Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.143.1-143.1
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2016
Ge is a promising candidate to replace Si in MOSFET because of its superior carrier mobility, particular that of the hole. However Ge oxide is thermodynamically unstable. At elevated temperature, GeO is formed at the interface of Ge and GeO2, and its formation increases the interface defect density, degrading its device performance. In search for a method to surmount the problem, we investigated Ge oxidation through an inert capped oxide layer. For this work, we prepared low doped n-type Ge(100) wafer by removing native oxide and depositing a capping layer, and show that GeO2 interface can be successfully grown through the capping layer by thermal oxidation in a furnace. The thickness and quality of thus grown GeO2 interface was examined by ellipsometry, XPS, and AFM, along with I-V and C-V measurements performed at 100K to 300K. We will present the result of our investigation, and provide the discussion on the oxide growth rate, interface state density and electrical characteristics in comparison with other studies using the direct oxidation method.
Catastrophe models appraise the natural risk of the built-infrastructure simulating the interaction of its exposure and vulnerability with a hazard. Because of unique configurations and reduced number, mid/high-rise buildings present singular challenges to the assessment of their damage vulnerability. This paper presents a novel approach to estimate the vulnerability of mid/high-rise buildings (MHB) which is used in the Florida Public Hurricane Loss Model, a catastrophe model developed for the state of Florida. The MHB vulnerability approach considers the wind pressure hazard exerted over the building's height as well as accompanying rain. The approach assesses separately the damages caused by wind, debris impact, and water intrusion on building models discretized into typical apartment units. Hurricane-induced water intrusion is predicted combining the estimates of impinging rain with breach and pre-existing building defect size estimates. Damage is aggregated apartment-by-apartment and story-by-story, and accounts for vertical water propagation. The approach enables the vulnerability modeling of regular and complex building geometries in the Florida exposure and elsewhere.
The oxygen nonstoichiometry (x) of UO$_{2+x}$ and $(Ce_yU_{1-y})O_{2+x}$ (y=0.05, 0.25) has been measured as a function of oxygen activity (a02) at 100$0^{\circ}C$ by a solid state coulometri titration technique. The results for UO$_{2+x}$ are in a good agreement with literature data and the ao2-dependence of the nonstoichimetry has been well explained with (2:2:2) cluster model. The equilibrium oxygen activity of $(Ce_yU_{1-y})O_{2+x}$ increases with Ce-content (y) for given nonstoichiometry (x), which is ascribed to the fact that Ce is present as Ce$^{3+}\; and\; Ce^{4+}$, and, therefore, the addition of Ce reduces the oxidation capacity of UO$_{2+x}$. From the oxygen activity dependence of x in $(Ce_yU_{1-y})O_{2+x}$ the defect structure of $(Ce_yU_{1-y})O_{2+x}$ is discussed.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.39
no.12
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pp.1022-1032
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2002
A multibit DRAM BIST methodology reducing redundancy programming overhead has been proposed. It is capable of counting and locating faulty bits simultaneously with the test. If DRAM cells are composed of n blocks generally, the proposed BIST can detect the state of no error, the location of faulty bit block if there is one error and the existence of errors in more than two blocks, which are n + 2 states totally, with only n comparators and an 3 state encoder. Based on the proposed BIST methodology, the testing scheme which can detect the number and locations of faulty bits with the errors in two or more blocks, can be easily implemented. Based on performance evaluation, the test and redundancy programming time of 64MEG DRAM with 8 blocks is reduced by 1/750 times with 0.115% circuit overhead.
Using low temperature and atmospheric pressure method, we synthesized Na, TPA-ZSM-5 with Si/Al ratio of about 100. We employed 27Al and 29Si MAS NMR spectroscopy and FT-IR to investigate the crystallization process as a function of time. The chemical shift depends on the initial composition of reactants and changes during the course of synthesis different from those reported by others earlier. However, the chemical shift of our final product showed in the range of typical ZSM-5. And the defect site was removed by the calcine. From XRD and SEM data, the formation of ZSM-5 was also confirmed.
Kwok, Wai-Kwong;L. M. Paulius;Christophe Marcenat;R. J. Olsson;G. Karapetrov
Progress in Superconductivity
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v.3
no.1
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pp.5-12
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2001
Our experimental research focuses on manipulating pinning deflects to alter the phase diagram of vortex matter, creating new vortex phases. Vortex matter offers a unique opportunity for creating and studying these novel phase transitions through precise control of thermal, pinning and elastic energies. The vortex melting transition in untwinned YB $a_2$C $u_3$$O_{7-}$$\delta$/ crystals is investigated in the presence of disorder induced by particle irradiation. We focus on the low disorder regime, where a glassy state and a lattice state can be realized in the same phase diagram. We follow the evolution of the first order vortex melting transition line into a continuous transition line as disorder is increased by irradiation. The transformation is marked by an upward shift in the lower critical point on the melting line. With columnar deflects induced by heavy ion irradiation, we find a second order Bose glass transition line separating the vortex liquid from a Bose glass below the lower critical point. Furthermore, we find an upper threshold of columnar defect concentration beyond which the lower critical point and the first order melting line disappear together. With point deflect clusters induced by proton irradiation, we find evidence for a continuous thermodynamic transition below the lower critical point..
