• 한국시뮬레이션학회논문지
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• 제27권1호
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• pp.25-32
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• 2018

본 논문은 모델 기반 내장형 소프트웨어의 자동 생성 코드에 대한 효율적인 신뢰성 시험 절차와 구체화된 동적 시험 방안에 대해서 제시하고 있다. 모델 정적/동적 시험 각각을 코드 정적/동적 시험 전에 수행함으로서 코드 신뢰성 시험 수행의 이점이 있음을 기술하였다. 또한, 모델과 코드의 신뢰성 시험 상관관계를 모델의 경우 Model Advisor와 Verification and Validation tool, 코드의 경우 Polyspace와 LDRA를 이용하여 살펴보고 제시한 절차대로 수행한 신뢰성 시험의 결과를 보여주고 있다.

• 한국원자력학회:학술대회논문집
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• 한국원자력학회 2001년도 춘계학술발표회요약집
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• pp.103.2-103
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• 2001

• 정보처리학회논문지D
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• 제17D권2호
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• pp.147-156
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• 2010

임베디드 소프트웨어의 적합성 테스트는 소프트웨어의 기능이 명세를 따라 정확히 구현되었는지 검사하는 것이다. 적합성 테스트에서 테스트 시나리오는 소프트웨어의 전체 기능을 테스트할 수 있도록 추출되어야 한다. 일반적으로 테스트 시나리오는 단순히 전체의 기능들을 한 번씩 테스트해 보는데 초점이 맞춰져 있다. 하지만 테스트 시나리오는 테스트 수행의 효율성을 고려할 필요가 있다. 이 연구에서는 각 함수들을 테스트하는데 걸리는 시간과 사용자 입력으로 인해 발생하는 대기 시간을 고려하여 최적화된 테스트 시나리오를 추출하는 기법을 제안한다. 테스트 시나리오를 추출하기 위해 상태 머신 다이어그램과 테스트 케이스를 바탕으로 그래프 형태의 테스트 모델을 생성한다. 테스트 모델에는 테스트 수행 시간과 사용자 입력에 대한 정보가 포함되어 있다. 최적화된 테스트 시나리오는 테스트 모델을 기반으로 수정된 최단거리 알고리즘을 이용하여 추출한다. 제안하는 테스트 시나리오 작성 기법을 이용하면 테스트 수행 시간을 줄일 수 있고, 테스트 자동화를 향상시킬 수 있다.

• 한국음향학회지
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• 제18권3호
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• pp.43-48
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• 1999

IDDQ 테스트는 CMOS 소자로 구성된 회로에서 기능 테스트로는 검출할 수 없는 결함을 찾아내어 회로의 신뢰성을 높여주는 전류테스트 방식이다. 본 논문에서는 IDDQ 테스트를 테스트 대상 칩 내에서 수행할 수 있는 내장전류감지(Built-In Current Sensor : BICS)회로를 설계하였다. 이 회로는 메모리의 IDDQ 테스트를 수행할 수 있도록 설계되었으며, 적은 트랜지스터를 사용하여 빠른 시간 내에 테스트를 수행할 수 있도록 구현하였다.

• 대한임베디드공학회논문지
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• 제4권4호
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• pp.164-173
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• 2009

Automotive systems have tended to be equipped with many electronic contents to satisfy safety, comport, convenience, and entertainment services over the past years. As a result, the amount of vehicle embedded software in electrical/electronic(E/E) systems is steadily increasing to manage these requirements. This leads to the traditional, document-based software development in the vehicle embedded systems being increasingly displaced by a model-based development in order to reduce software development time and cost. Due to the application of model-based development, a great evolution is being realized in the aspect of efficiency, but the development is being made without sufficient testing. So, erroneous automotive embedded software may cause serious problems such as car accidents which relate to human safety. Therefore, efficient methods for model-based test and validation are needed to improve software reliability in the stage of embedded software development. This paper presents the model-based development and test method for AUTOSAR embedded software to improve its reliability and safety, and it is demonstrated based on the case study.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제9권2호
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• pp.401-414
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• 2008

