• 전자공학회논문지
• /
• 제52권6호
• /
• pp.70-76
• /
• 2015

본 논문은 FPGA 내부의 경계 스캔 체인을 자가 테스트 회로로써 재활용하기 위한 FPGA 자가 테스트 회로 설계 기술을 소개한다. FPGA의 경계 스캔 체인은 테스트나 디버깅 기능뿐만 아니라 각 셀에 연결되어 있는 입출력 핀의 기능을 설정하기 위해서도 사용되기 때문에 일반적인 칩의 경계 스캔 셀보다 매우 크다. 따라서, 본 논문에서는 FPGA 경계 스캔 셀의 구조를 분석하고 소수의 FPGA 로직과 함께 테스트 패턴 생성과 결과 분석이 가능하도록 설계한 BIST(built-in-self-test) 회로를 제시한다. FPGA의 경계 스캔 체인을 자가 테스트를 위하여 재사용함으로써 면적 오버헤드를 줄일 수 있고 보드상에서 프로세서를 사용한 온-라인(on-line) 테스트/모니터링도 가능하다. 실험을 통하여 오버헤드 증가량과 시뮬레이션 결과를 제시한다.

• 한국정보처리학회논문지
• /
• 제3권3호
• /
• pp.572-580
• /
• 1996

본 논문은 IPMT법에 부분스캔설계 방법을 적용하여, IPMT법의 적용 한계를 개선 한 순차회로의 테스트생성법에 관해 기술한다. IPMT법에서의 像계산(image computation) 시 방대한 계산량이 필요로한 문제점을 해결하기 위하여,부분스캔설계를 도입하여테스트 복잡도를 줄인 후 IPMT법으로 테스트생성을 한다. 부분스캔설계를 위한 스캔 플립플롭의 선택은 순차회로의 狀態 함수를 二分決定그래프가binary decision diagram) 로 표현했을 때의 노드의 크기 순으로 한다. 본 방법을 이용하여 ISCAS'89 벤치마크회로에 대해 실험 한 결과, 종래의 IPMT법 에서 100% 고장검출률을 얻을 수 없었던 s344, s420에 대해 20% 부분스캔으로 100%의 고장검출률을 얻었고, sl423에 대해서는 80%의 부분스캔으로 100% 고장검출률을 얻었다.

• 한국산학기술학회논문지
• /
• 제19권12호
• /
• pp.25-31
• /
• 2018

선택적 레이저 용융 (Selective Laser Melting) 기법은 금속 소재를 다루는 대표적인 3D 프린팅 기법중의 하나이다. SLM 기법으로 제작되는 구조물의 특성을 좌우하는 주요 제작 인자로는 구조물의 적층 제작 방향, 레이저 파워, 레이저 스캔 스피드 및 스캔 간격 등을 고려할 수 있다. 이번 연구에서는 AlSi10Mg 합금을 대상 소재로 하여, 인장 시편의 제작 방향, 레이저 스캔 스피드 및 스캔 간격을 변수로 하여, 인장특성 결과를 비교 분석하였다. 인장특성으로는 항복 응력, 인장강도 및 연신율을 고려하였다. 시험결과로부터, 인장 시편의 제작 방향 기준으로 0도, 45도, 90도 순서로 항복 응력 값이 낮아짐을 확인하였다. 레이저 스캔 스피드 기준으로는 1870mm/min에서 가장 큰 항복 응력값을 보였으며, 스캔 스피드가 낮아질수록 항복 응력 크기도 줄어들었다. 레이저 스캔 간격 기준으로, 그 크기가 증가할수록 항복 응력값은 증가하지만, 다른 시험 기준에 비해 그 변화폭은 가장 적었다. 인장강도 및 연신율은 시험조건에 따른 명확한 경향성을 파악하기 어려웠다.

