• 제목/요약/키워드: CMOS transistor

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CMOS 뉴런의 활성화 함수 (CMOS neuron activation function)

  • 강민제;김호찬;송왕철;이상준
    • 한국지능시스템학회논문지
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    • 제16권5호
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    • pp.627-634
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    • 2006
  • CMOS 인버터 특성곡선의 기울기를 조절하는 방법과 y축으로 이동할 수 있는 방법을 제안하였다. 기울기의 변경과 y축으로 이동은 트랜지스터의 문턱 값을 조절하는 방법을 사용하였다. 그리고 특성곡선의 중심에서는 두 트랜지스터 모두 포화영역에 머물러 있음에 착안하여, 단극성 뉴런의 특성곡선을 만드는 방법을 제안하였다. 제안된 방법은 회로레벨의 시뮬레이션을 통해 검증하였으며, 회로레벨의 시뮬레이션은 OrCAD사의 PSpice(Professional Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis)를 사용하였다.

CMOS Binary Image Sensor Using Double-Tail Comparator with High-Speed and Low-Power Consumption

  • Kwen, Hyeunwoo;Jang, Junyoung;Choi, Pyung;Shin, Jang-Kyoo
    • 센서학회지
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    • 제30권2호
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    • pp.82-87
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    • 2021
  • In this paper, we propose a high-speed, low-power complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) binary image sensor featuring a gate/body-tied (GBT) p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (PMOSFET)-type photodetector based on a double-tail comparator. The GBT photodetector forms a structure in which the floating gate (n+ polysilicon) and body of the PMOSFET are tied, and amplifies the photocurrent generated by incident light. The double-tail comparator compares the output signal of a pixel against a reference voltage and returns a binary signal, and it exhibits improved power consumption and processing speed compared with those of a conventional two-stage comparator. The proposed sensor has the advantages of a high signal processing speed and low power consumption. The proposed CMOS binary image sensor was designed and fabricated using a standard 0.18 ㎛ CMOS process.

체내 이식 기기용 표준 CMOS 고전압 신경 자극 집적 회로 (A High-Voltage Compliant Neural Stimulation IC for Implant Devices Using Standard CMOS Process)

  • 알피안 압디;차혁규
    • 전자공학회논문지
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    • 제52권5호
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    • pp.58-65
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    • 2015
  • 본 논문에서는 신경 관련 인공 전자기기를 위한 신경 자극 집적회로를 $0.18-{\mu}m$ 표준 CMOS 반도체 공정을 이용하여 설계하였다. 제안 된 신경 자극 회로는 12.8-V 전원을 사용하면서 $10-k{\Omega}$의 부하에 최대 1 mA의 전류까지 전달이 가능하다. 표준 CMOS 공정 기술로 구현을 위해서 저전압 트랜지스터만을 이용하여 설계를 하였고, 고전압에서의 안정적인 동작을 위하여 트랜지스터 스태킹 기술을 적용하였다. 또한, 신경 자극 동작 후 전하 잔여량이 남아 있지 않도록 active charge balancing회로를 포함하였다. 제안 된 단일 채널 자극 집적회로의 경우 디지털-아날로그 변환기, 전류 출력 드라이버, 레벨 시프터, 디지털 제어 부분, 그리고 active charge balancing 회로까지 모두 포함하여 전체 칩 레이아웃 면적은 $0.13mm^2$을 차지하며, 다중 채널 방식의 신경 자극 기능의 체내 이식용 인공 전자기기 시스템에 적용을 하는데 적합하다.

실리콘-게르마늄 바이시모스 공정에서의 실리콘-게르마늄 이종접합 바이폴라 트랜지스터 열화 현상 (Degradation of the SiGe hetero-junction bipolar transistor in SiGe BiCMOS process)

  • 김상훈;이승윤;박찬우;강진영
    • 한국진공학회지
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    • 제14권1호
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    • pp.29-34
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    • 2005
  • 실리콘-게르마늄 바이시모스(SiGe BiCMOS) 소자 제작시 발생하는 실리콘-게르마늄 이종접합 바이폴라 트랜지스터(SiGe HBT) 열화 현상에 대하여 고찰하였다. 독립적으로 제작된 소자에 비해 SiGe BiCMOS 공정에서의 SiGe HBT소자는 얼리 전압(Early voltage), 콜렉터-에미터 항복전압 및 전류이득등의 DC특성이 열화되고 상당한 크기의 베이스 누설전류가 존재한다는 것을 알 수 있었다. 또한 AC 특성인 차단주파수(f/sub T/) 및 최대 진동주파수(f/sub max/)도 1/2이하로 현저하게 저하되는 것을 확인하였다. 이는 고온의 소오스-드레인 열처리에 의한 붕소의 농도분포 변화가 에미터-베이스 및 콜렉터-베이스 접합 위치에 변화를 주고, 결국 실리콘-게르마늄 내에서의 접합 형성이 이루어지지 않아 전류 이득이 감소하고 기생 장벽이 형성되어서 발생한 현상이다.

