• Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
• /
• v.38 no.10
• /
• pp.1171-1177
• /
• 2014

An electromagnetic shielding doorset must satisfy requirements associated with both mechanical strength/durability and electromagnetic shielding. Among the primary components of the doorset, a finger strip-a leaftype spring normally made of beryllium copper-is a core part to shield electromagnetic waves as well as to endure repetitive dry sliding friction. This study presented a reliability demonstration test method for the doorset system and, by a simple and simultaneous implementation, of the replacement interval of the finger strip. A rigorous evaluation for the qualification of maintenance or replacement interval is included in the reliability demonstration test of any series system that holds critical maintenance sub-units.

• Journal of the Korean Society for Railway
• /
• v.11 no.3
• /
• pp.233-239
• /
• 2008

It is very important to set a reliability target and verify the requirement when procuring the rolling stock in the aspect of safety, availability and LCC. While there are a few different methods to verify the reliability target, it is required that the most appropriate method should be used considering the characteristics of rolling stock itself and the operation environment. Even though recently the quantitative reliability requirements are widely adopted in domestic market, there is no substantial contents in the various standards and guidelines. In this study we investigate the various reliability demonstration test plans and evaluate them for rolling stock application. And three test plans among them were applied to the real operation data.

• Journal of Applied Reliability
• /
• v.13 no.1
• /
• pp.1-10
• /
• 2013

A Bayesian zero-failure reliability demonstration test method for products with exponential lifetime distribution is presented. Beta prior distribution for reliability of a product is used to design the Bayesian test plan and selecting a prior distribution using a prior test information is discussed. A test procedure with zero-failure acceptance criterion is developed that guarantees specified reliability of a product with given confidence level. An example is provided to illustrate the use of the developed Bayesian reliability demonstration test method.

• Journal of Applied Reliability
• /
• v.14 no.1
• /
• pp.53-57
• /
• 2014

In the fields of reliability application, the most commonly used test methods for reliability demonstration are zero-failure acceptance tests since they require fewer test samples and less test time compared to other test methods that guarantee the same reliability with a given confidence level. For products with lognormal lifetime distribution, the value of scale parameter is usually assumed to be known in designing reliability demonstration tests. It is important to select correct values of scale parameters to guarantee the specified reliability with given confidence level exactly. The effect of using wrong values of scale parameters in designing reliability demonstration test for products with lognormal lifetime distribution is examined and selecting proper values of scale parameters for conservative reliability demonstration is discussed.

• Journal of Applied Reliability
• /
• v.14 no.4
• /
• pp.220-224
• /
• 2014

A Bayesian zero-failure reliability demonstration test method for products with Weibull lifetime distribution is presented. Inverted gamma prior distribution for the scale parameter of the Weibull distribution is used to design the Bayesian test plan and selecting a prior distribution using a prior test information is discussed. A test procedure with zero-failure acceptance criterion is developed that guarantee specified reliability of a product with given confidence level. An example is provided to illustrate the use of the developed Bayesian reliability demonstration test method.

• Journal of Applied Reliability
• /
• v.12 no.1
• /
• pp.47-56
• /
• 2012

Reliability demonstration tests with zero-failure acceptance criterion are most commonly used in the field of reliability application since they require fewer test samples and less test time compared to other test methods that guarantee the same reliability with a given confidence level. For products with lognormal lifetime distribution, an economic zero-failure test plan is developed that minimizes the total cost related to perform a life test to guarantee a specified reliability of a product with a given confidence level. A numerical example is provided to illustrate the use of the proposed test plan.

• Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
• /
• 2000.11a
• /
• pp.235-241
• /
• 2000

가스기기 안전장치 및 조리기구에 중요한 안전장치인 Gas Sensor를 가속시험을 이용하여 신뢰성을 분석하였다. 시험을 실시한 결과 GAS SENSOR의 Heater는 인가전압에 따른 특성 변화가 아레니우스 모델과 어링모델이 잘 일치함을 보여주었다. 즉, Heater선의 전압은 발열온도에 비례하고 있음을 알 수 있었다. 이번 실험을 통하여 STRESS에 비례적으로 특성이 변하는 제품은 설계단계에서 수명에 영향을 주는 잠재적 취약부를 단시간에 효과적으로 끌어내어 개선할 수 있는 기술임을 입증하였으나 다양한 STRESS의 복합적인 인자에 의하여 변화되는 특성을 분석하여 실질적으로 현장실무에 활용을 위해서는 많은 기술적 보안이 필요할 것으로 판단된다.

• Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
• /
• 2000.04a
• /
• pp.81-87
• /
• 2000

최근 신뢰성 가속 시험 분야에서 제품의 잠재 또는 취약 부위를 단기간에 효과적으로 검출할 수 있도록 개발된 HALT(Highly Accelerated Life Test) 기술을 당사에서 생산 중인 영상제품에 적용하였다. 적용 결과 HALT는 기존의 보증용 가속 시험에서 추구하는 고장 데이터의 통계적인 수명 예측이나 고장률 추정의 절차를 따르지 않고도 한계 스트레스 시험을 이용하여 제품의 잠재적인 취약부위를 단시간에 효과적으로 촉진하고 들춰 내어 전자 제품에 적용할 수 있는 유용한 가속 스트레스 시험 기술임이 입증되었다.

• Proceedings of the KSR Conference
• /
• 2005.11a
• /
• pp.77-81
• /
• 2005

본 논문은 열차제어시스템의 고장률을 정량적으로 예측하고 입증하기 위한 방안을 제시한다. 고장률의 정량적 예측은 시스템 개발단계에서 하부시스템별 고장발생확률을 예측하여 목표 고장률과 비교하고, 고장률이 높은 하부시스템의 설계를 보완하기 위함이다. 시제품이 완성된 후에는 예측된 고장률의 입증을 위해 시운전을 통한 고장데이터를 분석하거나 신뢰성시험을 통해 고장률의 예측치를 입증한다. 본 논문에서 제시하는 열차제어시스템 고장률예측과 입증은 철도신호시스템 신뢰성, 가용성, 유지보수성, 안전성관련 규격인 IEC62278의 시스템 수명주기별 신뢰성활동을 근거로 하며, 전자부품으로 구성된 시스템고장률예측은 미국방부 전자부품 고장률예측 지침인 MIL-HDBK-217을 기준으로 사용하였다.

• Proceedings of the KAIS Fall Conference
• /
• 2002.05a
• /
• pp.93-95
• /
• 2002

반도체 제조장비는 매우 높은 정밀도와 신뢰성이 요구되는 초정밀 시스템으로서 개발이 완료되어 실제 생산라인에 투입되기까지는 오랜 시간 동안 엄격한 시험평가를 통하여 신뢰성이 입증되어야 한다. 그러나 국내 중소 업계의 경우 고가 시험평가 설비를 보유하고 있지 않아 연구개발에 많은 어려움을 겪고 있다. 본 과제는 반도체 제조장비와 부품의 신뢰성 평가를 위한 시스템 구축방안에 대한 사항이다.