In this paper, characteristic analysis of PC(Pancake Coil) probe with the size variation is presented for eddy current testing. Characteristics of probe are numerically calculated by using the finite element method. From the numerical analysis, the optimum frequency and groups for an experiment are selected. Probes are made and experiment is performed. From the experimental results, the probe shows maximum sensitivity when the size of defect is equal to the size of probe and when the inside diameter is similar to the width of probe and when the height is low. The result can be helpful to the standard of design of PC probe for eddy current testing.
This paper proposes a special power circuit topology and its corresponding control strategy for an energy recovery power accumulator battery pack testing system (PABPTS), which is particularly used in electric vehicles. Firstly, operation principle and related parameter design for the system are illustrated. Secondly, control strategy of the composite power converter for PABPTS is analyzed in detail. The improved scheme includes a high accuracy charge and discharge current closed loop. active power reference for the grid-side inverter is provided by the result of multiplication between battery pack terminal voltage and test current. Simulation and experimental results demonstrate that the proposed scheme could not only satisfy the requirements for PABPTS with wide-range current test, but also could recover the discharging energy to the power grid with high efficiency.
본 논문에서는 전류 테스팅을 이용하여 CMOS 집적회로에 존재하는 결함을 검출하는 내장형 전류 감지회로를 설계하였다. 이 회로는 일반적인 CMOS 공정으로 구현하였으며 결함전류와 기준전류를 전압으로 변환시켜 시험대상 회로의 결함을 고속으로 검출하며, 미세공정에도 적용가능한 회로이다 제안한 전류 감지회로는 전류원 내장으로 인한 추가적인 전력소모를 문제를 해결하였다. 제안한 회로의 정당성 및 효율성은 HSPICE를 이용한 시뮬레이션으로 그 타당성을 입증하였다. 제안한 전류 감지회로가 칩의 전체 면적에서 차지하는 면적소모는 시험대상회로에서 약 9.2%로, 내장형 전류 감지회로에 의한 면적소모는 무시할 만 하다. 제안한 회로는 Hynix O.35um 2-poly 4-metal N-Well 표준 CMOS 공정으로 제작하였다.
The multifrequency eddy current testing(ECT) have been proposed various frequency mixing algorithms. In this study, we compare these approaches to frequency mixing of ECT signals from steam generator tubes; time-domain optimization, discrete cosine transform-domain optimization. Specifically, in this study, two different frequency mixing algorithms, a time-domain optimization method and a discrete cosine transform(DCT) optimization method, are investigated using the experimental signals captured from the ASME standard tube. The DCT domain optimization method is computationally fast but produces larger amount of residue.
In case of dead-tank circuit breaker with the earthed enclosure, the dielectric performance for phase to ground should be verified under the hot-gas condition produced by the current interruption. This test condition is required in breaking test duties with the rated short-circuit current and rated voltage. And, KERI has completed the reinforcement of the synthetic testing facilities and these facilities have the testing capacity which enables the full-pole testing for 800kV circuit breaker by adopting the series voltage injection method. So, this paper introduced the test circuit and procedures about the full-pole and the multi-part testing method which was devised to estimate the full -insulation of phase-to-ground for the multi-pole and dead-tank circuit breaker.
This paper describes the theory and practical design of Rogowski coil and active integrator. The coils and integrators have the ratings as follows. 1) current ratings between 20kArms and 200kArms 2) current duration 3 seconds 3) time constant of primary circuit looms 4) inner diameter of coil is suitable for mounting at the busbar $200mm{\times}200mm$. The actual results in the short-circuit tests and compare with other sensors, such that shunt. are given also.