새로운 복합모드로직과 사인선택 Booth 인코더를 이용한 고성능 32$\times$32-bit 곱셈기의 설계 (Design of a High Performance 32$\times$32-bit Multiplier Based on Novel Compound Mode Logic and Sign Select Booth Encoder)

  • 김진화;송민규
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제38권3호
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    • pp.205-210
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    • 2001
  • 본 논문에서는 CMOS 로직과 pass-transistor logic(PTL)의 장점만을 가진 새로운 복합모드로직(Compound Mode Logic)을 제안하였다. 제안된 로직은 VLSI설계에서 중요하게 부각되고 있는 저전력, 고속 동작이 가능하며 실제로 전가산기를 설계하여 측정 한 결과 복합모드 로직의 power-delay 곱은 일반적인 CMOS로직에 비해 약 22% 개선되었다 제안한 복합모드 로직을 이용하여 고성능 32×32-bit 곱셈기를 설계 제작하였다. 본 논문의 곱셈기는 개선된 사인선택(Sign Select) Booth 인코더, 4-2 및 9-2 압축기로 구성된 데이터 압축 블록, 그리고 carry 생성 블록을 분리한 64-bit 조건 합 가산기로 구성되어 있다. 0.6um 1-poly 3-metal CMOS 공정을 이용하여 제작된 32×32-bit 곱셈기는 28,732개의 트랜지스터와 1.59×l.68 ㎜2의 면적을 가졌다. 측정 결과 32×32-bit 곱셈기의 곱셈시간은 9.8㎱ 이었으며, 3.3V 전원 전압에서 186㎽의 전력 소모를 하였다.

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CMOS 상보형 구조를 이용한 아날로그 멀티플라이어 설계 (Design of A CMOS Composite Cell Analog Multiplier)

  • 이근호;최현승;김동용
    • 전자공학회논문지SC
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    • 제37권2호
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    • pp.43-49
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    • 2000
  • 본 논문에서는 저전압 저전력 시스템에 응용 가능한 CMOS 4상한 아날로그 멀티플라이어를 제안하였다. 제안된 멀티플라이어는 저전압에서 동작이 용이하며 아날로그 회로를 설계하는데 자주 이용되는 LV(Low-Voltage) 상보형 트랜지스터 방식의 특성을 이용하였다. LV 상보형 구조는 등가 문턱전압을 감소시킴으로서 회로의 동작전압을 감소시킬 수 있는 특징이 있다. 설계된 회로의 특성은 2V 공급전압하에서 0.6㎛ CMOS 공정파라미터를 갖는 HSPICE 시뮬레이션을 통하여 측정되었다. 이때 ±0.5V까지의 입력선형 범위내에서 선형성에 대한 오차는 1%미만이었다. 또한 -3㏈ 점에서의 대역폭은 290㎒, 그리고 전력소모는 373㎼값을 나타내었다.

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효율 개선을 위해 캐스코드 구동 증폭단을 활용한 바이패스 구조의 2.4-GHz CMOS 전력 증폭기 (A 2.4-GHz CMOS Power Amplifier with a Bypass Structure Using Cascode Driver Stage to Improve Efficiency)

  • 장요셉;유진호;이미림;박창근
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제23권8호
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    • pp.966-974
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    • 2019
  • 본 연구에서는 저전력 영역에서의 효율을 개선하기 위해 바이패스 구조를 갖춘 2.4GHz CMOS 전력 증폭기를 제안한다. 바이패스 구조를 설계하기 위해, 구동 증폭단의 공통 게이트 트랜지스터를 두 개로 분할하였다. 공통 게이트 트랜지스터 중 하나는 고출력 전력 모드를 위한 전력단을 구동하도록 설계된다. 다른 공통 게이트 트랜지스터는 저출력 전력 모드를 위해 전력단을 바이 패스하도록 설계하였다. 측정 된 최대 출력은 20.35 dBm이며 효율은 12.10 %이다. 11.52 dBm의 측정 된 출력에서 효율은 전력증폭단을 바이 패스함으로써 1.90 %에서 7.00 %로 향상됨을 확인하였다. 측정 결과를 바탕으로 제안 된 바이 패스 구조의 타당성을 성공적으로 검증 하였다.

