• ETRI Journal
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• 제28권4호
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• pp.475-485
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• 2006

Network-on-chip (NoC) is an emerging design paradigm intended to cope with future systems-on-chips (SoCs) containing numerous built-in cores. Since NoCs have some outstanding features regarding design complexity, timing, scalability, power dissipation and so on, widespread interest in this novel paradigm is likely to grow. The test strategy is a significant factor in the practicality and feasibility of NoC-based SoCs. Among the existing test issues for NoC-based SoCs, test access mechanism architecture and test scheduling particularly dominate the overall test performance. In this paper, we propose an efficient NoC-based SoC test scheduling algorithm based on a rectangle packing approach used for current SoC tests. In order to adopt the rectangle packing solution, we designed specific methods and configurations for testing NoC-based SoCs, such as test packet routing, test pattern generation, and absorption. Furthermore, we extended and improved the proposed algorithm using multiple test clocks. Experimental results using some ITC'02 benchmark circuits show that the proposed algorithm can reduce the overall test time by up to 55%, and 20% on average compared with previous works. In addition, the computation time of the algorithm is less than one second in most cases. Consequently, we expect the proposed scheduling algorithm to be a promising and competitive method for testing NoC-based SoCs.

• 한국통신학회논문지
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• 제39B권1호
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• pp.1-7
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• 2014

본 논문은 멀티 코어 SoC의 전체 테스트 시간 감축을 위한 효율적인 테스트 wrapper 설계 방법을 제안한다. 제안된 알고리즘은 잘 알려진 Combine 알고리즘을 사용하여 멀티코어 SoC의 각 코어에 대해 초기 local wrapper해 집합을 구성하고 가장 긴 테스트 시간을 소모하는 코어를 dominant 코어로 선택한다. Dominant 코어의 테스트 시간을 기준으로 다른 코어들에 대해 wrapper 특성인 TAM 와이어 수와 테스트 시간을 조정한다. Design space exploration을 위해 일부 코어들의 TAM 와이어 수를 줄이고 테스트 시간을 증가시킨다. 변경된 wrapper 특성을 기존 local wrapper 해 집합에 추가한다. 코어들의 기존 local wrapper 해 집합이 global wrapper 해 집합으로 확장되어 스케줄러에 의한 멀티코어 SoC의 전체 테스트 시간이 감소한다. 제안된 wrapper의 효과는 ITC'02 벤치마크 회로에 대해 $B^*$-트리 기반의 테스트 스케줄러를 사용하여 검증된다. 실험 결과 기존의 wrapper를 사용하는 경우에 비해 테스트 시간이 평균 4.7% 감소한다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제44권11호
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• pp.65-73
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• 2007

본 논문에서는 저비용 SoC 테스트를 위한 테스트 설계 기술에 대해서 다룬다. IEEE 1500 랩드 코어를 SoC TAP (Test Access Port) 을 통하여 스캔 테스트를 수행하는 방법을 제시하고, 지연고장 테스트를 위한 테스트 클럭 생성회로를 설계한다. TAP의 신호만을 이용하여 SoC 테스트를 수행함으로써 테스트 핀 수를 줄일 수 있고, SoC 내부의 회로를 사용하여 지연고장 테스트를 수행함으로써 저가의 테스트 장비를 사용할 수 있다. 실험을 통하여 제시한 방식의 효율성을 평가하고, 서로 다른 주파수의 클럭을 사용하는 여러 코어의 지연고장 테스트를 동시에 수행 할 수 있음을 확인한다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제43권10호
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• pp.74-79
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• 2006

Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) 기반 System-on-Chip (SoC)에서는 기능적 테스트를 위해 ARM사의 Test Interface Controller (TIC)를 사용한다. 따라서 구조적 스캔 테스트 패턴도 TIC와 AMBA 버스를 통해 인가하면서 스캔입력과 출력을 동시에 수행할 수 없다는 단점이 있다. 본 논문에서는 ARM 코어를 사용하는 SoC 테스트를 위한 AMBA based Test Access Mechanism (ATAM)을 제안한다. 기존 TIC와의 호환성을 유지하고 스캔 입력과 출력을 동시에 할 수 있으므로 고가의 Automatic Test Equipment (ATE)를 통한 테스트 시간을 대폭 절감할 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제48권2호
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• pp.44-54
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• 2011

본 논문에서는 AMBA 기반 SoC의 코어 테스트 시간을 최소화 하는 것을 목표로 한다. 이를 위하여 테스트 대상 코어에 대해 병렬로 테스트를 수행하며 AMBA를 TAM으로 재사용 하는데 있어서 필요한 기술을 제안한다. 기능 테스트시의 AMBA 버스 제어를 위해 설계 된 TIC를 구조적 테스트 시의 제어에 재활용 하여 병렬 테스트의 제어에 필요한 추가 로직을 최소화 하였으며, 기능적 테스트를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 구조적 테스트 시 병렬 테스트를 수행 할 수 있어서 SoC의 신뢰성 확보와 테스트 시간 단축에 기여 할 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제40권1호
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• pp.61-71
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• 2003

