Communications for Statistical Applications and Methods
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v.8
no.3
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pp.697-709
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2001
In this paper we study two vector-valued process capability indices $C_{p}$=($C_{px}$, $C_{py}$ ) and C/aub pm/=( $C_{pmx}$, $C_{pmy}$) considering process capability indices $C_{p}$ and $C_{pm}$ . First, two asymptotic distributions of plug-in estimators $C_{p}$=($C_{px}$, $C_{py}$ ) and $C_{pm}$ =) $C_{pmx}$, $C_{pmy}$) are derived.. With the asymptotic distributions, we propose asymptotic confidence regions for our indices. Next, obtaining the asymptotic distributions of two bootstrap estimators $C_{p}$=($C_{px}$, $C_{py}$ )and $C_{pm}$ =( $C_{pmx}$, $C_{pmy}$) with our bootstrap algorithm, we will provide the consistency of our bootstrap for statistical inference. Also, with the consistency of our bootstrap, we propose bootstrap asymptotic confidence regions for our indices. (no abstract, see full-text)see full-text)e full-text)
Process capability indices are being used as indicators for measurements of process capability for SPC of quality assurance system in industries. In view of the enhancement of customer satisfaction, process capability indices in which loss functions are used to deal with the economic loss In the processes deviated from the target, are in an adequate representation of the customer's perception of quality In this connection, the loss function has become increasingly important in quality assurance. Taguchi uses a modified form of the quadratic loss function to demonstrate the need to consider the proximity to the target while assessing its quality. But this traditional quadratic loss function is inadequate to assessing the quality and quality improvement since different processes have different sets of economic consequences on the manufacturing, Thereby, a flexible approach to the development of the loss function needs to be desired. In this paper, we introduce an easily understood loss function, based on reflection of probability density function of the normal distribution. That is, the Reflected Normal Loss function can be adapted to an asymmetric loss as well as to a symmetric loss around the target. We propose that, instead of the process variation, a new capability index, CpI using the Reflected Normal Loss Function that can accurately reflect the losses associated with the process and a new capability index CpI Is compared with the classical indices as $C_{p}$ , $C_{pk}$, $C_{pm}$ and $C_{pm}$$^{+}$.>.+/./.
Proceedings of the Society of Korea Industrial and System Engineering Conference
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2002.05a
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pp.371-377
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2002
In this paper, We consider some generalization of these five basic indices to cover non-normal distribution. The proposed generalizations are compared with the five basic indices. The results show that the proposed generalizations are more accurate than those basic indices and other generalization in measuring process capability. We compared an estimation methods by Clements with based on sample percentiles, WVM to calculate the proposed generalization as an example. The results indicated that Clements method is more accurate than percentile method, WVM in measuring process capability. But the calculations of percentile method are easy to understand, straightforward to apply, and show be valuable used for applications.
A family of some capability indices { $C_{p}$(.alpha.,.beta.); .alpha..geq.0, .beta..geq.0}, containing the indices $C_{p}$, $C_{{pk}}$, $C_{{pm}}$, and $C_{{pmk}}$, has been defined by Vannman(1993) for the case of two-sided specification interval. By varying the parameters of the family various capability indices with suitable properties are obtained. We derive tha asymptotic distribution of the family { $C_{p}$(.alpha.,.beta.); .alpha..geq.0,.beta..geq.0} under general proper conditions. It is also shown that the bootstrap approximation to the distribution of the estimator $C_{p}$(.alpha., .beta.) is vaild for almost all sample sequences. These asymptotic distributions would be used in constructing some bootstrap confidence intervals.tervals.
