan speed while the width was controlled between $3\~50{\mu}$ using a slit placed in the beam path. The resistivity of the deposited tungsten lines was measured to be below 1 $O\cdot{\mu}m$, which is an acceptable value according to the manufacturing standard. The tungsten lines produced at high scan speed had good surface morphology with little particles around the patterns. Experimental results demonstrated that it is likely that the deposit forms through a hybrid process, namely through the combination of photolytic and pyrolytic mechanisms.

• 한국정밀공학회지
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• 제22권8호
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• pp.165-173
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• 2005

This paper presents the results for deposition of micrometer-scale metal lines on glass for the development of TFT-LCD circuit repair-system. Although there had been a few studies in the late 1980's for the deposition of metallic interconnects by laser-induced chemical vapor deposition, those studies mostly used continuous wave lasers. In this work, a third harmonic Nd:YLF laser (351nm) of high repetition rates, up to 10 KHz, was used as the illumination source and W(CO)s was selected as the precursor. General characteristics of the metal deposit (tungsten) such as height, width, morphology as well as electrical properties were examined for various process conditions. Height of the deposited tungsten lines ranged from 35 to 500 m depending on laser power and scan speed while the width was controlled between 50um using a slit placed in the beam path. The resistivity of the deposited tungsten lines was measured to be below $1{\Omega}{\cdotu}um$, which is an acceptable value according to the manufacturing standard. The tungsten lines produced at high scan speed had good surface morphology with little particles around the patterns. Experimental results demonstrated that it is likely that the deposit forms through a hybrid process, namely through the combination of photolytic and pyrolytic mechanisms.