This study describes a novel algorithm for optimizing the quality yield of silicon wafer slicing. 12 inch wafer slicing is the most difficult in terms of semiconductor manufacturing yield. As silicon wafer slicing directly impacts production costs, semiconductor manufacturers are especially concerned with increasing and maintaining the yield, as well as identifying why yields decline. The criteria for establishing the proposed algorithm are derived from a literature review and interviews with a group of experts in semiconductor manufacturing. The modified Delphi method is then adopted to analyze those results. The proposed algorithm also incorporates the analytic hierarchy process (AHP) to determine the weights of evaluation. Additionally, the proposed algorithm can select the evaluation outcomes to identify the worst machine of precision. Finally, results of the exponential weighted moving average (EWMA) control chart demonstrate the feasibility of the proposed AHP-based algorithm in effectively selecting the evaluation outcomes and evaluating the precision of the worst performing machines. So, through collect data (the quality and quantity) to judge the result by AHP, it is the key to help the engineer can find out the manufacturing process yield quickly effectively.
Personnel engaged in the medical field have implemented continual improvement by team activities in an effort to construct a system that reduces the risks involved in medical care. Knowledge in total quality management (TQM), especially statistical quality control (SQC) developed for industry, seems to be applicable to medical care. This paper describes the application of SQC to continual improvement in medical care.
Proceedings of the Korean Operations and Management Science Society Conference
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2002.05a
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pp.767-771
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2002
This paper proposes a multivariate $T^2$ variable interval control chart with sampling at fixed times, where samples are taken at specified equally spared fixed time points, and additional samples are allowed between these fixed times when indicated by the preceding $T^2$ statistics. At fixed sampling tunes, the $T^2$ statistics are composed of all quality characteristics, and a part of qualify characteristics are selected to obtain $T^2$ statistics at additional sampling times. A Markov chain approach is used to evaluate the performance of the proposed chart.
Average number of samples to signal (ANSS) and average time to signal (ATS) are the most widely used criterion for comparing the efficiencies of the quality control charts. In this study the method of evaluating ANSS and ATS values of the multivariate exponentially weighted moving average (EWMA) control charts with Markov chain approach was presented when the production process is in control state or out of control state. Through numerical results, it is found that when the number of transient state r is less than 50, the calculated ANSS and ATS values are unstable; and ATS(r) tends to be stabilized when r is greater than 100; in addition, when the properties of multivariate EWMA control chart is evaluated using Markov chain method, the number of transient state r requires bigger values when the smoothing constatnt ${\lambda}$ becomes smaller.
Journal of the Korean Data and Information Science Society
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v.28
no.4
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pp.937-945
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2017
The purpose of using a control chart is to detect any change that occurs in the process. When control charts are used to monitor processes, we want to identify this changes as quickly as possible. Many problems in quality control involve a vector of observations of several characteristics rather than a single characteristic. Multivariate CUSUM or EWMA charts have been developed to address the problem of monitoring covariance matrix or the joint monitoring of mean vector and covariance matrix. However, control charts tend to work poorly when we use the highly correlatted variables. In order to overcome it, Hawkins (1991) proposed the use of regression adjustment variables. In this paper, to monitor covariance matrix, we investigate the performance of MEWMA-type control charts with and without the use of regression adjusted variables.
The PDCA (Plan, Do, Check and Act) cycle is often used in the field of quality management. Recently, business environments have become more competitive, and the due time of products has shortened. In a short production run process, to increase efficiency of management, the necessity for distinguishing the PDCA design that starts with PLAN and the CAPD design that starts with CHECK has been clarified. Starting from Duncan (1956), there have been a number of papers dealing with the economic design of control charts from the viewpoint of production run. Some authors (Gibra, 1971; Ladany and Bedi, 1976; etc.) have studied the economic design for finite-length runs; other authors (Crowder, 1992; Del Castillo and Montgomery, 1996; etc.) have studied the economic design for short runs. However, neither the PDCA nor the CAPD design of control charts has been considered. In this paper, both the PDCA and CAPD designs of the $\bar{\x}$ chart are defined based on Del Castillo and Montgomery's design (1996), and their mathematical formulations are shown. Then from an economic viewpoint, the optimal values of the sample size per each sampling, control limits width, and the sampling interval of the two designs are studied. Finally, by numerically analyzing the relations between the key parameters and the total expected cost per unit time, the comparisons between the two designs are considered in detail.
In the standard assumption of statistical process monitoring (SPM) under consideration, the in-control region of the control parameter of quality characteristic consists of a single point. However, if small deviations from the ideal situation may not be of practical importance, the parametric space can consist of three regions: In-control, indifference, and out-of-control. In this paper, we propose two exponentially weighted moving average (EWMA) charting procedures applicable to the situation with three parameter regions, and compare the efficiency of the proposed procedures with the Shewhart chart and the cumulative sum (CUSUM) chart.
Black spots of road traffic accidents are identified and managed in order to prevent potential future accidents. We first pinpoint some problems associated with the current way of defining Black spots in Korea. Next, we show how u and x control charts can be applied to improve those problems. Some suggestions are made for practical utilization of our research findings.
Journal of the Korea Society of Computer and Information
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v.24
no.11
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pp.99-107
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2019
The "Risk management" and "Security monitoring" activities for cyber security are deeply correlated in that they prepare for future security threats and minimize security incidents. In addition, it is effective to apply a pattern model that visually demonstrates to an administrator the threat to that information asset in both the risk management and the security system areas. Validated pattern models have long-standing "control chart" models in the traditional quality control sector, but lack the use of information systems in cyber risk management and security systems. In this paper, a cyber Security Risk Monitoring (SRM) system that integrates risk management and a security system was designed. The SRM presents a strategy for applying 'security control' using the pattern of 'control charts'. The security measures were integrated with the existing set of standardized security measures, ISMS, NIST SP 800-53 and CC. Using this information, we analyzed the warning trends of the cyber crisis in Korea for four years from 2014 to 2018 and this enables us to establish more flexible security measures in the future.
A basic assumption in standard applications of control charts is that the observations are statistically independent. However, this assumption is often violated from processes in many industries. The presence of autocorrelation has a serious impact on the performance of control charts, causing a dramatic increase in the frequency of false alarms. This paper considers a process in which the observations can be modeled as a first order autoregressive(AR(1)) process, and develops (equation omitted) charts with the variable sample size(VSS) scheme for monitoring the mean of this process.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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