• Title/Summary/Keyword: 아날로그회로

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Fault-tolerant Analog Circuit Design using Average and Worst Case Analysis Evolutionary Strategy (평균 및 최악 분석 진화전략을 이용한 소자 값 변경에 강건한 아날로그 회로 자동 설계)

  • Park, Hyun-Soo;Park, A-Rum;Kim, Kyung-Joong
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2012.06b
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    • pp.372-374
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    • 2012
  • 아날로그 회로는 가장 기본적인 전기/전자 회로로써 현재도 높은 중요도를 가지고 있지만, 설계를 위해서는 전문적인 지식이나 기술이 반드시 필요하다. 그래서, 아날로그 회로를 설계하기 위해 진화 연산을 이용한 기법이 연구되어 왔다. 진화연산은 최적화 문제를 해결하는 한 방법으로써 다양한 문제에 적용 가능하다. 하지만, 많은 경우 매우 오랜 시간이 걸려 재현이 어렵고 계산비용이 많이 요구되어왔다. 하지만, 최근 들어 진화전략을 이용하여 작은 집단 크기로 아날로그 회로를 진화시킬 수 있는 방법이 제안되었다. 본 연구에서는 진화전략을 이용한 방법에 기반하여, 내고장성을 가진 회로를 설계하는 기법을 제안하고, 실험을 통하여 기본 진화전략 알고리즘과 비교한다. 그 결과, 제안한 방법을 통해 생성한 회로는 기본 알고리즘을 사용했을 때 보다 고장으로 인해 소자의 값이 변경되었을 때 성능하락이 더 적었다.

Low-Power Analog Circuit Design (저전력 아날로그 회로기술)

  • Jeon, Y.D.;Cho, M.H.;Lee, H.D.;Kwon, J.K.;Kim, J.D.
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.23 no.6
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    • pp.81-91
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    • 2008
  • CMOS 공정의 가속적인 스케일링에 의해 CMOS 기술은 종래의 마이크론기술에서 나노기술로 변해가고 있다. 이러한 반도체 소자 및 제작기술에 따른 온도와 공정의 변화에 매우 민감한 부분인 아날로그 회로는 설계 초기단계에서 중요한 요소들(이득, 누설 전류, 잡음 및 부정합 등)을 재검토할 필요가 있다. 또한, 나노 CMOS 공정을 사용한 1.0 V 이하의 저전압 동작에서는 아날로그 신호의 동적영역 확보가 어렵고 잡음이 증가하므로 새로운 패러다임을 적용한 혁신적인 아날로그 회로기술 개발이 필요한 실정이다. 이에 따라, 본 고에서는 그린기술(green technology)의 한 요소로서, 나노 CMOS 공정기술을 이용한 1.0 V 이하 전원전압의 저전력 아날로그 회로기술 동향과 관련 특허동향에 대해서 살펴보고자 한다.

회로 및 시스템

  • 대한전기학회
    • 전기의세계
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    • v.27 no.1
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    • pp.70-71
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    • 1978
  • 회로망이론 및 시스템의 관심분야는 이론과 실제 및 새로 출현하는 기술과 연관하는 분야이며 다음과 같이 구분할 수 있다. 1)회로와 시스템의 해석과 설계에 대한 새로운 개념과 접근방법이다. 회로와 시스템은 대형회로와 시스템 집적회로를 포함한 디지탈 아날로그 소리드스테이트회로 수동 및 능동필터, 집중 및 마이크로웨이브회로망, 비선형 및 시변회로와 시스템, 그라프이론과 응용, 아날로그와 디지탈 신호로세싱시스템, 다차충필터에 관한 것. 2)컴퓨터협조기술로서 여기에는 해석, 설계, 레이아웃, 회로와시스템의 시험과 제작, 그리고 신산법과 사용자 오리엔트된 언어가 포함된다. 3)신호프로세싱, 통신, 계장과 제어에 있어서 모델화, 해석, 응용을 포함하는 신장치와 회로 4)생물학적 경제학적 시스템의 회로개념과 기술의 응용 등이다.

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Analog-to-Digital Conveter Using Synchronized Clock with Digital Conversion Signal (디지털 변환신호와 동기화된 클록을 사용하는 아날로그-디지털 변환기)

  • Choi, Jin-Ho;Jang, Yun-Seok
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2017.10a
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    • pp.522-523
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    • 2017
  • Analog-to-Digital converter is designed using a current conveyor circuit and a time-to-digital converter. The analog voltage is sampled using the current conveyor circuit and then the voltage is converted to time information by the discharge of the sampling voltage. The time information is converted to digital value by the counter-type time-to-digital converter. In order to reduce the converted error the clock is synchronized with the time information pulse.