• 정보처리학회논문지A
• /
• 제16A권2호
• /
• pp.79-88
• /
• 2009

경계면스캔 구조는 시험대상회로의 입력측 스캔경로에 직렬입력을 통하여 시험패턴을 입력하고, 병렬로 대상회로에 인가한 후, 응답값을 출력측 스캔경로를 통하여 TDO로 직렬로 출력하는 시험구조로서, 대상회로의 동작속도에 맞추어 인가되는 연속적인 시험패턴에 대한 대상회로의 동적인 변화되는 출력을 관찰하는 것이 불가능하다. 본 논문에서는 대상회로의 동작속도 환경하에서 연속적인 시험패턴을 입력하여 시험대상회로의 연속적인 동적인 출력값들을 지속적으로 TDO로 출력함으로써 대상회로에 대한 성능시험에 사용할 수 있는 패턴생성기와 CBSR(Continuous capture Boundary Scan Register)를 이용한 시험구조와 시험절차를 개발하였다. 본 논문에서 사용된 CBSR은 연속캡쳐 설정과 쉬프트경로 설정을 위해 개발되었으며, 표준의 경계면 스캔 레지스터의 기능을 정상적으로 수행하도록 설계되었다. Altera의 Max+Plus 10.0를 사용하여 패턴생성기와 CBSR을 이용한 시험구조를 설계하고, 스캔구조를 적용 설계하고, CCAP명령어를 사용한 시험절차를 시뮬레이션을 통해 제안된 시험구조의 동작의 정확성을 확인하였다.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
• /
• 제4권1호
• /
• pp.28-37
• /
• 1999

본 논문에서는 클록 입력을 갖는 대표적인 회로인 5비트 카운터를 대상회로로 선정하여 경계면 스캔 구조를 적용하고, 대상회로에 대한 지연시험을 위한 새로운 시험 구조와 지연시험 절차를 개발하였다. 지연시험 대상회로가 클록 입력을 갖는 경우, 기존의 경계면 스캔 구조에서는 동일한 패턴의 중복 입력, 클록 입력과 데이터 입력과의 시간 간격과, 패턴 입력과 응답값 캡쳐까지의 시간 문제에 의해 적절치 않음을 보였다. 본 논문에서 제안하는 지연 시험 구조는 클록 계수 발생기를 사용하여 연속 발생시킬 클록의 개수를 입력받아 이를 대상회로의 클록 입력에 적용하여 대상회로에 대한 입력 패턴의 중복문제를 해결하였다. 또한 시스템 클록을 TCK로 사용하여 대상회로를 정상 속도에서 동작할 수 있도록 하였다. 연속적인 클록 발생에 TCK를 사용함으로써 대상회로를 정상 속도에서 검증할 수 있다. 제안된 시험 구조와 절차는 대상회로에 대한 타이밍 시뮬레이션을 통해 동작의 정확성을 확인하였다.

• 전자공학회논문지C
• /
• 제36C권2호
• /
• pp.14-25
• /
• 1999

인쇄 회로 보드 수준의 테스팅을 위해 제안된 IEEE 표준 1149.1은 보드상의 테스트 지점에 대한 제어용이도와 관측용이도를 향상시켜 보드의 테스트를 용이하게 해준다. 그러나, 경계 주사 환경에서는 테스트 입력과 테스트 결과에 따른 데이터가 하나의 주사 연결에 의해서 직렬로 이동된다. 이는 테스트 적용시간을 증가시키고 따라서 테스트에 드는 비용을 증가시킨다. 테스트에 소모되는 시간을 줄이기 위해 병렬로 다중주사 경로를 구성하는 방법이 제안되었다. 하지만 이는 여분의 입출력 핀과 내선을 필요로 한다. 더구나 IEEE 표준 1149.1은 주사 경로 상에 있는 IC들의 병렬 동작을 지원하지 않기 때문에 표준에 맞게 설계하기가 어렵다. 본 논문에서는 하나의 테스트 버스로 두 개의 주사 경로를 동시에 제안하는 다중 주사 경로 접근 알고리즘에 기초하여 적은 면적 오버헤드를 가지고 빠른 시간 내에 보드를 테스트할 수 있는 새로운 보드수준의 내장된 자체 테스트 구조를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 구조는 두 개의 주사 경로에 대한 테스트 입력과 테스트 결과를 이동시킬 수 있으므로 테스트에 소모되는 시간을 줄일 수 있고 또한 테스트 입력의 생성과 테스트 결과의 분석에 소모되는 비용을 줄일 수 있다.

