• 제목/요약/키워드: asymmetric channel

검색결과 190건 처리시간 0.031초

비대칭 스페이싱 다중채널 구조를 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 (Multiple-Channel using Asymmetric Spacing Structure (ASS) Polycrystalline Silicon (Poly-Si) Thin-Film Transistors (TFTs))

  • 송승민;최성환;한민구
    • 대한전기학회:학술대회논문집
    • /
    • 대한전기학회 2011년도 제42회 하계학술대회
    • /
    • pp.1414-1415
    • /
    • 2011
  • 높은 게이트와 드레인 바이어스 스트레스 조건에서 신뢰성을 높이기 위해 비대칭 스페이싱 다중채널 구조 (ASS) 를 이용한 다결정 실리콘 박막 트래지스터 (poly-Si TFTs) 를 제안하였다. 이것은 어떠한 추가공정 없이 제작할 수 있고 채널 가운데 부분의 넓은 공간을 이용하여 소자안의 유도된 열을 방출할 수 있기 때문에 기존의 트랜지스터에 비해 47%의 문턱전압감소와 3%의 이동도 변화 감소를 보인다. 이 실험결과는 제안된 소자구조가 기존의 소자에 비해 높은 게이트와 드레인 바이어스 조건에서 전기적 특성이 더 안정적이라는 것을 보여준다.

  • PDF

Effect of Electric Field Frequency on the AC Electrical Treeing Phenomena in an Epoxy/Reactive Diluent/Layered Silicate Nanocomposite

  • Park, Jae-Jun
    • Transactions on Electrical and Electronic Materials
    • /
    • 제15권2호
    • /
    • pp.87-90
    • /
    • 2014
  • The effects of electric field frequency on the ac electrical treeing phenomena in an epoxy/reactive diluent/layered silicate (1.5 wt%) were carried out, in needle-plate electrode arrangement. A layered silicate was exfoliated in an epoxy base resin, by using our ac electric field apparatus. To measure the treeing propagation rate, constant alternating current (AC) of 10 kV with three different electric field frequencies (60, 500 and 1,000 Hz) was applied to the specimen, in needle-plate electrode arrangement, at $30^{\circ}C$ of insulating oil bath. As the electric field frequency increased, the treeing propagation rate increased. At 500 Hz, the treeing propagation rate of the epoxy/PG/nanosilicate system was $0.41{\times}10^{-3}$ mm/min, which was 3.4 times slower than that of the epoxy/PG system. The electrical treeing morphology was dense bush type at 60 Hz; however, as the frequency increased, the bush type was changed to branch type, having few branches, with very slow propagation rate.

비대칭 이중게이트 MOSFET의 채널길이와 두께 비에 따른 문턱전압 및 전도중심 분석 (Analysis of Threshold Voltage and Conduction Path for Ratio of Channel Length and Thickness of Asymmetric Double Gate MOSFET)

  • 정학기;정동수
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국정보통신학회 2015년도 춘계학술대회
    • /
    • pp.829-831
    • /
    • 2015
  • 본 연구에서는 비대칭 이중게이트 MOSFET의 채널길이와 채널두께의 비에 따른 문턱전압 및 전도중심의 변화를 분석하고자한다. 비대칭 이중게이트 MOSFET는 상하단 게이트 전압에 의하여 전류흐름을 제어할 수 있어 단채널효과를 감소시킬 수 있다는 장점이 있다. 그러나 채널길이가 감소하면 필연적으로 발생하는 문턱전압의 급격한 변화는 소자 특성에 커다란 영향을 미치고 있다. 특히 상하단의 게이트 전압, 상하단의 게이트 산화막 두께 그리고 도핑분포변화에 따라 발생하는 전도중심의 변화는 문턱전압을 결정하는 중요 요소가 된다. 해석학적으로 문턱전압 및 전도중심을 분석하기 위하여 해석학적 전위분포를 포아송방정식을 통하여 유도하였다. 다양한 채널길이 및 채널두께에 대하여 전도중심과 문턱전압을 계산한 결과, 채널길이와 채널두께의 비 등 구조적 파라미터뿐만이 아니라 도핑분포 및 게이트 전압 등에 따라 전도중심과 문턱전압은 크게 변화한다는 것을 알 수 있었다.

