최근 휴대용 통신기기와 스마트 디스플레이의 결합은 휴대가 용이하고 이동을 하면서 모든 작업을 할 수 있다. 이에 본 논문에서는 휴대용 통신기기에서 저가격의 높은 투명전극을 찾기 위해 여러 가지 ITO(Indium Tin Oxide) 박막에 대해 연구하였다. ITO 박막은 DC 마그네트론 스펏터를 사용하였으며 1 분위기압을 1mTorr 증가 간격으로, 2 바이어스 전압은 10V 간격으로 변화시켜 측정하였다. 두께와 굴절율은 일립소미터를 사용하였으며 막의 단면과 표면의 형상은 주사전자현미경을 사용하여 조사하였다. 분석 결과를 통해 바이어스 전압이 300V 이상일 경우에 명확한 증착이 나타났으며 추가로 전압이 증가함에 따라 전체적으로 증착률이 증가하였다. 330V 조건에서 증착률이 가장 높았으며 뚜렷한 결정립이 관찰되었다.
MgO thin films were deposited by internal ICP-assisted reactive-magnetron sputtering with bipolar pulse bias on a substrate to suppress random arcs. Mg is reactively sputtered by a bipolar pulsed DC power of 100 kHz into ICP generated by a dielectrically shielded internal antenna. At a mass flow ratio of $Ar/O_2$ = 10 : 2 and an ICP/sputter power ratio of 1 : 1, optimal film properties were obtained (a powder-like crystal orientation distribution and a RMS surface roughness of approximately 0.42 nm). A bipolar pulse substrate bias at a proper frequency (~a few kHz) prevented random arc events. The crystalline preferred orientations varied between the (111), (200) and (220) orientations. By optimizing the plasma conditions, films having similar bulk crystallinity characteristics (JCPDS data) were successfully obtained.
The transfer of chloride ion across an anion exchange membrane (AEM) was investigated by cyclic voltammetry (CV) and electrochemical impedance spectra. In CV experiment, when the size of the hole in membrane was much smaller than the distance between membrane holes, the Cl anion transfer showed steady state voltammetric behavior. Each hole in membrane can be regarded as a microelectrode and the membrane was equivalent to a microelectrode array in this condition. When the hole in membrane was large or the distance between membrane holes was small, the CV curve of the Cl anion transfer across membrane showed peak shape, which attributed to linear diffusion. In ac impedance measurement, the impedance spectrum of the membrane system was composed of two semicircles at low de bias, corresponding to the bulk characteristics of the membrane and the kinetic process of ion transfer, respectively. The bulk membrane resistance increases with increasing dc bias and only one semicircle was observed at higher dc bias. The parameters related to kinetic and membrane properties were discussed.
The magnetoelectric characteristics on layered $Fe_{78}B_{13}Si_9/PZT$ and $Fe_{78}B_{13}Si_9/PZT/Fe_{78}B_{13}Si_9$($t_m=0.017$, 0.034mm) composites by epoxy bonding for magnetic field sensor were investigated in the low-frequency range and resonance frequency range. The optimal bias magnetic field $H_{dc}$ of these samples was about 23~63 Oe range. The Me coefficient of $Fe_{78}B_{13}Si_9/PZT/Fe_{78}B_{13}Si_9(t_m=0.034mm)$ composites reaches a maximum of $186mV/cm{\cdot}Oe$ at $H_{dc}=63Oe$, f=50 Hz and a maximum of $1280mV/cm{\cdot}Oe$ at $H_{dc}=63Oe$, resonance frequency $f_r=95.5KHz$. The output voltage shows linearity proportional to ac fields $H_{ac}$ and is about U=0~130.6 mV at $H_{ac}=0{\sim}7Oe$, f=50 Hz, U=0~12.4 V at $H_{ac}=0{\sim}10Oe$, $f_r=95.5KHz$(resonance frequency). The optimal frequency(f=50 Hz) of this sample is around the utility ac frequency(f=60 Hz). Therefore, this sample will allow for ac magnetic field sensor at utility frequency and low bias magnetic fields $H_{dc}$.
