본 논문에서는 DGFET를 이용한 초고주파용 분포형 믹서가 연구되었다. 분포형 믹서 회로는 게이트, 드레인 전송선로와 입, 출력단에서 정합회로 및 DGFET들로 구성된다. RF와 LO신호가 각 게이트 전송선로의 입력 단에 인가되면, DGFET의 전달 컨덕턴스를 통해 드레인 전송선로로 전달되며, 각 드레인단의 출력된 신호들은 설계에 따라 동위상으로 더해지게 되고, 이러한 형태의 믹서는 변환이득을 개선할 수 있을 뿐만 아니라 각 소자의 임피던스가 전송선로에 흡수되므로 초광대역을 특성을 갖는다. 또한, 보다 높은 주파수까지 광대역 특성을 갖게 하기 위해서 각 전송선로의 입 출력 단에 m-유도 영상 임피던스 개념을 도입하여 입 출력 단을 정합 하였다, 이러한 분포형 믹서를 마이크로스트립 기판 위에 설계 및 제작하였고 광대역 특성 및 변환이득, RF/LO 분리도 등을 컴퓨터 시뮬레이션 및 실험을 통해 검증하였다.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제11권3호
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pp.169-181
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2011
In this present paper, a comprehensive drain current model incorporating the effects of channel length modulation has been presented for multi-layered gate material engineered trapezoidal recessed channel (MLGME-TRC) MOSFET and the expression for linearity performance metrics, i.e. higher order transconductance coefficients: $g_{m1}$, $g_{m2}$, $g_{m3}$, and figure-of-merit (FOM) metrics; $V_{IP2}$, $V_{IP3}$, IIP3 and 1-dB compression point, has been obtained. It is shown that, the incorporation of multi-layered architecture on gate material engineered trapezoidal recessed channel (GME-TRC) MOSFET leads to improved linearity performance in comparison to its conventional counterparts trapezoidal recessed channel (TRC) and rectangular recessed channel (RRC) MOSFETs, proving its efficiency for low-noise applications and future ULSI production. The impact of various structural parameters such as variation of work function, substrate doping and source/drain junction depth ($X_j$) or negative junction depth (NJD) have been examined for GME-TRC MOSFET and compared its effectiveness with MLGME-TRC MOSFET. The results obtained from proposed model are verified with simulated and experimental results. A good agreement between the results is obtained, thus validating the model.
자기센서가 전압이나 전류의 형태 그대로 출력되는 경우에 발생되는 잡음 유입 및 전압 손실 문제를 개선하기 위하여 소자부는 CMOS공정을 이용하여, 포화영역에서 동작하는 2 drain의 MAGFET을 설계 제작하고, 연산증폭기를 이용한 I-V변환회로, VCO(Voltage Controlled Oscillator)를 만들고 Schmitt trigger에 의한 주파수(Pulse) 변환회로의 시스템부를 하이브릿드 IC로 구성하여 packaging했다. 이 때 자기센서 절대감도는 1.9 V/T, 적감도는 $3.2{\times}10^{4}\;V/A{\cdot}T$ 이었으며 190 kHz/T의 안정된 출력 주파수 특성을 얻을 수 있었다.
