A Co-C eutectic cell for thermocouple calibration was manufactured and tested to investigate its phase transition characteristics using Type B thermocouples. It was observed that the freezing plateaus were flatter than those of melting, but the melting points were closer to the true transition temperature than the freezing points. The expanded uncertainty of melting temperature was calculated not to exceed $0.2^{\circ}C$ (k = 2). Based on the observed results, the melting process is recommended for the calibration of thermocouples.
Yu, Hai Dong;Kim, Byungjoo;Shin, Dae-Ho;Ahn, Seonghee
Mass Spectrometry Letters
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제4권4호
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pp.83-86
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2013
A new interface for coupling CIEF and MS using a four-way cross has been developed in a single mechanical system. This new interface could be operated without the electric discontinuity and reinstallation of lines. Additionally, a bare fused silica capillary was facilitated as a spray needle to produce electrospray and to guide catholyte or sheath liquid. Focusing for CIEF was completed in a hanging droplet at the end of spray needle. This capillary spray needle also provided stable spray, enhanced the ionization efficiency and increased sensitivity. Results with carbonic anhydrase I showed that focusing and spraying were well completed with the new interface and the new spray needle.
Yield prediction is one of the most important issues in semiconductor manufacturing. Especially, for a fast-changing environment of the semiconductor industry, accurate and reliable prediction techniques are required. In this study, we propose a prediction model to predict wafer yield based on virtual metrology process parameters in semiconductor manufacturing. The proposed prediction model addresses imbalance problems frequently encountered in semiconductor processes so as to construct reliable prediction model. The effectiveness and applicability of the proposed procedure was demonstrated through a real data from a leading semiconductor industry in South Korea.
To estimate the measurement uncertainty for industrial platinum resistance thermometers(IPRTs) made with 3-wire connection, the immersion temperature profile was investigated using a liquid bath. Two types of IPRTs having lead wires made of silver and nickel were constructed and the immersion profiles were measured at temperatures from -50 $^{\circ}C$ to 250 $^{\circ}C$ using 3-wire and 4-wire method. As immersion depth and temperature increased, the resistances measured by 3-wire method increased linearly but not for 4-wire method. To calibrate a 3-wire IPRT, the immersion effect must be accounted for. We propose a linear equation to assess correctly the measurement uncertainty.
10-V Josephson junction array arranged in 8 parallel stripline paths was fabricated using self-aligning and reactive ion etching techniques. These techniques were introduced in detail with aim of obtaining high-quality junctions. The array has 18,184 Josephson junctions with the area of $12\mu\textrm{m}$$\times$$38\mu\textrm{m}$. The gap voltage and minimum critical current density were about 2.7 ㎷ and /$23 A\textrm{cm}^2$, respectively. And the critical current density and leakage current at 5 volt were about 27 $A/\textrm{cm}^2$ and $5\mu\textrm{A}$, respectively When operated in the frequency range of 76-88 ㎓, the away generated constant voltage steps up to 14-19 V. The step size near 10-V was more than 7 $\mu\textrm{A}$.
The attenuation of millimeter waves (70-100 ㎓) propagating along Josephson Junction stripline had been measured by pattern recognition near gap voltage and proximity current bump. Test series arrays of 2000, 3000, and 4000 Josephson junctions with the area of $12\mu\textrm{m}$$\times$$38\mu\textrm{m}$ had two sub-arrays with 50 Junctions at both ends. The arrays were fabricated with and without applying a plasma nitridation process to Nb ground plane. The effects of a nitridationprocess measured by the pattern recognition near gap voltage and proximity current bump were about 1.3-1.7 ㏈ and 1.6-1.8 ㏈, respectively. This means that the last sub-arrays with a nitridation process receive 26-34% more power than those without a nitridation process.
Gaworska, Dominika;Hodgson, Simon N.B.;Koniarek, Jaroslaw;Weglinski, Bogumil
한국분말야금학회:학술대회논문집
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한국분말야금학회 2006년도 Extended Abstracts of 2006 POWDER METALLURGY World Congress Part2
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pp.792-793
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2006
In the paper, the influence of different particle size $D:D>125{\mu}m$, $D<50{\mu}m$ and between on magnetic properties of a standardized dielectromagnetic is presented. The tests were taken at frequencies of between 50Hz, and 500Hz. Presented in the paper results provide important materials property data to allow the selection of the most appropriate dielectromagnetic particle size for different applications.
Hong, Kee Suk;Lim, Sun Do;Park, Hee Su;Kim, Seung Kwan
Journal of the Optical Society of Korea
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제20권6호
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pp.733-738
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2016
We calculate optical properties of guided modes of a hybrid-guiding photonic crystal fiber. The design and modeling of such hybrid-guiding PCF is made by replacing air holes with inserts of high refractive index material layer by layer in order. The optical properties such as mode intensity profile, mode dispersion, optical birefringence, confinement loss, and chromatic dispersion during transition of the guiding mechanism are analyzed and discussed. The guided modes in the hybrid-guiding region are also compared with those of reference index-guiding and bandgap-guiding photonic crystal fibers.
Calibration of the spring constants of atomic force microscopy (AFM) cantilevers is one of the issues in biomechanics and nanomechanies for quantified force metrology at pieo- or nano Newton level. In this paper, we present an AFM cantilever calibration system: the Nano Force Calibrator (NFC), which consists of a precision balance and a one-dimensional stage. Three types of AFM cantilevers (contact and tapping mode) with different shapes (beam and V) and spring constants (42, 1, 0.06 N $m^{-1}$) are investigated using the NFC. The calibration results show that the NFC can calibrate the micro cantilevers ranging from 0.01 ${\sim}$ 100 N $m^{-1}$ with relative uncertainties of less than 2%.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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