• 제목/요약/키워드: chemical vapor deposition(CVD)

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Neutral Beam assisted Chemical Vapor Deposition at Low Temperature for n-type Doped nano-crystalline silicon Thin Film

  • 장진녕;이동혁;소현욱;유석재;이봉주;홍문표
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2011년도 제40회 동계학술대회 초록집
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    • pp.52-52
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    • 2011
  • A novel deposition process for n-type nanocrystalline silicon (n-type nc-Si) thin films at room temperature has been developed by adopting the neutral beam assisted chemical vapor deposition (NBa-CVD). During formation of n-type nc-Si thin film by the NBa-CVD process with silicon reflector electrode at room temperature, the energetic particles could induce enhance doping efficiency and crystalline phase in polymorphous-Si thin films without additional heating on substrate; The dark conductivity and substrate temperature of P-doped polymorphous~nano crystalline silicon thin films increased with increasing the reflector bias. The NB energy heating substrate(but lower than $80^{\circ}C$ and increase doping efficiency. This low temperature processed doped nano-crystalline can address key problem in applications from flexible display backplane thin film transistor to flexible solar cell.

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텡스텐 플러그 CVD 공정에서 SiH4 Soak의 영향 (SiH4 Soak Effects in the W plug CVD Process)

  • 이우선;서용진;김상용;박진성
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제16권1호
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    • pp.1-4
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    • 2003
  • The SiH$_4$soak step is widely used to prevent the WF$_{6}$ attack to the underlayer metal using the chemical vapor deposition (CVD) method. Reduction or skipping of the SiH$_4$soak process time if lead to optimizing W-plug deposition process on via. The electrical characteristics including via resistance and the structure of W-film are affected by the time of SiH$_4$soak process. The possibility of elimination of SiH$_4$soak process is confirmed In the case of W- film grown on the stable Ti/TiN underlayer.

화학기상 성장법에 의한 실리콘 부착에 관한 수치해석 (Numerical Analysis of Silicon Deposition in CVD Reactor)

  • 김인;백병준;윤정모;이철로
    • 대한기계학회:학술대회논문집
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    • 대한기계학회 2000년도 추계학술대회논문집B
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    • pp.359-364
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    • 2000
  • The fluid flow, heat transfer and the local mass fi-action of chemical species in the chemical vapor deposition(CVD) manufacturing process are numerically studied. The deposition of silicon from dilute silane is hydrogen carrier gas in a horizontal CVD reactor is investigated. The effect of inlet carrier gas velocity, mass fraction of silane, susceptor angle on the deposition thickness and uniformity was represented.

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TCP-CVD 장비를 활용한 광도파로용 Core-SiO2 증착 (Deposition of SiO2 Thin Film for the Core of Planar Light-Wave-Guide by Transformer Coupled Plasma Chemical-Vapor-Deposition)

  • 김창조;신백균
    • 한국진공학회지
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    • 제19권3호
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    • pp.230-235
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    • 2010
  • 본 논문에서는 TCP-CVD를 이용하여 실리콘 산화막 형성에서 산화막의 특성에 영향을 미치는 전력, 가스 유량, 기판 바이어스 등의 공정조건에 따른 증착률과 굴절률을 제어하고자 한다. 그 결과 기판온도 300 [$^{\circ}C$], $SiH_4$ : $O_2$=50 : 100 [sccm], TCP power 1 [kW], 기판 바이어스 200 [W]를 인가한 조건에서 매우 우수한 균일도(<1 [%]) 및 증착률(0.28 [${\mu}m$/min])과 굴절률 (1.4610-1.4621)을 나타내는 안정된 $SiO_2$ 산화박막을 제조할 수 있었다.

Deposition of Epitaxial Silicon by Hot-Wall Chemical Vapor Deposition (CVD) Technique and its Thermodynamic Analysis

  • Koh, Wookhyun;Yoon, Deoksun;Pa, ChinHo
    • 한국결정성장학회:학술대회논문집
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    • 한국결정성장학회 1998년도 PROCEEDINGS OF THE 14TH KACG TECHNICAL MEETING AND THE 5TH KOREA-JAPAN EMGS (ELECTRONIC MATERIALS GROWTH SYMPOSIUM)
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    • pp.173-176
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    • 1998
  • Epitaxial Si layers were deposited on n- or p-type Si(100) substrates by hot-wall chemical vapor deposition (CVD) technique using the {{{{ {SiH }_{ 2} {Cl }_{2 } - {H }_{ 2} }}}}chemistry. Thermodynamic calculations if the Si-H-Cl system were carried out to predict the window of actual Si deposition procedd and to investigate the effects of process variables(i.e., the deposition temperature, the reactor pressure, and the source gas molar ratios) on the growth of epitaxial layers. The calculated optimum process conditions were applied to the actual growth runs, and the results were in good agreement with the calculation. The expermentally determined optimum process conditions were found to be the deposition temperature between 900 and 9$25^{\circ}C$, the reactor pressure between 2 and 5 Torr, and source gad molar ration({{{{ {H }_{2 }/ {SiH }_{ 2} {Cl }_{2 } }}}}) between 30 and 70, achieving high-quality epitaxial layers.

