Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.35
no.3
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pp.127-132
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2002
High speed performance of ferroelectric Pb(Zr,Ti)$O_3$ (PZT) based capacitors is reported. La substitution up to 10% was performed to systematically lower the coercive and saturation voltages of epitaxial ferroelectric capacitors grown on Si using a ($Ti_{0.9}$ /$Al_{0.1}$ )N/Pt conducting barrier composite. Ferroelectric capacitors substituted with 10% La show significantly lower coercive voltage compared to capacitors with 0% and 3% La. This is attributed to a systematic decrease in the tetragonality (i.e., c/a ratio) of the ferroelectric phase. Furthermore, the samples doped with 10% La showed dramatically better retention and pulse width dependent polarization compared to the capacitors with 0% and 3% La. These capacitors show promise as storage elements in low power high density memory architectures.
Silicon nanowires were detached and obtained from silicon nanowire arrays on silicon substrate using a ultrasono-method. Silicon nanowire arrays on silicon substrate were prepared with an electroless metal assisted etching of p-type silicon. The etching solution was an aqueous HF solution containing silver nitrate. SEM observation shows that well-aligned nanowire arrays perpendicular to the surface of the silicon substrate were produced. After sonication of silicon nanowire array, an individual silicon nanowire was confirmed by FESEM. Optical characteristics of SiNWs were measured by FT-IR spectroscopy. The surface of SiNWs are terminated with hydrogen.
Dependences of total photoyields on incident photon energies were measured using synchrotron radiation light for different chemical-vapor-deposited diamond with differently treated surface. Results show that a considerable amount of gap states are presented for as-grown specimens with H-terminated, that negative electron affinity (NEA) is realized for H-plasma-treated specimens, and that sufficient O-treatment to NEA specimens results in positive electron affinity. The observed electron affinity can be explained in terms of differences in strength of the surface dipole layer formed by difference in the electron negativity among C, H and O atoms.
Acrylate-terminated poly (ethylene glycol) (PEG) macromer was prepared by the reaction of PEG with acryloyl chloride. Photopolymerization of PEG macromer resulted in the formation of cross-linked PEG network. Interpenetrating polymer networks (IPNs) based on PEG and poly(acrylic acid) (PAA) was obtained via template polymerization of AA to the PEG network by UV curing. The swelling degree of the IPNs hydrogel increased with an increase of pH value due to the association-dissociation between carboxylic acid of PAA and either of PEG through hydrogen bounding. The swelling-deswelling behavior proceeded reversibly for the IPNs upon changing pH. Release of indomethacin from the IPNs demonstrated "on-off" regulation with pH fluctuation.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.5
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pp.314-324
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1996
Scanning probe microscopes (SPMs) such as the scanning tunneling microscope (STM) and the atomic force microscope (AFM) were used for surface modification tools at the nanometer scale. Material surfaces, i. e., titanium, hydrogen-terminated silicon and trimethylsilyl organosilane monolayer on silicon, were locally oxidized with the best lateral spatial resolution of 20nm. The principle behind this proximal probe oxidation method is scanning probe anodization, that is, the SPM tip-sample junction connected through a water column acting as a minute electrochemical cell. An SPM-nanolithogrphy process was demonstrated using the organosilane monolayer as a resist. Area-selective chemical modifications, i. e., etching, electroless plating with gold, monolayer deposition and immobilization of latex nanoparticles; were achieved in nano-scale resolution. The area-selectivity was based on the differences in chemical properties between the SPM-modified and unmodified regions.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.08a
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pp.105-105
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2012
We have developed a photoemission-assisted plasma-enhanced chemical vapor deposition (PAPE-CVD) [1,2], in which photoelectrons emitting from the substrate surface irradiated with UV light ($h{\nu}$=7.2 eV) from a Xe excimer lamp are utilized as a trigger for generating DC discharge plasma as depicted in Fig. 1. As a result, photoemission-assisted plasma can appear just above the substrate surface with a limited interval between the substrate and the electrode (~10 mm), enabling us to suppress effectively the unintended deposition of soot on the chamber walls, to increase the deposition rate, and to decrease drastically the electric power consumption. In case of the deposition of DLC gate insulator films for the top-gate graphene channel FET, plasma discharge power is reduced down to as low as 0.01W, giving rise to decrease significantly the plasma-induced damage on the graphene channel [3]. In addition, DLC thickness can be precisely controlled in an atomic scale and dielectric constant is also changed from low ${\kappa}$ for the passivation layer to high ${\kappa}$ for the gate insulator. On the other hand, negative electron affinity (NEA) of a hydrogen-terminated diamond surface is attractive and of practical importance for PAPECVD, because the diamond surface under PAPE-CVD with H2-diluted (about 1%) CH4 gas is exposed to a lot of hydrogen radicals and therefore can perform as a high-efficiency electron emitter due to NEA. In fact, we observed a large change of discharge current between with and without hydrogen termination. It is noted that photoelectrons are emitted from the SiO2 (350 nm)/Si interface with 7.2-eV UV light, making it possible to grow few-layer graphene on the thick SiO2 surface with no transition layer of amorphous carbon by means of PAPE-CVD without any metal catalyst.