Journal of Korean Society of Industrial and Systems Engineering
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v.41
no.2
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pp.174-183
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2018
In the industrial fields, the process capability index has been using to evaluate the variation of quality in the process. The traditional process capability indices such as $C_p$, $C_{pk}$, $C_{pm}$ and $C^+_{pm}$ have been applied in the industrial fields. These traditional process capability indices are mainly applied in the univariate analysis. However, the main streams in the recent industry are the multivariate manufacturing process and the multiple quality characteristics are corrected each other. Therefore, the multivariate statistical method should be used in the process capability analysis. The multivariate process indices need to be enhanced with more useful information and extensive application in the recent industrial fields. Hence, the purpose of the study is to develop a more effective multivariate process index ($MC_{pI}$) using the multivariate inverted normal loss function. The multivariate inverted normal loss function has the flexibility for the any type of the symmetrical and asymmetrical loss functions as well as the economic information. Especially, the proposed modeling method for the multivariate inverted normal loss function (MINLF) and the expected loss from MINLF in this paper can be applied to the any type of the symmetrical and asymmetrical loss functions. And this modeling method can be easily expanded from a bivariate case to a multivariate case.
Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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2001.06a
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pp.311-319
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2001
All indices that are now in use assume normally distributed data, and any use of the indices on non-normal data results in inaccurate capability measurements. Therefore, $C_{s}$ is proposed which extends the most useful index to date, the Pearn-Kotz-Johnson $C_{pmk}$, by not only taking into account that the process mean may not lie midway between the specification limits and incorporating a penalty when the mean deviates from its target, but also incorporating a penalty for skewness. Therefore we propose, a new process capability index $C_{psk}$( WV) applying the weighted variance control charting method for non-normally distributed. The main idea of the weighted variance method(WVM) is to divide a skewed or asymmetric distribution into two normal distribution from its mean to create two new distributions which have the same mean but different standard distributions. In this paper we propose an example, a distribution generated from the Johnson family of distributions, to demonstrate how the weighted variance-based process capability indices perform in comparison with another two non-normal methods, namely the Clements and the Wright methods. This example shows that the weighted valiance-based indices are more consistent than the other two methods In terms of sensitivity to departure to the process mean/median from the target value for non-normal process.s.s.s.
Process capability has long been viewed as a critical performance measure to indicate how well a process meet the specifications and customer requirements. Several indices, including $C_p$ and $C_{pk}$, have been proposed and widely implemented to quantify the process capability. However, these indices have been obtained without regard to inspection or screening procedures through which finished products will be truncated at the specifications. Consequently, only a fraction of outgoing products within the specifications will be passed into the customers. From the customer's point of view, it will thus be meaningful to assess the process capability with truncated samples. This article investigates how to estimate the process capability when only incomplete truncated data are available. On the basis of parameter estimation for truncated samples, the proposed methodology may be helpful to evaluate the process capability by examining a sample of items from the lots submitted.
Proceedings of the Korean Society for Quality Management Conference
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1998.11a
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pp.159-173
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1998
Quality characteristics on the properties of process capability indices (PCIs) are often required to be normally distributed. But, if a characteristic is not normally distributed, serious errors can result from normal-based techniques. In this case, we may well consider the use of new PCIs specially designed to be robust for non-normality. In this paper, a newly proposed measure of process capability is introduced and compared with existing PCIs using the simulated non-normal data.
This paper presents a process incapability index to provide manager with various information of process and to reduce cost. The introduced process incapability indices indicate information about mean and variance of manufacturing process and variance of inspection process to evaluate process capability using ratio of variance and difference between target and mean to specification. This model can be used by the scale of six sigma management.
As we understand it, Process Capability indices are intended to provide single-number assessments of ability to meet specification limits on quality characteristics of interest. As a consequence of the varied ways in which PCIs are used, there have been two natural lines of research work: $\circled1$ studies on the properties of PCIs and their estimators in many different environments; $\circled2$ construction of new PCIs purporting to have better properties in certain circumstances. The most of existing process capability indices are concerned with the single variable. But, in many cases, a quality characteristic is composed with several factors. In that case, we want to know the integrated process capability of a quality characteristic not those of each factor. In this paper, we proposed a new multivariate system process capability index called $MSPCI:SC_{psk}$ which is the geometric mean of performance measure $C_{psk}$'S, and will be used as the criterion to assess multiple response process designs. Numerical illustration is done for $SC_{psk}$, $\overline{C_p}$(f), Cp, Cpk, Cpm, and Cpsk.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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