Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2010.05a
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pp.483-485
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2010
A 200kS/s 10-bit successive approximation(SA) ADC with a rail-to-rail input range is proposed. The proposed SA ADC consists of DAC, comparator, and successive approximation register(SAR) logic. The folded-type capacitor DAC with the boosted NMOS switches is used to reduce the power consumption and chip area. Also, the time-domain comparator which uses a fully differential voltage-to-time converter improves the PSRR and CMRR. The SAR logic uses the flip-flop with a half valid window, it results in the reduction of the power consumption and chip area. The proposed SA ADC is designed by using a $0.18{\mu}m$ CMOS process with 1V supply.
This paper presents a design of the successive approximation ADC(SA-ADC) applicable to a midium-low speed analog-front end(AFE) for the maximum 15MS/s CCD image processing. SA-ADC is effective in applications ranging widely between low and mid data rates due to the large power scaling effect on the operating frequency variations in some other way of pipelined ADCs. The proposed design exhibits some distinctive features. The "differential capacitor-coupling scheme" segregates the input sampling behavior from the sub-DAC incorporating the differential input and the sub-DAC output, which prominently reduces the loading throughout the signal path. Determining the MSB(sign bit) from the held input data in advance of the data conversion period, a kind of the signed successive approximation, leads to the reduction of the sub-DAC hardware overhead by 1 bit and the conversion period by 1 cycle. Characterizing the proposed design in a 3.3 V $0.35-{\mu}m$ CMOS process by Spectre simulations verified its validity of the application to CCD analog front-ends.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2011.10a
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pp.448-451
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2011
SoC에서 칩 내부의 온도를 측정하기 위한 proportional-to-absolute-temperature (PTAT) 회로와 sensing 된 아날로그 신호를 디지털로 변환하기 위해 4-bit analog-to-digital converter (ADC)로 구성된 temperature sensor를 제안한다. CMOS 공정에서 vertical PNP 구조를 이용하여 PTAT 회로가 설계되었다. 온도변화에 둔감한 ADC를 구현하기 위해 아날로그 회로를 최소로 사용하는 successive approximation (SA) ADC가 이용되었다. 4-bit SA ADC는 capacitor DAC와 time-domain 비교기를 이용함으로 전력소모를 최소화하였다. 제안된 temperature sensor는 2.5V $0.25{\mu}m$ 1-poly 9-metal CMOS 공정을 이용하여 설계되었고, $50{\sim}150^{\circ}C$ 온도 범위에서 동작한다. Temperature sensor의 면적과 전력 소모는 각각 $130{\times}390\;um^2$과 868 uW이다.
A basic multichannel analyser (MCA) system have been designed and constructed with the successive approximation type ADC (Analog to Digital Converter). Linear Gate, window, and palse stretcher consist of mainly linear and logic IC's, and are properly combined together to achieve short dead time and good linearity of the system. ADC 1211 (analysing time: $120{\mu}sec$) and S-RAM (static random acess memory) 6264 are used in ADC module. Two 6264 memories are connected in parallel in order to-provide enough counting capacity ($2^{16}-1$). Interfaced microcomputer Apple II controls this system and analizes the counted data. The system is tested by input pulses between 0V to 10V from oscillator.
The purpose of this study is to improve the mapping between functional image and conventional image by using rectangular FOV technique. Diffusion weighted imaging which is widely used for stroke was acquired by reducing the FOV and compared each Apparent Diffusion Coefficient(ADC). As a result, there is no significant difference of each ADC value in one-way-anova analysis and post-hoc analysis. Thus, Mismatching problem may be improved by matching the FOV with rectangular FOV technique because there is no difference in ADC values.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.16
no.6
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pp.1250-1259
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2012
In this paper, a time-domain comparator is proposed for a successive approximation (SA) analog-to-digital converter (ADC) with a low power and high resolution. The proposed time-domain comparator consists of a voltage-controlled delay converter with a clock feed-through compensation circuit, a time amplifier, and binary phase detector. It has a small input capacitance and compensates the clock feed-through noise. To analyze the performance of the proposed time-domain comparator, two 1V 10-bit 200-kS/s SA ADCs with a different time-domain comparator are implemented by using 0.18-${\mu}m$ 1-poly 6-metal CMOS process. The measured SNDR of the implemented SA ADC is 56.27 dB for the analog input signal of 11.1 kHz, and the clock feed-through compensation circuit and time amplifier of the proposed time-domain comparator enhance the SNDR of about 6 dB. The power consumption and area of the implemented SA ADC are 10.39 ${\mu}W$ and 0.126 mm2, respectively.
