• 한국전자통신학회논문지
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• 제13권4호
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• pp.721-728
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• 2018

본 논문은 다양한 구조의 선형 블록 오류정정코드를 소개하고, 이를 회로로 구현하여 비교 분석한 결과를 보여주고 있다. 메모리 시스템에서는 잡음 전력으로 인한 비트 오류를 방지하기 위해 ECC(: Error Correction Code)가 사용되어 왔다. ECC의 종류에는 SEC-DED(: Single Error Correction Double Error Detection)와 SEC-DED-DAEC(: Double Adjacent Error Correction)가 있다. SEC-DED인 Hsiao 코드와 SEC-DED-DAEC인 Dutta, Pedro 코드를 각각 Verilog HDL을 이용해 설계 후 $0.35{\mu}m$ CMOS 공정을 사용해 회로로 합성하였다. 시뮬레이션에 의하면 SEC-DED회로는 인접한 두 개의 비트 오류를 정정하지 못하지만 적은 회로 사용면적과 빠른 지연 시간의 장점이 있으며, SEC-DED-DAEC 회로의 경우 Pedro 코드와 Dutta 코드 간에는 면적, 지연 시간의 차이가 없으므로 오류 정정률이 개선된 Pedro 코드를 사용하는 것이 더 효율적임을 알 수 있다.

• 한국지능시스템학회논문지
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• 제18권5호
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• pp.611-616
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• 2008

Error correcting codes는 일반적으로 soft error를 막기 위해서 사용된다. single error의 수정과 double error의 검출(SEC-DED) 코드들은 이런 목적으로 사용된다. 본 논문에서는 이러한 회로의 크기, 지연시간, 전력 소비를 선택적으로 최소로 하는 SEC-DED의 설계방법을 제안한다. 이러한 SEC-DED의 설계는 비선형 최적화 문제로 포함되는데 우리는 다목적 유전자 알고리즘을 이용하여 이 문제를 해결한다. 제안하는 방법은 여러 가지 SEC-DED code들을 제공하여 사용자의 환경에 따라 알맞은 회로를 선택할 수 있도록 한다. 제안하는 방법을 효율적인 ECC코드로 알려져 있는 odd-column weight Hsiao code에 적용하여 그 효율성을 입증하였다.

• 한국정보통신학회논문지
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• 제26권10호
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• pp.1559-1562
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• 2022

As electronic devices technology scales down into the deep-submicron to achieve high-density, low power and high performance integrated circuits, multiple bit upsets by soft errors have become a major threat to on-chip memory systems. To address the soft error problem, single error correction, double error detection and double adjacent error correction (SEC-DED-DAEC) codes have been recently proposed. But these codes do not troubleshoot mis-correction problem. We propose the SEC-DED_DAEC code with without mis-correction. The decoder for proposed code is implemented as hardware and verified. The results show that there is no mis-correction in the proposed codes and the decoder can be employed on-chip memory system.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제12권4호
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• pp.418-425
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• 2012

In this paper, efficient implementation of error correction code (ECC) processing circuits based on single error correction and double error detection (SEC-DED) code with check bit pre-computation is proposed for memories. During the write operation of memory, check bit pre-computation eliminates the overall bits computation required to detect a double error, thereby reducing the complexity of the ECC processing circuits. In order to implement the ECC processing circuits using the check bit pre-computation more efficiently, the proper SEC-DED codes are proposed. The H-matrix of the proposed SEC-DED code is the same as that of the odd-weight-column code during the write operation and is designed by replacing 0's with 1's at the last row of the H-matrix of the odd-weight-column code during the read operation. When compared with a conventional implementation utilizing the odd-weight- column code, the implementation based on the proposed SEC-DED code with check bit pre-computation achieves reductions in the number of gates, latency, and power consumption of the ECC processing circuits by up to 9.3%, 18.4%, and 14.1% for 64 data bits in a word.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제45권1호
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• pp.43-49
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• 2008

