• 제목/요약/키워드: Defective rate

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웨이블릿 다해상도 분석에 의한 디지털 이미지 결점 검출 알고리즘 (A Defect Inspection Algorithm Using Multi-Resolution Analysis based on Wavelet Transform)

  • 김경준;이창환;김주용
    • 한국염색가공학회지
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    • 제21권1호
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    • pp.53-58
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    • 2009
  • A real-time inspection system has been developed by combining CCD based image processing algorithm and a standard lighting equipment. The system was tested for defective fabrics showing nozzle contact scratch marks, which were one of the frequently occurring defects. Multi-resolution analysis(MRA) algorithm were used and evaluated according to both their processing time and detection rate. Standard value for defective inspection was the mean of the non-defect image feature. Similarity was decided via comparing standard value with sample image feature value. Totally, we achieved defective inspection accuracy above 95%.

에어모터 하우징 양산용 다이캐스팅 금형의 불량과 대책에 관한 연구 (A study on the defects of die casting mold for air-motor housings and on problem-solving measures)

  • 김세환;최계광
    • Design & Manufacturing
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    • 제6권1호
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    • pp.18-23
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    • 2012
  • HI-WORTH T-32, a non-powered plasma cutter, is a portable cutter that utilizes compressor-plasma inverter. With a special air-pressure piston, the cutter is semiautomatic. When they were produced by die casting dies, the bodies or housings of the cutter have defects about 100 percent of defect rate due to blisters and thermal deformation. Therefore, they are produced by mechanical machining, which leads to a hike in material and machining costs and to the loss of productivity. And companies are left with insignificant profit margins. Besides mechanical machining, this study proposes to modify defective mold and cut down defective rate and boost productivity.

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불량률과 고장률을 통합한 마모공정의 보전모형 (Maintenance Model for Wear-Out Process Integrated with the Percent Defective and the Failure Rate)

  • 이도경
    • 품질경영학회지
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    • 제24권2호
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    • pp.44-53
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    • 1996
  • This paper deals with the problem of selecting optimal wear limit and initial process mean in a wear-out process. Consider a material removal processing machinery where 1)there are deffective items by linear shift in the mean of the diameter of to be processed with varing process variance and 2)there can be any failure in the machine tools or to be processed. In the previous studies, the one is analyzed by 'Model of Producing Goods' in quality control area and the other, any failure, is analyzed by 'Model of Producing Services' in reliability area. We propose a new integrated maintenance model, considering the percent defective and the failure rate. A numerical example for the model is given.

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CMOS 이미지 센서에서의 효율적인 불량화소 검출을 위한 알고리듬 및 하드웨어 설계 (An Efficient Dead Pixel Detection Algorithm Implementation for CMOS Image Sensor)

  • 안지훈;신성기;이원재;김재석
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제44권4호
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    • pp.55-62
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    • 2007
  • 본 논문에서는 이미지 센서에서 불량 화소를 자동으로 검출하기 위한 알고리듬을 제안하고, 그에 따른 하드웨어 구조를 제시하였다. 기존에 제안된 방법은 영상의 특징을 고려하지 않고 단순히 주위 화소들 값과의 차이가 일정 이상이면 불량 화소로 간주하였다. 그러나 이러한 방식은 영상에 따라서 불량 화소가 아닌 화소를 불량 화소로 간주하거나, 불량 화소를 정상 화소로 판단하는 일이 발생한다. 이러한 단점을 보완하기 위해 여러 프레임에 걸쳐 확인하는 방법도 제안되었으나, 불량 화소 검출시간이 오래 걸리는 단점이 있다. 이러한 기존 방식의 단점을 해결하기 위해, 제안된 불량 화소 검출 기법은 단일화면 내에서는 경계 영역을 고려하여 불량 화소를 검출하고, 여러 프레임에 걸친 확인 과정을 거치되, 화면 전환 여부를 확인하여 화면 전환이 일어날 때마다 검출된 화소의 불량 화소 여부를 판단하고 확인한다. 실험 결과, 단일 화면 내에서의 검출률은 기존 대비 6% 향상되었고, 100%의 불량화소 검출까지 걸리는 시간은 평균적으로 3배 이상 단축되었다. 본 논문에서 제안된 알고리듬은 하드웨어로 구현되었고, 하드웨어 구현 시 색 보간 블록에서 사용되는 경계 영역 표시자를 그대로 활용함으로써 0.25um 표준 셀 라이브러리를 이용하여 합성했을 때, 5.4K gate의 낮은 복잡도로 구현할 수 있었다.

A Study on the Monitoring of Reject Rate in High Yield Process

  • Nam, Ho-Soo
    • Journal of the Korean Data and Information Science Society
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    • 제18권3호
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    • pp.773-782
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    • 2007
  • The statistical process control charts are very extensively used for monitoring of process mean, deviation, defect rate or reject rate. In this paper we consider a control chart to monitor the process reject rate in the high yield process, which is based on the observed cumulative probability of the number of items inspected until r defective items are observed. We first propose selection of the optimal value of r in the CPC-r charts, and also consider the usefulness of the chart in high yield process such as semiconductor or TFT-LCD manufacturing process.

