A new CMOS transresistance amplifier for low-voltage analog integrated circuit design applications is presented. The proposed transresistance amplifier circuit based on common-source and negative feedback topology is compared with other recent reported transresistance amplifier. The proposed transresistance amplifier achieves high transresistance gain, gain-bandwidth with the same input/output impedance and the minimum supply voltage $2V_{DSAT}+V_T$. Hspice simulation using 1.8V TSMC $0.18{\mu}m$ CMOS technology was performed and achieved $59dB{\Omega}$ transresistance gain which is above the maximum about $18dB{\Omega}$ compared to transresistance gain of the reported circuit.
In this paper, we propose a novel test methodology for the detection of catastrophic and parametric faults present in analog very large scale integration circuits. An automatic test pattern generation algorithm is proposed to generate piece-wise linear (PWL) stimulus using wavelets and a genetic algorithm. The PWL stimulus generated by the test algorithm is used as a test stimulus to the circuit under test. Faults are injected to the circuit under test and the wavelet coefficients obtained from the output response of the circuit. These coefficients are used to train the neural network for fault detection. The proposed method is validated with two IEEE benchmark circuits, namely, an operational amplifier and a state variable filter. This method gives 100% fault coverage for both catastrophic and parametric faults in these circuits.
In this paper, a multiplying digital-to-analog converter (MDAC) circuit for low-power high-resolution CMOS algorithmic A/D converters (ADC's) is proposed. The proposed MDAC is designed to operte properly at a supply at a supply voltge between 3 V and 5 V and employs an analog0domain power reduction technique based on a bias switching circuit so that the total power consumption can be optimized. As metal-to-metal capacitors are implemented as frequency compensation capacitors, opamps' performance can be varied by imperfect process control. The MDAC minimizes the effects by the circuit performance variations with on-chip tuning circuits. The proposed low-power MDAC is implementd as a sub-block of a 10-bit 200kHz algorithmic ADC using a 0.6 um single-poly double-metal n-well CMOS technology. With the power-reduction technique enabled, the power consumption of the experimental ADC is reduced from 11mW to 7mW at a 3.3V supply voltage and the power reduction ratio of 36% is achieved.
A remote control system was developed in order to operate by push-buttons the conventional drum and chute components, which have been operated manually, in a concrete mixer-truck. As actuators, a hydraulic power unit was used for chute operations: two DC motors for drum operations. The devised drum controller consisted of three electric circuits : an analog proportional-integral control circuit, a drum acceleration circuit, and an emergency stop circuit. The remote control system was installed to be tested experimentally and then was evaluated to work successfully with a desirable accuracy.
다양한 무선통신 방식이 출현함에 따라 배터리 수명과, 저전력 동작이 중요시되면서 무선 통신용 LSI는 SI circuit을 이용하는 analog current-mode signal processing을 주목하고 있다. 그러나 SI (Switched-Current) circuit을 구성하는 current memory는 clock-feedthrough의 문제점을 갖는다. 본 논문에서는 current memory의 문제점인 clock-feedthrough의 일반적인 해결방안으로 CMOS switch의 연결을 검토하고, current memory 성능 개선의 설계방안을 제안하기 위하여 CMOS switch 간의 width의 관계를 도출하고자 한다. Simulation 결과, memory MOS의 width가 20um, input current와 bias current의 ratio가 0.3, CMOS switch nMOS의 width가 2~6um일 경우에 CMOS switch 간의 width는 $W_{Mp}=5.62W_{Mn}+1.6$의 관계로 정의되고, CMOS switch nMOS의 width가 6~10um일 경우에 CMOS switch 간의 width는 $W_{Mp}=2.05W_{Mn}+23$의 관계로 정의되는 것을 확인하였다. 이 때 정의된 MOS transistor의 관계는 memory MOS의 성능향상을 위한 설계에 유용한 지침이 될 것으로 기대된다.
