In this study, we analyzed the effect of silicon oxynitride matrix on the optical properties of Au nanoparticles dispersed on composite film and explored the effectiveness of the silicon in fine tuning the refractive index of the composite film for applications in optical waveguide devices. The atomic fraction of nitrogen in $SiO_xN_y$ films was controlled by varying the relative flow ratio of nitrogen gas in reactive sputtering and was evaluated optically using an effective medium theory with Bruggeman geometry consisting of a random mixture between $SiO_2$ and $Si_3N_4$. The Au nanoparticles were embedded in the $SiO_xN_y$ matrix by employing the alternating deposition technique and clearly showed an absorption peak due to the excitation of surface plasmon. With increasing nitrogen atomic fraction in the matrix, the surface plasmon resonance wavelength shifted to a longer wavelength (a red-shift) with an enhanced resonance absorption. These characteristics were interpreted using the Maxwell-Garnett effective medium theory. The formation of a guided mode in a slab waveguide consisting of 3 $\mu$m thick Au:$SiO_xN_y$ nanocomposite film was confirmed at the telecommunication wavelength of 1550 nm by prism coupler method and compared with the case of using $SiO_2$ matrix. The use of $SiO_xN_y$ matrix provides an effective way of controlling the mode confinement while maintaining or even enhancing the surface plasmon resonance properties.
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2007.04a
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pp.59-60
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2007
전기 정유압장치는 밸브플레이트, 실린더 배럴, 피스톤, 샤프트등으로 이루어진 유압펌프의 부품에 요구되는 기계적 성질을 향상하기위하여 이온 질화를 포함한 다양한 연구가 진행 되어지고 있다. 그러나 본실험에서는 이온질화시 발생하는 열변형등의 단점을 해결하기 위하여 PVD 박막을 실시하여 유압펌프 부품의 마모특성 향상에 관한 연구를 실시하였다.
Silicon Oxynitride(SiON) thick films on p-type silicon(100) wafers have obtained by using plasma-enhanced chemical vapor deposition from SiH$_4$ , N$_2$O and N$_2$. Prism coupler measurements show that the refractive indices of SiON layers range from 1.4620 to 1.5312. A high deposition power of 180 W leads to deposition rates of up to 5.92${\mu}$m/h. The influence of the deposition condition on the chemical composition was investigated using X-ray photoelectron spectroscopy. After deposition of the SiON thick films, the films were annealed at 1050$^{\circ}C$ in a nitrogen atmosphere for 2 h to remove absorption band near 1.5${\mu}$m.
Kim, Deok-Kyu;Kim, Kyoung-Min;Kim, Jin-Sa;Park, Choon-Bae
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2005.11a
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pp.59-60
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2005
The characteristics of GaN epitaxial layers grown on silicon (111) substrates by metalorganic vapor phase epitaxy have been investigated. The only control of AIN thickness was found to decrease the stress sufficiently for avoiding crack formation in an overgrown thick ($2.6{\mu}m$) CaN layer. X-ray diffraction measurementsare used to determine the effect of AIN thickness on the strain in the subsequent GaN layers. The 437arcsec linewidth on the (002) x-ray rocking curve also attest the high crystalline quality of GaN on Si (111).
