• Journal of the Korean Chemical Society
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• v.54 no.1
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• pp.71-76
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• 2010

The densities and viscosities of 2-bromopropane-methanol binary mixtures had been determined using an digital vibrating U-tube densimeter and Ubbelohde capillary viscometer respectively from (298.15 to 318.15) K. The dependence of densities and viscosities on temperature and concentration had been correlated. The excess molar volume and the excess viscosity of the binary system were calculated from the experimental density and viscosity data. The excess molar volumes were related to compositions by polynomial regression and regression parameters and total RMSD deviations were obtained; the excess viscosities was related to compositions by Redlich-Kister equation and regression coefficients and total RMSD deviation of the excess viscosity for 2-bromopropane and methanol binary system were obtained. The results showed that the model agreed very well with the experimental data.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2001.04a
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• pp.541-543
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• 2001

일정 수준의 시스템 성능을 제공하기 위해 다수의 서버를 클러스터로 연결하여 동시에 가동할 경우, 서버의 가동 대수가 증가함으로 인해 발생하는 가용도 저하 문제를 해결해야 하며, 이를 위해서는 시스템의 성능 변화를 반영할 수 있는 가용 성능에 대한 명확한 정의가 요구된다. 본 논문에서는 비용 효율적인 결함허용을 위해 n 대의 주서버가 k 대의 여분서버로 구성된 클러스터 시스템에서 대기시간을 일정 수준이하로 만족시키는 새로운 가용도 척도에 근거한 최적 여분 서버 수를 계산하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 1999.11c
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• pp.791-793
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• 1999

제어 컴퓨터의 고장으로 인해 인명이나 재산에 치명적 영향을 미치는 safety-critical 실시간 시스템을 제어하고 모니터링하기 위해 디지털 컴퓨터의 사용은 점점 일반화되고 있다. 특히, VLSI 기술의 급격한 발달로 인해 하드웨어가 초소형화 되고 대량생산이 가능해진 현실에서 이러한 제어 컴퓨터의 극대화된 신뢰도 요구를 만족시키기 위해 막중한 하드웨어 여분(hardware redundancy)이 널리 사용되고 있는 실정이다. 본 논문에서는 N개의 다중 모듈(multi-module)로 이루어진 하드웨어 여분의 운영 모드를 분석하고 각 운영 모드에서 고장이 발생할 경우 모드의 전환과 그로 인한 신뢰도의 변화를 계산할 것이다. 그리고 간단한 시뮬레이션을 통해 전환된 여러 모드 중 가장 우수한 신뢰도를 갖는 모드를 평가하게 된다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.44 no.2
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• pp.113-120
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• 2007

With the advance of VLSI technology, the capacity and density of memories is rapidly growing. In this paper we proposed reallocation algorithm. All faulty cell of embedded memory is reallocated into the row and column spare memory. This work implements reallocation algorithm and BISR to verify its design.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2002.04b
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• pp.1293-1296
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• 2002

본 연구에서는 서브 스위치를 이용한 오류허용 정렬 네트워크를 제안한다. 기존의 정렬 네트워크에서는 여분의 경로와 네트워크의 복잡성문제가 있었다. 제안된 구조에서는 여분 경로를 확장시키기 위해서 각 스테이지마다 $\frac{N}{4}\sum\limits_{i=0}^{n=2}{(\frac{1}{2})}^i$ (N=입 출력수) 서브 스위치를 추가함으로써 여분의 경로가 $3^{n(n+1)/2}$만큼 증가하였다. 또한 제안된 정렬 네트워크는 기존의 네트워크의 이중 네트워크 plane 개념에서 사용한 스위치 소자와 링크 수와 비교해 볼 때 제안된 구조의 단일 plane을 이용한 구조가 복잡도에서 낮다. 결론적으로 제안된 서브 스위치를 이용한 오류 허용 정렬 네트워크는 여분의 경로를 증가시키면서 하드웨어적 복잡도를 감소시킬 수 있다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.44 no.12
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• pp.54-60
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• 2007

This paper proposes a built-in-self-repair (BISR) structure using 2-dimensional spare memory to effectively self-repair faults of an embedded memory. In case of multiple faults in the same row (column) of an embedded memory, the previous method using 1-D spare column (row) memory needs the same number of spare memory columns (rows) as the number of faults to self-repair them. while the new method using 2-D spare memory needs only one spare row (column) to self-repair them. Also, the virtual divided memory is adopted to be able to self-repair using not a full spare column memory but the only partial spare column memory corresponding to the faults. A self-repair circuit with $64\times1-bit$ core memory and $2\times8$ 2-D spare memory is designed. And the circuit includes a built-in-self-test block using the 13N March algorithm. The circuit has been implemented using the $0.25{\mu}m$ MagnaChip CMOS process and has $1.1\times0.7mm^2$ chip area with 10,658 transistors.

• The Korean Journal of Financial Management
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• v.25 no.2
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• pp.69-101
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• 2008

We empirically investigate the option leverage property that should be priced under much more general conditions than the Black-Scholes assumptions and the option redundancy property that is based on the assumption that the underlying asset price follows a one-dimensional diffusion process and examine the systematic risk factors implied in the return dynamics of KOSPI 200 index options. We find that the option leverage pattern is similar to the theoretical result but the options are not redundant securities and in the nonlinear structure of option payoffs, the traders of KOSPI 200 index options price the systematic higher-moments and the negative volatility risk premium significantly affects delta-hedged gains, even after accounting for jump fears. But the empirical evidence on jump risk preference is less conclusive.

• Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences
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• v.33 no.3
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• pp.57-64
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• 2005

In two-degree of freedom(TDOF) inertial sensors, two axes are mechanically correlated with each other. Fault source of one axis sensor may affect the other axis sensor, and therefore multiple fault detection and isolation(FDI) technique is required. Conventional FDI techniques using hardware redundancy need four TDOF inertial sensors for FDI. In this study, three TDOF inertial sensor redudancy case is considered, where conventional FDI technique can detect the fault, but cannot isolate the fault sensor. Hybrid FDI technique is proposed to solve this problem. Hybrid FDI technique utilizes the analytic redundancy by utilizing the unscented kalman filter as well as hardware redundancy for FDI. To verify the effectiveness of the proposed FDI technique, numerical simulations are performed using six degree of freedom nonlinear aircrft dynamics.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2003.11a
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• pp.397-400
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• 2003

TMR(Triple Modular redundancy)은 공간여분(W/H 및 S/W)을 정적으로 활용하는 가장 간단한 구조를 지닌 대표적인 고장포용 기법중의 하나이다. TMR 구조 고장시 TMR 시스템 고장복구를 위해 잘못된 결과를 가지고 있는 프로그램의 일부분을 재실행 또는 프로그래밍 전체를 재시작하는 기법을 적용하는 것은 일반적으로 상당한 시간을 필요로 한다. 이러한 단점을 극복하기 위해 본 논문에서는 TMR 고장을 효과적으로 복구하기 위해 또 다른 형태의 시간여분 기법인 rollback과 rol1-forward 기법에 checkpoint들을 적용하여 처리하는 시간 및 공간여분을 혼용하는 기법을 제안하였다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.46 no.12
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• pp.73-79
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• 2009

With the advance of VLSI technology, the capacity and density of memories are rapidly growing. In this paper we proposed MRI (Memory built-in self Repair Imagination zone) as reallocation algorithm. All faulty cells of embedded memory are reallocated into the row and column spare memory. This work implements reallocation algorithm and BISR to verify its design.