• Title/Summary/Keyword: 이온채널

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Molecular Genetics of Inherited Cardiac Conduction Defects in Humans and Dogs (개와 사람의 선천성 심장 전도장애에 대한 분자 유전학적 이해)

  • Hyun, Changbaig
    • Journal of Veterinary Clinics
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    • v.21 no.2
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    • pp.219-228
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    • 2004
  • Heart diseases related to conduction system can be occurred by primary defects in conduction system and by secondary to morphological heart diseases or drug toxicities. Multiple molecular defects responsible for arrhythmogenesis, including mutations in ion channels, cytoplasmic ion-channel-interacting proteins, gap-junction proteins, transcription factors and a kinase subunit, were found to be associated with the aetiology of primary cardiac conduction defects, especially inherited form. Despite a big progress in unveiling human arrhythmogenesis, conduction defects in dog has not been well studied except sudden death syndrome in German shepherd. In this review, molecular genetics in cardiac arrhythmogenesis, inherited human diseases associated with conduction defects and similar diseases in dogs will be discussed.

Investigation for Channel Length Influence in Si-Based MOSFET (Si-기반 MOSFET의 채널 길이에 따른 영향의 조사)

  • 정정수;심성택;장광균;정학기;이종인
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2000.10a
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    • pp.480-484
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    • 2000
  • The channel length influence of n-channel Si-based FETs is investigated by computer simulation. Using a two-dimensional hydrodynamic model, devices having various gate length are examined. We have observed the characteristics of LDD model of MOSFET by investigating of their current, voltage, electric field and impact ionization. These devices are scaled using various factors. We have analyzed I-V characteristics and the effect of impact ionization according to channel length.

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Deviation of Threshold Voltage and Conduction Path for the Ratio of Top and Bottom Oxide Thickness of Asymmetric Double Gate MOSFET (비대칭 DGMOSFET의 상하단 산화막 두께비에 따른 문턱전압 및 전도중심의 변화)

  • Jung, Hakkee
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2014.10a
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    • pp.765-768
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    • 2014
  • 본 연구에서는 비대칭 이중게이트 MOSFET의 상하단 게이트 산화막 두께 비에 대한 문턱전압 및 전도중심의 변화에 대하여 분석하고자한다. 비대칭 이중게이트 MOSFET는 상하단 게이트 산화막의 두께를 다르게 제작할 수 있어 문턱전압이하 영역에서 전류를 제어할 수 있는 요소가 증가하는 장점이 있다. 상하단 게이트 산화막 두께 비에 대한 문턱전압 및 전도중심을 분석하기 위하여 포아송방정식을 이용하여 해석학적 전위분포를 구하였다. 이때 전하분포는 가우스분포함수를 이용하였다. 하단게이트 전압, 채널길이, 채널두께, 이온주입범위 및 분포편차를 파라미터로 하여 문턱전압 및 전도중심의 변화를 관찰한 결과, 문턱전압은 상하단 게이트 산화막 두께 비에 따라 큰 변화를 나타냈다. 특히 채널길이 및 채널두께의 절대값보다 비에 따라 문턱전압이 변하였으며 전도중심이 상단 게이트로 이동할 때 문턱전압은 증가하였다. 또한 분포편차보단 이온주입범위에 따라 문턱전압 및 전도중심이 크게 변화하였다.

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50 W 급 저전력 원통형 이온빔 소스의 개발 및 연구

  • Kim, Ho-Rak;Lee, Seung-Hun;Im, Yu-Bong;Kim, Jun-Beom;Choe, Won-Ho
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2016.02a
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    • pp.192.2-192.2
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    • 2016
  • 전기추력기는 화학식 추력기에 비해 비추력이 높아 인공위성의 자세제어, 궤도수정, 궤도천이를 포함한 행성 탐사활동 및 우주 임무수행을 위한 우주선의 엔진 등으로 다양하게 활용된다. 홀 추력기는 전기추력기 중 하나로 고리형 방전공간을 가진 고리형 추력기와 원통형 방전영역을 가진 원통형 추력기가 있으며, 원통형 추력기는 고리형에 비하여 넓은 방전공간으로 저전력 방전에 적합한 추력기이다. 또한, 저전력 추력기는 큐브셋(cubesat) 및 마이크로 위성(microsatellite)의 증가하는 수요에 따라 필요성이 증가하고 있으며, 활용도가 높아 다양하게 연구 및 개발되고 있다. 홀 추력기는 자기장과 전기장을 서로 수직되게 인가하여, 자화된 전자는 플라즈마 방전을 유지시키고 자화되지 않은 이온은 전기장 방향으로 가속되어 이온빔을 발생시킨다. 하지만, 저전력 소형 추력기는 작은 소모전력과 방전채널로 인한 성능 저하 및 자기장 구조 설계 등 많은 어려움들을 가지고 있다. 본 연구에서는, 약 50 W급의 소모전력을 바탕으로 영구자석을 이용한 저전력 플라즈마 추력기를 개발하였다. 방전 채널은 지름 15 mm, 길이 16 mm, 무게는 약 0.6 kg으로 원통형 구조의 채널로 제작되었으며, 약 1500-2000 G의 자기장 세기를 갖도록 설계하였다. 방전 기체는 제논을 사용하여 1-5 sccm영역에서 방전 특성을 살펴보았으며, 방전 전류는 0.02-0.4 A로 나타났다. 100-550 V영역에서 방전을 시도하였고, 채널길이를 16-24 mm 에서 약 1mN 급의 추력특성을 보였다. 본 발표에서, 홀 추력기의 제작 특성과 성능 및 플라즈마 특성에 대한 더 자세한 연구결과가 발표될 예정이다.

