• 제목/요약/키워드: Benchmark test

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Implementation of a bio-inspired two-mode structural health monitoring system

  • Lin, Tzu-Kang;Yu, Li-Chen;Ku, Chang-Hung;Chang, Kuo-Chun;Kiremidjian, Anne
    • Smart Structures and Systems
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    • 제8권1호
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    • pp.119-137
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    • 2011
  • A bio-inspired two-mode structural health monitoring (SHM) system based on the Na$\ddot{i}$ve Bayes (NB) classification method is discussed in this paper. To implement the molecular biology based Deoxyribonucleic acid (DNA) array concept in structural health monitoring, which has been demonstrated to be superior in disease detection, two types of array expression data have been proposed for the development of the SHM algorithm. For the micro-vibration mode, a two-tier auto-regression with exogenous (AR-ARX) process is used to extract the expression array from the recorded structural time history while an ARX process is applied for the analysis of the earthquake mode. The health condition of the structure is then determined using the NB classification method. In addition, the union concept in probability is used to improve the accuracy of the system. To verify the performance and reliability of the SHM algorithm, a downscaled eight-storey steel building located at the shaking table of the National Center for Research on Earthquake Engineering (NCREE) was used as the benchmark structure. The structural response from different damage levels and locations was collected and incorporated in the database to aid the structural health monitoring process. Preliminary verification has demonstrated that the structure health condition can be precisely detected by the proposed algorithm. To implement the developed SHM system in a practical application, a SHM prototype consisting of the input sensing module, the transmission module, and the SHM platform was developed. The vibration data were first measured by the deployed sensor, and subsequently the SHM mode corresponding to the desired excitation is chosen automatically to quickly evaluate the health condition of the structure. Test results from the ambient vibration and shaking table test showed that the condition and location of the benchmark structure damage can be successfully detected by the proposed SHM prototype system, and the information is instantaneously transmitted to a remote server to facilitate real-time monitoring. Implementing the bio-inspired two-mode SHM practically has been successfully demonstrated.

웨이브릿 변환 영역에서 스토케스틱 영상 모델을 이용한 적응 디지털 워터마킹 (Adaptive Digital Watermarking using Stochastic Image Modeling Based on Wavelet Transform Domain)

  • 김현천;권기룡;김종진
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제6권3호
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    • pp.508-517
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    • 2003
  • 본 논문에서는 쌍직교 웨이브릿 영역에서 워터마크를 삽입할 수 있는 연속 부대역 양자화 및 스토케스틱 다해상도 특성을 갖는 지각 모델을 제안한다. 적응 워터마킹 알고리즘을 갖는 지각모델은 보다 강인한 워터마크 은닉을 위한 방법으로 연속 부대역 양자화(successive subband quantization: SSQ)에 의해서 텍스쳐 및 에지 영역에 삽입한다. 워터마크 삽입은 국부 영상 특성을 갖는 NVF(noise visibility function)함수에 의해 계산된다. 이 방법은 워터마크가 노이즈 특성을 갖기 때문에 영상의 통계적 특성에 기초한 비정상상태(non-stationary state) 가우스 모델과 정상상태(stationary state) 일반화 가우스(generalized Gaussian: GG)모델을 이용한다. 정상상태 GG모델의 삽입은 다해상도 내의 각 부대역별 분산과 형상계수(shape parameter)를 사용한다. 형상계수를 추정하기 위하여 모멘트 정합 방법을 사용한다. 비정상상태 가우스 모델은 각 부대역의 국부 평균 및 분산을 이용한다. 실험결과 우수한 비가시성과 강인성을 확인하였으며, 공격에 대한 실험으로 Stirmark 3.1 benchmark test를 수행하였다.

