Constant Voltage Stress (CVS) and Hot Carrier Injection (HCI) Degradations of Vertical Double-date InGaAs TFETs for Bio Sensor Applications (바이오 센서 적용을 위한 수직형 이중게이트 InGaAs TFET의 게이트 열화 현상 분석)
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- Journal of Sensor Science and Technology
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- v.31 no.1
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- pp.41-44
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- 2022