In this study, the investigations of the TiN etching characteristics were carried out with addition of $Cl_2$ gas in an inductively coupled $BCl_3$-base plasma system. Dry etching of the TiN was studied by varying the etching parameters including $Cl_2$ gas addition ratio, RF power, DC-bias voltage and pressure. The etch rate of TiN thin film was maximum when the $Cl_2$ gas addition flow was 2 sccm with fixed other conditions. As the RF power DC-bias voltage were increased, the etch rate of TiN thin film showed increasing tendency. $BCl_3/Cl_2$/Ar plasmas were characterized by optical emission spectroscopy (OES) analysis. The chemical reaction on the surface of the etched TiN films was investigated with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
The etch characteristics of the $HfAlO_3$ thin films and selectivity of $HfAlO_3$ to $SiO_2$ in $Cl_2/BCl_3$/Ar plasma were investigated in this work. The maximum etch rate was 108.7 nm/min and selectivity of $HfAlO_3$ to $SiO_2$ was 1.11 at $Cl_2$(3sccm)/$BCl_3$(4sccm)/Ar(16sccm), RF power of 500 W, DC-bias voltage of - 100 V, process pressure of 1 Pa and substrate temperature of $40^{\circ}C$. As increasing RF power and DC-bias voltage, etch rates of the $HfAlO_3$ thin films increased. Whereas as decreasing of the process pressure, those of the $HfAlO_3$ thin films were increased. The chemical reaction on the surface of the etched the $HfAlO_3$ thin films was investigated with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제12권3호
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pp.106-109
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2011
We investigated the etching characteristics of titanium nitride (TiN) thin film in $BCl_3$/Ar inductively coupled plasma. The etching parameters were the gas mixing ratio, radio frequency (RF) power, direct current (DC)-bias voltages and process pressures. The standard conditions were as follows: total flow rate = 20 sccm, RF power = 500 W, DC-bias voltage = -100 V, substrate temperature = $40^{\circ}C$, and process pressure = 15 mTorr. The maximum etch rate of TiN thin film and the selectivity of TiN to $Al_2O_3$ thin film were 54 nm/min and 0.79. The results of X-ray photoelectron spectroscopy showed no accumulation of etch byproducts from the etched surface of TiN thin film. The TiN film etch was dominated by the chemical etching with assistance by Ar sputtering in reactive ion etching mechanism, based on the experimental results.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제15권1호
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pp.32-36
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2014
In this study, the etching characteristics of titanium dioxide ($TiO_2$) thin films were investigated with the addition of $N_2$ to CF4/Ar plasma. The crystal structure of the $TiO_2$ was amorphous. A maximum etch rate of 111.7 nm/min and selectivity of 0.37 were obtained in an $N_2/CF_4/Ar$ (= 6:16:4 sccm) gas mixture. The RF power was maintained at 700 W, the DC-bias voltage was - 150 V, and the process pressure was 2 Pa. In addition, the etch rate was measured as functions of the etching parameters, such as the gas mixture, RF power, DC-bias voltage, and process pressure. We used X-ray photoelectron spectroscopy to investigate the chemical state on the surface of the etched $TiO_2$ thin films. To determine the re-deposition and reorganization of residues on the surface, atomic force microscopy was used to examine the surface morphology and roughness of $TiO_2$ thin films.
A Spotter ion Plating(SIP) system with a r. f. coil electrode and the Facing Target Sputter(FTS) source was designed for high-quality thin film formation. The rf discharge was combined with DC facing target sputtering in order to enhance ionization degree of a sputtered atoms. The discharge voltage-discharge characteristics curves of a FTS source could be characterized by the fern of $I{\propto}V^n$ with n in the range of $8{\sim}12$. The energy of ions incident on the substrate depended on the sheath potential of DC biased substrate. The mean impact ion energy increased with negative bias voltage and rf power. The adhesive force of the TiN film formed was in the range of $30{\sim}50N$, and markedly influenced by substrate bias voltage.
This paper presents an experimental and numerical study on current limiting characteristics of a fault current controller (FCC). The FCC consists of an AC/DC power converter, a superconducting coil, and a control unit. Even though some previous researches proved that the FCC could adjust the fault current level, the current limiting characteristics by the superconducting coil should be investigated for design of the coil. In this paper, four kinds of model coils were tested; 1) air core, 2) iron core without any bias, 3) reversely magnetized core (RMC) using permanent magnets, and 4) RMC using an electromagnet. Based on a comparative study, it is confirmed that a RMC by an electromagnet (EM) could increase the effective inductance of the coil. In this paper, a numerical code to simulate the HTS coil with RMC was developed. This code can be applied to design the HTS coil with active reversely magnetized bias coil.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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