본 논문에서 제안하는 GNS 시퀀스는 SoC 연결 고 장 테스트를 수행할 때 aliasing 고장 증후와 confounding 고장 증후를 고 장 증후를 발생시키지 않는 시퀀스로 연결 고장 위치의 분석을 효과적으로 수행할 수 있다. GNS 시퀀스는 과거 보드 수준의 연결 테스트를 수행하기 위한 IEEE 1149.1 std. 와 유사한 구조로 SoC 의 연결 테스트를 수행하게 되어있는 IEEE P1500 에 적용하여 SoC 내부의 IP 상호간에 존재하는 연결 고장을 검출하고 그 위치를 분석하는데, 이때 입력되는 테스트 시퀀스의 길이가 기른 연구들에 비해 처소의 값을 가짐으로써 연결 테스트 수행 시간을 단축할 수 있는 효과적인 연결 테스트 알고리듬이다.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제5권6호
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• pp.515-520
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• 2004

코아(core) 기반의 SoC(System-on-Chip) 설계는 테스트에 관련된 많은 어려운 문제를 일으키고 있다. 그 중에서 방대한 분량의 테스트 데이터와 긴 테스트 패턴 인가시간은 SoC 테스트에서의 2가지 주요 문제로 떠오르고 있다. 많은 양의 테스트 데이터에 대한 저장공간과 인가시간을 줄이기 위한 방안으로서 테스트 벡터들의 반복되는 성질을 이용하여 최대한 효율적으로 압축하는 다양한 방법들이 제시되었다. 본 논문에서는 SoC 테스트를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안된 방법은 테스트 벡터 집합을 분할하고 최대한 반복되는 공통부분을 제거함으로써 테스트 데이터를 압축한다. 이 압축방법은 O(n2)의 시간복잡도를 가지며, 간단한 디코딩 하드웨어를 사용한다. 여기서 n은 테스트 벡터 수이다. 제안된 압축방법은 빠르고 쉬운 디코딩을 함께 사용하여 기존의 복잡한 소프트웨어 방식의 압축방법에 견줄만한 수준의 효율성을 보여준다.

• 전자공학회논문지
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• 제50권9호
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• pp.60-67
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• 2013

다양한 Intellectual Property(IP)로 이루어진 복잡한 SoC 테스트에 있어 테스트 비용 절감은 필수적이다. 본 논문에서는 IEEE Std. 1500과 IEEE Std. 1149.7 인터페이스를 사용하여 적은 수의 핀 수로 IP 기반의 System-on-a-Chip(SoC) 테스트를 가능케 하는 테스트 구조를 제안한다. IEEE Std. 1500은 IP 기반의 SoC 테스트에 있어 각 IP를 테스트할 수 있는 독립된 접근 경로를 제공한다. 본 논문에서는 이러한 독립된 테스트 경로를 IEEE Std. 1149.7로 제어 가능하도록 구성함으로서 SoC의 테스트 핀 수를 2 핀으로 줄일 수 있게 한다. 본 기술은 Wafer 및 Package 수준 테스트에 요구되는 테스트 핀 수를 줄임으로서 동시에 테스트 가능한 대상회로의 수를 늘릴 수 있고, 결과적으로 전체적인 양산 테스트 비용을 크게 절감할 수 있게 한다.

• IT SoC Magazine
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• 통권19호
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• pp.37-42
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• 2007

이 글은 당사에서 개발 진행한 TDMB,ISDB-T등의 Moblie TV Receiver단의 Analog Front-End SIP들의 Test H/W, S/W제작 경험을 바탕으로 보다 효율적이고 성공적인 SIP 개발이 될 수 있도록 도움을 주고자 기술 하였다.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제10권6호
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• pp.1191-1195
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• 2009

본 논문에서는 스캔 체인의 레이아웃 거리를 고려한 효율적인 Test Wrapper 설계 방식을 제안한다. SoC내의 스캔체인들을 태스트하기 위해서는 외부 TAM 라인(line)에 각 스캔체인들을 할당해야 한다. IP 내에 존재하는 스캔체인들은 정상모드에서는 타이밍 위반(Timing Violation)이 발생하지 않도록 레이아웃이 되지만, 테스트 모드에서는 TAM 라인(line)과 연결되는 스캔체인들 간에 부가적인 레이아웃 거리를 갖게 되므로 스캔체인에서 타이밍 위반이 발생될 수 있다. 본 논문에서는 타이밍 위반이 발생하지 않도록 체인간 레이아웃거리를 고려하여 스캔체인을 할당하는 새로운 test wrapper 설계 방식을 제안하였다.