The Journal of the Convergence on Culture Technology
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v.7
no.1
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pp.558-563
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2021
Quantum-Dot Cellular Automata is a next-generation nanocircular design technology that is drawing attention from many research organizations not only because it is possible to design efficient circuits by overcoming the physical size limitations of existing CMOS circuits, but also because of its energy-efficient features. In this paper, one of the existing digital circuits, T flip-flop circuit, is proposed using QCA. The previously proposed T flip-flops are designed based on the majority gate, so the circuits are complex and have long delays. Therefore, the design of the XOR gate-based T flip-flop using cell interaction reduces circuit complexity and minimizes latency. The proposed circuit is simulated using QCADesigner, and the performance is compared and analyzed with the existing proposed circuits.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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v.26
no.1
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pp.62-68
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1989
In this paper, Analog/Digital BCDMOS technology that the bipolar devices for driver applications CMOS devices for logic applications, and DMOS devices for high voltage applications is pressented. An optimized poly-gate p-well CMOS process is chosen to fabricate the BCDMOS, and the basic concepts to desigh these devices are to improve the characteristics of bipolar, CMOS & DMOS with simple process technology. As the results, $h_{FE}$ value is 320 (Ib-$10{\mu}A$ for bipolar npn transistor, and there is no short channel effects for CMOS devices which have Leff to $1.25{\mu}m$ and $1.35{\mu}m$ for n-channel and p-channel, respectively. Finally, breakdown voltage is obtained higher than 115V for DMOS device.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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v.36C
no.11
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pp.55-63
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1999
A new CMOS If Package design methodology is presented, analyzing the electrical characteristics of a package and its effects on the CMOS digital circuits. An analytical investigation of the package noise effects due to the simultaneous switching of the gates within a chip, i.e., simultaneous switching noise (SSN) is performed. Then not only are novel design formula to meet electrical constraints of the Package derived, but also package design methodology based on the formula is proposed. Further, in order to demonstrate the Proposed design methodology, the design results are compared with HSPICE (a general purpose circuit simulator) simulation for $0.3\mu\textrm{m}$-based CMOS circuits. According to the proposed design procedures, it is shown that the results have excellent agreements with those of HSPICE simulation.
The increasing high frequency capabilities of CMOS have resulted in increased RF and analog design in CMOS. Design of RF and analog circuits depends critically on device S-parameter characteristics, magnitude of real and imaginary components and their behavior as a function of frequency. Utilization of scaled high performance CMOS technologies poses challenges as concerns for reliability degradation mechanisms increase. It is important to understand and quantify the effects of the reliability degradation mechanisms on the S-parameters and in turn on small signal model parameters. Various physical effects influencing small-signal parameters, especially the transconductance and capacitances and their degradation dependence, are discussed in detail. The measured S-parameters of H-gate and T-gate devices in a frequency range from 0.5GHz to 40GHz. All intrinsic and extrinsic parameters are extracted from S-parameters measurements at a single bias point in saturation. In this paper we discuss the analysis of the small signal equivalent circuits of RF SOI MOSFET's verificated for the purpose of exacting the change of parameter of small signal equivalent model followed by device flame.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.43
no.9
s.351
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pp.38-43
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2006
In this paper, we propose the efficient dead pixel detection algorithm for CMOS image sensors and its hardware architecture. The CMOS image sensors as image input devices are becoming popular due to the demand for miniaturized, low-power and cost-effective imaging systems. However, the presence of the dead pixels degrade the image quality. To detect the dead pixels, the proposed algorithm is composed of scan, trace and detection step. The experimental results showed that it could detect 99.99% of dead pixels. It was designed in a hardware description language and total logic gate count is 3.2k using 0.25 CMOS standard cell library.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea TC
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v.45
no.12
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pp.1-6
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2008
In this paper, bias control circuit structure have been employed to improve the power added efficiency of the CMOS class-E power amplifier on low input power level. The gate and drain bias voltage has been controlled with the envelope of the input RF signal. The proposed CMOS class-E power amplifier using bias controlled circuit has been improved the PAE on low output power level. The operating frequency is 2.14GHz and the output power is 22dBm to 25dBm. In addition to, it has been evident that the designed the structure has showed more than a 80% increase in PAE for flatness over all input power level, respectively.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1994.11a
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pp.164-167
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1994
In this Study, we design the process of 0.1$\mu\textrm{m}$ gate length CMOS that is immunized against Latch-up, and investigate the characteristic of Latch-up of this device by the design rule of layout. Using TSUPREM4 and MEDICI, we design the device and simulate the variable characteristics of it we could understand that the characteristic of Latch-up is changed for the better by varying the critical factor of it. We also investigate the structure of CMOS that can be immunized against Latch-up.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.15
no.12
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pp.1021-1026
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2002
As the development of semiconductor process technology continue to advance, ICs continue their trend toward higher performance low power system-on-chip (SOC). These circuits require on board multi power supply. In this paper, a 0.5 ㎛ dual date oxide CMOS Process technology for multi-power application is demonstrated. 5 V and 20 V devices fabricated by proposed process is measured. From 5 V devices using dual gate precess, we got almost the same characteristics as are obtained from standard 5 V devices. And the characteristics of the 20 V device demonstrates that 3 ㎛ devices with minimum gate length are available without reliability degradation. Electrical parameters in minimum 3 ㎛ devices are 520 ㎂/㎛ current density, 120 ㎷ DIBL, 24 V BV for NMOS and ,350 ㎂/㎛ current density, 180 ㎷ DIBL, 26 V BV for PMOS, respectively.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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v.35C
no.6
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pp.1-8
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1998
In this paper, we designed a low power 8bit ELM adder with static CMOS and hybrid logic styles on a chip. The designed 8bit ELM adder with both logic styles was fabricated in a 0.8$\mu\textrm{m}$ single-poly double-metal, LG CMOS process and tested. Hybrid logic style consists of CCPL(Combinative Complementary Pass-transistor Logic), Wang's XOR gate and static CMOS for critical path which determines the speed of ELM adder. As a result of chip test, the ELM adder with hybrid logic style is superior to the one with static CMOS by 9.29% in power consumption, 14.9% in delay time and 22.8% in PDP(Power Delay Product) at 5.0V supply voltage, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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