International Journal of Reliability and Applications
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제15권2호
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pp.85-98
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2014
Accelerated life testing (ALT) is a well famous technique in life testing and reliability studies, this is particularly used to induce so high stress leading to failure of the highly reliable units quickly under stipulated duration of time. The step-stress ALT is one of the systematic experimental strategy of ALT applied to fail the units in steps. In this article we focus on two important issues (i) necessity of life tests at higher steps with relevant causes (ii) to develop a new optimum test plan for 3-step SSALT under the modified cumulative exposure model proposed by Khamis and Higgins (1998). It is assumed that the lifetime of test units follows Rayleigh distribution and its scale parameter at constant stress level is assumed to be a log-linear function of the stress. The maximum likelihood estimates of the parameters involved in the step-stress ALT model are obtained. A simulation study is performed for numerical investigation of the proposed new optimum plan 3-step, step-stress ALT. The necessity of the life test units at 3-step step-stress is also numerically examined in comparison to simple step-stress setup.
The study aimed to determine the effects of Early Childhood STEP on parenting stress and child's behavior. The study subjects were 29 Korean mothers and their child. The researcher translated the Parent's guide of the Early Childhood STEP into Korean, along with the video tapes for parents. The experimental group was educated with the Early Childhood STEP program (lecture, reading educational material, discussion, watching video). To determine the pre- and post-test differences of parenting stress and infant behavior, t-test was used. The results are presented below. First, Early Childhood STEP exhibited a decreasing effect on the parenting stress of mothers. Second, STEP exhibited a decreasing effect on the infant behavior, particularly the behaviors in the areas of incapability, revenge, and power reactions.
일정형 및 계단형 가속수명시험의 시험설계에 대한 일반적인 모형과 최적설계에 대한 최근의 연구결과를 소개하고, 수명분포가 와이블인 경우에 대하여 두가지 시험방법에 대한 최적설계를 점근분산의 행태, 설계변수의 효과, 최적시험조건에서 시험종결 시점까지의 기대고장개수 및 기대시험종결시간, 점근분산의 상대적효율과 설계변수의 사전추정치에 대한 둔감성의 측면에서 비교, 분석하였다.
International Journal of Reliability and Applications
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제15권1호
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pp.23-50
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2014
This paper deals with formulation of optimum multi-objective modified step-stress accelerated life test (ALT) plan for Burr type-XII distribution under type-I censoring. Since it is impractical to estimate only one objective parameter after conducting costly ALT tests; also, it is not desirable to assume instantaneous changes in stress levels because of limited capacity of test equipments and the presence of undesirable failure modes, therefore, an optimum multi-objective modified step-stress ALT plan has been designed. The optimal test plan consists in determining the optimum low stress level and optimal time at which stress starts linearly increasing from low stress by minimizing the weighted sum of the asymptotic variances of the maximum likelihood estimator of quantile lifetimes at design constant stress. The method developed has been illustrated using an example. Sensitivity analysis has been carried out. Comparative study has also been done to highlight the merits of the proposed model.
This paper proposes the step-stress type-I censoring model for analyzing the data of accelerated life test and reducing the time of accelerated life test. In order to obtain the data of accelerated life test, the step-stress accelerated life test was run with voltage stress to CMOS Hex Buffer. The Weibull distribution, the Inverse-power-law model and Maximum likelihood method were used. The iterative procedure using modified-quasi-linearization method is applied to solve the nonlinear equation. The proposed Weibull step-stress type-I censoring model exactly estimases the life time of units, while reducting the time of accelerated life test and the equipments of test.
This paper considers designing the simple (2-level) constant-and step-stress ALTs minimizing the asymptotic variance of the maximum likelihood estimator of the accelaeration factor, which is defined as the ratio of the 100qth percentile at use stress to that a specified stress, for items having lognormally-distributed lives. It is assumed that (i) the log-linear relationship exists between the stress and the mean log life, (ii) the standard deviation of the log life is constant, and (iii) the cumulative exposure model holds for the effect of changing stress. For the constant-stress ALT the low stress and the sample proportion allocated to low stress are determined and for two modes of stress loading of step-stress ALTs, the low-to-high and high-to-low, the low stress and the stress change time are determined. For selected values of the design parameters the optimum plans are figured, two modes of step-stress ALTs and the constant-stress ALT are compared to each other, and the effects of the incorrect pre-estimates of the design parameters are investigated.
This paper considers the design of step-stress accelerated life tests for the Weibull distribution with a nonconstant shape parameter under Type I censoring. It is assumed that scale and shape parameters are log-linear functions of (possibly transformed) stress and that a cumulative exposure model holds for the effect of changing stress. The asymptotic variance of the maximum likelihood estimator of a stated quantile at design stress is used as an optimality criterion. The optimum three step-stress plans are presented for selected values of design parameters and the effects of errors in pre- estimates of the design parameters are investigated.
International Journal of Reliability and Applications
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제17권1호
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pp.21-49
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2016
Many mechanical, electrical and electronic products have more than one performance characteristics (PCs). For example the performance degradation of rubidium discharge lamps can be characterized by the rubidium consumption or the decreasing intensity the lamp. The product may degrade due to all the PCs which may be independent or dependent. This paper deals with the design of optimal bivariate step-stress partially accelerated degradation test (PADT) with degradation paths modelled by gamma process. The dependency between PCs has been modelled through Frank copula function. In partial step-stress loading, the unit is tested at usual stress for some time, and then the stress is accelerated. This helps in preventing over-stressing of the test specimens. Failure occurs when the performance characteristic crosses the critical value the first time. Under the constraint of total experimental cost, the optimal test duration and the optimal number of inspections at each intermediate stress level are obtained using variance optimality criterion.
Journal of the Korean Data and Information Science Society
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제21권4호
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pp.813-818
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2010
The least squares estimation method for model parameters under failure step-stress accelerated life tests is studied and a numerical example will be given to illustrate the proposed inferential procedures under the compound linear plans proposed as an alternative to the optimal quadratic plan, assuming that the exponential distribution with a quadratic relationship between stress and log-mean lifetime. The proposed compound linear plan for constant stress accelerated life tests and 4:2:1 plan are compared for various situations. Even though the compound linear plan was proposed under constant stress accelerated life tests, we found that this plan did well relatively in failure step-stress accelerated life tests.
When the round bar with step is twisted and bent, stress concentration is occurred in the irregular geometric parts. Two dimensional axisymmetric stress analysis is carried out according to the geometric change of the stress-concentrated part of round bar with step. Three dimensional cases are also investigated.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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