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Study on the Fabrication of EPROM and Their Characteristics (EPROM의 제작 및 그 특성에 관한 연구)

  • 김종대;강진영
    • Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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    • v.21 no.5
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    • pp.67-78
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    • 1984
  • EAROM device is an n-channel MOS transistor with a control gate stack ed on the floating gate. On account of channel injection type, channel lengths are designed 4-8 $\mu$m and chinnel widths 5-14 $\mu$m. These devices which have fourstructures of different type control gate are designed by NMOS 5 $\mu$m design rule and fabricated by double polysilicon gate NMOS Process. Double ion implantation is applied to increase punchthrough voltage and gate-controlled channel breakdown voltage. The drain and gate voltage for programming was 13-17V and 20-25V, respectively. EPROM cell fabricated could be erased not by optical method but by electrical method. The result of charge retention test showed decrease in stored charges by 4% after 200 hours at 1$25^{\circ}C$.

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Analysis of Drain Induced Barrier Lowering of Asymmetric Double Gate MOSFET for Channel Doping Profile (비대칭 DGMOSFET의 채널도핑분포함수에 따른 드레인 유도 장벽 감소현상 분석)

  • Jung, Hakkee
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2015.10a
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    • pp.863-865
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    • 2015
  • 본 연구에서는 비대칭 이중게이트 MOSFET의 채널 내 도핑농도분포에 대한 드레인유도장벽감소(Drain Induced Barrier Lowering; DIBL)에 대하여 분석하고자한다. DIBL은 드레인 전압에 의하여 소스 측 전위장벽이 낮아지는 효과로서 중요한 단채널 효과이다. 이를 분석하기 위하여 포아송방정식을 이용하여 해석학적 전위분포를 구하였으며 전위분포에 영향을 미치는 채널도핑농도의 분포함수변화에 대하여 DIBL을 관찰하였다. 채널길이, 채널두께, 상하단 게이트 산화막 두께, 하단 게이트 전압 등을 파라미터로 하여 DIBL을 관찰하였다. 결과적으로 DIBL은 채널도핑농도분포함수의 변수인 이온주입범위 및 분포편차에 변화를 나타냈다. 특히 두 변수에 대한 DIBL의 변화는 최대채널도핑농도가 $10^{18}/cm^3$ 정도로 고도핑 되었을 경우 더욱 현저히 나타나고 있었다. 채널길이가 감소할수록 그리고 채널두께가 증가할수록 DIBL은 증가하였으며 하단 게이트 전압과 상하단 게이트 산화막 두께가 증가할수록 DIBL은 증가하였다.

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TFT 채널층으로 사용하기 위한 IGZO박막의 산소분압에 따른 특성변화

