Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2009.11a
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pp.135-135
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2009
In this work we compared the electrical characteristic of single gate and dual gate in MIC-TFT. We fabricated p-channel TFTs based on MIC structure. In mobility, dual gate ($61.35cm^2/Vsec$) got a higher value than single gate ($55.96cm^2/Vsec$). In $I_{on}/I_{off}$ dual gate ($6.94{\times}10^6$) got a higher value than single gate ($1.72{\times}10^6$) too. In $I_{off}$, dual gate got a lower value than single gate. Therefore, dual gate is good and less power consumption than single gate.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2001.10a
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pp.234-237
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2001
본 논문은 마이크로파 수신기시스템에서 발생되는 이미지성분을 효과적으로 제거하기 위해서 Dual Gate FETs을 이용한 이미지 제거 특성을 분석하였다. Dual Gate를 이용한 이미지 제거능력을 모의 실험한 결과 RF신호에 대한 이미지 제거특성은 -32dBc을 보였으며, Dual Gate FETs믹서의 변환이득은 1.7 dBm, 5GHz 발진주파수는 -117.3 dBc/100KHz 임을 확인하였다.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.29
no.11
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pp.681-684
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2016
This research was carried out experiments of variety IGBTs for industrial inverter and electric vehicle. The devices for this paper were planar gate IGBT, trench gate IGBT and dual gate IGBT and we designed using same design and process parameters. As a result of experiments, the electrical characteristics of planar gate IGBT were 1,459 V of breakdown voltage, 4.04 V of threshold voltage and 4.7 V of on-state voltage drop. And the electrical characteristics of trench gate IGBT were 1,473 V of breakdown voltage, 4.11 V of threshold voltage and 3.17 V of on-state voltage drop. Lastly, the electrical characteristics of dual gate IGBT were 1,467 V of breakdown voltage, 4.14 V of threshold voltage and 3.08V of on-state voltage drop. We almost knew that the trench gate IGBT was superior to dual gate IGBT in terms of breakdown voltage. On the other hand, the dual gate IGBT was better than the trench gate IGBT in terms of on state voltage drop.
In this paper, we have simulated a Symmetric Dual-gate Single-Si TFT which has three split floating n+ zones. This structure reduces the kink-effect drastically and improves the on-current. Due to the separated floating n+ zones, the transistor channel region is split into four zones with different lengths defined by a floating n+ region, This structure allows an effective reduction of the kink-effect depending on the length of two sub-channels. The on-current of the proposed dual-gate structure is 0.9mA while that of the conventional dual-gate structure is 0.5mA at a 12V drain voltage and a 7V gate voltage. This result shows a 80% enhancement in on-current. Moreover we observed the reduction of electric field in the channel region compared to conventional single-gate TFT and the reduction of the output conductance in the saturation region. In addition, we also confirmed the reduction of hole concentration in the channel region so that the kink-effect reduces effectively.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.12
no.4
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pp.458-466
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2012
A Dual metal gate stack cylindrical/ surrounded gate MOSFET (DMGSA CGT/SGT MOSFET) has been proposed and an analytical model has been developed to examine the impact of this structure in suppressing short channel effects and in enhancing the device performance. It is demonstrated that incorporation of gate stack along with dual metal gate architecture results in improvement in short channel immunity. It is also examined that for DMGSA CGT/SGT the minimum surface potential in the channel reduces, resulting increase in electron velocity and thereby improving the carrier transport efficiency. Furthermore, the device has been analyzed at different bias point for both single material gate stack architecture (SMGSA) and dual material gate stack architecture (DMGSA) and found that DMGSA has superior characteristics as compared to SMGSA devices. The analytical results obtained from the proposed model agree well with the simulated results obtained from 3D ATLAS Device simulator.
This paper presents a comprehensive study on threshold voltage $(V_{th})$ control of organic thin-film transistors (OTFTs) with dual-gate structure. The fabrication of dual-gate pentacene OTFTs using plasma-enhanced atomic layer deposited (PEALD) 150 nm thick $Al_{2}O_{3}$ as a bottom gate dielectric and 300 nm thick parylene or PEALD 200 nm thick $Al_{2}O_{3}$ as both a top gate dielectric and a passivation layer was investigated. The $V_{th}$ of OTFT with 300 nm thick parylene as a top gate dielectric was changed from 4.7 V to 1.3 V and that with PEALD 200 nm thick $Al_{2}O_{3}$ as a top gate dielectric was changed from 1.95 V to -9.8 V when the voltage bias of top gate electrode was changed from -10 V to 10 V. The change of $V_{th}$ of OTFT with dual-gate structure was successfully investigated by an analysis of electrostatic potential.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.9
no.2
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pp.110-116
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2009
The prominent advantages of Dual Material Surrounding Gate (DMSG) MOSFETs are higher speed, higher current drive, lower power consumption, enhanced short channel immunity and increased packing density, thus promising new opportunities for scaling and advanced design. In this Paper, we present Transconductance-to-drain current ratio and electric field distribution model for dual material surrounding gate (DMSGTs) MOSFETs. Transconductance-to-drain current ratio is a better criterion to access the performance of a device than the transconductance. This proposed model offers the basic designing guidance for dual material surrounding gate MOSFETs.
IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) device is a device with excellent current conducting capability, it is widely used as a switching device power supplies, converters, solar inverter, household appliances or the like, designed to handle the large power. This research was proposed 1200 class dual gate IGBT for electrical vehicle. To compare the electrical characteristics, The planar gate IGBT and trench gate IGBT was designd with same design and process parameters. And we carried to compare electrical characteristics about three devices. As a result of analyzing electrical characteristics, The on state voltage drop charateristics of dual gate IGBT was superior to those of planar IGBT and trench IGBT. Therefore, Aspect to Energy Loss, dual gate IGBT was efficiency. The breakdown volgate and threshold voltage of planar, trench and dual gate IGBT were 1460V and 4V.
In this study, we designed oxide thin-film transistors (TFTs) with dual gate and tri layered split channels, and investigated the structural effect of the TFTs on the electrical characteristics. The dual gates played a key role in increasing the driving current, and the channel structure of tri layers and split form contributed to the increase in the carrier mobility. The tri layered channels consisting of the a-ITGZO and two ITO layers inserted between the gate dielectric and a-ITGZO led to the increase in the on-current by using ITO layers with high conductivity, and the split channels lowered series resistance of the channels. Compared with the mobility (15 cm2/V·s) of the single gate a-ITGZO TFT, the mobility (134 cm2/V·s) of the dual gate tri-layer split channel TFT was remarkably enhanced by the structural effect.
Park, Sang-Geun;Lee, Hye-Jin;Shin, Hee-Sun;Lee, Won-Kyu;Han, Min-Koo
Proceedings of the KIEE Conference
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2005.07c
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pp.2031-2033
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2005
poly-Si TFT의 kink 전류를 억제하는 L-shaped dual-gate TFT 구조를 제안하고 이를 제작하였다. 제안된 소자는 채널의 그레인 방향을 일정하게 성장시키는 SLS나 CW laser 결정화 방법을 사용한다. L자 모양의 게이트 구조를 사용하여 서고 다른 전계효과 이동도를 갖는 두 개의 sub-TFT를 구현할 수 있으며, 이러한 sub-TFT간의 특성차이가 kink 전류를 억제시킨다. 직접 제작한 L-shaped dual-gate 구조의 소자가 poly-Si TFT의 kink 전류를 억제하고, 전류포화 영역에서 전류량을 고정시킴으로써 신뢰성이 향상됨을 확인하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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