• 제목/요약/키워드: 게이트 시뮬레이션

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고주파모델링을 위한 이중게이트 FET의 열잡음 파라미터 추출과 분석 (Extraction and Analysis of Dual Gate FET Noise Parameter for High Frequency Modeling)

  • 김규철
    • 한국전자통신학회논문지
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    • 제8권11호
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    • pp.1633-1640
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    • 2013
  • 본 논문에서는 이중게이트 FET를 고주파회로에 응용하기 위해 필요한 열잡음 파라미터를 추출하여 그 특성을 분석하였다. 이중게이트 열잡음 파라미터를 추출하기 위해 튜너를 이용해 잡음원의 임피던스를 바꿔가며 잡음특성을 측정하였으며, open과 short 더미를 이용해서 패드의 기생성분을 제거하였다. 측정결과 일반적인 캐스코드구조의 FET와 비교해서 5GHz에서 약 0.2dB의 잡음 개선효과가 있음을 확인하였으며, 시뮬레이션과 소신호 파라미터 분석을 통해 드레인 소스 및 드레인 게이트간 캐패시턴스의 감소에 의해 잡음지수가 줄어들었음을 확인하였다.

다수의 게이트웨이를 갖는 수중 센서네트워크환경에서 QoS향상을 위한 MAC 프로토콜 (A QoS Improved MAC Protocol for UWASN with Multi-Gateway)

  • 이동원;김선명
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2010년도 춘계학술대회
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    • pp.250-253
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    • 2010
  • 오늘날 해양자원 개발 및 연구에 대한 중요성이 크게 증대됨에 따라 수중센서네트 관련 분야에 대한 많은 연구가 진행 중에 있다. 그러나 대부분의 연구가 단일 게이트웨이(Gateway)를 갖는 토폴로지(Topology)를 고려하여 진행되고 있다. 그러나 실제 수중센서 네트워크의 모델을 살펴보면 신뢰성을 보장하기 위해 다수의 게이트웨이가 존재한다. 본 논문에서는 기존의 연구와 달리 복수의 게이트웨이를 갖는 보다 실제적인 수중센서 네트워크 환경에서 효율적인 통신을 위하여 각 노드들 간의 데이터 충돌을 최소화하고 수중센서 네트워크의 QoS(Quality of Service)를 보장할 수 있는 MAC(Media Access Control) 프로토콜을 제안한다. 시뮬레이션을 통해 제안된 프로토콜과 기존 수중센서 네트워크를 위한 MAC과의 성능을 비교하고 평가한다.

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소스영역으로 오버랩된 게이트 길이 변화에 따른 터널 트랜지스터의 터널링 전류에 대한 연구 (Source-Overlapped Gate Length Effects at Tunneling current of Tunnel Field-Effect Transistor)

  • 이주찬;안태준;심언성;유윤섭
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2016년도 추계학술대회
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    • pp.611-613
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    • 2016
  • TCAD 시뮬레이션을 이용하여 소스영역으로 오버랩된(overlapped) 게이트를 가진 터널링 전계효과 트랜지스터(Tunnel Field-Effect Transistor; TFET)의 오버랩된 게이트 길이에 따른 터널링 전류 특성을 조사하였다. 터널링은 크게 라인터널링과 포인트 터널링으로 구분되는데, 라인터널링이 포인트터널링보다 subthreshold swing(SS), on-current에서 더 높은 성능을 보인다. 본 논문은 Silicon, Germanium, Si-Ge Hetero TFET구조에서 게이트 길이를 소스영역으로 오버랩될 경우에 포인트 터널링과 라인터널링의 효과를 조사해서 SS와 on-current에 최적합한 구조의 가이드라인을 제시한다.

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3차원 순차적 NOR 게이트의 전기적 상호작용 (Electrical Coupling of 3D Monolithic NOR Gate)

  • 안태준;김영백;유윤섭
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2019년도 춘계학술대회
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    • pp.257-259
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    • 2019
  • 이 논문은 3차원 순차적 NOR 게이트 구조에 존재하는 전기적인 상호작용을 TCAD 시뮬레이션을 이용해 조사하였다. 3차원 순차적 NOR 게이트의 전기적 상호작용은 하층 및 대각선에 위치한 소자에 의해 발생할 수 있다. 대각선에 위치한 소자의 PgateB에 전압의 유무에 관계없이 상층 NMOSFET의 드레인 전류가 동일하게 나타났고, 대각선 방향으로의 전기적인 상호작용은 소자 특성에 영향을 주지 않는 것을 확인하였다.

