In D-T fusion reaction, $D_2$ (duterium) and $T_2$(tritium) are used as fuel gas. The exhaust gas of nuclear fusion includes hydrogen isotopes $Q_2$ (Q means H, D or T), tritiated components ($CQ_4$ and $Q_2O$), CO, $CO_2$, etc. All of hydrogen isotopes should be recovered before released to the atmosphere. This study focused on the recovery of hydrogen isotopes from $CQ_4$ and $Q_2O$. Two kinds of experiments were conducted to investigate the catalytic reaction characteristics of SMR (Steam Methane Reforming) and WGS (Water Gas Shift) reactions using Pt catalyst. First test was performed to convert $CH_4$ into $H_2$ using 6% $CH_4$, 6% CO/Ar feed gas. In the other test, 100% CO gas was used to convert $H_2O$ into $H_2$ at various reaction conditions (reaction temperature, S/C ratio, GHSV). As a result of the first test, $CH_4$ and CO conversion were 41.6%, 57.8% respectively at $600^{\circ}C$, S/C ratio 3, GHSV $2000hr^{-1}$. And CO conversion was 72% at $400^{\circ}C$, S/C ratio 0.95, GHSV $333hr^{-1}$ in the second test.
The development of low-k materials is essential for modern semiconductor processes to reduce the cross-talk, signal delay and capacitance between multiple layers. The effect of the $CH_4$ concentration on the formation of SiOC(-H) films and their dielectric characteristics were investigated. SiOC(-H) thin films were deposited on Si(100)/$SiO_2$/Ti/Pt substrates by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) with $SiH_4$, $CO_2$ and $CH_4$ gas mixtures. After the deposition, the SiOC(-H) thin films were annealed in an Ar atmosphere using rapid thermal annealing (RTA) for 30min. The electrical properties of the SiOC(-H) films were then measured using an impedance analyzer. The dielectric constant decreased as the $CH_4$ concentration of low-k SiOC(-H) thin film increased. The decrease in the dielectric constant was explained in terms of the decrease of the ionic polarization due to the increase of the relative carbon content. The spectrum via Fourier transform infrared (FT-IR) spectroscopy showed a variety of bonding configurations, including Si-O-Si, H-Si-O, Si-$(CH_3)_2$, Si-$CH_3$ and $CH_x$ in the absorbance mode over the range from 650 to $4000\;cm^{-1}$. The results showed that dielectric properties with different $CH_4$ concentrations are closely related to the (Si-$CH_3$)/[(Si-$CH_3$)+(Si-O)] ratio.
In the our country, especially in Yeongil and Wolsung area, abundant authigenic zeolites are found from the tuffaceous sediments and volcanic rocks of Miocene age showing wide variation in their mineralogy and abundance from horizon to horizon. The principal zeolite species identified are clinopti-lolite. mordenite. heulandite. ferrierite, and erionite. etc. Zeolite minerals are widely used in many countries in the following applications; (a) in air separation adsorption processes; (b)as desiccants; (c)in inorganic building materials; (d)in papermaking; (e)in fertilizers; (f)as soilconditioners-this application is based upon the ability of the zeolite to ion exchange with soil nutrients; (g)in the treatment of radioactive wastes; and (h)as adsorbents for toxic gases, etc. In the present paper, using natural zeolite mordenite treated with IN hydrochloric acid or IN sodium chloride solution as column packings, separation characteristics of argon, nitrogen, carbon monoxide, and methane gases have been studied by gas chromatography. By the use of mordenite treated with hydrochloric acid solution, the tailing peak of methane showed from untreated mordenite was satisfactorily reduced, although it was difficult to separate it from carbon monoxide with a column activated at $300^{\circ}C$. Using a column activated at $350^{\circ}C$, methane could be separated from carbon monoxide easily but only carbon monoxide eluted as a bad defined peak. Mordenite treated with sodium chloride solution was generally similar to chromatograms obtained by using the untreated mordenite. Both the above chemical treatments of mordenite had little effect on the separations of argon and nitrogen. The separations and the HETP values obtained from natural zeolite mordenite treated with continuously hydrochloric acid and sodium chloride solutions were almost identical with those obtained with synthetic molecular sieve 5A zeolite. On the other hand, the efficiency of column was good in the range 20~3Oml/min of the carrier helium gas rate.
Kim, Jin-Seong;Gwon, Bong-Su;Park, Yeong-Rok;An, Jeong-Ho;Mun, Hak-Gi;Jeong, Chang-Ryong;Heo, Uk;Park, Ji-Su;Lee, Nae-Eung
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2009.05a
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pp.250-251
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2009
For the fabrication of a multilevel resist (MLR) based on a very thin amorphous carbon (a-C) layer an $Si_{3}N_{4}$ hard-mask layer, the selective etching of the $Si_{3}N_{4}$ layer using physical-vapor-deposited (PVD) a-C mask was investigated in a dual-frequency superimposed capacitively coupled plasma etcher by varying the following process parameters in $CH_{2}F_{2}/H_{2}/Ar$ plasmas : HF/LF powr ratio ($P_{HF}/P_{LF}$), and $CH_{2}F_{2}$ and $H_2$ flow rates. It was found that infinitely high etch selectivities of the $Si_{3}N_{4}$ layers to the PVD a-C on both the blanket and patterned wafers could be obtained for certain gas flow conditions. The $H_2$ and $CH_{2}F_{2}$ flow ratio was found to play a critical role in determining the process window for infinite $Si_{3}N_{4}$/PVDa-C etch selectivity, due to the change in the degree of polymerization. Etching of ArF PR/BARC/$SiO_x$/PVDa-C/$Si_{3}N_{4}$ MLR structure supported the possibility of using a very thin PVD a-C layer as an etch-mask layer for the $Si_{3}N_{4}$ layer.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.13
no.1
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pp.36-40
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2003
The diamond-like nanocomposite (DLN) thin films were deposited on Si substrates using $CH_4/(C_2H_5O)_4Si/H_2$/Ar gas mixtures as source gases by the plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD). The chemical structure and microstructure of grown films were investigated and their tribological properties were evaluated by a ball-on-plate type tribometer. The deposited DLN films mainly consisted of diamond-like a-C:H and quartz-like a-Si:O networks. The DLN films had a good agreement with tribological coating applications due to their extremely low friction coefficients and low wear rates.