Min Byoung-Han;Park Hee-Won;Chae Hee-Sung;Sa Doo-Hwan;Lee Seung-Hoon
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.42
no.12
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pp.53-60
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2005
This work proposes a 10b 100 MS/s $1.4\;mm^2$ CMOS ADC for low-power multimedia applications. The proposed two-step pipeline ADC minimizes chip area and power dissipation at the target resolution and sampling rate. The wide-band SHA employs a gate-bootstrapping circuit to handle both single-ended and differential inputs with 1.2 Vp-p at 10b accuracy while the second-stage flash ADC employs open-loop offset sampling techniques to achieve 6b resolution. A 3-D fully symmetrical layout reduces the capacitor and device mismatch of the first-stage MDAC. The low-noise references are integrated on chip with optional off-chip voltage references. The prototype 10b ADC implemented in a 0.18 um CMOS shows the maximum measured DNL and INL of 0.59 LSB and 0.77 LSB, respectively. The ADC demonstrates the SNDR of 54 dB, the SFDR of 62 dB, and the power dissipation of 56 mW at 100 MS/s.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.17
no.2
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pp.378-384
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2013
In this paper, a CMOS temperature sensor is proposed to measure the internal temperature of a chip. The temperature sensor consists of a proportional-to-absolute-temperature (PTAT) circuit for a temperature sensing part and a 4-bit analog-to-digital converter (ADC) for a digital interface. The PTAT circuit with the compact area is designed by using a vertical PNP architecture in the CMOS process. To reduce sensitivity of temperature variation in the digital interface circuit of the proposed temperature sensor, a 4-bit successive approximation (SA) ADC using the minimum analog circuits is used. It uses a capacitor-based digital-to-analog converter and a time-domain comparator to minimize power consumption. The proposed temperature sensor was fabricated by using a $0.25{\mu}m$ 1-poly 6-metal CMOS process with a 2.5V supply, and its operating temperature range is from 50 to $150^{\circ}C$. The area and power consumption of the fabricated temperature sensor are $130{\times}390{\mu}m^2$ and $868{\mu}W$, respectively.
Sa, Doo-Hwan;Choi, Hee-Cheol;Kim, Young-Lok;Lee, Seung-Hoon
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.43
no.11
s.353
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pp.58-68
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2006
This work proposes a 10b 250MS/s $1.8mm^2$ 85mW 0.13um CMOS A/D Converter (ADC) for high-performance integrated systems such as next-generation DTV and WLAN simultaneously requiring low voltage, low power, and small area at high speed. The proposed 3-stage pipeline ADC minimizes chip area and power dissipation at the target resolution and sampling rate. The input SHA maintains 10b resolution with either gate-bootstrapped sampling switches or nominal CMOS sampling switches. The SHA and two MDACs based on a conventional 2-stage amplifier employ optimized trans-conductance ratios of two amplifier stages to achieve the required DC gain, bandwidth, and phase margin. The proposed signal insensitive 3-D fully symmetric capacitor layout reduces the device mismatch of two MDACs. The low-noise on-chip current and voltage references can choose optional off-chip voltage references. The prototype ADC is implemented in a 0.13um 1P8M CMOS process. The measured DNL and INL are within 0.24LSB and 0.35LSB while the ADC shows a maximum SNDR of 54dB and 48dB and a maximum SFDR of 67dB and 61dB at 200MS/s and 250MS/s, respectively. The ADC with an active die area of $1.8mm^2$ consumes 85mW at 250MS/s at a 1.2V supply.
Kim, Park Sa;Kwon, Byung Hyuk;Kim, Min-Seong;Yoon, Hong-Joo
The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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v.13
no.3
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pp.497-502
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2018
An analog to digital converter(: ADC) has been designed to extract video signals of marine X-band radar and convert to digital signals in order to produce rainfall information. X-band weather radars are suitable for high temporal-spatial resolution observations of rainfall over local ranges but they are very expensive and require professional management. The marine radars with 10-2 cost facilitate data collection and management as well as economic benefits. To validate the usefulness of the developed ADC, comparative observations were made with weather radar for short term precipitation cases. The rainfall distribution of marine radar observations are consistent with that of weather radar within a radius of 15 km. This demonstrates the usability of marine radar for rainfall observations.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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