Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.43
no.11
s.353
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pp.37-47
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2006
This work proposes a 10b 25MS/s $0.8mm^2$ 4.8mW 0.13um CMOS A/D Converter (ADC) for high-performance wireless communication systems such as DVB, DAB and DMB simultaneously requiring low voltage, low power, and small area. A two-stage pipeline architecture minimizes the overall chip area and power dissipation of the proposed ADC at the target resolution and sampling rate while switched-bias power reduction techniques reduce the power consumption of analog amplifiers. A low-power sample-and-hold amplifier maintains 10b resolution for input frequencies up to 60MHz based on a single-stage amplifier and nominal CMOS sampling switches using low threshold-voltage transistors. A signal insensitive 3-D fully symmetric layout reduces the capacitor and device mismatch of a multiplying D/A converter while low-noise reference currents and voltages are implemented on chip with optional off-chip voltage references. The employed down-sampling clock signal selects the sampling rate of 25MS/s or 10MS/s with a reduced power depending on applications. The prototype ADC in a 0.13um 1P8M CMOS technology demonstrates the measured DNL and INL within 0.42LSB and 0.91LSB and shows a maximum SNDR and SFDR of 56dB and 65dB at all sampling frequencies up to 2SMS/s, respectively. The ADC with an active die area if $0.8mm^2$ consumes 4.8mW at 25MS/s and 2.4mW at 10MS/s at a 1.2V supply.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.17
no.6
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pp.715-720
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2016
This paper proposes a PWM (Pulse Width Modulation) voltage mode DC-DC step-up converter for portable devices. The converter, which is operated with a 1 MHz switching frequency, is capable of reducing the mounting area of passive devices, such as inductor and capacitor, and is suitable for compact mobile products. This step-up converter consists of a power stage and a control block. The circuit elements of the power stage are an inductor, output capacitor, MOS transistors Meanwhile, control block consist of OPAMP (operational amplifier), BGR (band gap reference), soft-start, hysteresis comparator, and non-overlap driver and some protection circuits (OVP, TSD, UVLO). The hysteresis comparator and non-overlapping drivers reduce the output ripple and the effects of noise to improve safety. The proposed step-up converter was designed and verified in Magnachip/Hynix 0.18um 1-poly, 6-metal CMOS process technology. The output voltage was 5 V with a 3.3 V input voltage, output current of 100 mA, output ripple less than 1% of the output voltage, and a switching frequency of 1 MHz. These designed DC-DC step-up converters could be applied to the Personal Digital Assistants(PDA), cellular Phones, Laptop Computer, etc.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.16
no.12
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pp.8643-8648
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2015
In this paper presents the design and demonstrate 8 W 3-stage HPA(High Power Amplifier) MMIC(Monolithic Microwave Integrated Circuits) for Ka-band down link satellite communications payload system at 19.5 GHz ~ 22 GHz frequency band. The HPA MMIC consist of 3-stage GaN HEMT(Hight Electron Mobility Transistors). The gate periphery of $1^{st}$ stage, $2^{nd}$ stage and output stage is determined $8{\times}50{\times}2$ um, $8{\times}50{\times}4$ um and $8{\times}50{\times}8$ um, respectively. The fabricated HPA MMIC shows size $3,400{\times}3,200um^2$, small signal gain over 29.6 dB, input matching -8.2 dB, output matching -9.7 dB, output power 39.1 dBm and PAE 25.3 % by using 0.15 um GaN technology at 20 V supply voltage in 19.5~22 GHz frequency band. Therefore, this HPA MMIC is believed to be adaptable Ka-band satellite communication payloads down link system.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.12
no.6
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pp.2747-2753
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2011
In this paper, a PWM current-mode DC-DC boost converter for mobile phone flash application has been proposed. The converter which is operated with 5 Mhz high switching frequency is capable of reducing mounting area of passive devices such as inductor and capacitor, consequently is suitable for compact mobile phones. This boost converter consists of a power stage and a control block. Circuit elements of the power stage are inductor, output capacitor, MOS transistors and feedback resistors. Meanwhile, the control block consists of pulse width modulator, error amplifier, oscillator etc. Proposed boost converter has been designed and verified in a $0.5\;{\mu}m$ 1-poly 2-metal CMOS process technology. Simulation results show that the output voltage is 4.26 V in 3.7 V input voltage, output current 100 mA which is larger than 25 ~ 50 mA in conventional 500 Khz driven converter when the duty ratio is 0.15.
Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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v.50
no.1
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pp.174-179
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2013
This paper presents a capacitor loaded tunable bandpass chip filter using multiple split ring resonators (MSRRs) with two transmission zeros. To obtain high selectivity and minimize the chip size, asymmetric feed lines are adopted to make a pair of transmission zeros located on each side of passband. Compared with conventional filters using cross-coupling or source-load coupling techniques, the proposed filter uses only two resonators to achieve high selectivity through a pair of transmission zeros. In order to optimize selectivity and sensitivity (insertion loss) of the filter, the effect of the position of asymmetric feed line on transmission zeros and insertion loss is analyzed. The SOI-CMOS switched capacitor composed of metal-insulator-metal (MIM) capacitor and stacked-FETs is loaded at outer rings of MSRRs to tune passband frequency and handle high power signal up to +30 dBm. By turning on or off the gate of the transistors, the passband frequency can be shifted from 4GH to 5GHz. The proposed on-chip filter is implemented in 0.18-${\mu}m$ SOI CMOS technology that makes it possible to integrate high-Q passive devices and stacked-FETs. The designed filter shows miniaturized size of only $4mm{\times}2mm$ (i.e., $0.177{\lambda}g{\times}0.088{\lambda}g$), where ${\lambda}g$ denotes the guided wave length of the $50{\Omega}$ microstrip line at center frequency. The measured insertion loss (S21)is about 5.1dB and 6.9dB at 5.4GHz and 4.5GHz, respectively. The designed filter shows out-of-band rejection greater than 20dB at 500MHz offset from center frequency.
Ha, Tae-Min;Son, Seung-Nam;Lee, Jun-Yong;Hong, Sang-Jeen
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.02a
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pp.434-435
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2012
Plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) silicon dioxide thin films have many applications in semiconductor manufacturing such as inter-level dielectric and gate dielectric metal oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs). Fundamental chemical reaction for the formation of SiO2 includes SiH4 and O2, but mixture of SiH4 and N2O is preferable because of lower hydrogen concentration in the deposited film [1]. It is also known that binding energy of N-N is higher than that of N-O, so the particle generation by molecular reaction can be reduced by reducing reactive nitrogen during the deposition process. However, nitrous oxide (N2O) gives rise to nitric oxide (NO) on reaction with oxygen atoms, which in turn reacts with ozone. NO became a greenhouse gas which is naturally occurred regulating of stratospheric ozone. In fact, it takes global warming effect about 300 times higher than carbon dioxide (CO2). Industries regard that N2O is inevitable for their device fabrication; however, it is worthwhile to develop a marginable nitrous oxide free process for university lab classes considering educational and environmental purpose. In this paper, we developed environmental friendly and material cost efficient SiO2 deposition process by substituting N2O with O2 targeting university hands-on laboratory course. Experiment was performed by two level statistical design of experiment (DOE) with three process parameters including RF power, susceptor temperature, and oxygen gas flow. Responses of interests to optimize the process were deposition rate, film uniformity, surface roughness, and electrical dielectric property. We observed some power like particle formation on wafer in some experiment, and we postulate that the thermal and electrical energy to dissociate gas molecule was relatively lower than other runs. However, we were able to find a marginable process region with less than 3% uniformity requirement in our process optimization goal. Surface roughness measured by atomic force microscopy (AFM) presented some evidence of the agglomeration of silane related particles, and the result was still satisfactory for the purpose of this research. This newly developed SiO2 deposition process is currently under verification with repeated experimental run on 4 inches wafer, and it will be adopted to Semiconductor Material and Process course offered in the Department of Electronic Engineering at Myongji University from spring semester in 2012.
