This paper proposes a circuit extractor which extracts a netlist from the CIF input file cntaining the layout mask artwork informations. The circuit extractor extracts transistors and their interconnections, and calculates circuit parameter such as parasitic resistance and parasitic capacitance from the mask informations. When calculating the parasitic resistance, we consider the current flow path to reduce the errors caused by the resistance approximation. Similarly, we consider the coupling capacitance which has an effect on the circuit characteristics, when the parasitic capacitances are calculated. Therefore, using these parameter values as an input to circuit simulation, the circuit characteristics such as delay time can be estimated accurately. The presented circuit extraction algorithm uses a multiple storage quad tree as a data sturucture for storing and searching the 2-dimensional geometric data of mask artwork. Also, the proposed algorithm is technologically independent to work across a wide range of MOS technologies without any change in the algorihm.
Park, Seong-Geun;Kim, Jiseong;Yook, Jong-Gwan;Park, Han-Kyu
한국전자파학회:학술대회논문집
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한국전자파학회 2002년도 종합학술발표회 논문집 Vol.12 No.1
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pp.324-327
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2002
For the characterization of arbitrary shaped printed circuit board, lossy transmission line grid model based on SPICE netlist and analytical plane model based on the segmentation method are proposed in this paper. Two methods are compared with an arbitrary shaped power/ground plane. Furthermore, design considerations for the complete power distribution network structure are discussed to ensure the maximum value of the PDN impedance is low enough across the desired frequency range and to guide decoupling capacitor selection.
We presetn sytem-level simulation methodology as well as environment setup established for CDMA digtial cellular mobile station in an effort to verify CDMA modem ASIC design. To make the system-level simulation feasible, behavioral modeling of a microcontroller was first carried out with VHDL. In addition, models written in C language were also developed to provide ASIC with realistic input data. Finally, the netlist of CDMA modem ASIC was loaded on the a hardware accelerator, which was interfaced with VHDL simulator, and ismulation was performed by excuting the actual CDMA call processing software. Simulation resutls thus obtained were confirmed by comparing them with the emulation resutls from the actual system constructed on hardware modeler. these methods were proved to be effective in both discovering in advance malfunctions when embedded in the system or design errors of ASIC and reducing simulation time by a factor of as much as 20 in case of simulation at gate-level.
In this paper, we desribe a new system, called BEST, that is used to develop a macromodel or behavioral model easily. It automatically calculates the component values of macromodel represented by equations to satisfy the given specification. Also, it gives the way to analyze both the behavioral model and transistor level circuit, and then compare the analysis results of them to check the correspondence under specific temperature and bias condition, and BEST optimizes the component values of macromodel. Other feature is to characterize MOSFET as switch model which consists of PWL-RC network. Finally, it is possible to generage multi-level netlist which consists of macro/switch/transistor level circuits, and user can determine the trade-off between simulation speed and accuracy. With the graphic user interface form of macromodel development system described above. BEST enable designers to make macromodel by themselves and to uas it. We applied BEST to develop the macromodel for the test circuit and got the 18.6 times simulation speed up with preserving the accuracy within 10% compared to the conventional transistor level circuit simulation. Also, applicability of optimization capability was verified.
A symbolic layout generator, called Flexible Module Generator (FMG), has been developed for transgorming a given CMOS circuit netlist into an optimized symbolic layout. Contrary to other conventional module generators which place transistors either in horizontal or in vertical direction, FMG places transittors in any hence can multiples of 90$^{\circ}$. This flexible layout style can maximize the diffusion sharing and hence can reduce the wire-length for both of area minimization and performance improvement. In FMG, transistors are initially randomly placed and then selected transistors are iteratively replaced using an optimization technique based on simulated evolution. Whenever a transistor is replaced, the affected nets are rerouted. Constraints on the shape, aspect ratio, and critical path delays are considered during the optimization process. Routing is performed by using a modified maze router on polysilicon, metal 1, and metal 2 interconnection layers. additional routing grids are added, if necessary, for complete routing. Unused rows or columns are removed after routing for area minimization. Experimental reasults show that FMG synthesizes satisfactory layouts.
In this paper, an algorithm for automatic schematic generation which creates schematic diagram from netlist are proposed. The important objectives on schematic generation are readability and clarity of resulting schematics. Each stage of generation should aim at enhancing these objectives. For this reason, schematic generation problem is divided into 5 subproblems` preprocessing, logical placement, pin assignment and improvement of placement, global routing, and detailed routing. The algorithm is implemented in C language, and it generates schematics from the results of logic synthesis in order to make it east for designers to understand the design and reflect their knowledge into design.