Bae, Sang-Eun;Oh, Mi-Kyung;Min, Nam-Ki;Paek, Se-Hwan;Hong, Suk-In;Lee, Chi-Woo J.
Bulletin of the Korean Chemical Society
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v.25
no.12
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pp.1822-1828
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2004
Electrochemical, in situ electrochemical scanning tunneling microscope (EC-STM), and attenuated total reflectance-FTIR (ATR-FTIR) spectroscopic methods were employed to investigate the preparation of atomically flat Si(111)-H surface in ammonium fluoride solutions. Electrochemical properties of atomically flat Si(111)-H surface were characterized by anodic oxidation and cathodic hydrogen evolution with the open circuit potential (OCP) of ca. -0.4 V in concentrated ammonium fluoride solutions. As soon as the natural oxide-covered Si(111) electrode was immersed in fluoride solutions, OCP quickly shifted to near -1 V, which was more negative than the flat band potential of silicon surface, indicating that the surface silicon oxide had to be dissolved into the solution. OCP changed to become less negative as the oxide layer was being removed from the silicon surface. In situ EC-STM data showed that the surface was changed from the initial oxidecovered silicon to atomically rough hydrogen-terminated surface and then to atomically flat hydrogenterminated surface as the OCP moved toward less negative potentials. The atomically flat Si(111)-H structure was confirmed by in situ EC-STM and ATR-FTIR data. The dependence of atomically flat Si(111)-H terrace on mis-cut angle was investigated by STM, and the results agreed with those anticipated by calculation. Further, the stability of Si(111)-H was checked by STM in ambient laboratory conditions.
Silicon surface nanostructures, which can be easily prepared by electrochemical etching, have attracted considerable attention because of its useful physical properties that facilitate application in diverse fields. In this work, electrochemical and electrochemical-scanning tunneling microscopic (EC-STM) techniques were employed to study the evolution of surface morphology during the electrochemical etching of Si(111)-H in a fluoride solution. The results exhibited that silicon oxide of the Si(111) surface was entirely stripped and then the surface became hydrogen terminated, atomically flat, and anisotropic in the fluoride solution during chemical etching. At the potential more negative than the flat band one, the surface had a tendency to be eroded very slowly, whereas the steps of the terrace were not only etched quickly but the triangular pits also deepened on anodic potentials. These results provided information on the conditions required for the preparation of porous nanostructures on the Si(111) surface, which may be applicable for sensor (or device) preparation (Nanotechnology and Functional Materials for Engineers, Elsevier 2017, pp. 67-91).
The computer simulation model was established to verify the applicability of smelting reduction concept to treatment of industrial wastes which becomes issue on the enviromental and recycling view point. Computer simulation model provides as following results. The increase of post combustion ratio(PCR) and heat transfer efficiency of PC energy(HTE) is effective ways to save energy. But, in order to increase PCR, recovery efficiency of post combustion energy(HTE) have to be higher than 85% HTE considering refractory life and saving energy together. Coke is most useful fuel source because it shows lowest dependence of PCR and low hydrogen content. The quality of hot metal of current process would be expected to the similar level with that of blast furnace. The utilization of scrap and Al dross can be also possible to maximize the advantages of current process which is high temperature and chemical dilution with hot metal and slag. In case of scrap, energy consumption was slightly increases because of heating up energy of scrap. Consquently, current process concept provides the possibility of intergrating recycles of industrial wastes materials such as EAF slag, coke oven dust, life terminated acidic refractory, aluminium dross and scrap by smelting reduction process.
Kim, Dae-Hee;Kim, Dae-Hyun;Jeong, Yong-Chan;Seo, Hwa-Il;Kim, Yeong-Cheol
Bulletin of the Korean Chemical Society
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v.31
no.12
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pp.3579-3582
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2010
We studied the reaction of tri-methylaluminum (TMA) on hydroxyl (OH)-terminated Si (001) surfaces for the initial growth of aluminum oxide thin-films using density functional theory. TMA was adsorbed on the oxygen atom of OH due to the oxygen atom’s lone pair electrons. The adsorbed TMA reacted with the hydrogen atom of OH to produce a di-methylaluminum group (DMA) and methane with an energy barrier of 0.50 eV. Low energy barriers in the range of 0 - 0.11 eV were required for DMA migration to the inter-dimer, intra-dimer, and inter-row sites on the surface. A unimethylaluminum group (UMA) was generated at each site with low energy barriers in the range of 0.21 - 0.25 eV. Among the three sites, the inter-dimer site was the most probable for UMA formation.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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