  • PDF

채널길이 및 두께 비에 따른 비대칭 DGMOSFET의 드레인 유도 장벽 감소현상 (Drain Induced Barrier Lowering for Ratio of Channel Length vs. Thickness of Asymmetric Double Gate MOSFET)

  • 정학기
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국정보통신학회 2015년도 춘계학술대회
    • /
    • pp.839-841
    • /
    • 2015
  • 본 연구에서는 비대칭 이중게이트 MOSFET의 채널길이와 채널두께의 비에 따른 드레인 유도 장벽 감소 현상의 변화에 대하여 분석하고자한다. 드레인 전압이 소스 측 전위장벽에 영향을 미칠 정도로 단채널을 갖는 MOSFET에서 발생하는 중요한 이차효과인 드레인 유도 장벽 감소는 문턱전압의 이동 등 트랜지스터 특성에 심각한 영향을 미친다. 드레인 유도 장벽 감소현상을 분석하기 위하여 포아송방정식으로부터 급수형태의 전위분포를 유도하였으며 차단전류가 $10^{-7}A/m$일 경우 비대칭 이중게이트 MOSFET의 상단게이트 전압을 문턱전압으로 정의하였다. 비대칭 이중게이트 MOSFET는 단채널효과를 감소시키면서 채널길이 및 채널두께를 초소형화할 수 있는 장점이 있으므로 본 연구에서는 채널길이와 두께 비에 따라 드레인 유도 장벽 감소를 관찰하였다. 결과적으로 드레인 유도 장벽 감소 현상은 단채널에서 크게 나타났으며 하단게이트 전압, 상하단 게이트 산화막 두께 그리고 채널도핑 농도 등에 따라 큰 영향을 받고 있다는 것을 알 수 있었다.

  • PDF

천이박리유동의 직접수치모사 Part I:주 불안정성 (Drirect Numerical Simulation of Transitional Separated Flows Part I:Primary Instability)

  • 양경수
    • 대한기계학회논문집B
    • /
    • 제20권9호
    • /
    • pp.2965-2972
    • /
    • 1996
  • Transitional flow in an obstructed channel is investigated using numerical simulation. Two-dimensional thin obstacles are mounted symmetrically in the vertical direction and periodically in the streamwise direction. Flow separation occurs at the tip of the sharp obstacles. Depending on the Reynolds number, the flow undergoes Hopf bifurcation as the primary instability leading to a two-dimensional unsteady periodic solution. At higher Reynolds numbers, the unsteady solution exhibits a symmetry-breaking bifurcation which results in an unsteady asymmetric solution. The results are compared with experiments currently available, and show a good agreement.

대칭/비대칭 double 게이트를 갖는 SOI MOSFET에서 subthreshold 누설 전류 특성 분석 (Characteristics of Subthreshold Leakage Current in Symmetric/Asymmetric Double Gate SOI MOSFET)

  • 이기암;박정호
    • 대한전기학회:학술대회논문집
    • /
    • 대한전기학회 2002년도 하계학술대회 논문집 C
    • /
    • pp.1549-1551
    • /
    • 2002
  • 현재 게이트 길이가 100nm 이하의 MOSFET 소자를 구현할 때 가장 대두되는 문제인 short channel effect를 억제하는 방법으로 제안된 소자 중 하나가 double gate (DG) silicon-on-insulator (SOI) MOSFET이다. 그러나 DG SOI MOSFET는 두 게이트간의 align과 threshold voltage control 문제가 있다. 본 논문에서는 DG SOI MOSFET에서 이상적으로 게이트가 align된 구조와 back 게이트가 front 게이트보다 긴 non-align된 구조가 subthreshold 동작 영역에서 impact ionization에 미치는 영향에 대해 시뮬레이션을 통하여 비교 분석하였다. 그 결과 게이트가 이상적으로 align된 구조보다 back 게이트가 front 게이트보다 긴 non-align된 구조가 게이트와 드레인이 overlap된 영역에서 impact ionization이 증가하였으며 게이트가 각각 n+ 폴리실리콘과 p+ 폴리실리콘을 가진 소자에서 두 게이트가 같은 work function을 가진 소자보다 높은 impact generation rate을 가짐을 알 수 있었다.