본 논문에서는 Ant Colony Optimization(ACO)을 이용하여 Single-Error Correcting & Double-Error Detecting(SEC-DED)을 제공하는 메모리 ECC 체커 회로의 소비전력을 절감하는 방안을 제시한다. H-매트릭스를 통해 구현되는 SEC-DED 코드인 Hsiao 코드의 대칭성과 H-매트릭스 구성상의 높은 자유도를 이용하여 회로의 면적, 딜레이에 영향을 주지 않고 최소의 비트 트랜지션이 일어나도록 H-매트릭스를 최적화한다. 실험을 통하여 H-매트릭스의 최적화를 위한 ACO 매핑과 파라메터의 설정을 알아보고 이의 구현 결과를 랜덤 매트릭스 구성을 통한 방식 및 기존의 GA알고리즘을 이용한 최적화 방식과 비교하여 소비 전력이 기존의 방식에 비해 절감될 수 있음을 보여준다.

• 제어로봇시스템학회논문지
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• 제6권2호
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• pp.228-233
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• 2000

It is common to apply the technology of FPGA (Fie이 Programmable Gate Array) which is one of the design methods for ASIC(Application Specific IC)to the active components used in the data processing at the digital system of satellite aircraft missile etc for compact lightness and integration of Printed Circuit Board (PCB) In carrying out the digital data processing the FPGAs are designed for the various functions of the Process Control Interrupt Control Clock Generation Error Detection and Correction (EDAC) as the individual module. In this paper an FPGA chip for Single Error Correction and Double Error Detection (SEC-DED) for EDAC is designed and simulated by using a VLSI design software LODECAP.

• ETRI Journal
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• 제30권6호
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• pp.799-806
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• 2008

In this paper, a new design for an error correcting code (ECC) is proposed. The design is aimed to build an ECC circuitry with minimal power consumption. The genetic algorithm equipped with the symbiotic mechanism is used to design a power-efficient ECC which provides single-error correction and double-error detection (SEC-DED). We formulate the selection of the parity check matrix into a collection of individual and specialized optimization problems and propose a symbiotic evolution method to search for an ECC with minimal power consumption. Finally, we conduct simulations to demonstrate the effectiveness of the proposed method.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2008년도 하계종합학술대회
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• pp.1135-1136
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• 2008

Error correcting codes (ECC) are widely used in all types of memory in industry, including caches and embedded memory. The focus in this paper is on studying of power consumption in memory ECCs circuitry that provides single error correcting and double error detecting (SEC-DED) designed by various evolution strategies. The methods are applied to two commonly used SEC-DED codes: Hamming and odd column weight Hsiao codes. Finally, we conduct some simulations to show the performance of the various methods.

• 한국정보통신학회논문지
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• 제26권11호
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• pp.1747-1750
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• 2022

As shrinking the semiconductor process into the deep sub-micron to achieve high-density, low power and high performance integrated circuits, MBU (multiple bit upset) by soft errors is one of the major challenge of on-chip memory systems. To address the MBU, single error correction, double error detection and double adjacent error correction (SEC-DED-DAEC) codes have been recently proposed. But these codes do not resolve mis-correction. We propose the SEC-DED-DAEC-TAED(triple adjacent error detection) code without mis-corrections. The generated H-matrix by the proposed heuristic algorithm to accomplish the proposed code is implemented as hardware and verified. The results show that there is no mis-correction in the proposed codes and the 2-stage pipelined decoder can be employed on-chip memory system.

• 전기전자학회논문지
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• 제28권1호
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• pp.116-122
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• 2024

AMBA AHB-Lite 버스는 저전력 및 경제성 측면에서 SoC에 널리 사용되는 온칩 버스 프로토콜이다. 하지만 이 프로토콜은 종단간 데이터 무결성을 위한 에러 검출 및 정정이 불가능하다. 이로 인해 자동차와 같이 열악한 환경에서 동작하는 경우에 데이터 변질과 시스템 불안정을 일으킬 수 있다. 이러한 문제를 해결하기 위해 본 논문에서는 AMBA AHB-Lite 버스에 SEC-DED(Single Error Correction-Double Error Detection)를 적용하는 방법을 제안한다. 이는 전송 중 발생하는 데이터 에러를 실시간으로 감지하고 정정하여 종단간 데이터 무결성을 강화한다. 시뮬레이션 결과, 에러가 일어나도 실시간으로 이를 감지하고 정정하여 차량용 온칩 버스에서 종단간 데이터 무결성을 강화하는 것을 확인하였다.