• 제목/요약/키워드: 신호입력회로

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Safe Mode를 갖는 동기 클럭 발생 회로의 ASIC 구현 (ASIC Implementation of Synchronization Circuit with Safe Mode)

  • 최진호;강호용;전문석
    • 한국통신학회논문지
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    • 제26권7B호
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    • pp.1006-1012
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    • 2001
  • 본 논문에서는 다른 클럭원들을 갖는 서로 다른 오실레이터에 의해 발생된 비동기 클럭을 입력으로 받아 동기신호로 변환시키는 기능과 그 중 어느 한 클럭이 동작하지 않더라도 동작하는 클럭을 계속 유지하여 클럭 중단의 위험을 제거한 안전모드를 추가한 기능의 구현을 기술한다. 특히, 통신 분야에서 ASIC으로 Chip을 개발할 때 다중 클럭의 사용은 필연적이며 비동기 신호를 동기신호로 변환하는 기능의 구현은 기본적이면서도 중요한 부분이다. 이 회로는 VHDL로 구현이 되었으며 다중 클럭 관련 ASIC 구현에 기본적으로 응용이 가능하다.

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두 배의 Rail-to-Rail 입력 범위를 갖는 NTV SAR ADC (Double Rail-to-Rail NTV SAR ADC)

  • 조용준;성기호;서인식;백광현
    • 전기전자학회논문지
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    • 제22권4호
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    • pp.1218-1221
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    • 2018
  • 본 논문은 두 배의 rail-to-rail 입력 전압 범위를 갖는 저-전력 0.6-V 10-bit 200-kS/s successive approximation register(SAR) analog-to-digital converter(ADC)를 제안한다. 제안된 near-threshold voltage(NTV)의 전원 전압을 갖는 회로는, 본질적인 입력 신호 전력 부족을 두 배의 rail-to-rail 입력 전압 범위를 구현함으로써 극복하였다. 이 회로는 일반적인 NTV 회로에 비해 4배의 입력 신호 전력을 갖게 되고, 그로써 SAR ADC의 신호 대 잡음비(signal-to-noise ratio, SNR)를 개선했다. 제안된 ADC는 65-nm CMOS 공정을 이용하여 제작되었다. 0.6-V 전원 전압과 $2.4-V_{pp}$(차동쌍)의 입력 전압, 200-kS/s에서 ADC의 SNDR은 59.87 dB이며 전력 소모는 364.5-nW이다. ADC 코어가 차지하는 면적은 $84{\times}100{\mu}m^2$이다.

동작온도에 무관한 Frequency-to-Voltage 변환 회로 (Temperature Stable Frequency-to-Voltage Converter)

  • 최진호;유영중
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제11권5호
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    • pp.949-954
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    • 2007
  • 본 논문에서는 CMOS 공정을 이용하여 동작온도에 무관한 FVC(Frequency-to-Voltage Convener) 회로를 제안한다. FVC는 FLL(Frequency Locked Loop)의 핵심 회로로서 주파수 신호를 전압신호로 변환하는 회로이다. FLL 회로는 PLL(Phase-Locked Loop) 회로 같이 고정된 주파수 신호를 생성하는 회로지만, PLL과는 달리 위상비교기, charge pump, 저역 필터 등이 필요치 않아 간단히 회로를 구성할 수 있다. FVC 회로의 설계는 $0.25{\mu}m$ CMOS 공정을 이용하였다. 설계되어진 회로의 입력 주파수는 70MHz에서 140MHz를 사용하였다. 회로의 시뮬레이션 결과 동작 온도가 $0^{\circ}C$에서 $75^{\circ}C$까지 변화할 때 변환된 출력 전압의 변화는 상온에 비하여 ${\pm}2%$이내였다.

GHz 대역 소자를 위한 프로그램 가능 보상 회로 (Programmable Compensation Circuit for GHz Band Devices)

  • 류지열;노석호;김성우
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2011년도 춘계학술대회
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    • pp.673-675
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    • 2011
  • 본 논문은 GHz 대역 소자 응용을 위한 프로그램 가능 보상 회로를 제안한다. 이러한 회로는 5.2GHz대에서 동작하는 고주파 회로의 칩 제작과정에서 예기치 않게 발생한 미세한 PVT (공정, 전압, 온도) 변동을 검출하여 미세 변동된 회로 성능 변수들을 자동으로 보상한다. 자동으로 보상 가능한 고주파 회로 성능 변수들은 중요한 요소인 입력 임피던스, 전압이득과 잡음지수를 포함한다. 이러한 회로는 미세 변동을 자동으로 보상할 수 있도록 고주파 신호를 직류 신호로 변환하는 DFT (Design-for-Testability) 회로를 포함한다.