플랜트, 산업용 설비로서 사용되어지고 있는 강관의 결함 검출을 위한 와전류검사장비를 개발하였다. 강관은 내부 불균일 한 전자기적 특성을 포함하고 있는 자성체로서 와전류검사의 응답신호를 왜곡시키므로 이러한 전자기적 특성의 균일화를 위해 자기포화가 요구된다. 자기포화가 없을 경우 결함신호는 잡음신호와 구별되지 않았으나 약 0.62A의 전류가 코일에 가해졌을 때 자기포화되어 결함을 검출 할 수 있었다 자기포화형 탐촉자는 헬름홀츠 코일을 적용하여 제작하였고 내부 대역 통과필터를 이용하여 직류자기장으로 야기되는 잡음신호를 최소화하였다. 개발된 장비를 이용한 현장실험 결과 1m/sec의 이송속도에서 관통홀$({\phi}=2.0mm)$ 결함을 정확히 검출 할 수 있었다.
증기발생기 전열관이 노후화 됨에 따라 새롭고 판단이 애매한 결함이 발생되기 시작하고 있다. 대부분의 결함은 전열관 외부에서 발생되어 진전된다. 일반 와전류탐상에서는 외부결함으로부터의 신호가 표피효과로 인해 내부결함으로부터의 신호보다 매우 약하기 때문에, 본 논문에서는 자성체 관 검사에서 내부 및 외부결함에 거의 같은 민감도를 보인 바 있는 원격장와전류 탐상을 비자성체인 전열관의 검사에 적용하기 위한 연구를 수행하였다. 유한요소 모델링을 통한 연구결과는 비자성체인 전열관에서 원격장와전류 효과가 나타나려면 탐상주파수가 수백 kHz가 되어야 하며, 여자코일과 센서코일간의 간격은 자성 관 검사시의 절반인 관 외경의 1.5배 정도가 되어야 함을 보였다. 이렇게 설계된 탐촉자를 사용하여 예측한 결함신호들은 이 검사방법이 내부 및 외부결함에 동일하게 민감하며, 위상신호의 세기와 결함깊이간에는 선형적인 비례관계가 존재함을 보여 주었다. 이러한 결과들은 비자성 증기발생기 전열관이라 할지라도 원격장와전류 탐상이 가능함을 말해 주고 있다.
Major industries in Gyeongnam area include robot and automobile manufacturing, shipbuilding, and aviation. According to the research, the mechanical part of the products has been advanced, but awareness over the improvement of quality of the software still lacks. The quality performance test presently conducted by the companies in Gyeongnam is mostly the manual performance test performed by the program manager. In order to systematize this and extend the range of using software testing tools, the current study intends to suggest the necessity for conducting a survey on demand to improve performance and securing testing tools such as measured data analysis. Accordingly, this study is going to investigate 33 companies in Gyeongnam related with software in each of the major business areas centering around the actual field and examine activities related to software quality. And after figuring out the current status of retaining testing tools, the study will suggest the ways to enhance recognition over software quality and propose ultimate solutions to solve the problems on the current stage by finding out how to share information as much as possible in order to lay the foundation for extending the range of activity for the sake of software quality.
고집적 SRAM을 구성하고 있는 일반적인 메모리 셀을 이용하여 저항성 단락을 MOSFET의 게이트-소오스, 게이트-드레인, 소오스-드레인에 적용시키고, 각 단자에서 발생 가능한 개방 결함을 고려하여 그 영향에 따른 메모리의 자장노드의 전압과 VDD에서의 정전류를 PSPICE 프로그램으로 분석하였다. 해석 결과를 고려하여 메모리의 기능성과 신뢰성을 향상시키기 위해 기능 테스트와 IDDQ 테스트에 동시에 적용할 수 있는 O(N)의 복잡도를 갖는 테스트 알고리즘을 제안하였다. 테스트의 질과 효율을 좀 더 향상시키기 위해 메모리에서 발생되는 고장을 검출하는 BIST 회로와 정전류의 비정상적인 전류의 흐름을 발생시키는 결함을 검출하는 BICS를 설계하였다. 또한 구현한 BIST/BICS 회로는 고장 메모리의 수리를 위해 고장 및 결함의 위치를 검출할 수 있다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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