• 제목/요약/키워드: E.A.V.

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UNIFORMITY OF HOLOMORPHIC VECTOR BUNDLES ON INFINITE-DIMENSIONAL FLAG MANIFOLDS

  • Ballico, E.
    • 대한수학회보
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    • 제40권1호
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    • pp.85-89
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    • 2003
  • Let V be a localizing infinite-dimensional complex Banach space. Let X be a flag manifold of finite flags either of finite codimensional closed linear subspaces of V or of finite dimensional linear subspaces of V. Let E be a holomorphic vector bundle on X with finite rank. Here we prove that E is uniform, i.e. that for any two lines $D_1$ R in the same system of lines on X the vector bundles E$\mid$D and E$\mid$R have the same splitting type.

ON THE DOMINATION NUMBER OF A GRAPH AND ITS SQUARE GRAPH

  • Murugan, E.;Joseph, J. Paulraj
    • Korean Journal of Mathematics
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    • 제30권2호
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    • pp.391-402
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    • 2022
  • For a given graph G = (V, E), a dominating set is a subset V' of the vertex set V so that each vertex in V \ V' is adjacent to a vertex in V'. The minimum cardinality of a dominating set of G is called the domination number of G and is denoted by γ(G). For an integer k ≥ 1, the k-th power Gk of a graph G with V (Gk) = V (G) for which uv ∈ E(Gk) if and only if 1 ≤ dG(u, v) ≤ k. Note that G2 is the square graph of a graph G. In this paper, we obtain some tight bounds for the sum of the domination numbers of a graph and its square graph in terms of the order, order and size, and maximum degree of the graph G. Also, we characterize such extremal graphs.

ON A GENERALIZED DIFFERENCE SEQUENCE SPACES DEFINED BY A MODULUS FUNCTION AND STATISTICAL CONVERGENCE

  • Bataineh Ahmad H.A.
    • 대한수학회논문집
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    • 제21권2호
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    • pp.261-272
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    • 2006
  • In this paper, we define the sequence spaces: $[V,{\lambda},f,p]_0({\Delta}^r,E,u),\;[V,{\lambda},f,p]_1({\Delta}^r,E,u),\;[V,{\lambda},f,p]_{\infty}({\Delta}^r,E,u),\;S_{\lambda}({\Delta}^r,E,u),\;and\;S_{{\lambda}0}({\Delta}^r,E,u)$, where E is any Banach space, and u = ($u_k$) be any sequence such that $u_k\;{\neq}\;0$ for any k , examine them and give various properties and inclusion relations on these spaces. We also show that the space $S_{\lambda}({\Delta}^r, E, u)$ may be represented as a $[V,{\lambda}, f, p]_1({\Delta}^r, E, u)$ space. These are generalizations of those defined and studied by M. Et., Y. Altin and H. Altinok [7].

HWE(Hot wall epitaxy)에 의한 CuGaSe$_2$단결정 박막 성장과 특성에 관한 연구 (The study of growth and characterization of CuGaSe$_2$ single crystal thin films by hot wall epitaxy)

