• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제12권4호
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• pp.217-220
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• 2008

An optical receiver using a CMOS-compatible avalanche photodetector (CMOS-APD) is demonstrated. The CMOS-APD is fabricated with $0.18{\mu}m$ standard CMOS technology and the optical receiver is implemented by using the CMOS-APD and a transimpedance amplifier on a board. The optical receiver can detect 6.25-Gb/s data with the help of the series inductive peaking effect.

• 전기학회논문지P
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• 제53권1호
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• pp.22-27
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• 2004

BiCMOS circuit consist of CMOS part which constructs logic function, and bipolar part which drives output load. In BiCMOS circuits, transistor stuck-open faults exhibit delay faults in addition to sequential behavior. In this paper, proposes a method for efficiently generating test pattern which detect stuck-open in BiCMOS circuits. In proposed method, BiCMOS circuit is divided into pull-up part and pull-down part, using structural property of BiCMOS circuit, and we generate test pattern using set theory for efficiently detecting faults which occured each divided blocks.

• 대한전자공학회논문지
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• 제21권6호
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• pp.78-84
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• 1984

CMOS 논리회로에서 부가회로없이 time skew와 무관하게 stuck-open(이하 s-op) 고장을 검출할 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 즉, CMOS회로 구성요소로서 Domino CMOS 이 회로를 채택하여 회로의 클럭킹 게이트를 하나의 branch로 간주 모델화하고, transition test를 이용하여 테스트 시이퀸스를 구한다. 또한 이 알고리즘을 VAXII/780상에서 임의의 CMOS회로에 적용시켜 보므로써, 종래의 방법에서 time skew로 인하여 검출될 수 없었던 모든 s-op 고장이 검출됨을 보였다.

• Journal of electromagnetic engineering and science
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• 제15권2호
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• pp.63-75
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• 2015

The CMOS power amplifier (PA) is a promising solution for highly-integrated transmitters in a single chip. However, the implementation of PAs using the CMOS process is a major challenge because of the inferior characteristics of CMOS devices. This paper focuses on improvements to the efficiency and linearity of CMOS PAs for modern wireless communication systems incorporating high peak-to-average ratio signals. Additionally, an envelope tracking supply modulator is applied to the CMOS PA for further performance improvement. The first approach is enhancing the efficiency by waveform engineering. In the second approach, linearization using adaptive bias circuit and harmonic control for wideband signals is performed. In the third approach, a CMOS PA with dynamic auxiliary circuits is employed in an optimized envelope tracking (ET) operation. Using the proposed techniques, a fully integrated CMOS ET PA achieves competitive performance, suitable for employment in a real system.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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• pp.1516-1517
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• 2007

This paper investigated the breakdown effect of the CMOS device by impact of high power electromagnetic wave. The experiments employed a waveguide to study the current characteristics of CMOS device broken by high power electromagnetic wave. The CMOS device were composed of a LED drive circuit for visual discernment. Also CMOS device broken by high power electromagnetic wave was observed by power current. The CMOS device were broke by high power electromagnetic wave at about 10 kV/m and when power current is 75 mA. Based on the result, CMOS devices should show plan to protect the CMOS devices by high power electromagnetic wave. And the database from this experiment should provide the basis for future investigation.

• 대한전자공학회논문지
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• 제27권11호
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• pp.126-134
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• 1990

CMOS VLSI 기술에서 고속으로 데이타를 인식하기 위해서는 비교적 낮은 전달 콘덕턴스와 MOS 소자 장치들의 불균형을 극복하는 것이 중요하다. 그러나 CMOS 소자들의 한계 때문에 VLSI 회로설계는 일반적으로 CMOS 동작에 알맞도록 바이폴라 A/D(analog-to-digital)변환기가 사용되었다. 또한 파이프라인으로 종속 연결된 RSA에 의하여 전압 비교가 이뤄지는 VLSI CMOS 비교기를 설계하였다. 따라서 본 논문에서는 파이프라인으로 연결된 CMOS 비교기와 병합한 A/D 변환기를 설계하였다.