  • Sin, Ju-Hong;Kim, Ji-Hong;No, Ji-Hyeong;Lee, Gyeong-Ju;Kim, Jae-Won;Do, Gang-Min;Park, Jae-Ho;Jo, Seul-Gi;Yeo, In-Hyeong;Mun, Byeong-Mu
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2011.08a
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    • pp.260-260
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    • 2011
  • 투명 비정질 산화물반도체는 디스플레이의 구동소자인 박막 트랜지스터에 채널층으로 사용된다. 또한 투명하면서 유연성이 있는 소자를 저비용으로 제작할 수 있는 장점을 가진다. 투명 산화물반도체 재료 중 IGZO는 Si 또는 GaAs와 같은 공유결합성 반도체와는 다른 전자 배치로 전도대가 금속이온의 ns 궤도에서 형성되며, 가전도대가 산소 음이온의 2p 궤도에서 형성된다. 특히 큰 반경의 금속 양이온은 인접한 양이온과 궤도 겹침이 크게 발생하게 되며 캐리어의 효과적인 이동 경로를 제공해줌으로써 다른 비정질 반도체와는 다르게 높은 전하이동도(~10 $cm^2$/Vs)를 가진다. 따라서 저온공정에서 우수한 성능의 TFT소자를 제작할 수 있는 장점이 있다. 본 연구에서는 TFT 채널층으로 사용하기 위한 a-IGZO박막의 산소분압에 따른 특성변화를 분석 하였다. a-IGZO박막은 Pulsed Laser Deposition (PLD)를 이용하여 산소분압(20~200 mTorr) 변화에 따라 Glass기판에 증착하였다. 증착된 a-IGZO 박막의 구조적 특성으로는 X-ray diffraction (XRD), Field emission scanning electron microscopy (FE-SEM), 광학적 특성은 UV-vis spectroscopy 분석을 통해서 알아보았다. TFT 채널층의 조건으로는 낮은 off-current, 높은 on-off ratio를 위해 고저항 ($10^3\;{\Omega}cm$)의 진성반도체 성질과 source/drain금속과의 낮은 접촉저항(ohmic contact) 등의 전기적 성질이 필요하다. 따라서 이러한 전기적 특성확인을 위해 transmission line method (TLM)을 사용하여 접촉저항과 비저항을 측정하였고, 채널층으로 적합한 분압조건을 확인해볼 수 있었다.

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Analysis of Subthreshold Swing for Doping Distribution Function of Asymmetric Double Gate MOSFET (도핑분포함수에 따른 비대칭 MOSFET의 문턱전압이하 스윙 분석)

  • Jung, Hakkee
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.18 no.5
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    • pp.1143-1148
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    • 2014
  • This paper has analyzed the change of subthreshold swing for doping distribution function of asymmetric double gate(DG) MOSFET. The basic factors to determine the characteristics of DGMOSFET are dimensions of channel, i.e. channel length and channel thickness, and doping distribution function. The doping distributions are determined by ion implantation used for channel doping, and follow Gaussian distribution function. Gaussian function has been used as carrier distribution in solving the Poisson's equation. Since the Gaussian function is exactly not symmetric for top and bottome gates, the subthreshold swings are greatly changed for channel length and thickness, and the voltages of top and bottom gates for asymmetric double gate MOSFET. The deviation of subthreshold swings has been investigated for parameters of Gaussian distribution function such as projected range and standard projected deviation in this paper. As a result, we know the subthreshold swing is greatly changed for doping profiles and bias voltage.

Ion Implant 시뮬레이션을 통한 MOSFET 최적점에 대한 연구

  • Lee, Dong-Bin
    • Proceeding of EDISON Challenge
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    • 2015.03a
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    • pp.347-349
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    • 2015
  • 본 연구에서는 MOSFET 제작방법중 하나인 이온주입법에서 다양한 변수로 작용하는 도핑농도, 에너지주입, 바탕농도의 역할에 대해서 알아보고 채널길이가 감소함에 따른 단채널효과를 억제할 수 있는 최적점에 대하여 분석하였으며 Ion Implant 이차원 시뮬레이션값과 비교하였다. 결과적으로 농도와 에너지주입 그리고 채널길이에 따른 MOSFET의 최적화된 모델을 분석하였다.

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The Study on Channel and Doping influence of MOSFET using TCAD (TCAD를 이용한 채널과 도핑 농도에 따른 MOSFET의 특성 분석)

  • 심성택;장광균;정정수;정학기;이종인
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2000.05a
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    • pp.470-473
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    • 2000
  • The metal-oxide-semiconductor field-effect transistor(MOSFET) has undergone many changes in the last decade in response to the constant demand for increased speed, decreased power, and increased patting density. The devices are scaled down day by day. Therefore, This paper investigates how MOSFET structures influence on transport properties in according to change of channel length and bias and, observes impact ionization between the drain and the gate. This paper proposes three models, i.e., conventional MOSFET, LDD MOSFET and EPI MOSFET. The gate lengths are 0.3$\mu\textrm{m}$ 0.15$\mu\textrm{m}$, 0.075$\mu\textrm{m}$ and scaling factor is λ = 2. We have presented MOSFET's characteristics such as I-V characteristic, impart ionization, electric field, using the TCAD. We have analyzed the adaptive channel and doping influences

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