The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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v.15
no.2
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pp.152-158
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2004
A low phase noise frequency synthesizer at X-Band which employs the subharmonic injection locking was designed and tested. The designed frequency synthesizer consists of a 1.75 GHz master oscillator - which also operates as a harmonic generator - and a 10.5 GHz slave oscillator. A 1.75 GHz master oscillator based on PLL technique used two transistors - one constitutes the active part of VCO and the other operates as a buffer amplifier as well as harmonic generator. The first stage operates a fixed locked oscillator and using the BJT transistor whose cutoff frequency is 45 GHz, the second stage is designed, operating as a harmonic generator. The 6th harmonic which is produced from the harmonic generator is injected into the following slave oscillator which also behaves as an amplifier having about 45 dB gain. The realized frequency synthesizer has a 7.4 V/49 mA, -0.5 V/4 mA of the low DC power consumption, 4.53 dBm of output power, and a phase noise of -95.09 dBc/Hz and -108.90 dBc/Hz at the 10 kHz and 100 kHz offset frequency, respectively.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.45
no.3
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pp.77-85
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2008
This work proposes a 12b 130MS/s 108mW $1.8mm^2$ 0.18um CMOS ADC for high-quality video systems such as TFT-LCD displays and digital TVs requiring simultaneously high resolution, low power, and small size at high speed. The proposed ADC optimizes power consumption and chip area at the target resolution and sampling rate based on a three-step pipeline architecture. The input SHA with gate-bootstrapped sampling switches and a properly controlled trans-conductance ratio of two amplifier stages achieves a high gain and phase margin for 12b input accuracy at the Nyquist frequency. A signal-insensitive 3D-fully symmetric layout reduces a capacitor and device mismatch of two MDACs. The proposed supply- and temperature- insensitive current and voltage references are implemented on chip with a small number of transistors. The prototype ADC in a 0.18um 1P6M CMOS technology demonstrates a measured DNL and INL within 0.69LSB and 2.12LSB, respectively. The ADC shows a maximum SNDR of 53dB and 51dB and a maximum SFDR of 68dB and 66dB at 120MS/s and 130MS/s, respectively. The ADC with an active die area of $1.8mm^2$ consumes 108mW at 130MS/s and 1.8V.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea TC
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v.46
no.12
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pp.6-13
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2009
For X-band phased array systems, a power amplifier, a 6-bit phase shifter, a 6-bit digital attenuator, and a SPDT transmit/receive (T/R) switch are fabricated and measured. All circuits are demonstrated by using CMOS 0.18 um technology. The power amplifier has 2-stage differential and cascade structures. It provides 1-dB gain-compressed output power ($P_{1dB}$) of 20 dBm and power-added-efficiency (PAE) of 19 % at 8-11 GHz frequencies. The 6-bit phase shifter utilizes embedded switched filter structure which consists of nMOS transistors as a switch and meandered microstrip lines for desired inductances. It has $360^{\circ}$ phase-control range and $5.6^{\circ}$ phase resolution. At 8-11 GHz frequencies, it has RMS phase and amplitude errors are below $5^{\circ}$ and 0.8 dB, and insertion loss of $-15.7\;{\pm}\;1,1\;dB$. The 6-bit digital attenuator is comprised of embedded switched Pi-and T-type attenuators resistive networks and nMOS switches and employes compensation circuits for low insertion phase variation. It has max. attenuation of 31.5 dB and 0.5 dB amplitude resolution. Its RMS amplitude and phase errors are below 0.4 dB and $2^{\circ}$ at 8-11 GHz frequencies, and insertion loss is $-10.5\;{\pm}\;0.8\;dB$. The SPDT T/R switch has series and shunt transistor pairs on transmit and receive path, and only one inductance to reduce chip area. It shows insertion loss of -1.5 dB, return loss below -15 dB, and isolation about -30 dB. The fabricated chip areas are $1.28\;mm^2$, $1.9mm^2$, $0.34\;mm^2$, $0.02mm^2$, respectively.
Kim, Cha-Dong;Han, Jae-Yeol;Kim, Yong-Woo;Song, Nam-Jin;Ha, Min-Woo;Lee, Seung-Hoon
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.46
no.1
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pp.98-106
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2009
This work proposes a 1280-RGB $\times$ 800-Dot 70.78mW 0.l3um CMOS LCD driver IC (LDI) for high-performance 16M-color low temperature poly silicon (LTPS) thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD) systems such as ultra mobile PC (UMPC) and mobile applications simultaneously requiring high resolution, low power, and small size at high speed. The proposed LDI optimizes power consumption and chip area at high resolution based on a resistor-string based architecture. The single column driver employing a 1:12 MUX architecture drives 12 channels simultaneously to minimize chip area. The implemented class-AB amplifier achieves a rail-to-rail operation with high gain and low power while minimizing the effect of offset and output deviations for high definition. The supply- and temperature-insensitive current reference is implemented on chip with a small number of MOS transistors. A slew enhancement technique applicable to next-generation source drivers, not implemented on this prototype chip, is proposed to reduce power consumption further. The prototype LDI implemented in a 0.13um CMOS technology demonstrates a measured settling time of source driver amplifiers within 1.016us and 1.072us during high-to-low and low-to-high transitions, respectively. The output voltage of source drivers shows a maximum deviation of 11mV. The LDI with an active die area of $12,203um{\times}1500um$ consumes 70.78mW at 1.5V/5.5V.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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