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스위칭 손실을 줄인 1700 V 4H-SiC Double Trench MOSFET 구조 (A Novel 1700V 4H-SiC Double Trench MOSFET Structure for Low Switching Loss)

  • 나재엽;정항산;김광수
    • 전기전자학회논문지
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    • 제25권1호
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    • pp.15-24
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    • 2021
  • 본 논문에서는 CDT(Conventional Double Trench) MOSFET보다 스위칭 시간과 손실이 적은 1700 V EPDT(Extended P+ shielding floating gate Double Trench) MOSFET 구조를 제안하였다. 제안한 EPDT MOSFET 구조는 CDT MOSFET에서 소스 Trench의 P+ shielding 영역을 늘리고 게이트를 N+와 플로팅 P- 폴리실리콘 게이트로 나누었다. Sentaurus TCAD 시뮬레이션을 통해 두 구조를 비교한 결과 온 저항은 거의 차이가 없었으나 Crss(게이트-드레인 간 커패시턴스)는 게이트에 0 V 인가 시에는 CDT MOSFET 대비 32.54 % 줄었고 7 V 인가 시에는 65.5 % 감소하였다. 결과적으로 스위칭 시간 및 손실은 각각 45 %, 32.6 % 줄어 스위칭 특성이 크게 개선되었다.

TMD FET와 2차원 silicon single layer FET의 소자 특성 비교

  • 황신애;유태균
    • EDISON SW 활용 경진대회 논문집
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    • 제6회(2017년)
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    • pp.448-452
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    • 2017
  • 단층 $MoS_2$와 단층 실리콘을 채널 물질로 사용한 TMD FET과 UTB FET의 소자 특성 분석 시뮬레이션을 진행하였다. TMD FET과 UTB FET의 채널과 oxide 두께를 변화시켜가며 각 각의 게이트 전압과 드레인 전류의 특성과 subthreshold swing 등을 분석하였으며, 채널과 oxide 두께가 얇을수록 단채널 효과가 줄어든다는 것을 알 수 있었다. 얇은 채널을 사용하는 트랜지스터의 최적 구동 조건은 채널과 oxide 층의 두께가 1 nm 정도 되어야 한다는 시뮬레이션 결과를 바탕으로 TMD FET과 UTB FET의 소자 특성을 상호 비교해 보았으며 TMD FET의 SS값이 더 좋다는 것을 확인할 수 있었다.

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5중 오류정정 (255, 215) BCH 부호의 효율적인 복호 알고리즘과 이의 VHDL 시뮬레이션 (Efficient Decoding Algorithm of 5-error-correcting (255, 215) BCH Code And Its Simulation with VHDL)

  • 강경식
    • 정보보호학회논문지
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    • 제7권1호
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    • pp.45-56
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    • 1997
  • 본 논문에서는, 무선 통신시스템에 적용 가능한 (255,215) BCH부호의 효율적인 복호 알고리즘을 제안하고, 이를 이용하여 5중 에러 정정 부호기 및 복호기를 설계하였다. peterson의 복호기보다 곱셈기, X-or 게이트의 수가 현저히 줄어들었을 뿐만 아니라 역원계산기가 필요 없음이 입증되었고, VHDL을 사용한 컴퓨터 시뮬레이션을 통해서 그 타당성을 검증하였다.

향상된 전기적 특성을 갖는 트렌치 게이트형 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터에 관한 연구 (A novel TIGBT tructure with improved electrical characteristics)