  • PDF

무선 협력 네트워크를 위한 비례공정 중계 기법 (Proportional-fair relaying for a wireless cooperative network)

  • 김진수;이재홍
    • 한국방송∙미디어공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국방송공학회 2011년도 추계학술대회
    • /
    • pp.121-122
    • /
    • 2011
  • 본 논문에서는 무선 협력 네트워크(wireless cooperative network)의 전송 신뢰성과 공정성 향상을 위한 비례공정 중계(proportional-fair relaying) 기법을 제안한다. 다중 단말과 단일 기지국이 있는 다원 접속(multiple access) 환경에서 저속 페이딩(slow fading)에 의한 성능 열화를 저감하면서 단말간 자원 사용 공정성 보장하기 위해 비례공정 전송 기법과 중계 기법 결합한다. 이를 통해 기존 기회적(opportunistic) 전송 기법의 비대칭 채널(asymmetric channel)에서의 자원 사용 불공정성을 해결하면서 깊은 페이딩(deep fading)에 의한 데이터 무선 전송 손실을 최소화 한다. 컴퓨터 모의실험 결과를 통해 제안된 기법이 공정성 제한(fairness constraint)이 있는 다원 접속 환경에서 불능 확률(outage probability) 성능을 제고함을 보인다.

  • PDF

Positive bias stress하에서의 electric field가 a-IGZO TFT의 비대칭 열화에 미치는 영향 분석 (Effect of electric field on asymmetric degradation in a-IGZO TFTs under positive bias stress)

  • 이다은;정찬용;;권혁인
    • 한국표면공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국표면공학회 2014년도 추계학술대회 논문집
    • /
    • pp.108-109
    • /
    • 2014
  • 본 논문에서는 gate와 drain bias stress하에서의 a-IGZO thin-film transistors (TFTs)의 비대칭 열화 메커니즘 분석을 진행하였다. Gate와 drain bias stress하에서의 a-IGZO TFT의 열화 현상은 conduction band edge 근처에 존재하는 oxygen vacancy-related donor-like trap의 발생으로 예상되며, TFT의 channel layer 내에서의 비대칭 열화현상은 source의 metal과 a-IGZO layer간의 contact에 전압이 인가되었을 경우, reverse-biased Schottky diode에 의한 source 쪽에서의 높은 electric field가 trap generation을 가속화시킴으로써 일어나는 것임을 확인할 수 있었다.

  • PDF

Outage Analysis of a Cooperative Multi-hop Wireless Network for Rayleigh Fading Environment

  • 아사두자만;공형윤
    • 한국통신학회논문지
    • /
    • 제36권2A호
    • /
    • pp.133-138
    • /
    • 2011
  • This paper presents an information theoretic outage analysis for physical layer of a cooperative multihop wireless network. Our analysis shows that cooperation by selecting a proper relay at each hop increases the coverage or data rate of the network. In our analysis we consider both symmetric and asymmetric network model. We also investigate the availability of cooperative relay at each hop and show that end-to-end performance of the network depends on the relay selection procedure at each hop. We also verify our analytical results with simulations.

비대칭 DGMOSFET의 채널도핑농도에 따른 드레인 유도 장벽 감소현상 분석 (Analysis of Drain Induced Barrier Lowering of Asymmetric Double Gate MOSFET for Channel Doping Concentration)

  • 정학기;권오신
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국정보통신학회 2015년도 추계학술대회
    • /
    • pp.858-860
    • /
    • 2015
  • 본 연구에서는 비대칭 이중게이트 MOSFET의 채널 내 도핑농도에 대한 드레인 유도 장벽 감소 현상에 대하여 분석하고자한다. 드레인 유도 장벽 감소 현상은 드레인 전압에 의하여 소스 측 전위장벽이 낮아지는 효과로서 중요한 단채널 효과이다. 이를 분석하기 위하여 포아송방정식을 이용하여 해석학적 전위분포를 구하였으며 전위분포에 영향을 미치는 채널도핑 농도뿐만이 아니라 상하단 산화막 두께, 하단 게이트 전압 등에 대하여 드레인 유도 장벽 감소 현상을 관찰하였다. 결과적으로 드레인 유도 장벽 감소 현상은 채널도핑 농도에 따라 큰 변화를 나타냈다. 단채널 효과 때문에 채널길이가 짧아지면 도핑농도에 따른 영향이 증가하였다. 도핑농도에 대한 드레인유도장벽감소 현상의 변화는 상하단 산화막 두께에 따라 큰 변화를 보였으며 산화막 두께가 증가할수록 도핑농도에 따른 변화가 증가하는 것을 알 수 있었다. 또한 하단게이트 전압은 그 크기에 따라 도핑농도의 영향이 변화하고 있다는 것을 알 수 있었다.

  • PDF