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$ski^-$ 기주 세포에서 L-A dsRNA 바이러스의 defective interfering particle을 유도하는 효모 유전자 (A yeast Chromosomal Gene that Induces Defective Interfering Particles of L-A dsRNA Virus in $ski^-$ Host Cells)

  • 이현숙
    • 미생물학회지
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    • 제29권2호
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    • pp.75-79
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    • 1991
  • The yeast L-A virus (4.6 kb dsRNA genome) encodes the major coat protein and a "gag-pol" fusion minor coat protein that separately encapsidate itself and $M_{1}$, a 1.8 kb dsRNA satellite virus encoding a secreted protein toxin (the killer toxin). The teast chromosomal SKI genes prevent viral cytopathology by lowering the virus copy number. Thus, $ski^{-}$ mutants are ts and cs for growth. We transformed a ski2-2 virus-infested mutant with a yeast bank in a high copy cloning vector and selected the rare healthy transformants for analysis. One type of transformant segregated M-O L-A-O cells with high frequency. Elimination of the DNA clone from the ski2-2 strain eliminated this phinotype and introduction of the DNA clone recovered from such transformants into the parent ski2-2 strain, or into ski3 or ski6 mutants gave the same phenotype. This killer-curing phenotype was due to the curing of the helper L-A dsRNA virus. The 6.5 kb insert only had this activity when carried on a high copy vector and in $ski^{-}$ cells (not in $SKI^{+}$ cells). This 6.5 kb insert acts as a mutagen on L-A dsRNA producing a high rate of deletion mutations.mutations.

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RFID 태그 생산 공정 자동화를 위한 부적합품 검출 시스템의 구현 (An Implementation of the Fault Detection System in the RFID Tag Manufacturing Automation)

  • 정민포;조혁규;정덕길
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제16권2호
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    • pp.47-53
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    • 2011
  • 국내 대부분의 RFID 태그 생산업체에서는 칩 본딩 작업 후에 태그 불량품 검출 작업이 수작업으로 수행되기 때문에 태그 생산 시간과 비용을 감소시키기 위한 요구가 산업계에서 요구되어 왔다. 이에 따라 이 논문에서는 태그 불량 검출 기능을 수행하는 시스템을 개발하여 산업 현장에서 요구되는 RFID 태그 부적합품 검출 자동화 시스템을 구축할 수 있는 소프트웨어 분야의 기초 기반 기술을 제공한다. 프로그램의 개발 비용을 낮추고 유지보수를 용이하게 하기 위하여 시스템의 모델링에는 UML을 사용하고 프로그램의 구현에는 JAVA 언어를 사용하여 개발하였다. 개발된 시스템은 태그 불량 검출 작업을 수작업으로 처리하는 방법과 비교하여, 매우 뛰어난 처리속도의 성능 향상과 부적합품 검출에 대한 완벽한 인식률을 보여준다.

소아청소년의 하악 대구치에서 협측소와 및 협측소와 결함의 발생 빈도 (Frequency of Buccal Pits and Defective Buccal Pits in Mandibular Molars of Children and Adolescents)

  • 김소영;송제선;김익환;최형준
    • 대한소아치과학회지
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    • 제49권3호
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    • pp.253-263
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    • 2022
  • 협측소와는 하악 대구치 발달구의 말단에 나타나는 강한 점상의 함몰된 구조이다. 협측소와 결함은 협측소와가 상아질까지 침범한 상태로 정의할 수 있다. 이 연구는 콘빔 컴퓨터 단층촬영(CBCT) 분석을 통해 소아청소년의 하악 제1대구치 및 제2 대구치에서 협측소와 및 협측소와 결함의 발생 빈도를 조사하는 것을 목적으로 하였다. 연구는 2004년부터 2020년까지 연세대학교 치과병원 소아치과를 방문한 한국 소아청소년 417명을 대상으로 촬영한 CBCT 영상을 대상으로 수행하였다. 협측소와의 발현율은 29.1%로 보고되었다. 제4급 협측소와에 해당하는 협측소와 결함의 유병률은 총 7.9%였다. 협측소와는 양측성으로 나타나는 경향이 있었다. 이 연구는 협측소와의 빈도에 대해 가장 큰 표본 크기를 사용하여 시행한 포괄적인 연구이며, CBCT를 이용한 최초의 연구였다. 또한 협측소와 결함을 최초로 정의 내리고자 하였다.

Minimization of Inspection Cost in an Inspection System Using a Time-based Flow Analysis

  • Yang, Moon-Hee;Kim, Sun-Uk
    • 대한산업공학회지
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    • 제35권3호
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    • pp.194-202
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    • 2009
  • In this paper, we address an optimization problem and a case study for minimizing the cost of inspections incurred throughout an inspection system, which includes a K-stage inspection system, a source inspection shop, and a re-inspection shop. In order to formulate the inspection cost function, we make a time-based flow analysis between nodes (or shops), and derive the limiting sizes of flows between nodes and limiting defective rates by solving a set of nonlinear balance equations. It turns out that the number of items reworked throughout the inspection system is invariant irrespective of the defective rate of items moved through the K-stage inspection system. Hence we define the inspection cost as the total number of items inspected, and we provide an enumeration method for determining an optimal value of K which minimizes the number of items inspected.

안정화기간을 고려한 최적생산량의 결정 (Determination of the Economic Production Quantity for a Manufacturing Process with Stabilization Period)

  • 함주호;김승한;이건호
    • 대한산업공학회지
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    • 제20권3호
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    • pp.93-104
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    • 1994
  • One of the typical assumptions of the studies to determine economic production quantity is that yield rate of a given manufacturing process is 100% or constant after setup. However, in the real world, there are many manufacturing processes of which yield rates are quite low just after setup and then increasing with time until they reach the target rates which are set strategically. This period is usually called "stabilization period". During the stabilization period, defectives are produced, which incur cost (defective cost). In this study, an optimal production quantity for this situation is presented. Also, it is shown that defective cost acts like setup cost and therefore, increases the economic production quantity.

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