• 한국전자파학회논문지
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• 제19권6호
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• pp.597-602
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• 2008

본 논문은 고출력 전자파에 따른 CMOS IC 소자의 피해 효과와 회복 시간을 알아보았다. 고출력 전자파 발생 장치는 마그네트론을 사용하였고, CMOS 인버터의 오동작/부동작 판별법은 유관 식별이 가능한 LED 회로로 구성하였다. 그리고 고출력 전자파에 의해 오동작된 CMOS 인버터의 전원 전류와 회복 시간을 관찰하였다. 그 결과, 전계 강도가 약 9.9 kV/m에서의 전원 전류는 정상 전류의 2.14배가 증가하였다. 이는 래치업에 의한 CMOS 인버터가 오작동된 것을 확인할 수 있었다. 또한, COMS 인버터의 파괴는 컴포넌트, 온칩와이어, 그리고 본딩 와이어에서 다른 형태로 관찰하였다 위 실험 결과로, 전자 장비의 고출력 전자파 장해에 대한 이해를 돕는데 기초 자료로 활용될 것으로 예측된다.

• 센서학회지
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• 제27권3호
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• pp.160-164
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• 2018

In this paper, a wide dynamic range complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) image sensor with the adjustable sensitivity by using cascode metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET) and inverter is proposed. The characteristics of the CMOS image sensor were analyzed through experimental results. The proposed active pixel sensor consists of eight transistors operated under various light intensity conditions. The cascode MOSFET is operated as the constant current source. The current generated from the cascode MOSFET varies with the light intensity. The proposed CMOS image sensor has wide dynamic range under the high illumination owing to logarithmic response to the light intensity. In the proposed active pixel sensor, a CMOS inverter is added. The role of the CMOS inverter is to determine either the conventional mode or the wide dynamic range mode. The cascode MOSFET let the current flow the current if the CMOS inverter is turned on. The number of pixels is $140(H){\times}180(V)$ and the CMOS image sensor architecture is composed of a pixel array, multiplexer (MUX), shift registers, and biasing circuits. The sensor was fabricated using $0.35{\mu}m$ 2-poly 4-metal CMOS standard process.

• 한국정보통신학회논문지
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• 제15권4호
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• pp.897-904
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• 2011

본 논문에서는 CMOS 능동 인덕터를 이용하여 1.8GHz PCS 대역과 2.4GHz WLAN 대역에서 동조가 가능한 저잡음 증폭기의 새로운 회로구조를 제안하였다. CMOS 능동 인덕터 부하를 이용하는 저잡음 증폭기의 높은 잡음지수를 줄이기 위한 회로구조와 잡음지수를 더욱 감소시키기 위한 잡음상쇄기법을 적용하고 해석하였다. 이 동조가능 저잡음 증폭기를 $0.18{\mu}m$ CMOS 공정기술로 시뮬레이션을 수행한 결과는 잡음성능이 약 3.4dB 향상된 것을 보여주며, 이는 주로 제안된 새로운 회로구조에 기인한다.

• 정보처리학회논문지A
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• 제15A권5호
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• pp.243-248
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• 2008

본 논문은 다중 문턱전압 CMOS를 이용하여 저 전력 특성을 갖는 캐리 예측 가산기 (carry look-ahead adder)를 설계하였으며, 이를 일반적인 CMOS 가산기와 특성을 비교하였다. 전파 지연시간이 긴 임계경로에 낮은 문턱전압 트랜지스터를 사용하여 전파 지연시간을 감소시켰다. 전파 지연시간이 짧은 최단경로에는 높은 문턱전압 트랜지스터를 사용하여 회로전체의 소비전력을 감소시켰으며, 그 외의 논리블럭들은 정상 문턱전압의 트랜지스터를 사용하였다. 설계한 가산기는 일반적인 CMOS 회로와 비교하여 소비전력에서 14.71% 감소하였으며, 소비전력과 지연 시간의 곱에서 16.11%의 성능향상이 있었다. 이 회로는 삼성 $0.35{\mu}m$ CMOS 공정을 이용하여 설계하였으며, HSPICE를 통하여 검증하였다.