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A New Scan Partition Scheme for Low-Power Embedded Systems

  • Kim, Hong-Sik;Kim, Cheong-Ghil;Kang, Sung-Ho
    • ETRI Journal
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    • 제30권3호
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    • pp.412-420
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    • 2008
  • A new scan partition architecture to reduce both the average and peak power dissipation during scan testing is proposed for low-power embedded systems. In scan-based testing, due to the extremely high switching activity during the scan shift operation, the power consumption increases considerably. In addition, the reduced correlation between consecutive test patterns may increase the power consumed during the capture cycle. In the proposed architecture, only a subset of scan cells is loaded with test stimulus and captured with test responses by freezing the remaining scan cells according to the spectrum of unspecified bits in the test cubes. To optimize the proposed process, a novel graph-based heuristic to partition the scan chain into several segments and a technique to increase the number of don't cares in the given test set have been developed. Experimental results on large ISCAS89 benchmark circuits show that the proposed technique, compared to the traditional full scan scheme, can reduce both the average switching activities and the average peak switching activities by 92.37% and 41.21%, respectively.

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IR 기법을 이용한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법 (An Efficient Test Data Compression/Decompression Using Input Reduction)

  • 전성훈;임정빈;김근배;안진호;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권11호
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    • pp.87-95
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    • 2004
  • 본 논문에서는 SoC 테스트를 위한 새로운 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안하는 압축 방법은 테스트 데이터 압축을 위해 압축율과 하드웨어 오버헤드를 고려하여 최대 효율을 가지도록 하는데 기초하고 있다. 압축율을 높이기 위해서 본 논문에서는 IR 기법과 MSCIR 압축 코드를 사용하며, 뿐만아니라 이를 위한 사전 작업인 새로운 맵핑 기법 및 테스트 패턴순서 재조합 방법을 제안한다. 기존의 연구와는 달리 CSR 구조를 사용하지 않고 원래의 테스트 데이터를 사용하여 압축하는 방법을 사용한다. 이렇게 함으로써 제안하는 압축 방법은 기존의 연구에 비해 훨씬 높은 압축율을 가지며 낮은 하드웨어 오버헤드의 디컴프레션 구조를 가진다. ISCAS '89 벤치 회로에 대한 기존의 연구와의 비교로서 그 결과를 알 수 있다.

SA 기법 응용 NoC 기반 SoC 테스트 시간 감소 방법 (SA-Based Test Scheduling to Reduce the Test Time of NoC-Based SoCS)

  • 안진호;김홍식;김현진;박영호;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제45권2호
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    • pp.93-100
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    • 2008
  • 본 논문에서는 NoC 기반 SoC의 테스트 시간을 감소시키기 위하여 NoC를 TAM으로 재활용하는 구조를 바탕으로 하는 새로운 형태의 스케줄링 알고리즘을 제안한다. 제안한 방식에서는 기존 연구된 NoC 테스트 플랫폼을 사용하여 스케줄링 문제를 rectangle packing 문제로 변환하고 이를 simulated annealing(SA) 기법을 적용하여 향상된 스케줄링 결과를 유도한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 2.8%까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.

영작문 상황에서의 표절 측정의 신뢰성 연구 (Measuring plagiarism in the second language essay writing context)

  • 이호
    • 영어어문교육
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    • 제12권1호
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    • pp.221-238
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    • 2006
  • This study investigates the reliability of plagiarism measurement in the ESL essay writing context. The current study aims to address the answers to the following research questions: 1) How does plagiarism measurement affect test reliability in a psychometric view? and 2) how do raters conceive the plagiarism in their analytic scoring? This study uses the mixed-methodology that crosses quantitative-qualitative techniques. Thirty eight international students took an ESL placement writing test offered by the University of Illinois. Two native expert raters rated students' essays in terms of 5 analytic features (organization, content, language use, source use, plagiarism) and made a holistic score using a scoring benchmark. For research question 1, the current study, using G-theory and Multi-facet Rasch model, found that plagiarism measurement threatened test reliability. For research question 2, two native raters and one non-native rater in their email correspondences responded that plagiarism was not a valid analytic area to be measured in a large-scale writing test. They viewed the plagiarism as a difficult measurement are. In conclusion, this study proposes that a systematic training program for avoiding plagiarism should be given to students. In addition, this study suggested that plagiarism is measured reliably in the small-scale classroom test.