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.48
no.12
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pp.8-14
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2011
The optimal geometry of the gate field plate in AlGaN/GaN-on-Si HEMT has been proposed using two-dimensional device simulation to achieve a high breakdown voltage for a given gate-to-drain distance. It was found that the breakdown voltage was drastically enhanced due to the reduced electric field at the gate corner when a gate field plate was employed. The electric field distribution at the gate corner and the field plate edge was investigated as functions of field plate length and insulator thickness. According to the simulation results, the electric field at the gate corner can be successfully reduced even with the field plate length of 1 ${\mu}m$. On the other hand, when the field plate length is too long, the distance between field plate and drain electrode is reduced below a critical level, which eventually lowers the breakdown voltage. The highest breakdown voltage was achieved with the field plate length of 1 ${\mu}m$. According to the simulation results varying the $SiN_x$ film thickness for the fixed field plate length of 1 ${\mu}m$, the optimum thickness range of the $SiN_x$ film was 200 - 300 nm where the electric field strength at the field plate edge counterbalances that of the gate corner.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.11a
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pp.25-27
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2007
$Eu^{2+}$-doped $Ca_2Si_5N_8$ was grown on Si(100) substrate using metal-organic deposition (MOD) method and post-annealed at $900^{\circ}C$ in various atmosphere. Luminescence properties of these thin films were investigated with variations of $Eu^{2+}$-doped concentrations and annealing atmosphere. Thin film was formed with clean surface and uniform thickness of about 72 nm. From the measurements of luminescence properties of thin films, film must be post-annealed in nitrogen or mixture of nitrogen and hydrogen atmosphere to emit a sufficient light. For $Ca_{1.5}Eu_{0.5}Si_5N_8$ thin film annealed at $900^{\circ}C$ in nitrogen atmosphere, excitation band from 380 to 420 nm was detected with the maximum intensity at 404 nm and two broad emission bands from 530 to 630 nm were observed. These broad excitation and emission bands must be attributed to the nitrogen incorporations into the films. From the results, $Ca_{2-x}Eu_xSi_5N_8$ thin film has probability for next generation thin film lighting applications such as light emitting diode (LED) or electro-luminescence (EL).
Silicon nitride powder synthesized from Kimcheon quartzite and commercial reagents, AlN and Y2O3 powders were used to prepare the partially and fully stabilized Y-${\alpha}$-Sialon ceramics by the pressureless sintering at 1800$^{\circ}C$ for 2 hours in N2 atmosphere. Good mechanical properties of the prepared Y-${\alpha}$-Sialon ceramics were found over 0.4∼0.6 of the Yttrium solubility range, X, in the equation Yx(Si12-4.5x, Al4.5x)(O1.5x, N16-1.5x). The properties of these prepared Y-${\alpha}$-Sialon ceramics were compared with those prepared in the same way from a commercial Toshiba Si3N4 powder.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.35
no.3
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pp.133-140
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2002
The Ti-Si-N coating layers were synthesized on SKD 11 steel substrate by a DC reactive magnetron co-sputtering technique with separate Ti and Si targets. The high resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analyses for the coating layers revealed that microstructure of Ti-Si-N layer was nanocomposite, consisting of nano-sized TiN crystallites surrounded by amorphous $Si_3$$N_4$ phase. The highest hardness value of about 39 GPa was obtained at the Si content of ~11at.%, where the microstructure had fine TiN crystallites (about 5nm in size) dispersed uniformly in amorphous matrix. As the Si content in Ti-Si-N films increased, the TiN crystallites became from aligned to randomly oriented microstructure, finer, and fully penetrated by amorphous phase. Free Si appeared in the layers due to the deficit of nitrogen source at higher Si content. Friction coefficient and wear rate of the Ti-Si-N coating layer significantly decreased with increase of relative humidity. The self-lubricating tribe-layers such as $SiO_2$ or (OH)$Si_2$ seemed to play an important role in the wear behavior of Ti-Si-N film against steel.
Cheon, Joo Yong;Beak, Sin Hey;Kim, In Seob;Chun, Hui Gon
Journal of the Semiconductor & Display Technology
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v.12
no.3
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pp.47-51
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2013
Current research trends of solar cells has focused on the high conversion efficiency and low-cost production technology. Passivation technology that can be easily adapted to mass production. Therefore, this study conducted experiments with aim of the following two methods for the fabrication of high-efficiency crystalline silicon solar cells. In the first task, an attempt is formation of local Al-BSF to a number of locally doped dots to increase the conversion efficiency of solar cells to reduce the loss of $V_{oc}$ overcome. The second major task, rear surface apply in $Al_2O_3/SiN_x$ stack layer, $Al_2O_3$ prominent negative fixed charge characteristics. As the result of task, Local Al-BSF and $Al_2O_3/SiN_x$ stack layer applied to the p-type single crystalline silicon solar cells, the average $V_{oc}$ of 644mV, $I_{sc}$ of 918mV and conversion efficiency of 18.70% were obtained.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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