Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2014.11a
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pp.26-26
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2014
식품포장재용 SiNx 박막을 합성하였다. SiNx 박막은 박막이 투명하고 낮은 투습도를 가지고 있어 식품포장재뿐 아니라 유기소자디스플레이에서도 활발히 연구되고 있다. 이 연구에서는 SiNx 박막을 PECVD를 통한 저온 공정으로 PET 기판 위에 합성하여 높은 투과도를 가지며 낮은 투습도를 갖는 박막을 합성하였다. 박막 합성 중의 플라즈마 특성을 알아보기 위해 Optical Emission Spectroscopy (OES)를 통한 플라즈마 진단을 하였으며, 박막의 특성을 알아보기 위해 FT-IR, UV-visible, MOCON 테스트 등을 하였으며, $7.6{\times}10^{-3}g/m^2/day$의 투습도를 갖는 것을 확인하였다.
Proceedings of the Korean Powder Metallurgy Institute Conference
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2006.09b
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pp.1207-1208
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2006
We developed the copper core ball electroplated with Sn-Ag-Cu of the eutectic composition which used mostly as Pb free solder ball with high reliability. In order to search for the practicality of this developed copper core ball, the evaluation was executed by measuring the initial joint strength of the sample mounted on the substrate and reflowed and by measuring the joint strength of the sample after the high temperature leaving test and the constant temperature and the humidity leaving test. This evaluation was compered with those of the usual other copper core balls electroplated with (Sn,Sn-Ag,Sn-Cu,Sn-Bi) and the Sn-Ag-Cu solder ball.
A novel Si via structure is suggested and fabricated for 3D MEMS package using the doped silicon as an interconnection material. Oxide isolations which define Si via are formed simultaneously when fabricating the MEMS structure by using DRIE and oxidation. Silicon Direct Bonding Multi-stacking process is used for stacked package, which consists of a substrate, MEMS structure layer and a cover layer. The bonded wafers are thinned by lapping and polishing. A via with the size of $20{\mu}m$ is fabricated and the electrical and mechanical characteristics of via are under testing.
본 논문에서는 800MHz와 1.9GHz 대역의 시스템에 적용할 수 있는 20dB 방향성 결합기를 8층 PCB 기판에 내장하여 소형화 및 저가화 할 수 있도록 설계하였다. 방향성 결합기는 4층과 6층에 coupled line으로 적층함으로써, 다층 PCB기판을 최대한 활용하여 공간을 최소화하였다. 또한, 고유전율을 가진 필름을 이용하여, coupled line의 끝에 내장형 고용량 커패시터를 연결하여 설계하였다. 6 $\times$ 6 $\times$ 0.7 (height)$mm^3$ 크기로 설계된 방향성 800MHz 결합기의 경우 -20dB의 coupling 특성, -0.6dB의 transmission 특성, -25dB의 isolation 특성을 나타내었다. 패키징 기판에 내장된 방향성 결합기는 단말기 및 통신시스템의 소형화에 크게 기여할 수 있을 것이다.
The strip Au bumps are bonded using longitudinal ultrasonic far the electronic package. Au bumps on the chip and substrate are aligned in a crossed shape, and the ultrasonic is imposed on the chip to form the solid-state bond between the Au bumps. Deformed bump shapes are calculated using the finite element method, and the bond strength is measured experimentally. The crossed strip Au bumps are deformed similar to the saddle, which provides larger contact surface area and higher friction force. Compared with the previous bonding method between the Au bump and planar pad, higher bond strength is obtained using the crossed strip bumps.
