• 전자통신동향분석
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• 제32권6호
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• pp.17-26
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• 2017

Electronic packaging technology is a technology that easily connects devices to the outside. The fourth industrial revolution is thought to be possible with the advancement of certain devices. The advancement of these devices must be accompanied by innovations in electronic packaging that connects the devices to the outside world, allowing their performances to be implemented at the system level. In this paper, the development trends of 2.5D/3D technology, heterogeneous integration technology, ultrafine interconnection technology, and heat dissipation technology will be examined, and the development direction of these technologies will be discussed.

• 한국마이크로전자및패키징학회:학술대회논문집
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• 한국마이크로전자및패키징학회 2002년도 International Symposium
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• pp.53-68
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• 2002

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제13권1호
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• pp.15-21
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• 2013

In this paper, a MEMS tunable capacitor was successfully designed and fabricated using an aluminum nitride film and a gold suspended membrane with two air gap structure for commercial RF applications. Unlike conventional two-parallel-plate tunable capacitors, the proposed tunable capacitor consists of one air suspended top electrode and two fixed bottom electrodes. One fixed and the top movable electrodes form a variable capacitor, while the other one provides necessary electrostatic actuation. The fabricated tunable capacitor exhibited a capacitance tuning range of 375% at 2 GHz, exceeding the theoretical limit of conventional two-parallel-plate tunable capacitors. In case of the contact state, the maximal quality factor was approximately 25 at 1.5 GHz. The developed fabrication process is also compatible with the existing standard IC (integrated circuit) technology, which makes it suitable for on chip intelligent transceivers and radios.

• 마이크로전자및패키징학회지
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• 제19권1호
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• pp.1-7
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• 2012

Reliability technology has been expected to grow rapidly for new types of electronic equipments. We have selected several reliability issues in electronic package to be reviewed. This paper will provide a view of the current state of technological progress in reliability of electronic package in Japan, and will discuss future prospects for the technology.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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• pp.315-315
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• 2010

휴대용 전자 기기는 얇고 가벼우면서 빠른 대용량을 처리하는 속도와 다기능이 필요한 추세로 가고 있다. 기기 크기가 작아짐에 따라서 내장 되는 칩 또한 소형화, 고집적화, 고성능화가 요구되므로 이에 상응하는 발전된 패키징 기술이 필요하게 되었고, 이에 대응하기위해서 embedded components device 패키징 기술이 필요로 하게 되었다. 본 연구에서는 $21{\Omega}$ 의 저항 값을 갖는 1005 수동 소자를 prepreg를 이용하여 PCB기판에 내장 한 후 micro via를 이용하여 무전해 구리 도금으로 전기적인 연결을 하여 기판을 제작하였다. 제작되어진 기판으로 Reflow, Aging 테스트 후 칩과 계면간의 금속화합물 반응을 관찰하였다. 또한 Reflow외 시효처리를 끝마친 기판을 사용하여 drop test를 실시한 후 fail 발생 시 저항 값의 변화와 접합부의 미세조직을 관찰하였다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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• pp.317-317
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• 2010

전자기기의 수요 증가와 함께 기기의 소형화, 고집적화가 요구되어짐에 따라 packaging 기술 개발에서 필요한 소재에 관한 연구가 활발히 진행되고 있다. 이에 따라 우수한 절연특성, 낮은 열팽창계수와 낮은 흡습도를 갖고 있으며 무엇보다도 플렉시블하여 3차원 조립이 가능한 LCP가 차세대 기판 부품소재로 많이 거론되고 있다. 그러나 LCP는 구리 동박을 열 압착하여 패턴을 형성하므로 미세 패턴제작이 어려운 문제점이 있다. 본 연구에서는 LCP의 열가소성 특성을 이용하여 seed 구리 도금 층을 형성하여 열 압착 후 패턴 도금 법으로 $10{\mu}m$ 이하의 패턴을 형성하였으며 구리층과 LCP 간의 접합강도를 열 압착 온도 별로 측정하였다.

• 한국마이크로전자및패키징학회:학술대회논문집
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• 한국마이크로전자및패키징학회 2002년도 International Symposium
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• pp.249-252
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• 2002

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2008년도 추계학술대회 논문집 Vol.21
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• pp.228-228
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• 2008

본 논문에서는 epoxy bonding film의 phenoxy resin의 함량변화에 따른 특성 변화에 대하여 연구하였다. epoxy bonding film은 미세패턴 구현을 위해서 사용되는 기판재료로써 epoxy, hardener, silica, phenoxy resin 등이 첨가되어진다. phenoxy resin 함량을 변화를 주면서 tape casting 방법을 통해서 flim 형성을 한 후, 제작된 film의 phenoxy resin 함량변화에 따른 조도 특성의 연구를 위해서 sweller, desmear 공정을 후 RA(Roughness Average)를 측정하고, SEM으로 표면을 관찰하였다. 또한 제작된 bonding film을 가열 가압 후 구리 도금공정을 거쳐 peel strength를 측정하였다. phenoxy resin 함량이 증가 할수록 RA가 증가되어지는 것이 관찰되어졌고, 또 한 peel strength 증가하였다.

• 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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• 한국정보디스플레이학회 2002년도 International Meeting on Information Display
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• pp.275-278
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• 2002

Conductive adhesives are commonly used for the interconnections of fine pitch, small packages like mobile applications. Since conductive particles connect mechanically with contact pads to give somewhat higher contact resistance, a metallurgical interconnection, which provides both fine pitch and low resistance, was studied using silver ball and indium which can be made at low temperatures. The connection resistance of the In-Ag metallurgical interconnection was lower than that of the Ni/Au-Ag mechanical interconnection and the former showed little dependency on the bonding load in contrast to the latter.

• E2M - 전기 전자와 첨단 소재
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• 제16권7호
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• pp.3-13
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• 2003