본 논문에서는 표준 메모리 공정에 구현 가능한 주파수 적응성을 갖는 부지연 회로의 설계기법에 대해 제안한다. 제안하는 설계기법은 기본적으로 아날로그 SMD (synchronous mirror delay) 형태의 부지연 회로로서 입력클록의 주기와 구현하고자 하는 부의 지연 시간의 차이에 해당하는 시간을 아날로그 회로의 개념으로 측정하고 다음 번 주기에서 반복한다. 출력클록의 발생과 관련되는 부수적인 지연을 측정단의 앞 단인 지연모델 단에서 상쇄하는 기존의 SMB 기법과는 달리, 반복단에서 상쇄하는 새로운 기법을 통하여 넓은 부지연 범위를 구현하여 특히 고속동작에서의 부지연 특성을 원할하게 한다. 또한 넓은 범위의 주파수 동작범위를 구현하기 위해 해당하는 주파수 범위에서 아날로그 회로가 최적의 동작 조건을 갖추도록 하기 위한 새로운 주파수 감지기 및 최적조건 설정기법을 제안한다. 제안된 회로의 응용으로서 초고속 DRAM인 DDR SDRAM에 적용하는 예를 보였으며, 0.6㎛ n-well double-poly double-metal CMOS 공정을 사용하여 모의실험 함으로써 그 유용성을 입증한다.
디지털 메모리는 신뢰성, 속도 그리고 상대적인 단순한 제어회로로 인해 지금까지 저장장치로서 널리 사용되어 왔다. 그러나 디지털 메모리 저장능력은 공정의 선폭감소의 한계로 인해 결국 한계에 다다르게 될 것이다. 이러한 저장 능력을 획기적으로 증가시키는 방안의 하나로서 메모리의 셀에 저장하는 데이터의 형태를 디지털에서 아날로그로 변화시키는 것이다. 한 개의 셀과 프로그래밍을 위한 주변회로로 구성된 아날로그 메모리가 0.16um 표준 CMOS 공정에서 제작되었다. 제작된 아날로그 메모리는 저밀도 불활성 메모리, SRAM과 DRAM에서 리던던시 회로 제어, ID나 보안코드 레지스터, 영상이나 음성 저장장치 등에 응용될 것이다.
In this paper, we propose an analog-to-digital converter to set the address of a I2C slave chip. The proposed scheme converts a fixed voltage between 0 and VDD to the digital value which can be used as the address of the slave chip. The rising time and the falling time are measured with digital counter in a serially connected RC circuit, while the circuit is being charged and discharged with the voltage to be measured. The ratio of the two measured values is used to get the corresponding digital value. This scheme gives a strong point which is to be implementable all the parts except comparator using digital logic. Although the method utilizes RC circuit, it has no relation with the RC value if the quantization error is disregarded. Experimental result shows that the proposed scheme gives 32-level resolution thus it can be used to configure the address of the I2C slave chip.
본 논문에서는 개선된 charge pump 회로를 이용하여 구성한 터치스크린 패널 드라이버를 소개한다. 터치 패널 드라이버는 크게 터치를 감지하는 아날로그 센싱 부분과 감지된 신호를 처리하는 디지털 신호 처리 부분으로 이루어진다. 제안된 터치스크린 드라이버의 동작을 확인하기 위하여 혼성 모드로 회로를 구성하고 Cadence Spectre를 이용하여 그 동작을 검증하였다. 디지털 회로 부분은 Verilog-A 모델링하여 아날로그 부분과의 인터페이스가 가능하게 하여, 그 동작을 검증함으로써 동작의 신뢰성을 확보하였고 시뮬레이션 시간을 줄일 수 있었다. 시뮬레이션 결과 ADC가 없는 간단한 구조의 디지털 신호 변환으로 터치 패널 드라이버의 안정적인 동작을 확인하였다.
A feed forward differential architecture of analog PRML decoder is investigated to implement on analog parallel processing circuits. The conventional PRML decoder performs the trellis processing with the implementation of single stage in digital and its repeated use. The analog parallel processing-based PRML comes from the idea that the decoding of PRML is done mainly with the information of the first several number of stages. Shortening the trellis processing stages but implementing it with analog parallel circuits, several benefits including higher speed, no memory requirement and no A/D converter requirement are obtained. Most of the conventional analog parallel processing-based PRML decoders are differential architecture with the feedback of the previous decoded data. The architecture used in this paper is without feedback, where error metric accumulation is allowed to start from all the states of the decoding stage, which enables to be decoded without feedback. The circuit of the proposed architecture is simpler than that of the conventional analog parallel processing structure with the similar decoding performance. Characteristics of the feed forward differential architecture are investigated through various simulation studies.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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