The continuous shrinking of transistors in integrated circuits leads to difficulties in improving performance, resulting in the emerging transistors such as nanosheet field-effect transistors. In this paper, we propose a TCAD-machine learning framework of nanosheet FETs to model the current-voltage characteristics. Sentaurus TCAD simulations of nanosheet FETs are performed to obtain a large amount of device data. A machine learning model of I-V characteristics is trained using the multi-layer perceptron from these TCAD data. The weights and biases obtained from multi-layer perceptron are implemented in a PSPICE netlist to verify the accuracy of I-V and the DC transfer characteristics of a CMOS inverter. It is found that the proposed machine learning model is applicable to the prediction of nanosheet field-effect transistors device and circuit performance.
OFDM (Orthogonal Frequency Division Multiplexing) 기반의 무선 랜 모뎀에 사용되는 고속/저전력 64-점 FFT/IFFT 프로세서 코어를 설계하였다. Radix-2/4/8 DIF (Decimation-In-Frequency) FFT 알고리듬을 R2SDF (Radix-2 Single-path Delay Feedback) 구조에 적용하여 설계하였으며, 내부 데이터 흐름 특성에 대한 분석을 토대로 데이터 패스의 불필요한 switching activity를 제거함으로써 전력소모를 최소화하였다. 회로 레벨에서는 내부의 상수 곱셈기와 복소수 곱셈기를 절사형(truncated) 구조로 설계하여 칩 면적과 전력소모가 감소되도록 하였다. Verilog-HDL로 설계된 64점 FFT/IFFT 코어는 0.25-$\mu\textrm{m}$ CMOS 셀 라이브러리로 합성한 결과, 약 28,100 게이트로 합성되었으며, 추출된 게이트 레벨 netlist와 SDF를 이용한 타이밍 시뮬레이션 결과, 50-MHz@2.5-V로 안전하게 동작하는 것으로 검증되어 64점 FFT/IFFT 연산에 1.3-${\mu}\textrm{s}$가 소요될 것으로 예상된다. 설계된 코어를 FPGA에 구현하여 다양한 테스트 벡터로 동작시킨 결과 정상 동작함을 확인하였으며, 50-dB 이상의 신호대잡음비(SNR) 성능과 50-MHz@2.5-V 동작조건에서 약 69.3-mW의 평균 전력모소를 나타내었다.
본 논문에서는 함수 기능에서 로직 게이트 기능까지 시뮬레이션 가능한 고성능의 로직 시뮬레이터(HSIM) 개발에 대해서 논한다. 개발된 로직 시뮬레이터는 입력부, 시 뮬레이터 본체, 출력부로 구성되어 있으며, 입력부에는 네트 리스트 컴파일러, 부품 정보 컴파일러가 포함된다. 시뮬레이터 본체에는 시뮬레이션 속도를 높이기 위한 각종 기술과 시뮬레이터의 중심 부분인 시뮬레이션 엔진 등이 소속되어 있다. 출력부에는 시뮬레이션 결과를 분석하는 파형 분석기가 있다. 개발된 시뮬레이터 본체의 주요 특 징은 점진적 로더를 사용하여 컴파일된 부품 기능들을 시뮬레이션 엔진에서 직접 로드 하여 시뮬레이션을 수행한다. 이렇게 한 결과 기존의 유릿 딜레어 event-driven interpretive 시뮬레이터와 비교했을 때 55% 이상 속도가 빠른 효과적인 성능 향상을 달성했다.
In this paper, we proposed the autonomous algorithm of pseudo-exhaustive testing for the multi-level combinational logic circuits. For the processing of shared-circuit that existed in each cone-circuit when it backtracked the path from PO to PI of CUT at the conventional verification testing, the dependent relation of PI-P0 is presented by a dependence matrix so it easily partitioned the sub-circuits for the pseudo-exhaustive testing. The test pattern of sub-circuit's C-inputs is generated using a binary counter and the test pattern of I-inputs is synthesized using a singular cover and consistency operation. Thus, according to the test patterns presented with the recipe cube, the number of test pattrens are reduced and it is possible to test concurrently each other subcircuits. The proposed algorithm treated CUT's net-list to the source file and was batch processed from the sub-circuit partitioning to the test pattern generation. It is shown that the range of reduced ration of generated pseudo-exhaustive test pattern exhibits from 85.4% to 95.8% when the average PI-dependency of ISACS bench mark circuits is 69.4%.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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