Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.13
no.8
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pp.681-687
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2000
Magnetic Characteristics of an InSb hall device of multilayered structures were investigated. For the measurement of electrical properties of the hall device InSb thin films fabricated with series and parallel multilayers wee evaporated. Hall coefficient hall mobility carrier density and hall voltage were measured as a function of the intensity of magnetic field. We found that the XRD analysis of InSb thin film showed good properties at 20$0^{\circ}C$ 60 minutes. Resistance of ohmic contact was increased linearly due to increasing current. Hall voltages at 0.01 T showed 5$\times$10$^{-4}$ [V] and $1.5\times$10$^{-3}$ [V]. Some of device fabrication technique and analysis of magnetic characteristics were discussed.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.17
no.4
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pp.235-237
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2016
Oxide/metal/oxide (OMO) thin films were fabricated using amorphous indium-gallium-zinc-oxide (a-IGZO) and an Ag metal layer on a glass substrate at room temperature. The optical and electrical properties of the a-IGZO/Ag/a-IGZO samples changed systemically depending on the thickness of the Ag layer. The transmittance in the visible range tends to decrease as the Ag thickness increases while the resistivity, carrier concentration, and Hall mobility tend to improve. The a-IGZO/Ag (13 nm)/a-IGZO thin film with the optimum Ag thickness showed an average transmittance (Tav) of 71.7%, resistivity of 6.63 × 10−5 Ω·cm and Hall mobility of 15.22 cm2V−1s−1.
A novel fabrication method for the multi-component metal oxides such as zirconium titanate($Zr_xTi_{1-x}O_2$) has been suggested, which would yield the uniform film characteristics and control the film composition at relatively low process temperature. The method has the basic concept that firstly layer-by-layer structure is constructed with the primitive oxide layers, which are components of the desired multi-component oxides, and secondly the film is annealed at appropriate thermal conditions for the transformation to a single-phase multi-component oxides. In this study, PRTMOCVD(pulsed rapid thermal metalorganic chemical vapor deposition) possessing the superior thickness controllability was introduced to prepare $ZrO_2$ and $TiO_2$ thin film for zirconium titanate. Single-phase zirconium titanate thin films have been prepared successfully by the interdiffusion of oxide multilayers having several alternating layers of $ZrO_2$ and $TiO_2$. The Zr/Ti ratio of zirconium titanate could be controlled easily by altering the thickness of $ZrO_2$ and $TiO_2$ thin film.
In this research, we designed an LSPR sensor based on a thin-film multilayer comprising $TiO_2$ and $SiO_2$. The thickness of the overall substrate layer of the suggested multilayer LSPR sensor is limited to 100 nm, and the number of repeating $TiO_2$ and $SiO_2$ thin films is 1-4 within a limited thickness. Additionally, a nanowire structure with a gold thin film of 40 nm, height of 40 nm, period of 600 nm, and line width of 300 nm was formed on the multilayer. To design the variable wavelength-type SPR, the angle was fixed at $75^{\circ}$ and the wavelength was changed. We then simulated the system with the finite-element method (FEM) using Maxwell's equations. It was confirmed that the resonance wavelength became shorter as the number of multilayers increased when the refractive index was fixed. We found that the wavelength changes were more sensitive. However, no changes were observed when the number of the multilayers was three or higher.
We have studied the properties of Ag/undoped ZnO (ZnO) multilayer thin films deposited on glass substrate by the facing targets sputtering method. In an attempt to find out the optimum conditions of the Ag thin film, which would be coated on the ZnO thin film, we investigated the changes of sheet resistance, transmittance and surface morphology as a function of deposition times and the substrate temperature. The electrical and optical characteristics of Ag/ZnO multilayers were evaluated by a four-point probe, a UV/VIS spectrometer with a spectral range of 390-770 nm, a X-ray Diffractometer (XRD), an atomic force microscope (AFM) and a Field Emission Scanning Electron Microscope (SEM), respectively. We were able to prepare the Ag/ZnO multilayer thin film with sheet resistance of 9.25 $\Omega/sq.$ and transmittance of over 80% at 550nm.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1997.04a
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pp.342-345
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1997
We fabricated the sample of u1tra thin lipid membrane(L-${\alpha}$-DLPC ) by LB methode. The $\pi$-A isotherm of the DLPC was measured at the air-water interface varying with the compressing speed and amounts of solutions for spreading. For good property of lipid monolayer film, it was necessary for the lower speed of compressing, and 40${\mu}\ell$ of solutions for spreading. The molecular arrangement of deposited films were evaluated by measuring the absorption, transmitance and intensity with the UV spectrophotometer. The Y-type multilayers prepared at 50mN/m showed weaker than Z-type. So we found building-up of structurally high quality LB films is essential to study properties of the films and to get reproducible data.
We present the fractal properties of the magnetic domain walls in $(5-{\AA}\;Co_{90}Fe_{10}/10-{\AA}\;Pt)_n$ multilayer films with perpendicular magnetic anisotropy for the number of repeats n (1 to 5). In these films, the magnetization reversed due to the domain wall propagation throughout the films with rare nucleations. As n increased, it was observed that the jaggedness of the domain walls increased noticeably, which is possibly due to the accumulation of irregularities at the layer interfaces. The jaggedness of the domain walls was analyzed in terms of the fractal dimension by use of the ruler method, and it was revealed that the fractal dimension significantly changed from $1.0{\pm}0.002$ to $1.3{\pm}0.05$ as n increased from 1 to 5.
Using a solution of polyamic acid salt obtained in combination with polyimide acid, we successfully prepared thermally stable multilayers(41, 35, 31 layers) films disilane-containing polyimide by Langmuir-Blodgett(LB) technique. We studied the electrically phenomena occurring at the metal(Au)/polyimide(Pl) LB film/metal(Au). Also, we then examined the of Pl LB films by means of current-voltage (I-V) and resistance measurement.
We fabricated the sample of ultra thin lipid membrane(L-$\alpha$-DLPC) by LB method. The $\pi$-A isotherm of the DLPC was measured at the air-water interface varying with the compressing speed and amounts of solutions for spreading. For the good property of lipid monolayer film, it was necessary to prepare at the lower speed of compressing, with an appropriate volume of solutions for spreading. Absorption, transmitance and intensity with the UV spectrophotometer were measured. The Z-type multilayers showed good characteristics better than Y-type. So we found building-up of structurally high quality LB films is essential to study properties of the films and to get reproducible data.
We have investigated the dependence of the magnetization, anisotropy, coercivity, and Kerr rotation on the Fe concentration in FeCo/Pd multilayer thin films, where the Fe concentration in the FeCo sublayer varied between 0 and 100% with maintaining the same sublayer thickness of $2.5\;{\AA}$ FeCo and $10.5\;{\AA}$A Pd. The maximum saturation magnetization was observed at the Fe concentration of about 48at.% in the FeCo sublayer. Perpendicular magnetic anisotropy and coercivity of the FeCo/Pd multilayer thin film decreased monotonically with increasing the Fe con-centration. The Kerr rotation angle also decreased with increasing the Fe concentration and the amount of vari-ation was remarkably changed with decreasing the light wavelength.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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