• 제목/요약/키워드: 이중포트메모리

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이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬 (An Efficient Test and Diagnosis Algorithm for Dual Port Memories)

  • 김지혜;김홍식;김상욱;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권5호
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    • pp.115-131
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    • 2004
  • 이중 포트 메모리의 사용이 증가함에 따라, 이중 포트 메모리의 테스트와 진단이 중요하게 여겨지고 있다. 본 논문에서는 메모리의 테스트 과정에서 고장이 검출되었을 때, 발생한 고장의 종류를 세부적으로 분류할 수 있는 새로운 진단 알고리듬을 제안한다. 본 알고리듬에서는 진단을 위한 패턴뿐만 아니라 테스트 결과를 통하여 얻을 수 있는 정보를 이용하여 진단 과정의 효율성을 증대하였으며, 이중 포트 메모리에서 발생할 수 있는 다양한 고장에 대하여 진단이 가능하다.

이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬 (Fault Diagnosis Algorithm for Dual Port Memories)

  • 박한원;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제39권3호
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    • pp.20-33
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    • 2002
  • 현재 다양한 분야에서 이중 포트 메모리의 사용이 증가함에 따라서 이중 포트 메모리의 고장을 진단하기 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬의 필_도성이 증대되고 있다. 따라서 본 논문에서는 이중 포트 메모리에서의 효율적인 고장 진단 알고리듬을 제시하여 이중 포트 메모리에서 발생하는 거의 모든 종류의 고장에 대한 진단을 가능하게 한다. 또한 진단 과정에서 착오를 일으키지 않고 다양한 고장 모델을 구별하며 고장과 관련된 위치를 정확하게 확인하는 것이 가능하다. 새로운 진단 알고리듬을 사용함으로서 이중 포트 메모리에서의 고장 진단과정은 효과적으로 수행될 수 있으며 이전의 다른 연구들과의 성능 평가를 통해 효율성을 확인할 수 있다.

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬 (An Efficient Test Algorithm for Dual Port Memory)

  • 김지혜;송동섭;배상민;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제40권1호
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    • pp.72-79
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    • 2003
  • 회로의 설계기술, 공정기술의 발달로 회로의 복잡도가 증가하고 있으며 대용량 메모리의 수요도 급격하게 증가하고 있다. 이렇듯 메모리의 용량이 커질수록 테스트는 더더욱 어려워지고, 테스트에 소요되는 비용도 점차 증가하여 테스트가 칩 전체에서 차지하는 비중이 커지고 있다. 따라서 짧은 시간에 수율을 향상시킬 수 있는 효율적인 테스트 알고리즘에 대한 연구자 중요하게 여겨지고 있다. 본 논문에서는 단일 포트 메모리의 고장을 검출하는데 가장 보편적으르 사용되는 March C-알고리듬을 바탕으로 하여 이를 보완하고, 추가되는 테스트 길이 없이 단일 포트 메모리뿐만 아니라 이종 포트 메모리에서 발생할 수 있는 모든 종류의 고장이 고려되어 이종 포트 메모리에서도 적용 가능한 효과적인 테스트 알고리듬을 제안한다.

내장된 이중 포트 메모리 테스트를 위한 CM2 테스트 알고리즘 (CM2 Test Algorithm for Embedded Dual Port Memory)

  • 양선웅;장훈
    • 한국정보과학회논문지:시스템및이론
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    • 제28권6호
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    • pp.310-316
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    • 2001
  • 본 논문에서는 10N March 테스트 알고리즘에 기반한 내장된 이중 포트 메모리를 위한 효율적인 테스트 알고리즘을 제안하였다. 제안된 알고리즘은 각각의 포트에 대해 독립적으로 테스트 알고리즘을 적용함으로써 각각의 포트에 대해서 단일 포트 메모리 테스트 알고리즘을 적용하는 방법에 비해 시간 복잡도를 20N에서 8.5N으로 시간 복잡도를 줄였다. 그리고 제안된 알고리즘은 주소 디코더 고장, 고착 고장, 천이 고장, 반전 결합 고장, 동행 결합 고장을 모두 검출할 수 있다.

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이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘 (An Efficiency Testing Algorithm for Realistic Faults in Dual-Port Memories)

  • 박영규;양명훈;김용준;이대열;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제44권2호
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    • pp.72-85
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    • 2007
  • 메모리 설계 기술과 공정기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 그러나 이는 메모리의 복잡도를 증가시켜 메모리 테스트를 더욱 복잡하게 하여, 결과적으로 메모리 테스트 비용의 증가를 가져왔다. 효과적인 메모리 테스트 알고리즘은 짧은 테스트 시간동안 다양한 종류의 고장을 검출하여야 하며, 특히 이중 포트 메모리 테스트 알고리즘의 경우에는 단일 포트 메모리의 고장과 이중 포트 메모리 고장을 모두 검출할 수 있어야 한다. 본 논문에서 제안하는 March A2PF 알고리즘은 18N의 짧은 테스트 패턴을 통해 이중 포트 및 단일 포트 메모리와 관련된 모든 종류의 고장을 검출하는 효과적인 테스트 알고리즘이다.

내장된 이중-포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구 (A Study on Efficient Test Methodologies on Dual-port Embedded Memories)

  • 한재천;양선웅;진명구;장훈
    • 전자공학회논문지C
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    • 제36C권8호
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    • pp.22-34
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    • 1999
  • 본 논문에서는 내장된 이중-포트 메모리를 위한 효율적인 테스트 알고리듬을 제안하였다. 제안된 테스트 알고리듬은 기존의 멀티-포트 메모리 테스트 알고리듬들보다 훨씬 빠르게 이중-포트 메모리를 테스트할 수 있으며, 고착 고장, 천이 고장 및 결합 고장을 완벽하게 검출할 수 있다. 또한, 본 연구에서는 제안된 알고리듬을 수행할 수 있는 BIST 회로를 Verilog-HDL을 이용하여 설계하고 시뮬레이션과 합성을 수행하였으며, BIST로 구현된 제안된 테스트 알고리듬의 높은 효율성을 다양한 크기의 내장 메모리에 대한 실험을 통하여 확인할 수 있었다.

