• Journal of the Korean Data and Information Science Society
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• 제24권4호
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• pp.815-824
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• 2013

국가단위의 조사와 같은 대규모 표본조사에서는 표본의 대표성을 확보하기 위해 층화, 집락, 계통, 불균등확률추출 등을 종합적으로 사용하는 복합표본설계가 일반화되어 있다. 이러한 복합표본설계에 기초한 범주형 자료분석에서는 자료의 독립성과 다항분포를 가정하는 전통적인 피어슨검정이 왜곡된 검정결과를 가져올 수 있다. 본 연구는 복합표본설계에 의한 범주형조사자료의 k-모집단 동질성검정에서 설계기반 일치통계량인 Wald 검정통계량을 유도하고, 전통적인 피어슨검정통계량을 사용할 경우 발생할 수 있는 오차요인을 항목별로 분해하여, 분산의 편의에 의한 영향, 추정량의 편의에 의한 영향, 기타 분산의 편의와 추정량의 편의가 교락되어 미치는 영향으로 각각 분해하는 식을 도출하였다. 또한, 도출된 식의 각 항목이 피어슨 카이제곱검정통계량에 미치는 상대적 크기를 경험적으로 확인하기 위해 국민건강영양조사 제4기 2차년도 자료를 이용해 경험분석 하였다. 분석결과, 변수에 따른 차이는 있지만 대체로 분산의 편의가 미치는 영향이 추정량의 편의가 미치는 영향보다 크다는 것을 명확히 확인할 수 있었다.

• 대한전기학회논문지:전기물성ㆍ응용부문C
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• 제55권3호
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• pp.111-115
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• 2006

We investigated accelerated soft error rate(ASER) in 8M static random access memory(SRAM) cells. The effects on ASER by well structure, operational voltage, and cell transistor threshold voltage are examined. The ASER decreased exponentially with respect to operational voltage. The chips with buried nwell1 layer showed lower ASER than those either with normal well structure or with buried nwell1 + buried pwell structure. The ASER decreased as the ion implantation energy onto buried nwell1 changed from 1.5 MeV to 1.0 MeV. The lower viscosity of the capping layer also revealed lower ASER value. The decrease in the threshold voltage of driver or load transistor in SRAM cells caused the increase in the transistor on-current, resulting in lower ASER value. We confirmed that in order to obtain low ASER SRAM cells, it is necessary to also the buried nwell1 structure scheme and to fabricate the cell transistors with low threshold voltage and high on-current.

• 한국산업정보학회논문지
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• 제7권2호
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• pp.1-5
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• 2002

본 논문에서는 무선 ATM환경에서 ATM 셀을 전송할 때 터보부호와 BCH 부호를 이용한 연쇄 부호를 제안하여 비트 오류확률, 셀 손실 확률을 분석하였다. 사용된 연쇄부호는 부호율이 1/2인 터보부호와 오류정정 능력이 5비트와 15비트를 갖는 BCH부호를 이용하였다. 연쇄부호를 사용할 경우 터보코드를 사용 할 때와 비교하여 비트 오류확률이 0.001에서 0.2㏈ 와 0.4㏈ 비트 오류확률 성능향상을 보였다. 또한 셀 손실률이 0.01에서 연쇄부호를 사용할 경우 터보코더를 사용할 때 보다는 0.1㏈ 및 0.2㏈ 개선됨을 보였다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 1998년도 하계종합학술대회논문집
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• pp.413-416
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• 1998

This paper presents a dAC calibration technique for high resolution and monolithic operation. The calibration technique consists of basic source, current memory cell (C.M) and current substrator. Current memory supplies the error current to basic source. Current substrator extracts the error current from the main source. It is simple and needs no special calibration period. The proposed current cell has high calibration performance and guarantees 100MHz operation.

• 정보와 통신
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• 제32권6호
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• pp.16-22
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• 2015

NAND flash 메모리의 집적도를 높이기 위한 주요 기술로, 데이터가 저장되는 cell 자체의 크기를 줄여주는 미세 공정화와 cell 당 저장되는 정보량을 늘려주는 멀티-레벨(multi-level)화가 사용되고 있다. 이러한 기술의 적용은 NAND flash 메모리 자체의 오류를 증가시키게 되므로, NAND flash 메모리 기반 데이터 저장 장치의 신뢰성을 높은 수준으로 유지하기 위해서는 우수한 정정 능력을 갖는 ECC(error control code) 를 사용하는 것이 필수적이다. 본고에서는 NAND flash 메모리의 신뢰성 특성과 함께 NAND flash 메모리를 사용하는 데이터 저장 장치에서의 ECC의 응용에 대해서 살펴보고자 한다.