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내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 (New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST)

  • 허윤;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제37권6호
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    • pp.72-84
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    • 2000
  • 경로 지연 고장의 테스트 패턴은 두 개의 패턴을 가진 쌍패턴으로 이루어져 있다. 따라서 가중 무작위 패턴 생성 방법을 이용하여 지연 고장 테스트를 하기 위해서는 기존의 고착 고장을 위한 방법과는 다른 새로운 가중치 생성 방법이 적용되어야 한다. 결정론적 테스트 패턴을 이용하여 가중치를 계산할 때는 테스트 패턴의 집합을 패턴간의 해밍 거리가 너무 크지 않도록 분할하여 주는 것이 일반적이나 지연 고장 테스트에 있어서는 이 분할 방법이 너무 만은 가중치 집합을 생성하게 될 수도 있을 뿐만 아니라 부정확한 가중치를 계산하게 될 수도 있다. 따라서 본 논문에서는 결정론적 테스트 패턴의 분할 없이 가중치를 계산하여 고장 시뮬레이션을 생성하는 실험을 해 보았다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대한 실험 결과는 본 논문에서 제시한 경로 지연 고장을 위한 가중치 생성 방법의 효율성을 보여준다.

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FFR에서의 임계-쌍 경로를 이용한 효율적인 테스트 생성 (Efficient Test Generation using Critical-Pair Path in FFR)

  • 서성환;안광선
    • 전자공학회논문지C
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    • 제36C권4호
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    • pp.1-16
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    • 1999
  • 본 논문에서는 테스트 생성 과정에서 자주 사용되는 임계의 확장 개념으로 임계-쌍을 정의한다. 그리고 임계의 특성을 나타내는 요소로서 임계성, 임계율, 임계설정율 등을 정의한다. 이 요소들을 이용하여 임계-쌍의 사용이 단일 임계의 사용보다 더 효율적이라는 것을 입증하고, FFR에서의 테스트 패턴 생성 시에 임계값에 대한 평가 회수, 경로선의 탐색 회수 및 생성 시간에서 더 효율적이라는 것을 보여준다. 시뮬레이션을 통해서 ISCAS85 벤치마크 테스트 회로에 대한 실험 결과를 비교 분석한다.

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CMOS 조합회로의 IDDQ 테스트패턴 생성 (IDDQ Test Pattern Generation in CMOS Circuits)

  • 김강철;송근호;한석붕
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제3권1호
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    • pp.235-244
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    • 1999
  • 본 논문에서는 새로운 동적 컴팩션(dynamic compaction) 알고리즘을 제안하고 이용하여 CMOS 디지털 회로의 IDDQ 테스트패턴 생성한다. 제안된 알고리즘은 프리미티브 게이트 내부에서 발생하는 GOS, 브리징 고장을 검출할 수 있는 프리미티브 고장패턴을 이용하여 초기 테스트패턴을 구하고, 초기 테스트패턴에 있을 수 있는 don't care(X)의 수를 줄여 테스트 패턴의 수를 감소시킨다. 그리고 난수와 4 가지 제어도(controllability)를 사용하여 백트레이스를 수행시키는 방법을 제안한다. ISCAS-85 벤치마크 회로를 사용하여 모의 실험한 결과 큰 회로에서 기존의 정적 컴팩션 알고리즘에 비하여 45% 이상 테스트패턴 수가 감소함을 확인하였다.

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Test Set Generation for Pairwise Testing Using Genetic Algorithms

  • Sabharwal, Sangeeta;Aggarwal, Manuj
    • Journal of Information Processing Systems
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    • 제13권5호
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    • pp.1089-1102
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    • 2017
  • In software systems, it has been observed that a fault is often caused by an interaction between a small number of input parameters. Even for moderately sized software systems, exhaustive testing is practically impossible to achieve. This is either due to time or cost constraints. Combinatorial (t-way) testing provides a technique to select a subset of exhaustive test cases covering all of the t-way interactions, without much of a loss to the fault detection capability. In this paper, an approach is proposed to generate 2-way (pairwise) test sets using genetic algorithms. The performance of the algorithm is improved by creating an initial solution using the overlap coefficient (a similarity matrix). Two mutation strategies have also been modified to improve their efficiency. Furthermore, the mutation operator is improved by using a combination of three mutation strategies. A comparative survey of the techniques to generate t-way test sets using genetic algorithms was also conducted. It has been shown experimentally that the proposed approach generates faster results by achieving higher percentage coverage in a fewer number of generations. Additionally, the size of the mixed covering arrays was reduced in one of the six benchmark problems examined.