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이중 포트 메모리를 위한 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST (An Efficient Programmable Memory BIST for Dual-Port Memories)

  • 박영규;한태우;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제49권8호
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    • pp.55-62
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    • 2012
  • 메모리 설계 기술과 공정 기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 전체 Systems-On-Chips(SoC)에서 내장 메모리가 차지하는 비중은 점점 증가하여 전체 트랜지스터 수의 80%~90%를 차지하고 있어, SoC에서 내장된 이중 포트 메모리에 대한 테스트 중요성이 점점 증가하고 있다. 본 논문에서는 이중 포트 메모리를 위한 다양한 테스트 알고리즘을 지원하는 새로운 micro-code 기반의 programmable memory Built-In Self-Test(PMBIST) 구조를 제안한다. 또한 제안하는 알고리즘 명령어 구조는 March 기반 알고리즘과 이중 포트 메모리 테스트 알고리즘 등의 다양한 알고리즘을 효과적으로 구현한다. PMBIST는 테스트 알고리즘을 최적화된 알고리즘 명령어를 사용하여 최소의 bit으로 구현할 수 있어 최적의 하드웨어 오버헤드를 가진다.

SRAM 이중-포트를 위한 내장된 메모리 BIST IP 자동생성 시스템 개발 (The Development on Embedded Memory BIST IP Automatic Generation System for the Dual-Port of SRAM)

  • 심은성;이정민;이찬영;장훈
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제42권2호
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    • pp.57-64
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    • 2005
  • 본 논문에서는 내장된 메모리의 테스트를 편리하게 하기 위하여 간단한 사용자 설정에 의해 자동으로 BIST IP를 생성해 내는 범용 CAD 툴을 개발하였다. 기존의 툴들은 널리 사용되고 있는 알고리즘에 국한되어 있어 메모리의 모델이 변하게 되면 다시 메모리 모델에 따라 BIST IP를 설계해야 하는 번거로움이 있었다. 하지만 본 논문에서는 사용자가 원하는 메모리 모델에 따라 알고리즘을 적용해 자동으로 BIST IP를 생성해 주는 툴을 개발하였다. 내장된 메모리로는 리프레쉬가 필요 없는 다중-포트 비동기식 SRAM이 가장 많이 사용되며, 본 연구에서는 이중-포트 SRAM에 대하여 연구 하였다.

임베디드 시스템에서 다중 데이터 메모리 뱅크의 활용 (Exploiting Multi Data Memory Banks in Embedded Systems)

  • 조두산;양승준;권용인;이하윤;권동현;백윤흥
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2013년도 추계학술발표대회
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    • pp.46-47
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    • 2013
  • 지난 수십년 동안 휴대기기 시장의 다양한 요구에 맞추어 임베디드 시스템 기술이 발전되어 왔다. 현재의 임베디드 시스템은 작은 크기의 특화된 하드웨어를 차용하면서도 높은 효율의 성능을 저가에 제공할 수 있는 기술들이 핵심을 이루고 있다. 이러한 핵심 기술들 중의 하나가 다중 메모리 뱅크이다. 예를 들면, 이중 메모리 뱅크는 같은 공간에 두 배의 메모리 대역폭의 제공할 수 있는 특징을 갖는다. 이러한 특징은 이중포트 메모리에 비하여 적은 비용으로 동일한 대역폭을 제공할 수 있는 장점을 제공한다. 그러나 현재까지도 다중 메모리 뱅크의 효율적인 사용을 지원하는 소프트웨어 기술은 부족한 실정이다. 본 연구에서는 다중 메모리 뱅크의 활용 문제를 간섭 그래프 (interference graph)를 이용하여 효과적으로 해결하였다.

고속 비터비 복호기를 위한 새로운 생존경로 메모리 관리 방법 (A New Survivor Path Memory Management Method for High-speed Viterbi Decoders)

  • 김진율;김범진
    • 한국통신학회논문지
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    • 제27권5C호
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    • pp.411-421
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    • 2002
  • 본 논문에서는 고속의 전송속도를 요구하는 근래의 디지털 통신시스템에서 그 필요성이 크게 증가 하고 있는 고속 비터비 복호기의 설계를 위한 새로운 생존경로 메모리 관리 방법과 하드웨어 구조를 제안한다. 제안된 방법은 k-개의 시작노드번호 결정회로를 독창적 방법으로 제어함으로써 복호를 시작할 수 있는 합병된 생존경로를 즉시 역추적할 수 있으며 기존의 생존경로 관리 방법들에 비하여 더 작은 크기의 생존경로 메모리와 더 짧은 처리지연시간을 갖는다. 또, 제안된 방법에서는 동작 속도가 똑같은 1개의 읽기 포인터와 1개의 쓰기 포인터 만이 필요하므로 기존의 방법들에서 요구되었던 복잡한 k-포트 메모리나 k-배 빠른 읽기 능력을 갖는 메모리를 사용할 필요가 없이 표준적인 이중포트 메모리 구조를 사용하여 생존경로 메모리를 용이하게 구현할 수 있다. 제안된 방법은 즉시 역추적을 위한 추가의 하드웨어를 요구하지만 고속의 처리속도가 필요한 비터비 복호기 구현에 기존 방법들 보다 더 우수하다.