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.29
no.3
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pp.135-140
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2016
In this study, we developed the solution-processed PMMA-$HfO_x$ hybrid ReRAM devices to overcome the respective drawbacks of organic and inorganic materials. The performances of PMMA-$HfO_x$ hybrid ReRAM were compared to those of PMMA- and $HfO_x$-based ReRAMs. Bipolar resistive switching behavior was observed from these ReRAMs. The PMMA-$HfO_x$ hybrid ReRAMs showed a larger operation voltage margin and memory window than PMMA-based and $HfO_x$-based ReRAMs. The reliability and electrical instability of ReRAMs were remarkably improved by blending the $HfO_x$ into PMMA. An Ohmic conduction path was commonly generated in the LRS (low resistance state). In HRS (high resistance state), the PMMA-based ReRAM showed SCLC (space charge limited conduction). the PMMA-$HfO_x$ hybrid ReRAM and $HfO_x$-based ReRAM revealed the Pool-Frenkel conduction. As a result of flexibility test, serious defects were generated in $HfO_x$ film deposited on PI (polyimide) substrate. On the other hand, the PMMA and PMMA-$HfO_x$ films showed an excellent flexibility without defect generation.
Baek, Ha Ni;Sun, Gwang Min;Kim, Ji suck;Hoang, Sy Minh Tuan;Jin, Mi Eun;Ahn, Sung Ho
Nuclear Engineering and Technology
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v.49
no.1
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pp.209-215
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2017
Fast neutron irradiation was used to improve the switching speed of a 600-V nonpunch-through insulated gate bipolar transistor. Fast neutron irradiation was carried out at 30-MeV energy in doses of $1{\times}10^8n/cm^2$, $1{\times}10^9n/cm^2$, $1{\times}10^{10}n/cm^2$, and $1{\times}10^{11}n/cm^2$. Electrical characteristics such as current-voltage, forward on-state voltage drop, and switching speed of the device were analyzed and compared with those prior to irradiation. The on-state voltage drop of the initial devices prior to irradiation was 2.08 V, which increased to 2.10 V, 2.20 V, 2.3 V, and 2.4 V, respectively, depending on the irradiation dose. This effect arises because of the lattice defects generated by the fast neutrons. In particular, the turnoff delay time was reduced to 92 nanoseconds, 45% of that prior to irradiation, which means there is a substantial improvement in the switching speed of the device.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.6
no.1
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pp.30-35
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2002
Dynamic routing uses routing protocols to select the best routes and to update the routing table. RP (Routing Information Protocol)using a distance-vector algorithm becomes generally known a routing protocol on the network. RIP selects the route with the lowest "hop count" (metric) as the best route. but RIP has a serious shortcoming. a mP router cannot maintain a complete routing table for a network that has destinations more than 15 hops away. To overcome this defect, It uses the OSPF (Open Shortest Path First) of link -state protocols developed for TCP/IP. It is suitable for very large networks and provides several advantages over RIP. This paper analyzes the traffic and the link efficiency between two protocols such as message delivery and delay, link utilization, message counts on the same network.e network.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.340-340
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2010
Various structures of vacancy defects in graphene layers and carbon nanotubes have been reported by high resolution transmission electron microscope (HR-TEM) and those arouse an interest of reconstruction processes of vacancy defects. In this talk, we present reconstruction processes of vacancy defects in a graphene and a carbon nanotube by tight-binding molecular dynamics (TBMD) simulations and by first principles total energy calculations. We found that a structure of a dislocation defect with two pentagon-heptagon (5-7) pairs in graphene becomes more stable than other structures when the number of vacancy units is ten and over. The simulation study of scanning tunneling microscopy reveals that the pentagon-heptagon pair defects perturb the wavefunction of electrons near Fermi level to produce the $\sqrt{3}\;{\times}\;\sqrt{3}$ superlattice pattern, which is in excellent agreement with experiment. It is also observed in our tight-binding molecular dynamics simulation that 5-7 pair defects play a very important role in vacancy reconstruction in a graphene layer and carbon nanotubes.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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