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광통신 모듈용 155.52 Mbps CMOS 리시버제작 및 구현 (Fabrication and Operating of 155.52 Mbps CMOS Receiver for Fiber Optic Modules)

  • 이길재;채상훈
    • 한국산학기술학회:학술대회논문집
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    • 한국산학기술학회 2000년도 추계학술대회
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    • pp.199-202
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    • 2000
  • STM-1 체계의 광통신 수신부 광모듈에 내장하기 위한 155.52 Mbps 리시버 ASIC을 0.65 ㎛ 실리콘 CMOS 기술을 이용하여 설계 제작하였다. 재작된 ASIC은 155.52 Mbps 데이터신호 재정형을 위한 제한 증폭기와 155.52 MHz 클럭을 추출하기 위한 클럭 추출 회로를 주축으로 구성되어 있다. 또한 이 리시버는 전원이 켜지는 초기 동사 상태에서나 동작 도중 데이터신호가 입력되지 않더라도 155.52 MHz 부근의 클럭주파수를 유지하여 항상 안정된 동작을 할 수 있게 하기 위한 수렴 보조 회로 및 LOS 감지 회로도 내장하고 있다. 측정 결과 설계된 리시버는 1 mV- 1 V의 넓은 입력 전압에 걸쳐 데이터 재정형이 이루어지며, 155.52 MHz의 안정된 클럭을 추출하고 있음을 알 수 있었다.

전송선 감소를 위한 듀얼레벨 저전압 차동신호 전송(DLVDS) 기법 (Dual-Level LVDS Technique for Reducing the Data Transmission Lines)

  • 김두한;양성현;조경록
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제42권8호
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    • pp.1-6
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    • 2005
  • 본 논문은 LCD driver IC의 전송선 수를 줄이기 위한 이중 저전압 차동신호 전송(DLVDS) 회로를 제안한다. 제안된 회로에서는 2-비트 원시 데이터를 하나의 송신기에서 입력 받고, 2-비트 데이터를 듀얼레벨을 갖는 차동신호로 전송한다. 따라서 기존의 저전압 차동신호 전송기법(LVDS)의 특징을 유지하면서 2-비트 원시 데이터를 2개의 전송선을 통하여 전송할 수 있다. 수신기에서는 디코드 회로를 통해 원래의 2-비트 원시 입력 데이터를 복원할 수 있다. 제안된 회로는 $0.25\mu m$ CMOS 공정으로 설계하여, 1-Gbps/2-line의 전송률을 갖고, 2.5V의 전원에서 35-mW의 전력소모를 나타냈다.

고주파 시스템 온 칩 응용을 위한 온 칩 검사 대응 설계 회로 (On-Chip Design-for-Testability Circuit for RF System-On-Chip Applications)

  • 류지열;노석호
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제15권3호
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    • pp.632-638
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    • 2011
  • 본 논문은 고주파 시스템 온 칩 응용을 위한 온 칩 검사 대응 설계 (Design-for-Testability, DFT) 회로를 제안한다. 이러한 회로는 고주파 회로의 주요 성능 변수들 즉, 입력 임피던스, 전압이득, 잡음지수, 입력 전압 정재비 (VSWRin) 및 출력 신호대 잡음비 (SNRout)를 고가의 장비없이 측정 가능하다. 이러한 고주파 검사 회로는 DFT 칩으로부터 측정된 출력 DC 전압에 실제 고주파 소자의 성능을 제공하는 자체 개발한 이론적인 수학적 표현식을 이용한다. 제안한 DFT 회로는 외부 장비를 이용한 측정 결과와 비교해 볼 때 고주파 회로의 주요 성능 변수들에 대해 5.25GHz의 동작주파수에서 2%이하의 오차를 각각 보였다. DFT 회로는 고주파 소자 생산뿐만 아니라 시스템 검사 과정에서 칩들의 성능을 신속히 측정할 수 있으므로 불필요한 소자 복사를 위해 소요되는 엄청난 경비를 줄일 수 있으리라 기대한다.