  • 구용서;손정만
    • 전기전자학회논문지
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    • 제11권4호
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    • pp.158-164
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    • 2007
  • 본 논문에서는 전력용 스위칭 소자로 널리 활용되고 있는 IGBT 소자 중 수평 게이트 구조보다 우수한 특성을 지닌 트렌치 게이트 IGBT(TIGBT) 구조를 채택하여, 기존의 TIGBT가 갖는 구조적 한계를 극복하고 좀 더 우수한 전기적 특성을 갖는 새로운 구조의 수직형 TIGBT를 제안하였다. 첫 번째로 제안한 IGBT 소자는 P+컬렉터를 산화막으로 고립시킴으로서 N-드리프트 층으로의 정공 주입효율을 극대화하여 기존 구조보다 더 낮은 순방향 전압강하를 얻도록 설계된 구조이다. 두 번째 제안한 구조는 양 게이트 사이의 P-베이스 구조를 볼록하게 형성함으로서 게이트 쪽으로 집중되는 전계의 일부를 접합부 쪽으로 유도하여 기존 구조보다 더 높은 항복전압을 얻을 수 있다. 또한 P-베이스의 볼록한 구조가 턴-오프 시 정공의 흐름을 개선시켜 기존 구조보다 더 빠른 턴-오프 시간을 갖게 된다. 시뮬레이션 결과 첫 번째 구조의 특징은 2.4V의 순방향 전압강하 특성을 갖는 기존의 IGBT 구조보다 상당히 낮은 2.1V의 순방향 전압강하 특성을 나타냈으며, 두 번째 구조는 기존의 IGBT 보다 10V정도 높아진 항복전압 특성을 보였다. 또한 두 번째 구조에서 기존 구조와 비교해볼 때 9ns 정도 빠른 턴-오프 시간을 보였다. 최종적으로 제안된 새로운 구조의 TIGBT는 위 두 구조가 갖는 우수한 전기적 특성을 모두 갖도록 결합한 것이며, 시뮬레이션 결과 기본의 TIGBT 소자보다 순방향 전압강하, 항복특성, 그리고 턴 오프 특성이 모두 우수한 결과를 나타냈다.

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화장품 용기의 유동 특성 및 사출금형 제작에 관한 연구 (A Study on manufacturing of Injection Mold and Delivery System Characteristics of Cosmic case)

  • 최재훈
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제14권12호
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    • pp.6047-6052
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    • 2013
  • 화장품제조업은 동일한 제품을 대량으로 생산하고 소비되는 구조로 금형을 통한 생산은 필연적이다. 화장품을 담는 용기는 소비자의 구매의사에도 영향을 주는 요소이며 완제품가격에서 차지하는 부분이 크기 때문에 경제성, 심미성과 기능성을 충족시키는 금형이 필요하다. 화장품 용기 중에 사각형태의 용기는 미성형 불량이 다른 형태의 제품보다 자주 발생하는 특징을 가진다. 기존에 사각형 형태의 화장품용기 제작공정은 2단 금형에 사이드게이트 구조로 금형을 제작하는데 이는 후가공과 게이트 흔적이 남는 단점이 있다. 본 연구에서 제안한 오버랩게이트는 후가공이 거의 없고 음각으로 게이트가 절단되는 특징이 있으며, 사이드게이트와 비교하여 Moldflow를 이용한 유동시스템을 시뮬레이션 하였다. 오버랩게이트가 유동성, 고화, 밀도, 에어트랩 등에서 유동성 향상과 불량률을 낮출 수 있는 결과를 확인하였으며, 해석결과를 기반으로 금형을 제작을 하고 사출성형 하였다. 본 연구를 통해 미성형 불량을 줄이고 심미성, 기능성 등의 특성을 가지는 화장품용기 제품의 대량생산 가능성을 검증하였다

PBTI에 의한 무접합 및 반전모드 다중게이트 MOSFET의 소자 특성 저하 비교 분석 (Comparative Analysis of PBTI Induced Device Degradation in Junctionless and Inversion Mode Multiple-Gate MOSFET)

  • 김진수;홍진우;김혜미;이재기;박종태
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제17권1호
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    • pp.151-157
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    • 2013
  • 본 연구에서는 다중게이트 구조인 나노 와이어 n-채널 무접합(junctionless)와 반전모드(inversion mode) 다중게이트 MOSFET(Multiple-Gate MOSFET : MuGFET)의 PBTI에 의한 소자 특성 저하를 비교 분석하였다. PBTI에 의해서 무접합 및 반전모드 소자의 문턱전압이 증가하는 것으로 관측되었으며 무접합 소자의 문턱전압 변화가 반전모드 소자보다 작음을 알 수 있었다. 그러나 소자특성 저하 비율은 반전모드 소자가 무접합 소자보다 큰 것으로 관측되었다. 특성저하 활성화 에너지는 반전모드 소자가 무접합 소자보다 큰 것을 알 수 있었다. PBTI에 의한 소자 특성 저하가 무접합 소자보다 반전모드 소자가 더 심한 것을 분석하기 위하여 3차원 소자 시뮬레이션을 수행하였다. 같은 게이트 전압에서 전자의 농도는 같으나 수직방향의 전계는 반전모드 소자가 무접합 소자보다 큰 것을 알 수 있었다.