무기체계 내장형 소프트웨어의 품질을 시험하는 것은 무기체계 내장형 소프트웨어의 요구에 부합되는 고품질의 시스템을 구현할 수 있도록 지원하기 위함이다. 일반적인 내장형 소프트웨어에 대한 품질평가 방법론이나 평가기법 등이 개발된 사례가 있으나 엄격한 품질 수준을 요구하는 무기체계 내장형 소프트웨어의 경우에는 아직까지 구체적인 체계가 구축되어 있지 않은 실정이다. 최근 다양한 무기체계 내장형 시스템이 개발되어 활용되고 있으나 품질확보 면에서 많은 노력이 필요한 실정이다. 본 연구에서는 무기체계 내장형 소프트웨어 평가를 위해 ISO/IEC 12119를 근간으로 하여 평가를 수행할 수 있는 평가모델과 품질검사표를 개발하여 무기체계 내장형 소프트웨어 평가에 적용할 수 있도록 하였다.

• 정보처리학회논문지:소프트웨어 및 데이터공학
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• 제3권7호
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• pp.243-254
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• 2014

테스트 플랫폼을 이용하여 테스트 환경을 꾸밀 때는 테스트 대상에 맞게 테스트 실행기와 인터페이스 환경을 구성하여야 한다. 즉, 테스트 대상의 입출력에 해당하는 신호를 처리할 수 있는 테스트 실행기와 인터페이스 환경을 구축하여야 한다. 따라서 테스트 플랫폼이 확장성이 없다면, 새로운 모델이나 다른 테스트 대상에 테스트마다 큰 수정이 불가피하고, 그에 맞는 새로운 테스트 실행기 및 인터페이스 환경을 구성해야 하는 단점이 있다. 본 논문에서는 이러한 문제점을 해결하기 위해서 간단한 실행조건 파일(configuration file)의 수정을 통해서 여러 테스트 대상에 적용 가능한 재구성이 가능한 실시간 테스트 실행기 TEM(test Execution Machine)를 제안한다. 제안한 TEM은 두 개의 실제 시스템 테스트를 통하여 그 효용성을 검증한다.

• ETRI Journal
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• 제35권1호
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• pp.109-119
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• 2013

Static testing of analog-to-digital (A/D) and digital-to-analog (D/A) converters becomes more difficult when they are embedded in a system on chip. Built-in self-test (BIST) reduces the need for external support for testing. This paper proposes a new static BIST structure for testing both A/D and D/A converters. By sharing test circuitry, the proposed BIST reduces the hardware overhead. Furthermore, test time can also be reduced using the simultaneous test strategy of the proposed BIST. The proposed method can be applied in various A/D and D/A converter resolutions and analog signal swing ranges. Simulation results are presented to validate the proposed method by showing how linearity errors are detected in different situations.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제46권9호
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• pp.14-24
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• 2009

System on panel 프레임 버퍼를 위한 메모리 셀 어레이와 주변회로가 설계되었다. 또한, system on panel 공정의 낮은 yield를 극복하기 위해, 블럭 단위의 parallel test 방안이 제안되었다. 기존의 메모리 테스트 보다 빠르게 fault detection이 가능하며, 다양한 embedded memory나 일반 SRAM 테스트 분야에도 적용 가능하다. 또한 기존의 다양한 test vector pattern이 그대로 적용될 수 있어 fault coverage가 높고, 최근의 추세인 hierarchical bit line과 divided word line 구조에도 적용될 수 있다.

• 대한임베디드공학회논문지
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• 제8권4호
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• pp.213-218
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• 2013

In this research, we report on the development of simulation system for performance verification of BMS(Battery Management System) which is utilized in electric vehicles. In the industrial circles, a manufacturer of BMS typically tests their system with real battery packs. However, it takes a long time to test all functions of BMS. Here, we develop BMU(Battery Managament Unit) as an embedded board, which will be installed in electric vehicle for controlling battery packs. All other environment factors for testing BMU are developed in softwares in order to reduce the term of test. Especially, the proposed system consists of cell simulator and CMU(Cell Management Unit) simulator which simulate real battery cells and control battery cells. These simulators enable the BMU to test more battery cells. In addition, proposed system provides diagnosis program in order to diagnose and monitor the condition of BMS which makes the test of BMS more easily. In order to verify the performance of the developed simulator, we have performed the experiment with real battery packs and our simulator. Through comparing two results of experiments, we verify that developed simulator shows better performance in terms of less amount of testing duration though having high reliability.