  • 홍광준;백형원
    • 한국결정성장학회지
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    • 제10권3호
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    • pp.189-198
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    • 2000
  • 수평전기로에서 $CuGaSe_2$다결정을 합성하여 HWE(Hot Wall Epitaxy) 방법으로 $CuGaSe_2$단결정 박막을 반절연 성 GaAs(100)기판 위에 성장하였다. $CuGaSe_2$단결정박막은 증발원의 온도를 $610^{\circ}C$, 기판의 온도를 $450^{\circ}C$로 성장하였다. 이때 성장된 단결정 박막의 두께는 2.1$\mu\textrm{m}$였다. 단결정 박막의 결정성의 조사에서 20K에서 광발광(photoluminescence) 스펙트럼이 672.6nm(1.8432 eV)에서 exciton emission 스펙트럼이 가장 강하게 나타났으며, 또한 이중결정 X-선 요동곡선(DCRC)의 반폭치(FWHM)도 138 arcsec로 가장 작아 최적 성장 조건임을 알 수 있었다. Hall 효과는 van der Pauw 방법에 의해 측정되었으며, 온도에 의존하는 운반자 농도와 이동도는 293 K에서 각각 $4.87{\times}10^{23}$ electron/$m^{23}$ , $1.29{\times}10^{-2}$$\m^2$/v-s였다. $CuGaSe_2$ 단결정 박막의 광전류 단파장대 봉우리들로부터 20K에서 측정된 $\Delta$Cr(crystal field splitting)은 약 0.0900 eV $\Delta$So(spin orbit coupling)는0.2493 eV였다. 20K에서 광발광 봉우리의 667.6nm(1.8571 eV)는 free exciton($E_x$), 672.6nm(1.8432 eV)는 acceptor-bound exciton 인 $I_2$와 679.3nm(1.8251 eV)는 donor-bound exciton인 $I_1$였다. 또한 690.9nm(1.7945 eV)는 donor-acceptor pair(DAP) 발광 $P_0$이고 702.4nm(1.7651 eV)는 DAP-replica $P_1$, 715.0nm(1.7340 eV)는 DAP-replica $P_2$, 728.9nm(1.7009 eV)는 DAP-replica $P_3$, 741.9nm(1.6711 eV)는 DAP-replica $P_4$로 고찰된다. 912.4nm(1.3589 eV)는 self activated(SA)에 기인하는 광발광 봉우리로 고찰되었다.

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CBD(Chemical Bath Deposition)방법에 의한 ZnSe 박막성장과 광전기적 특성 (Growth and Opto-electric Characterization of ZnSe Thin Film by Chemical Bath Deposition)

  • 홍광준;유상하
    • 센서학회지
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    • 제10권1호
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    • pp.62-70
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    • 2001
  • CBD방법으로 성장하여 $450^{\circ}C$로 열처리한 ZnSe 박막은 회전 무늬로부터 외삽법으로 구한 격자상수 $a_0$$5.6678\;{\AA}$인 zinc blend임을 알았다. Van der Pauw 방법으로 측정한 Hall 데이터에 의한 이동도는 10 K에서 150 K 까지는 불순물 산란 (impurity scatterimg)에 의하여, 150 K에서 293 K까지는 격자산란 (lattice scattering)에 의하여 감소하는 경향을 나타냈다. 또한 운반자 농도의 ln n대 1/T에서 구한 활성화 에너지($E_a$)는 0.27 eV였다. 투과 곡선의 투과단으로 본 띠 간격은 293 k에서 $2,700{\underline{5}}\;eV$이었던 것이 10K에서는 $2.873{\underline{9}}\;eV$로 변하였다. 광전류 봉우리 위치를 투과단과 비교할 때 293 K에서 30 K까지 관측된 한 개의 봉우리는 가전자대 ${\Gamma}_8$에서 전도대 ${\Gamma}_6$로 전이에 의한 광전류 봉우리이고, 10K에서 관측된 단파장대 417.3 nm($2.971{\underline{4}}\;eV$)의 봉우리는 가전자대 ${\Gamma}_7$에서 전도대 ${\Gamma}_6$로, 431.5 nm($2.873{\underline{3}}\;eV$)의 봉우리는 가전자대 ${\Gamma}_8$에서 전도대 ${\Gamma}_6$로 전이에 의한 광전류 봉우리가 관측된 것으로 판단된다. 광전류 봉우리의 10K에서 단파장대의 가전자대 갈라짐(splitting)에 의해서 측정된 ${\Delta}so$(spin orbit coupling)는 $0.098{\underline{1}}\;eV$ 였다. 10 K에서 광발광 봉우리의 440.7 nm($2.812{\underline{7}}\;eV$)는 자유 엑시톤(free exciton : $E_x$), 443.5 nm ($2.795{\underline{5}}\;eV$)는 주개-얽매인 엑시톤(donor-bound exciton) 인 $I_2(D^0,\;X)$와 445.7 nm ($2.781{\underline{8}}\;eV$)는 반개-얽매인 엑시톤(acceptor-bound exciton) 인 $I_1(A^0,X)$이고, 460.5 nm ($2.692{\underline{3}}\;eV$)는 주개-받개쌍(donor-acceptor pair:DAP) 발광, 580 nm ($2.137{\underline{6}}\;eV$)는 self activated(A)에 기인하는 광발광 봉우리로 분석된다.