• 한국경영과학회지
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• 제31권3호
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• pp.1-10
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• 2006

In this paper we deal with a cell planning issue arisen in a CDMA based multicast network. In a CDMA based wireless network, a terminal can significantly reduce the bit error rate via the cohesion of data streams from multiple base stations. In this case, multiple base stations have to be operated according to a common time line. The cells whose base stations are operated as such are called soft-combined cells. Therefore, a terminal can take advantage of error rate reduction, if the terminal is in a soft-combined cell and at least one neighboring cell is also soft-combined. However, as soft-combining operation gives heavy burden to the network controller, the limited number of cells can be soft-combined. Our problem us to find a limited number of soft-combined cells such that the benefit of the soft-combining operation is maximized.

• 한국통신학회논문지
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• 제22권1호
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• pp.1-11
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• 1997

We examine the DS/SSMA system which is employing coherent BPSK with RAKE receiver. We adop Nakagami m-distribution as a multipath fading model. First, we analyze the performances of the system in the single cell environment and obtain the other-cell interference according to power control error. And considering the other-cell interference into the analysis of single cell system, we examine the cellular CDMA network. The average BER and outage probability are the figures of merit that characterize the system performance. The required BER, 1E-3, and required outage probability are the figures of merit that characterize the system performance. The requeired BER, 1E-3, and required outage probability, 1% for the voice transmission is considered to acquire the capacity of system.

• 한국통신학회논문지
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• 제14권6호
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• pp.590-603
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• 1989

본 논문에서는 단축 Hamming 부호의 일종이며 오류검출용 검사비트 수가 16인 CRC-CCITT 부호화 원시다항식 CRC 부호에 대한 성능 분석을 위하여 필수적으로 요구되는 중분포(weight distribution)를 구하는 기법과 오류검출 성능을 분석하는 기법을 제안하였고, 두 CRC(cyclic redundant code)부호를 CCITT에서 광대역 ISDN의 가입자망 인터페이스의 전송방식으로 권고된 ATM(asynchronous transfer mode)전송방식의 오류검출을 부호로 적용하여 현재 고려되고 있는 cell 크기에 대한 증분포 및 미검출오류확률(undetected error probability)을 구한 후, 두 오류검출부호의 성능을 비교/분석 하였다. 분석 결과, 현재 고려되는 셀 크기에 대해 CRC-CCITT 부호의 성능이 원시다항식 CRC 부호의 성능보다 더 우수함이 입증되었다 .이를 위한 모든 계산을 IBM PC/AT를 이용하여 수행하였다. 한편 본 논문에서 제안한 단축 Hamming 부호의 성능 분석 기법은 지금까지 디지틀 통신시스템에 적용되고 있는 또는 적용예정인 CRC 오류검출 부호의 성능 분석에 이용될 수 있다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국정보통신학회 2015년도 추계학술대회
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• pp.842-846
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• 2015

본 연구에서는 세포의 자가 치료 기능을 모사하여 복잡한 디지털 회로를 기능별 분리시킨 구조에서 회로 동작 중 발생하는 오류 위치를 빠르게 찾고 복구 시키는 알고리즘 방법을 제안한다. 디지털 회로를 각 기능별로 9가지로 분리시켜 오류 난 디지털 회로의 기능블록 위치를 빠르게 검출할 수 있게 하며 복구 시키는 방법을 제안한다. 복잡한 구조의 디지털 회로에서도 각 디지털 회로의 기능 별 위치에 대한 번호 및 좌표를 $3{\times}3$ 행렬 구조로 확대시켜 오류 위치에 대아여 검출 및 복구가 가능한 알고리즘이다.

• 한국정보통신학회논문지
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• 제19권11호
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• pp.2745-2750
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• 2015

본 연구에서는 세포의 자가 치료 기능을 모사하여 복잡한 디지털 회로를 기능별 분리시킨 구조에서 회로 동작 중 발생하는 오류 위치를 빠르게 찾고 복구 시키는 알고리즘 방법을 제안한다. 디지털 회로를 각 기능별로 9가지로 분리시켜 오류 난 디지털 회로의 기능블록 위치를 빠르게 검출할 수 있게 하며 복구 시키는 방법을 제안한다. 복잡한 구조의 디지털 회로에서도 각 디지털 회로의 기능별 위치에 대한 번호 및 좌표를 $3{\times}3$ 행렬 구조로 확대시켜 오류 위치에 대하여 검출 및 복구가 가능한 알고리즘이다.