본 논문은 유기물로 이루어진 폴리머 기판상에 저온 다결정 실리콘 박막트랜지스터 제조방법에 대해 연구하였다. 먼저, 폴리머 기판에 화학증착방식으로 비결정 실리콘 박막을 증착하였고, 열처리 장치인 퍼니스로 탈수소 및 활성화 공정을 430도에서 2시간동안 진행하였다. 이후 엑시머 레이저를 이용하여 결정화를 진행하여 다결정 실리콘 반도체 막을 제조하였다. 이 박막은 박막트랜지스터 제작을 위한 활성층으로 사용하였다. 제작된 p형 박막트랜지스터는 이동도 $77cm^2/V{\cdot}s$, on/off 전류비는 $10^7$이상의 동작특성을 보였고, 이는 결정화된 박막내부에 결함 농도가 낮음을 의미한다. 이 결과로 유기물 기판상에 엑시머 레이저로 형성된 다결정 실리콘으로 제작된 전자소자는 플렉서블 AMOLED 디스플레이 회로 형성에 최적의 기술임을 알 수 있다.
The efficiency of CMOS technology has been developed in uniform rate. However, there was a limitation of reducing the thickness of Gate-oxide since the thickness of Gate Dielectric is also reduced so an amount of leakage current is grow. In order to solve this problem, the semiconductor device which has a dual gate is used widely. This paper presents a method and a necessity for making the Gate Stack of TFT. Before Using test devices to measure values, stacking $SiN_x$ on a wafer test was conducted.
We report crystallization of a-Si using XeCl excimer laser annealing [1] on the plastic substrate. We tried to obtain higher crystallinity as the effect of $CeO_2$ seed layer patterned. Also, we tried to control the direction of crystallization growth of silicon layer for lateral growth as the type of $CeO_2$ pattern. This crystallization method plays an important role in low temperature poly-Si (LTPS) [2] process and flexible display.
A newly developed flexible active-matrix (AM-) electrophoretic display (EPD) is reported. The AM-EPD features: (1) low-temperature polycrystalline silicon (LTPS) thin film transistor (TFT) technology, (2) fully integrated scan- and data-drivers, (3) flexibility and light-weight realized by transferring the whole circuits onto a plastic substrate using $SUFTLA^{TM}$ (Surface Free Technology by Laser Annealing/Ablation) process. A large storage capacitor is formed in each pixel so that driving electric field can be kept sufficiently strong during a writing period Two-phase driving scheme, a reset-phase which erases a previous image and a writing-phase for writing a new image, was chosen to cope with EPD's high driving voltage. The flexible AM-EPD has been successfully operated with a driving voltage of 8.5 V.
Degradation phenomenon in the low-temperature polysilicon (LTPS) thin-film transistors (TFTs) with different junction structures was investigated. A gate-overlapped lightly doped drain (GOLDD) structure showed better hot-carrier stress (HCS) stability than a conventional LDD one. On the other hand, high drain current stress (HDCS) at $V_{gs}$ = $V_{ds}$ conditions caused much severe device degradation in the GOLDD structure because of its higher current level resulting in the higher applied power. It is suggested that self-heating-induced mobility degradation in the GOLDD TFFs be suppressed for using this structure in short-channel devices.
우수한 화질특성을 나타내는 새로운 반투과형 액정모드를 개발했다. 단일 셀캡 구조에서 감마(Gamma) 보정없이 투과모드와 반사모드를 동시에 구동하기 위해 유기막을 이용하여 반사모드 영역의 액정 Cap을 두 가지로 분리하는 새로운 설계구조를 도입했다. 반사모드 영역의 액정 Cap을 순수한 액정 $Cap(C_{LC})$과 유기막 $Cap(C_{OL})$으로 분리함으로써 액정에 걸리는 실제 전압을 조절하게 되어 단일 셀캡 구조에서도 감마 보정없이 우수한 특성을 나타내는 반투과형 VA 액정모드를 개발하였다. 이러한 Cap-Divided 방식의 신규 VA 액정모드는 높은 콘트라스트, 광시야각 특성 및 공정 단순화의 장점이 있기 때문에 향후 반투과형 LCD에 적극적인 채용이 기대되어진다.
Hydrogenated amorphous Si (a-Si:H), low temperature poly Si (LTPS) 등 기존 thin film transistors (TFTs)에 사용되던 채널 물질을 대체할 재료로써 다양한 연구가 진행되고 있는 amorphous indium-gallium-zinc-oxide (a-IGZO)는 TFT에 적용하였을 때 뛰어난 전기적 특성과 재연성을 나타낼 뿐만 아니라 넓은 밴드갭을 가져 투명소자로도 응용이 가능하다. 본 연구에서는 a-IGZO의 열처리에 따른 소자의 전기적 특성과 조성 분포의 관계를 확인하기 위해 다음과 같이 실험을 진행하였다. Si/SiO2 기판 위에 DC sputter를 이용하여 IGZO를 증착하고 $350^{\circ}C$에서 열처리를 한 후 evaporator로 Al 전극을 형성시켰다. 이 때 전기적 특성의 변화를 비교하기 위해 열처리 한 샘플과 열처리 하지 않은 샘플에 대해 I-V 특성을 측정하였고, 채널 내부의 조성 분포 변화를 transmission electron microscopy (TEM)의 energy dispersive spectrometer (EDS)를 이용하여 관찰하였다. 그 결과 열처리 된 a-IGZO 채널 층의 산소 비율이 감소하였으며 전체적인 조성이 고르게 분포 되었고 전기적 특성은 향상되었다.
최근, Low-temperature Poly-Si(LTPS) TFT시장이 새롭게 형성됨에 따라 저온결정화 기술 연구가 활발히 진행되고 있다. 그러나, 기존의 저온결정화방법에 비해 수율이 높고 생산단가를 낮출 수 있으며 대 면적 프로세스 적용이 가능한 결정화공정개발이 시급히 필요한 실정이다. 본 연구에서는 TFT-LCD array를 구성하고 있는 데이터 라인과 ITO 공통 전극이 개별 트랜지스터의 소스와 드레인에 연결되어있다는 점에 착안하여, 전계를 이용한 방향성유도결정화법(Field Aided Lateral Crystallization)을 이에 적용하였으며 채널영 역의 균일한 결정화를 위하여 컨택홀의 모양에 변화를 주어 결정화 실험을 진행하였다. 이 방법은 간단한 공정(TFT-LCD way를 통한 전계 인가 및 열처리)으로 패널내의 모든 채널영 역을 균일하게 결정화할 수 있을 것으로 기대되는 방식이다.
한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호
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pp.1075-1078
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2007
Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in Eximer Laser Annealing (ELA) based Low Temperature polysilicon (LTPS) Thin-Film Transistors (TFT) was investigated. Even though NBTI is generally appeared in devices with thin gate oxide, the TFT with gate oxide thickness of 120 nm, relatively thick, also showed NBTI effect and dynamic NBTI effect is dependent on operational frequency.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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