• 한국정보처리학회논문지
• /
• 제3권7호
• /
• pp.1924-1937
• /
• 1996

본 논문에서는 다중 보드를 시험하기 위한 새로운 구조인 확장된 스캔 경로 (ESP: Exlended Scan Path)와 절차를 제안한다. 보드률 시험하기 위한 기존의 구조로는 단일 스캔 경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔 경로 구조는 시험 데이자의 전송 경로 인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에 올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 다중 보드 시험 시보드마다 별도의 신호선이 추가된다. 그러므로 기존의 주 구조는 다중 보드 시험에는 부적절하다. 제안된 ESP구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로 상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지 않는다. 뿐만 아니라, 비스트(BIST: BUILT In Self Test)와 IEEE 1149.1 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 또한 ESP 구조를 다중 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로마다 신호선을 공통으로 사용함으로써 다중 보드 시험 시 추가되는 신호선이 없다. 본 논문 에서는 제안한 ESP 구조와 기존 시험 구조의 성능을 비교하기 위해서, ISCAS '85벤치 마크 회로를 대상으로 각 구조의 시험 수행 시간을 비교하여 우수함을 보였다.

• Geomechanics and Engineering
• /
• 제33권2호
• /
• pp.203-209
• /
• 2023

One major advantage of ground penetrating radar (GPR) over other field test methods is its ability to obtain subsurface images of roads in an efficient and non-intrusive manner. Not only can the strata of pavement structure be retrieved from the GPR scan images, but also various irregularities, such as cracks and internal cavities. This article introduces a deep learning-based approach, focusing on detecting subsurface cracks by recognizing their distinctive hyperbolic signatures in the GPR scan images. Given the limited road sections that contain target features, two data augmentation methods, i.e., feature insertion and generation, are implemented, resulting in 9,174 GPR scan images. One of the most popular real-time object detection models, You Only Learn One Representation (YOLOR), is trained for detecting the target features for two types of subsurface cracks: bottom cracks and full cracks from the GPR scan images. The former represents partial cracks initiated from the bottom of the asphalt layer or base layers, while the latter includes extended cracks that penetrate these layers. Our experiments show the test average precisions of 0.769, 0.803 and 0.735 for all cracks, bottom cracks, and full cracks, respectively. This demonstrates the practicality of deep learning-based methods in detecting subsurface cracks from GPR scan images.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
• /
• 제7권4호
• /
• pp.221-228
• /
• 2007

In this paper, we propose a new symbolic simulation for scan chain diagnosis to solve the diagnosis resolution problem. The proposed scan chain fault simulation, called the SF-simulation, is able to analyze the effects caused by faulty scan cells in good scan chains. A new scan chain fault simulation is performed with a modified logic ATPG pattern. In this simulation, we consider the effect of errors caused by scan shifting in the faulty scan chain. Therefore, for scan chain diagnosis, we use the faulty information in good scan chains which are not contaminated by the faults while unloading scan out responses. The SF-simulation can tighten the size of the candidate list and achieve a high diagnosis resolution by analyzing fault effects of good scan chains, which are ignored by most previous works. Experimental results demonstrate the effectiveness of the proposed method.

• The Journal of Advanced Prosthodontics
• /
• 제14권5호
• /
• pp.294-304
• /
• 2022

PURPOSE. The purpose of this study was to evaluate the influence of different palatal vault configurations on the accuracy and scan speed of intraoral scans (IO) of completely edentulous arches. MATERIALS AND METHODS. Three different virtual models of a completely edentulous maxillary arch with different palatal vault heights- Cl I moderate (U-shaped), Cl II deep (steep) and Cl III shallow (flat)-were digitally designed using CAD software (Meshmixer; Autodesk, USA) and 3D-printed using SLA-based 3D-printer (XFAB; DWS, Italy) (n = 30; 10 specimens per group). Each model was scanned using intraoral scanner (Trios 3; 3Shape^TM, Denmark). Scanning time was recorded for all samples. Scanning accuracy (trueness and precision) were evaluated using digital subtraction technique using Geomagic Control X v2020 (Geomagic; 3DSystems, USA). One-way analysis of variance (ANOVA) test was used to detect differences in scanning time, trueness and precision among the test groups. Statistical significance was set at α = .05. RESULTS. The scan process could not be completed for Class II group and manufacturer's recommended technique had to be modified. ANOVA revealed no statistically significant difference in trueness and precision values among the test groups (P=.959 and P=.658, respectively). Deep palatal vault (Cl II) showed significantly longer scan time compared to Cl I and III. CONCLUSION. The selection of scan protocol in complex cases such as deep palatal vault is of utmost importance. The modified, adopted longer path scan protocol of deep vault cases resulted in increased scan time when compared to the other two groups.