The characteristics of the BOES (Bohyunsan Observatory Echelle Spectrograph) CCD camera is presented. In order to get optimum gain and readout noise of the CCD, we examine the variation of the gain and readout noise by changing the value of output drain voltage of the CCD and measuring the gain using transfer curve, which is defined as the plot of variance versus mean exposure level of a homogeneous light onto the CCD surface. The gain and readout noises are optimised to be 0.5e$^-$/ADU and 3e$^-$, which is good for highest signal-to-noise ratio and contrast for the low light level characteristics of the BOES. We also measure the dark count of the CCD by getting five dark images with 3600 seconds exposure time. The mean dark count from median stacked dark images is essentially zero. A table of positions of defected pixels is also presented.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제16권4호
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pp.443-450
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2016
The linearization technique for low noise amplifier (LNA) has been implemented in standard $0.18-{\mu}m$ BiCMOS process. The MOS-BJT derivative superposition (MBDS) technique exploits a parallel LC tank in the emitter of bipolar transistor to reduce the second-order non-linear coefficient ($g_{m2}$) which limits the enhancement of linearity performance. Two feedback capacitances are used in parallel with the base-collector and gate-drain capacitances to adjust the phase of third-order non-linear coefficients of bipolar and MOS transistors to improve the linearity characteristics. The MBDS technique is also employed cascode configuration to further reduce the second-order nonlinear coefficient. The proposed LNA exhibits gain of 9.3 dB and noise figure (NF) of 2.3 dB at 2 GHz. The excellent IIP3 of 20 dBm and low-power power consumption of 5.14 mW at the power supply of 1 V are achieved. The input return loss ($S_{11}$) and output return loss ($S_{22}$) are kept below - 10 dB and -15 dB, respectively. The reverse isolation ($S_{12}$) is better than -50 dB.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제13권6호
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pp.655-661
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2013
In this paper, the 1/f noise characteristics of n-channel MOSFET (NMOSFET) and p-channel MOSFET (PMOSFET) are analyzed in depth as a function of body bias. The normalized drain current noise, $S_{ID}/I_D{^2}$ showed strong dependence on the body bias in the sub-threshold region for both NMOSFET and PMOSFET, and NMOSFET showed stronger dependence than PMOSFET on the body bias. On the contrary, both of NMOSFET and PMOSFET do not exhibit the dependence of $S_{ID}/I_D{^2}$ on body bias in strong inversion region, although the noise mechanisms of two MOSFETs are different from each other.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제14권1호
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pp.100-108
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2014
Low noise amplifier (LNA) is an integral component of RF receiver and frequently required to operate at wide frequency bands for various wireless system applications. For wideband operation, important performance metrics such as voltage gain, return loss, noise figure and linearity have been carefully investigated and characterized for the proposed LNA. An inductive shunt feedback configuration is successfully employed in the input stage of the proposed LNA which incorporates cascaded networks with a peaking inductor in the buffer stage. Design equations for obtaining low and high impedance-matching frequencies are easily derived, leading to a relatively simple method for circuit implementation. Careful theoretical analysis explains that input impedance can be described in the form of second-order frequency response, where poles and zeros are characterized and utilized for realizing the wideband response. Linearity is significantly improved because the inductor located between the gate and the drain decreases the third-order harmonics at the output. Fabricated in $0.18{\mu}m$ CMOS process, the chip area of this wideband LNA is $0.202mm^2$, including pads. Measurement results illustrate that the input return loss shows less than -7 dB, voltage gain greater than 8 dB, and a little high noise figure around 6-8 dB over 1.5 - 13 GHz. In addition, good linearity (IIP3) of 2.5 dBm is achieved at 8 GHz and 14 mA of current is consumed from a 1.8 V supply.
Tap lines are small branch piping generally less than two inches in diameter. They typically branch off of header piping having a much larger diameter. An example of a common tap line is a 3/4 inch size high point vent or low point drain. Most tap lines have at least one valve near the header tap connection to provide isolation. Two valves are often required for double isolation. A light water reactor(LWR) nuclear power plant will have several hundred tap lines. These lines come in many sizes and shapes and serve numerous functions. A single process piping valve may have three different tap lines associated with it (figure 1). Table 1 delineates the different categories of tap lines. Vibration failures of tap lines are a common occurrence in all industrial plants including nuclear and fossil power plants. These types of failures constitute a significant percentage of all piping related failures. An unscheduled plant shutdown or outage resulting from the failure of a tap line decreases plant reliability and may have a detrimental effect on plant safety. Most tap line vibration failures can be avoided through the use of appropriate routing and support techniques. Standardized designs can be developed for use in a myriad of applications. These designs will not only minimize failures but will also reduce the necessary analysis and installation efforts.
DC and RF characteristics of $0.15{\mu}m$ GaAs power metamorphic high electron mobility transistors (MHEMT) have been investigated. The $0.15{\mu}m{\times}100{\mu}m$ MHEMT device shows a drain saturation current of 480 mA/mm, an extrinsic transconductance of 830 mS/mm, and a threshold voltage of -0.65 V. Uniformities of the threshold voltage and the maximum extrinsic transconductance across a 4-inch wafer were 8.3% and 5.1%, respectively. The obtained cut-off frequency and maximum frequency of oscillation are 141 GHz and 243 GHz, respectively. The $8{\times}50{\mu}m$ MHEMT device shows 33.2% power-added efficiency, an 18.1 dB power gain, and a 28.2 mW output power. A very low minimum noise figure of 0.79 dB and an associated gain of 10.56 dB at 26 GHz are obtained for the power MHEMT with an indium content of 53% in the InGaAs channel. This excellent noise characteristic is attributed to the drastic reduction of gate resistance by the T-shaped gate with a wide head and improved device performance. This power MHEMT technology can be used toward 77 GHz band applications.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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