고속 Bipolar 소자를 이용한 comparator 설계 (Comparator design using high speed Bipolar device)

  • 박진우;조정호;구용서;안철
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2004년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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    • pp.351-354
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    • 2004
  • This thesis presents Bipolar transistor with SAVEN(Self-Aligned VErtical Nitride) structure as a high-speed device which is essential for high-speed system such as optical storage system or mobile communication system, and proposes 0.8${\mu}m$ BiCMOS Process which integrates LDD nMOS, LDD pMOS and SAVEN bipolar transistor into one-chip. The SPICE parameters of LDD nMOS, LDD pMOS and SAVEN Bipolar transistor are extracted, and comparator operating at 500MHz sampling frequency is designed with them. The small Parasitic capacitances of SAVEN bipolar transistor have a direct effect on decreasing recovery time and regeneration time, which is helpful to improve the speed of the comparator. Therefore the SAVEN bipolar transistor with high cutoff frequency is expected to be used in high-speed system.

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CMOS Class-E 전력증폭기의 Cascode 구조에 대한 게이트바이어스 효과 분석 (Analysis of the Gate Bias Effects of the Cascode Structure for Class-E CMOS Power Amplifier)

  • 서동환
    • 한국전자파학회논문지
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    • 제28권6호
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    • pp.435-443
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    • 2017
  • 본 논문에서는 cascode 구조가 적용된 Class-E 스위칭 모드 CMOS 전력증폭기의 common-gate 트랜지스터 게이트 바이어스 효과에 대해 분석하였다. 게이트 바이어스 효과를 확인하기 위해서 전력증폭기의 DC 전력소모, 효율을 분석하였다. 분석 결과를 통해서 전력증폭기의 최고 효율을 보여주는 common-gate 트랜지스터의 게이트 바이어스가 일반적으로 사용하는 전력증폭기 전원 전압보다 낮음을 확인하였다. 트랜지스터의 게이트 바이어스가 계속 감소함에 따라 on-저항을 확인하여 커지고, 이에 따라 출력, 효율이 감소하는 것도 확인하였다. 이 두 가지 현상을 통해 게이트 바이어스가 스위칭 모드 전력증폭기에 미치는 영향을 분석하였다. 이 분석을 증명하기 위해서 $0.18{\mu}m$ RF CMOS 공정으로 1.9 GHz 스위칭 모드 전력증폭기를 설계하였다. 앞에서 설명한 것처럼 전력증폭기의 최대 효율은 전력증폭기의 인가 전압(3.3 V)보다 낮은 2.5 V에서 확인할 수 있었다. 이 때 최고 출력은 29.1 dBm, 최고 효율은 31.5 %이다. 측정 결과를 통해서 스위칭 모드 전력증폭기 common-gate 트랜지스터의 게이트 바이어스 효과를 실험적으로 확인하였다.

Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor with Adjustable Sensitivity Using Cascode MOSFET and Inverter

  • Seong, Donghyun;Choi, Byoung-Soo;Kim, Sang-Hwan;Lee, Jimin;Shin, Jang-Kyoo
    • 센서학회지
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    • 제27권3호
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    • pp.160-164
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    • 2018
  • In this paper, a wide dynamic range complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) image sensor with the adjustable sensitivity by using cascode metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET) and inverter is proposed. The characteristics of the CMOS image sensor were analyzed through experimental results. The proposed active pixel sensor consists of eight transistors operated under various light intensity conditions. The cascode MOSFET is operated as the constant current source. The current generated from the cascode MOSFET varies with the light intensity. The proposed CMOS image sensor has wide dynamic range under the high illumination owing to logarithmic response to the light intensity. In the proposed active pixel sensor, a CMOS inverter is added. The role of the CMOS inverter is to determine either the conventional mode or the wide dynamic range mode. The cascode MOSFET let the current flow the current if the CMOS inverter is turned on. The number of pixels is $140(H){\times}180(V)$ and the CMOS image sensor architecture is composed of a pixel array, multiplexer (MUX), shift registers, and biasing circuits. The sensor was fabricated using $0.35{\mu}m$ 2-poly 4-metal CMOS standard process.