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조성비 변화에 의한 CIGS박막 특성에 관한 연구 (A study on CIGS thin film characteristic with composition ratio change)

  • 추순남;박정철
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제16권10호
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    • pp.2247-2252
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    • 2012
  • 본 논문은 동시진공증발법(co-evaporation method)으로 CIGS 박막(thin film)을 제작을 하였다. 제작과정 중 기판온도(substrate temperature)변화와 Ga/(In+Ga) 조성비(composition ratio) 변화에 따른 저항율(resistivity) 및 흡수스펙트럼(absorbance spectra)을 측정하였다. 기판온도가 상승하면 저항율이 감소하였으며, Ga/(In+Ga) 조성비가 0.30에서 0.72까지 증가됨에 따라 밴드갭(band gap)이 1.26eV, 1.30eV, 1.43eV,1.47eV로 증가됨을 알 수 가 있었다. 동일한 조건에서 조성비를 증가하므로써 두께가 증가되었으며 저항율은 감소하였다. 본 실험을 통하여 CIGS 박막을 제작하면 광흡수률(optical absorbance ratio) 및 광전류(optical current)가 증가 될 것으로 예측할 수가 있다.

CdS단결정의 열랄격전류에 관한 연구 (A Study on the Thermally Stimulated Current in CdS Single Crystal)

  • 유용택
    • 한국통신학회논문지
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    • 제7권2호
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    • pp.59-65
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    • 1982
  • 本實驗에 파이퍼-폴리시(piper-polish)法으로 만든 單結晶에 Sb와 In을 이온衝激시킨 스포트에 대하여 熱剌激電流를 測定하였다. Sb와 In을 각각 衝激시켜 熱剌激電流를 測定한 결과 중첩된 피이크가 觀察되었는데 이를 서멀 클리닝(thermal cleaning)法으로 分離하여 147K에서 0.25eV와 0.31eV의 活性에너지를 얻었다. 스포트를 冷却시키면서 光勵起시키면 0.25eV의 트랩(trap)이 사라지고 0.85eV의 트랩이 새로 나타났다. 光電導가 양호한 結晶에서 T.S.C.가 잘 測定되었다.

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고전 분자 동 역학 시뮬레이션을 이용한 실리콘 격자 손상과 극 저 에너지 붕소 이온 주입에 관한 연구 (A Study on the Silicon Damages and Ultra-Low Energy Boron Ion Implantation using Classical Molecular Dynamics Simulation)

  • 강정원;강유석;손명식;변기량;황호정
    • 전자공학회논문지D
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    • 제35D권12호
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    • pp.30-40
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    • 1998
  • 극 저 에너지 실리콘 이온 주입 시뮬레이션을 통하여 실리콘 내부에서 발생하는 격자 손상에 대하여 고전분자 동역학을 사용하여 시뮬레이션 하였다. 또한 최근에 개발된 EDIP 전위식이 실리콘 충돌 계산에 적합한지 여부를 분자 동역학을 사용하여 계산하였다. EDIP 전위식은 평형상태 계산에 알맞지만 충돌을 계산하는데는 적합하지 않았다. 또한 MDRANGE를 실리콘 공정에 맞도록 향상시켜 200eV, 500eV, 그리고 1000eV 에너지 붕소 이온 주입 시뮬레이션을 수행하여 실리콘 기판의 온도, 기울기 각도 및 에너지에 따른 붕소의 분포를 계산하였다. 1000eV 이하 에너지 붕소 이온 주입에서도 체널링 현상에 대한 고려가 필요하다는 것을 알 수 있었다.