Lee, Jae-Won;Kim, Chang Hyeon;Lee, Hyo Soo;Huh, Kang Moo;Lee, Chang Soo;Choi, Ho Suk
Korean Chemical Engineering Research
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v.46
no.2
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pp.402-407
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2008
Recent popularity in mobile electronics requires higher standard on the mechanical strength of electronic packaging. Thus, the method of soldering between chip and substrate in electronic packaging process is changing from conventional method using intermetallic compound to a new method using organic solderability preservative (OSP) in order to improve the stability and the reliability of final product. Since current organic solder preservatives have several serious problems like thermo-stability during packaging process, however, it is necessary to develop new OSPs having thermo-stability. The main purpose of this study is to investigate the effect of MeOH/IPA (Isopropyl alcohol) ratio on the fluxing of a new OSP, developed in previous research, andto find out an optimum formulation of flux components for the application of the OSP in current packaging process. As a result of this study, it was revealed that higher MeOH/IPA ratio in flux showed better performance of fluxing a new OSP.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.10
no.4
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pp.39-46
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2003
Sn-Cu eutectic solder bump was fabricated by electroplating for flip chip and its characteristics were studied. A Si-wafer was used as a substrate and the UBM(Under Bump Metallization) of Al(400 nm)/Cu(300 nm)/Ni(400 nm)/Au(20 nm) was coated sequentially from the substrate to the top by an electron beam evaporator. The experimental results showed that the plating ratio of the Sn-Cu increased from 0.25 to 2.7 $\mu\textrm{m}$/min with the current density of 1 to 8 A/d$\m^2$. In this range of current density the plated Sn-Cu maintains its composition nearly constant level as Sn-0.9∼1.4 wt%/Cu. The solder bump of typical mushroom shape with its stem diameter of 120 $\mu\textrm{m}$ was formed through plating at 5 A/d$\m^2$ for 2 hrs. The mushroom bump changed its shape to the spherical type of 140 $\mu\textrm{m}$ diameter by air reflow at $260^{\circ}C$. The homogeneity of chemical composition for the solder bump was examined, and Sn content in the mushroom bump appears to be uneven. However, the Sn distributed more uniformly through an air reflow.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.24
no.3
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pp.71-76
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2017
The electrical behavior and flexibility of the screen printed Ag circuits were investigated with infrared radiation sintering times and sintering temperatures. Electrical resistivity and radio frequency characteristics were evaluated by using the 4 point probe measurement and the network analyzer by using cascade's probe system, respectively. Electrical resistivity and radio frequency characteristics means that the direct current resistance and signal transmission properties of the printed Ag circuit. Flexibility of the screen printed Ag circuit was evaluated by measuring of electrical behavior during IPC sliding test. Failure mode of the Ag printed circuits was observed by using field emission scanning electron microscope and optical microscope. Electrical resistivity of the Ag circuits screen printed on Pl substrate was rapidly decreased with increasing sintering temperature and durations. The lowest electrical resistivity of Ag printed circuit was up to $3.8{\mu}{\Omega}{\cdot}cm$ at $250^{\circ}C$ for 45 min. The crack length arisen within the printed Ag circuit after $10{\times}10^4$ sliding numbers was 10 times longer than that of after $2.5{\times}10^4$ sliding numbers. Measured insertion loss and calculated insertion loss were in good agreements each other. Insertion loss of the printed Ag circuit was increased with increasing the number of sliding cycle.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.24
no.4
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pp.31-37
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2017
Recently, there has been substantial interest in flexible and wearable devices whose properties and performances are close to conventional devices on hard substrates. Despite the advancement on flexible devices with organic semiconductors or carbon nanotube films, their performances are limited by the carrier scattering at the molecular to molecular or nanotube-to-nanotube junctions. Here in this study, we demonstrate on the vertical semiconductor crystal array embedded in flexible polymer matrix. Such structures can relieve the strain effectively, thereby accommodating large flexural deformation. To achieve such structure, we first established a low-temperature solution-phase synthesis of single crystalline 3D architectures consisting of epitaxially grown ZnO constituent crystals by position and growth direction controlled growth strategy. The ZnO vertical crystal array was integrated into a piece of polydimethylsiloxane (PDMS) substrate, which was then mechanically detached from the hard substrate to achieve the freestanding ZnO-polymer composite. In addition, the characteristics of transferred ZnO were confirmed by additional structural and photoluminescent measurements. The ZnO vertical crystal array embedded in PDMS was further employed as pressure sensor that exhibited an active response to the external pressure, by piezoelectric effect of ZnO crystal.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.25
no.1
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pp.29-33
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2018
Flexible electronics must be stable under various deformations such as bending, folding, and rolling. The reliability of ITO (Indium Tin Oxide) film used widely as a transparent electrode for flexible electronics has been studied using rolling fatigue test and bending test. During repeated rolling deformations, the electrical resistance was in-situ measured with different number of rotation. During rolling fatigue test, the electrical resistance of ITO film was significantly increased with increasing the number of rotation. As the stress state of ITO film is different according to the relative position of ITO and substrate, the rolling fatigue test was investigated under both outer and inner bending conditions. Inner rolling fatigue test showed superior electrical stability because the crack nucleation and propagation were retarded under compressive stress state.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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