Efficient Test Generation using Critical-Pair Path in FFR

FFR에서의 임계-쌍 경로를 이용한 효율적인 테스트 생성

Critical is used frequently in many test generation procedures. In this paper, the critical-pair is defined as a extended concept of critical. Also, the criticality, the critical rate, the critical number, and the critical setting rate are defined which represent the characteristics of critical. In these elements, it is proved that the usage of the critical-pair is more efficient than that of the single critical. in FFR, it is also showed that the critical-pair is more efficient in evaluation number of critical values when the test pattern is generated, in the number of searching lines, and the test generation time. The experimental results of the critical-pair on the ISCAS85 benchmark test circuits are compared and analyzed to the single critical using simulation.

본 논문에서는 테스트 생성 과정에서 자주 사용되는 임계의 확장 개념으로 임계-쌍을 정의한다. 그리고 임계의 특성을 나타내는 요소로서 임계성, 임계율, 임계설정율 등을 정의한다. 이 요소들을 이용하여 임계-쌍의 사용이 단일 임계의 사용보다 더 효율적이라는 것을 입증하고, FFR에서의 테스트 패턴 생성 시에 임계값에 대한 평가 회수, 경로선의 탐색 회수 및 생성 시간에서 더 효율적이라는 것을 보여준다. 시뮬레이션을 통해서 ISCAS85 벤치마크 테스트 회로에 대한 실험 결과를 비교 분석한다.