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Electroreflectance 측정에 의한 Si이 첨가된 $Al_{0.32}Ga_{0.68}As$에서의 $E_1$ 전이에 대한 연구 (A Study on $E_1$Transition in Si-Doped $Al_{0.32}Ga_{0.68}As$by Electroreflectance Measurement)

  • 김동렬;손정식;김근형;이철욱;배인호
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제11권9호
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    • pp.687-692
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    • 1998
  • Silicon doped $Al_{0.32}Ga_{0.68}As$ were growth by molecular beam epitaxy. Electroreflectance(ER) spectra of the $E_1$ transition of Schottky barrier Au/n-$Al_{0.32}Ga_{0.68}As$ have been measured at various modulation voltage($V_{ac}$) and dc bias voltage($V_{bias}$). from the $E_1$peak, band gap energy of the $Al_{0.32}Ga_{0.68}As$ is 1.883 eV which corresponds to an Al composition of 32%. As modulation voltage($V_{bias}$) is changed, a line shape at the $E_1$transition does not change, but its amplitude varies linearly. The amplitude of $E_1$signal decrease with increasing the forward dc bias voltage($V_{bias}$), but the line shape does not change. It suggests that the low field theory rather than Franz-Keldysh oscillation is Required to interpret spectra. Also, spectra at the $E_1$transition were broadened with increasing the reverse dc bias voltage($V_{bias}$) which suggests the presence of Field-induced broadening.

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수직온도구배냉각법으로 크롬과 인듐이 함께 도핑된 반절연 갈륨비소 단결정의 성장 및 특성평가 (Growth and characterization of semi-insulating GaAs co-doped with Cr and In by vertical gradient freeze technique)

  • Young Ju Park;Suk-Ki Min;Kee Dae Shim;Mann J. Park
    • 한국결정성장학회지
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    • 제4권1호
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    • pp.83-91
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    • 1994
  • 직경 2인치 갈륨비소 단결정을 위한 수직온도구배냉각 결정성장치를 제작하여 크롬과 인듐이 함께 도핑된 반절연 갈륨비소 단결정을 성장하였다. 함께 도핑된 결정에 대해서,불순물의 편석계수는 크롬 또는 인듐만을 도핑한 결정에서 편석계수와 비교할 때 변하지 않고 같은 값을 갖는다. 크롬과 인듐의 농도는 결정의 종자부분 부터 꼬리부분까지 각각 $2{\Times}10^{16}~3{\Times}10^{17} cm^{-3}$$2{\Times}10^{19}~3{\Times}10^{20} cm^{-3}$의 범위내에서 분포되었다. 평균 전위밀도는 결정의 전 영역에 걸쳐 약 $8000cm^{-2}$ 미만으로 관측되었다. 또한 인듐농도가 증가함에 따라 전위 밀도가 $1000m^{-2}$ 미만으로 감소하는 격자강화의 효과도 관찰할 수 있었다. 갈륨비소의 결정성장 방향에 따라 캐리어의 농도는 $10^{16}$에서 $10^8cm^{-3}$로 감소한 반면 비저항 값은 $10^{-2}$에서 $10^8$ Ohm-cm로 급격하게 증가하였다. 반절연의 특성은 크롬농도 약 $6{\Times}10^{16}cm^{-3}$의 농도이상에서 얻을 수 있었다. 성장된 단결정 내의 깊은 준위는 두 개의 전자덫인 $E_C-0.81eV, E_C-0.35eV$와 두 개의 정공덫인$E_V+0.89eV, E_V+0.65eV$이다.

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