마이크로 가속도계의 신호 검출 회로 설계 및 성능시험 (Detection Circuit Design and Performance Test of Gimbal-Stuctured Micro-Accelerometer)

  • 성운탁;이장규;강태삼;송진우;성상경
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2001년도 하계학술대회 논문집 D
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    • pp.2111-2113
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    • 2001
  • 본 논문에서는 MEMS 기술에 의해 제작된 마이크로 가속도계를 위한 신호 검출 및 처리회로를 설계 제작하였으며, 레이트 테이블을 이용한 실험을 통해 제작된 센서 및 신호처리회로의 성능을 시험하였다. 본 논문에서 제시한 가속도계는 입력 가속도에 따라 용량이 변하는 방식으로, 두개의 김블 구조를 가지므로 타축 입력 가속도의 영향을 적게 받는 장점이 있다. 또한 감지전극의 효과적 배치를 통해 감도가 커지도록 설계되었다. 신호검출 및 처리는 여기 신호를 이용한 차분검출방식을 이용하였다. 이 방식은 구성이 복잡한 단점이 있으나, 잡음 신호와 검출 신호를 주파수 영역에서 분리시킬 수 있으며, 기생용량의 영향을 감소시키고 전기적 감도를 증가시키는 장점이 있다. 실험을 통해 제시한 신호검출 및 처리방식을 이용할 경우 가속도계의 성능이 향상되는 것을 확인하였다.

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비디오 처리를 위한 고성능 메모리 제어기의 FPGA 설계 (FPGA Design of High-Performance Memory Controller for Video Processing)

  • 노혁래;서영호;최현준;김동욱
    • 한국방송∙미디어공학회:학술대회논문집
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    • 한국방송공학회 2010년도 하계학술대회
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    • pp.411-414
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    • 2010
  • 본 논문은 비디오 처리를 위한 고성능의 메모리 제어기를 설계하였다. 메모리 제어기는 arbiter에 의해 제어되며 이것은 메모리 억세스를 요구하는 모듈들의 요구 신호를 받아 데이터를 전송하는 역할을 해주게 된다. 구현된 메모리 제어기는 버스를 사용하기 위한 승인을 받기 위해서 마스터와 신호를 주고 받는 MAU블록, grant 신호를 디코딩하고 컨트롤 신호의 상태를 정의한 arbiter 블록, SDRAM의 ac parameter를 저장하고 bank의 준비 여부, read/write 가능 여부, precharge와 refresh의 가능 여부를 확인하여 system과 read/write가 준비되었다는 신호를 출력, SDRAM의 실질적인 입력신호를 생성하는 memory accelerator 블록, 생성된 입력신호를 저장하고 마스터에서 직접 write data를 입력 받는 memory I/F 블록으로 구성된다. 이 메모리 제어기는 174.28MHz의 주파수로 동작하였다. 본 설계는 VHDL을 이용하여 설계되었고, ALTERA의 Quartus II를 이용하여 합성하였다. 또한 ModelSim을 이용하여 설계된 회로를 검증하였다. 구현된 하드웨어는 StatixIII EP3SE80F1152C2 칩을 사용하였다.

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24GHz 차량 추돌 예방 시스템-온-칩용 자체 내부검사회로 설계 (Built-In Self-Test Circuit Design for 24GHz Automotive Collision Avoidance Radar System-on-Chip)

  • 임재환;김성우;류지열;노석호
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2012년도 춘계학술대회
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    • pp.713-715
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    • 2012
  • 본 논문은 24GHz 차량 추돌 예방 레이더 시스템-온-칩을 위한 입력 임피던스, 전압이득 및 잡음지수를 자동으로 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파 자체 내부검사(BIST, Built-In Self-Test) 회로를 제안한다. 이러한 BIST 회로는 TSMC $0.13{\mu}m$ 혼성신호/고주파 CMOS 공정 ($f_T/f_{MAX}$=140/120GHz)으로 설계되어 있다. 알고리즘은 LabVIEW로 구현되어 있다. BIST 알고리즘은 입력 임피던스 정합과 출력 직류 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 자동으로 쉽게 고주파 회로의 성능변수를 측정할 수 있기 때문에 시스템-온-칩의 저가 성능 검사의 대안이 될 것으로 기대한다.

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