Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2004.11a
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pp.3-6
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2004
Power semiconductor devices are being compact, high performance and intelligent thanks to recent remarkable developments of silicon design, process and related packaging technologies. Developments of MOS-gate transistors such as MOSFET and IGBT are dominant thanks to their advantages on high speed operation. In conjunction with package technology, silicon technologies such as trench, charge balance and NPT will support future power semiconductors. In addition, wide band gap material such as SiC and GaN are being studies for next generation power semiconductor devices.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.25
no.4
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pp.276-281
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2012
Power semiconductor devices are widely used as high voltage applications to inverters and motor drivers, etc. The blocking voltage is one of the most important parameters for power semiconductor devices. Generally most of field effect concentrations shows on the edge of power devices. Can be improve the breakdown characteristic using edge termination technology. In this paper, considering the variables that affect the breakdown voltage and optimization of parameters result for 600 V Super Junction MOSFET Field ring.
Kim, Dong-Hee;Bea, Sang-Jun;Min, Byoung-Jae;Oh, Seung-Hoon;Jung, Sung-Gyung
Proceedings of the KIEE Conference
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1995.07a
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pp.428-430
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1995
In all areas of power electronics, power conversion technology is a substantial need for increasing the performance and high power semiconductor technology is rapidly developing fast switching power devices with increasing voltage and current limits. This paper described a study on the series resonant inverter using power MOSFET and its application.
Kim, Sang-Gi;Park, Hoon-Soo;Won, Jong-Il;Koo, Jin-Gun;Roh, Tae-Moon;Yang, Yil-Suk;Park, Jong-Moon
Journal of IKEEE
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v.20
no.3
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pp.220-225
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2016
In this paer, low on-resistance and high-power trench gate MOSFET (Metal-Oxide-Silicon Field Effect Transistor) incorporating current sensing FET (Field Effect Transistor) is proposed and evaluated. The trench gate power MOSFET was fabricated with $0.6{\mu}m$ trench width and $3.0{\mu}m$ cell pitch. Compared with the main switching MOSFET, the on-chip current sensing FET has the same device structure and geometry. In order to improve cell density and device reliability, self-aligned trench etching and hydrogen annealing techniques were performed. Moreover, maintaining low threshold voltage and simultaneously improving gate oxide relialility, the stacked gate oxide structure combining thermal and CVD (chemical vapor deposition) oxides was adopted. The on-resistance and breakdown voltage of the high density trench gate device were evaluated $24m{\Omega}$ and 100 V, respectively. The measured current sensing ratio and it's variation depending on the gate voltage were approximately 70:1 and less than 5.6 %.
The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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v.11
no.7
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pp.665-670
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2016
In this paper, we suggest the design of OP-AMP using MOSFET in the operation of sub-threshold condition as a basic unit of an IoT. The sub-threshold operation of MOSFET is useful for an ultra low power consumption of sensor network system in the IoT, because it cause the supply voltage to be reduced. From the simulation result using 0.35 um CMOS process, the supply voltage, VDD can be reduced with 0.6 V, open-loop gain of 43 dB and the power consumption was evaluated with about $1.3{\mu}W$ and the active size for an integration was measured with $64{\mu}m{\times}105{\mu}m$. It is expected that the proposed circuit is applied to the low power sensor network for IoT.
It is important to operate the driving circuit under the optimal condition through precisely sensing the power consumption causing the temperature made mainly by the MOSFET (metal-oxide semiconductor field-effect transistor) when a BLDC (Brushless Direct Current) motor operates. In this letter, a Super-junction (SJ) power TMOSFET (trench metal-oxide semiconductor field-effect transistor) with an ultra-low specific on-resistance of $0.96m{\Omega}{\cdot}cm^2$ under the same break down voltage of 100 V is designed by using of the SILVACO TCAD 2D device simulator, Atlas, while the specific on-resistance of the traditional power MOSFET has tens of $m{\Omega}{\cdot}cm^2$, which makes the higher power consumption. The SPICE simulation for measuring the power distribution of 25 cells for a chip is carried out, in which a unit cell is a SJ Power TMOSFET with resistor arrays. In addition, the power consumption for each unit cell of SJ Power TMOSFET, considering the number, pattern and position of bonding, is computed and the power distribution for an ANSYS model is obtained, and the SJ Power TMOSFET is designed to make the power of the chip distributed uniformly to guarantee it's reliability.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.14
no.6
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pp.1460-1464
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2010
In the paper, the breakdown voltage of Trench D-MOSFET have been analyzed by using MircoTec. The technology for characteristic analysis of device for high integration is changing rapidly. Therefore to understand characteristics of high-integrated device by computer simulation and fabricate the device having such characteristics became one of very important subjects. A Trench MOSFET is the most preferred power device for high voltage power applications. The oxide thickness and doping concentration in Trench MOSFET determines breakdown voltage and extensively influences on high voltage. We have investigated the breakdown voltage characteristics according to variation of doping concentration from $10^{15}cm^{-3}$ to $10^{17}cm^{-3}$ in this study. We have also investigated the breakdown voltage characteristics according to variation of oxide thickness and junction depth.
본 논문에서는 영전압 스위칭 탭인덕터 부스트 컨버터를 제안한다. 기존 컨버터는 DCM구간에 MOSFET의 Coss과 RC 스너버 및 탭인덕터의 공진에의해 MOSFET 양단에 전압 오실레이션이 발생하면서 턴온 시점에 따라 MOSFET 발열이 결정된다. 그래서 부하 변동과 부품편차와 무관하게 항상 최저전압조건에서 턴온하여 MOSFET의 발열을 저감하는 회로를 제안한다. 본 논문에서는 제안된 부스트 컨버터의 동작원리를 이론적으로 해석하고, 시제품 제작 및 실험을 통해 타당성을 검증한다.
This paper presents the new design method for the gate driver circuit of the floating MOSFET by using the pulse transformer. Each parameters of the proposed circuit are delivered by the numerical calculation method. By considering inner characteristics of MOSFET, the gate driver makes to increase the efficiency of the power conversion and decrease operating heat. Computer simulations and to experimental results for a Buck Converter are presented in order to validate the proposed method.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.18
no.2
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pp.59-61
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2017
This research was analyzed thermal characteristics that was appointed disadvantage when smart LED driver ICs was packaged and we applied extracted thermal characteristics for optimal layout design. We confirmed reliability of smart LED driver ICs package without additional heat sink. If the package is not heat sink, we are possible to minimize package. For extracting thermal loss due to overshoot current, we increased driver current by two and three times. As a result of experiment, we obtained 22 mW and 49.5 mW thermal loss. And we obtained optimal data of 350 mA driver current. It is important to distance between power MOSFET and driver ICs. If the distance was increased, the temperature of package was decreased. And so we obtained optimal data of 3.7 mm distance between power MOSFET and driver ICs. Finally, we fabricated real package and we analyzed the electrical characteristics. We obtained constant 35 V output voltage and 80% efficiency.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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