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Behavioral design aad verification of electronic circuits using CPPSIM (CPPSIM을 이용한 동작 레벨에서의 회로 설계 및 검증)

  • Han, Jin-Seop
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.12 no.5
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    • pp.893-899
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    • 2008
  • Behavioral level simulations of LDO voltage regulator and phase locked loop(PLL) are performed with CPPSIM, a behavioral-level simulation tool based on C language. The validity of the simulation tool is examined by modeling analog circuits and simulating the circuits. In addition, the designed PLL adopted digital architecture to possess advantages of digital circuits.

Constraints on Implementations of Neural Networks with Analog VLSI Circuits (신경 회로망의 아날로그 VLSI 구현시 나타나는 문제점)

  • Oh, S.H.;Lee, Y.
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.9 no.1
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    • pp.75-80
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    • 1994
  • 신경회로망을 아날로그 VLSI로 구현하는 것은 디지털 구현방법에 비하여 집적도와 신호처리 속도의 장점이 있는 반면에 아날로그 신호의 저장 방법, 시냅스를 구현한 곱셈기의 비선형성, 동작영역, zero offset, noise, gain의 변동등의 문제가 존재한다. 여기서는, 이러한 문제들이 신경회로망을 구현한 아날로그 회로에서 어떤 형태로 나타나는지 알아보았다. 위와 같은 비이상적 요인들이 신경회로망의 성능에 미치는 영향이 파악되면 보다 더 신뢰성을 갖는 신경회로망 chip을 설계/제작할 수 있을 것이다.

Specification-based Analog Circuits Test using High Performance Current Sensors (고성능 전류감지기를 이용한 Specification 기반의 아날로그 회로 테스트)

  • Lee, Jae-Min
    • Journal of Korea Multimedia Society
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    • v.10 no.10
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    • pp.1260-1270
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    • 2007
  • Testing and diagnosis of analog circuits(or mixed-signal circuits) continue to be a hard task for test engineers and efficient test methodologies to solve these problems are needed. This paper proposes a novel analog circuits test technique using time slot specification (TSS) based built-in current sensors (BICS). A technique for location of a fault site and separation of fault type based on TSS is also presented. The proposed built-in current sensors and TSS technique has high testability, fault coverage and a capability to diagnose catastrophic faults and parametric faults in analog circuits. In order to reduce time complexity of test point insertion procedure, external output and power nodes are used for test points and the current sensors are implemented in the automatic test equipment(ATE). The digital output of BICS can be easily combined with built-in digital test modules for analog IC test.

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Fabrication of a Low Power Parallel Analog Processing Viterbi Decoder for PRML Signal (PRML 신호용 저 전력 아날로그 병렬처리 비터비 디코더 개발)

  • Kim Hyun-Jung;Son Hong-Rak;Kim Hyong-Suk
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.43 no.6 s.348
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    • pp.38-46
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    • 2006
  • A parallel analog Viterbi decoder which decodes PRML signal of DVD has been fabricated into a VLSI chip. The parallel analog Viterbi decoder implements the functions of the conventional digital Viterbi decoder utilizing the analog parallel processing circuit technology. In this paper, the analog parallel Viterbi decoding technology is applied for the PRML signal decoding of DVD. The benefits are low power consumption and less silicon consumption. The designed circuits are analysed and the test results of the fabricated chip are reported.

Max-based Analog Absolute Circuits with Small Error (작은 에러를 갖는 Max 회로 기반 아날로그 절대값 계산 회로)

  • Prasad sah, Maheshwar;Lin, Hai-Ping;Yang, Chang-Ju;Lee, Jun-Ho;Kim, Hyong-Suk
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.10 no.2
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    • pp.248-255
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    • 2009
  • Error is the major problem in communication system. Absolute circuit is one of the most important building blocks to implement for the error measurement in communication system as well as in analog circuit design. The main goal of this paper is to design a circuit with high accuracy and minimum error performance. In this paper, a new current mode absolute circuit is implemented to calculate the absolute value of two signals. This new design shows enhanced performance and low distortion over the previous implementation. The proposed circuit is simulated using Hspice and implemented in analog viterbi decoder. It is very suitable for implementing in error calculation for the large scale integrated circuit. Hspice simulation results of previous and new one circuit are reported.

Optical neural-net analog-to-digital converter (광 신경망 아날로그-디지탈 변환기)

  • Jang, Ju-Seog;Shin, Sang-Yung;Lee, Soo-Young
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 1988.07a
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    • pp.414-417
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    • 1988
  • 신경회로를 모방한 병렬 아날로그-디지탈 변환기를 설계하고 광학적으로 구현하였다. 이 회로의 동작 원리는 주어진 입력 아날로그 값에 대해 출력 bit 들의 디지털 값을 동시에 추정하는 것으로 $2^{N}$ 단계의 구분을 위해서 N개의 단위 소자가 필요하다. 에너지 최소화 방법에 의해 설계된 신경망 아날로그-디지털 변환기와 비교해 볼 때 회로의 구조가 단순하고 출력이 회로의 초기 상태에 관계없이 주어진 입력에 의해 결정된다.

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