Kim, Tae-Gyu;Shin, Yeong-Ho;Cho, Hyun;Kim, Jin-Kon
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.22
no.4
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pp.190-193
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2012
Transparent diamond-like carbon (DLC) films were synthesized on glass using radio frequency plasma enhanced chemical vapor deposition method from the gas mixture of $CH_4$, $SiH_4$ and Ar. The pressure, the rf-power, $CH_4/SiH_4/Ar$ ratio, and the deposition time were 0.1Torr, 100W, 20 : 1 : 1, and 20 min, respectively. The optical transmittances of DLC-deposited glass and uncoated glass were compared with each other in the visible light regions. The DLC-deposited glass showed transmittance of approximately 83 % and 95 % as compared to the uncoated glass for the wavelength of 380 nm and 500 nm, respectively. The hardness and roughness of DLC-coated glass have been measured by nanoindentation and AFM, respectively. The DLC-coated glass showed a little less or similar optical transmittance compared to the uncoated glass, while the hardness of DLC-coated glass was 2.5 times higher than that of the uncoated glass. The deposited DLC film had the very smooth surface and was thicker than 150 nm after deposition for 20 min.
Ternary B-C-N coatings were deposited on Si(100) wafer substrate from $B_4C$ target by RF magnetron sputtering technique in $Ar+N_2+CH_4$ gas mixture. In this work, the effect of reactant gas ratio, $CH_4/(N_2+CH_4)$ on the composition, kinds and amounts of bonding states comprising B-C-N coatings were investigated using two different bias power sources of continuous and unipolar DCs. In addition, the tribological properties of coatings were studied with the composition and bonding state of coating. It was found that the substrate bias power had an effect on chemical composition, and all of the obtained coatings were nearly amorphous. Main bonding states of coatings were revealed from FTIR analyses to be h-BN, C-C, C-N, and B-C. The amount of C-C bonging mainly increased with increase of the reactant gas ratio. From our studies, both C-C and h-BN bonding states improved the tribological properties but B-C one was found to be harmful on those. The best coating from tribological points of view was found to be $BC_{1.9}N_{2.3}$ composition.
The most important techniques in the synthesis of SiC/C function gradient material (FGM) are to control the SiC/C ratio and to obtain the moderate deposition rate. For these, various gas systems and flow rates were attempted and evaluated. It turned out that the CH4+SiCl4+H2 system was suitable for the deposition of SiC-rich layers, the C3H8+SiCl4+Ar system for the deposition of carbon-rich layers, and the C3H8+SiCl4+H2+Ar system was good to deposit the layers between them.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.05c
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pp.194-198
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2002
Energy Distribution Function in pure $CH_4$, $CF_4$ and mixtures of $CF_4$ and Ar, have been analyzed over a range of the reduced electric field strength between 0.1 and 350[Td] by the two-tenn approximation of the Boltzmann equation (BEq.) method and the Monte Carlo simulation (MCS). The results of the Boltzmann equation and the Monte Carlo simulation have been compared with the data presented by several workers. The deduced transport coefficients for electrons agree reasonably well with the experimental and simulation data obtained by Nakamura and Hayashi. The energy distribution function of electrons in $CF_4-Ar$ mixtures shows the Maxwellian distribution for energy. That is, f(${\varepsilon}$) has the symmetrical shape whose axis of symmetry is a most probably energy
Graphene has been effectively synthesized on Ni/SiO$_2$/Si substrates with CH$_4$ (1 SCCM) diluted in Ar/H$_2$(10%) (99 SCCM) by using an inductively-coupled plasma-enhanced chemical vapor deposition. Graphene was formed on the entire surface of the 500 nm thick Ni substrate even at 700 $^{\circ}C$, although CH$_4$ and Ar/H$_2$ gas were supplied under plasma of 600 W for 1 second. The Raman spectrum showed typical graphene features with D, G, and 2D peaks at 1356, 1584, and 2710 cm$^{-1}$, respectively. With increase of growth temperature to 900 $^{\circ}C$, the ratios of the D band intensity to the G band intensity and the 2D band intensity to the G band intensity were increased and decreased, respectively. The results were strongly correlated to a rougher and coarser Ni surface due to the enhanced recrystallization process at higher temperatures. In contrast, highquality graphene was synthesized at 1000 $^{\circ}C$ on smooth and large Ni grains, which were formed by decreasing Ni deposition thickness to 300 nm.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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