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고온벽 화학기상증착법을 이용한 에피 실리콘 증착과 열화학적 해석 (Growth of epitaxial silicon by hot-wall chemical vapor deposition (CVD) technique and its thermochemical analysis)

  • 윤덕선;고욱현;여석기;이홍희;박진호
    • 한국결정성장학회지
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    • 제12권4호
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    • pp.215-221
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    • 2002
  • $SiH_2Cl_2/H_2$ 기체혼합물을 원료로 사용하여 (100) Si 기판 위에 고온벽 화학기상증착법(hot-wall CVD)으로 에피 실리콘을 증착시켰다. 공정변수(증착온도, 반응기 압력, 입력 기체의 조성비($H_2/SiH_2Cl_2$)등)가 실리콘 증착에 미치는 영향을 조사하기 위해 열화학적 전산모사를 수행하였으며, 전산모사를 통해 얻은 공정조건의 범위를 바탕으로 실험한 결과, 전산모사의 결과와 실험이 잘 일치함을 알 수 있었다. 실험을 통해 얻은 최적 증착 조건은 증착온도가 850~$950^{\circ}C$, 반응기 압력은 2~5 Torr, $H_2/SiH_2Cl_2$비는 30~70 정도임을 알 수 있었고, 증착된 에피 실피콘은 두께 및 비저항의 균일도가 우수하고 불순물 함량이 낮은 양질의 박막임을 확인할 수 있었다.

CVD 장비 Up Time 향상을 위한 기판 지지대의 재질 및 구조 최적화 (Material and Structure Optimization of Substrate Support for Improving CVD Equipment Up Time)

  • 우람;김원경
    • 한국재료학회지
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    • 제29권11호
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    • pp.670-676
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    • 2019
  • We study substrate support structures and materials to improve uptime and shorten preventive maintenance cycles for chemical vapor deposition equipment. In order to improve the rolling of the substrate support, the bushing device adopts a ball transfer method in which a large ball and a small ball are mixed. When the main transfer ball of the bushing part of the substrate support contacts the substrate support, the small ball also rotates simultaneously with the rotation of the main ball, minimizing the resistance that can be generated during the vertical movement of the substrate support. As a result of the improvement, the glass substrate breakage rate is reduced by more than 90 ~ 95 %, and the equipment preventive maintenance and board support replacement cycles are extended four times or more, from once a month to more than four months, and the equipment uptime is at least 15 % improved. This study proposes an optimization method for substrate support structure and material improvement of chemical vapor deposition equipment.

박막제조 기술의 동향과 전망 (Trend and Prospect of Thin Film Processing Technology)

  • 정재인;양지훈
    • 한국자기학회지
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    • 제21권5호
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    • pp.185-192
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    • 2011
  • 박막제조 기술은 과학 기술의 기초가 되는 분야로 양질의 박막을 제조하기 위한 다양한 노력이 경주되고 있다. 박막제조는 표면개질과 함께 표면처리 기술의 한 분야이며 이중 진공증착으로 알려진 물리증착법과 화학증착법은 현대의 과학기술 연구는 물론 산업적으로 폭넓게 이용되는 박막제조 기술 중의 하나이다. 진공증착을 이용한 박막제조 기술은 나노 기술의 등장과 함께 비약적인 발전을 이루었으며 자연모사와 완전화 박막의 제조, 융복합 공정을 이용한 기능성 코팅과 Engineered Structure 구현 그리고 초고속 증착과 원가 저감 기술의 실현이 주요 이슈로 등장하고 있다. 본 논문에서는 물리증착법과 화학증착법을 중심으로 박막제조 기술의 종류와 원리를 설명하고 박막제조 기술의 최신 동향과 기술적 이슈 및 향후 전망에 대해 기술한다.

CVD법을 이용한 SiC/C경사기능재료 증착공정의 열역학적 해석 (Thermodynamic analysis of the deposition process of SiC/C functionally gradient materials by CVD technique)

  • 박진호;이준호;신희섭;김유택
    • 한국결정성장학회지
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    • 제12권2호
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    • pp.101-109
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    • 2002
  • Hot-wall CVD법으로 SiC/C 경사기능재료를 증착시키는 공정을 열역학적으로 해석하였다. Si-C-H-Cl계에 대한 열역학적 계산을 통해 공정변수(증착온도, 반응기 압력 원료 기체의 C/[Si+C]비와 H/[Si+C]비)가 증착층의 조성과 증착 수율에 미치는 영향을 조사하였고, 이를 통해 SiC/C 경사기능재료 증착에 있어서의 CVD 상평형도와 최적 공정 조건의 범위를 예측할 수 있었다.

Protective SiC Coating on Carbon Fibers by Low Pressure Chemical Vapor Deposition

  • Bae, Hyun Jeong;Kim, Baek Hyun;Kwon, Do-Kyun
    • 한국재료학회지
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    • 제23권12호
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    • pp.702-707
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    • 2013
  • High-quality ${\beta}$-silicon carbide (SiC) coatings are expected to prevent the oxidation degradation of carbon fibers in carbon fiber/silicon carbide (C/SiC) composites at high temperature. Uniform and dense ${\beta}$-SiC coatings were deposited on carbon fibers by low-pressure chemical vapor deposition (LP-CVD) using silane ($SiH_4$) and acetylene ($C_2H_2$) as source gases which were carried by hydrogen gas. SiC coating layers with nanometer scale microstructures were obtained by optimization of the processing parameters considering deposition mechanisms. The thickness and morphology of ${\beta}$-SiC coatings can be controlled by adjustment of the amount of source gas flow, the mean velocity of the gas flow, and deposition time. XRD and FE-SEM analyses showed that dense and crack-free ${\beta}$-SiC coating layers are crystallized in ${\beta}$-SiC structure with a thickness of around 2 micrometers depending on the processing parameters. The fine and dense microstructures with micrometer level thickness of the SiC coating layers are anticipated to effectively protect carbon fibers against the oxidation at high-temperatures.